CN115704874A - 校准管理的系统与管理校准的方法 - Google Patents

Abstract

公开了校准管理的系统与管理校准的方法。本公开涉及一种用于校准管理的系统。该系统包括至少一个用于测试被测器件的测量仪器和一个监视设备。监视设备与测量仪器连接。监视设备在测试期间收集来自测量仪器的参数。监视设备基于收集到的参数创建校准廓线，其指示测量仪器的校准状态。该系统包括界面，经由界面，输出基于校准廓线的信息，其指示测量仪器的新校准是否有必要。此外，描述了一种管理测量仪器的校准的方法。

Description

校准管理的系统与管理校准的方法

技术领域

本公开的实施例总体上涉及用于校准管理的系统。此外，本公开的实施例还涉及管理测量仪器(measurement instrument)的校准的方法。

背景技术

电子器件典型地借助于测量仪器进行测试，为了确保被测器件的正确测试，这些测量仪器必须被校准。

众所周知，在现有技术中，需要定期检查相应的测量仪器，因为测量仪器必须经过所谓的维护检查(service check)，这种检查是由熟练技术人员在工厂进行的。维护检查与维护间隔相关联。

除了维护检查之外，还需要校准用于现场(即在测量仪器的用户的处所)测试被测器件的测量仪器。因此，相应的测量仪器在其测试位置进行校准，因而会将该位置处的相应环境条件考虑在内。典型地，这些校准(区别于在维护间隔期间进行的维护检查)也是预定且固定的，例如每三天的某个时间点，或者更确切地说，在定义的时间段内，诸如每周。

然而，预定且固定的时间间隔没有考虑到测量仪器的有效使用率，这会对校准状态产生影响。这导致测量仪器的使用时间与停机时间的比率可能会很差，其中后者由在测量仪器的用户处所进行的固定校准次数所致。

因此，需要一种用于校准管理的系统，该系统确保提高测量仪器使用率与校准引起的停机时间的比率。

发明内容

独立权利要求的主题满足相应的需要。在从属权利要求和下文的描述内指出了进一步的实施例，每个实施例可以单独或结合表示本公开的各方面。关于设备解释了本公开的一些细节，而关于方法解释了其他细节。然而，各方面可以被相应地转移，反之亦然。

下文阐述了本文所公开的某些实施例的概述。应该理解，呈现这些方面仅仅是为了提供这些实施例的简要概述，并且这些方面不旨在限制本公开的范围。本公开可以包含可能没有在下文阐述的多个方面。

本公开的实施例提供了一种用于校准管理的系统。该系统包括至少一个用于测试被测器件的测量仪器和一个监视设备。监视设备与测量仪器连接。监视设备在测试期间收集来自测量仪器的参数，即对与测量仪器连接的被测器件的测试。监视设备基于收集到的参数创建校准廓线(profile)，其指示测量仪器的校准状态。该系统包括界面，经由界面，输出基于校准廓线的信息，其指示测量仪器的新校准是否有必要。

本公开的实施例还提供了一种管理测量仪器的校准的方法，该方法包括以下步骤：

-借助于测量仪器，执行对被测器件的测试，

-借助于监视设备，收集来自测量仪器的参数，

-处理借助于监视设备收集到的参数，

-基于收集到的参数创建校准廓线，该校准廓线指示测量仪器的校准状态，以及

-经由界面输出基于校准廓线的信息，其中该信息指示测量仪器的新校准是否有必要。

因此，提供了借助于监视设备的一种动态和持续的校准监视，该监视设备创建用于测试被测器件的测量仪器的校准廓线，从而获得计算/创建的校准廓线。通过考虑借助于测量仪器在对被测器件执行的各个测试期间由监视设备已收集到的参数，获得校准廓线。收集和评估各个参数以便获得校准廓线，该校准廓线提供涉及测量仪器的实际校准状态的信息，从而确保考虑对校准状态有影响的作用。

通常，与校准廓线相关联的校准不同于维护检查，该维护检查由于测量仪器内部组件的老化或者更确切地说变化，而必须在工厂维护间隔期间定期进行。

实际上，与校准廓线相关联的待执行的校准将消除与包括测量仪器的整个测量装置(measurement setup)相关联的作用，例如，由于电缆连接松动或诸如此类造成的测量仪器和被测器件之间的错误连接。因此，在整篇公开中提到的校准涉及关于测量仪器被结合到其中的测量装置的测量仪器的校准。

动态和持续的校准监视确保测量仪器的使用率相对于测量仪器的停机时间的比率能够得到改善，这是因为校准间隔是动态调整的，前提是当前校准状态仍然满足用于测量装置内测量仪器的适当操作性的相应要求。

因此，在典型的组件生产情况下，生产量会增加，除别的以外，生产量受到由于关于测量装置的测量仪器的必要校准造成的停机时间的限制。

通常，测量仪器的校准应当确保提高测量仪器的性能，或者更确切地说，提高测量仪器在与被测器件交互时的准确度。

界面可以是直接面向用户输出信息的用户界面，例如，以视觉和/或听觉方式，类似图形用户界面(GUI)。然而，界面也可以涉及使得另一个系统与界面连接的系统界面，该系统界面接收用于进一步处理的信息，例如，进一步的评估或者更确切地说分析。

一方面规定了，该系统是校准管理系统，该校准管理系统被配置为管理测量仪器的校准，特别是关于包括测量仪器的测量装置的校准。校准管理系统用于管理和调度测量仪器的必要校准，其中相应的校准因用于创建校准廓线的参数的持续监视而进行动态地调整。

另一方面规定了，至少一个环境参数在创建校准廓线时也被考虑在内，其中至少一个环境参数包括环境温度和环境湿度中的至少一个。通常，类似温度和湿度的环境参数可能会对测量仪器产生影响，使得这些需要被考虑在内。

收集到的参数可以包括以下中的至少一个：根据测量的不确定度、对金标准(golden standard)的检查、IEEE 370中定义的参数、与连接到测量仪器的组件的运动相关联的参数、与测量仪器的运动相关联的参数、通电和断电周期、空闲时间、使用时间、预期寿命、自对准的失败次数以及测量仪器的温度廓线。例如，连接到测量仪器的电缆(其是用于测试被测器件的测量装置的一部分)可能已经活动，从而对测量仪器产生影响，这可以被相应地检测到。

通常，用于创建校准廓线的参数可以涉及校准置信度检查、完整性检查，或者更确切地说是借助于各种不同方法获得的其他参数，以便在其校准状态方面表征测量仪器，特别是涉及整个测量装置。

当执行特定测试例程时，相应的参数可以在被测器件的测试期间获得，其中各参数被同时测量。

例如，特定电压或者更确切地说特定电流在测试例程期间被提供给被测器件，其中测量该电压或者更确切地说电流，以便验证测量仪器是否能够恒定地提供相应的电流或电压。因此，电压值或者更确切地说电流值可以与捕捉到的参数相关。

IEEE 370参数是定义的或者更确切地说是标准化的参数，用于电气器件的电气特性，特别是散射参数或者更确切地说是s-参数(s-parameter)完整性(integrity)。

另外，各参数可以借助于校准置信度检查来获得，例如，矢量网络分析仪(VNA)校准置信度检查。

此外，在创建校准廓线时，可以考虑各参数的趋势和/或统计数据。监视设备可以包括用于存储历史参数的存储器，该历史参数也在考虑内为了在实际校准间隔期间识别参数趋势，或者更确切地说为了获得至少一个参数的特定统计数据。因此，可以验证特定参数是否开始以例如减小或增加的某种方式改变，这可能是在不久的将来必要校准的指示器。

实际上，趋势和/或统计数据可以通过在随后执行的测量或者更确切地说测试期间收集相同的参数来采集，其中这些测量或者更确切地说测试是相似的。

校准廓线可以是基于用于获得参数的各种不同方法来创建的。如上文所提及的，校准廓线可以基于对被测器件执行的测量期间获得的不同种类的参数。因此，不同的方法可以与对被测器件执行的不同测量相关联。

通常，监视设备将创建的校准廓线对照与校准廓线相关联的裕度(margin)检查。因此，验证了测量仪器是否仍在提供的裕度内，这确保了测量仪器的正确操作，因此确保了可靠的测试结果。

监视设备可以被配置为：在将创建的校准廓线对照裕度检查时，确定校准的紧迫性。可以确定相对于裕度创建的校准廓线的偏差，以便检查校准是否紧迫，这取决于相应的偏差。例如，大偏差与紧迫校准相关。

监视设备可以被配置为：在将创建的校准廓线对照裕度检查时，识别校准是否不必要、校准是否很快有必要、或者校准是否必须立即进行。因此，监视设备能够经由界面提供关于校准紧迫性的相应信息，以便适当地通知测量仪器的用户。相应的信息可以借助于易于理解的文本或者更确切地说符号/图标来显示。

此外，监视设备可以针对借助于测量仪器执行的每次测量而创建校准廓线。因此，校准廓线被持续创建和动态调整，使得校准廓线总是最新的。因此，可以进行动态和持续的评估。由于校准廓线的持续创建或者更确切地说正在进行的调整，确保了校准廓线被持续地调整到真实条件。

此外，监视设备可以针对借助于测量仪器执行的每次测量而将创建的校准廓线对照裕度检查。针对借助于测量仪器对被测器件执行的每次单独的测量，进行测量仪器是否在定义的操作范围内的相应检查，以便确保基于校准廓线的持续的校准监视。

换言之，该系统可以提供持续的校准监视，因为校准廓线是针对借助于测量仪器执行的每次单独的测量而持续创建的，其中相应的校准廓线对照相应的裕度进行检查。

此外，监视设备可以调整与校准廓线相关联的裕度。因此，与持续和动态地创建的校准廓线相比，对裕量的动态调整是可能的。

监视设备可以在每次检查之后调整与校准廓线相关联的裕度。因此，为下一次运行，即借助于测量仪器执行的下一次测量，导出新的裕度。

另外，经由界面提供的信息可以包括关于如何延长新校准的信息。因此，提供了如何延长下一次校准的提示和/或信息，使得在当前校准间隔内可以借助于测量仪器测量更多的被测器件，从而提高使用率相对于停机时间的比率。

例如，监视设备可以识别温度变化是关键的或者更确切地说主要影响测量仪器，使得监视设备建议将温度保持在特定温度范围内，以便避免对测量仪器的负面影响。

替代地，监视设备可以识别电缆脱离趋势，其中测量仪器的端口与该问题相关联。因此，监视设备可以输出关于测量仪器的相应端口的信息，从而建议在具有问题的相应端口处更换电缆。

此外，该界面可以提供测试特定的信息。测试特定的信息可以与特定测试例程相关联，该测试例程与不同的规范相关联。

测试特定的信息也可以基于要由测量仪器测试的被测器件。因此，考虑了被测器件的特定类型，其被不同地测试。

用户可以使用测试特定的信息，以便创建用于正在经历相应测试例程的被测器件的具体性能表。具体性能表可以包括用于性能指标和实际分数的置信水平。

监视设备可以提供界面。因此，能够基于校准廓线提供信息的界面可以是监视设备的一部分，例如显示器或者更确切地说是数据界面。

如上所述，在评估收集到的参数时获得的校准廓线涉及品质因数(FOM)的系统偏差，描述了测量仪器的校准的特性，特别是相对于包括测量仪器的测量装置的校准的特性。

校准廓线被用作用于持续过程的输入，该连续过程允许动态调整用于测量仪器的校准间隔，特别是用于包括测量仪器作为主要组件的整个测量装置的校准间隔，导致提高测量仪器使用率与测量仪器由于校准引起的停机时间的比率。

通常，测量装置包括测量仪器和与测量仪器的端口连接的至少一条电缆和/或用于连接被测器件特别是与测量仪器连接的一个固定装置。此外，测量装置可以包括与测量仪器电连接的其他测试设备，从而在发生任何偏差的情况下，例如与测量仪器连接的外部组件的运动，对测量仪器的(整体)校准状态产生影响。

附图说明

当结合附图时参照下文的详细描述，要求保护的主题的前述方面和许多伴随的优点将变得更容易明白，同样也将变得更好理解。在附图中，

图1示意性地示出了根据本公开的实施例的用于校准管理的系统，

图2示意性地示出了根据本公开实施例的校准例程的概况，以及

图3示出了根据现有技术的校准例程。

具体实施方式

在下文结合附图阐述的详细描述旨在描述所公开的主题的各种实施例，而不旨在代表仅有的实施例，在附图中，相同的数字指代相同的元件。本公开所描述的每个实施例仅作为示例或说明来提供，并且不应被解释为胜于或优于其他实施例。本文所提供的说明性示例并不旨在穷举性的，或将所要求保护的主题限于所公开的精确形式。对所述实施例的各种修改对于本领域技术人员而言将是显而易见的，并且在不脱离所述实施例的精神和范围的情况下，本文所定义的一般原理可以适用于其他实施例和应用。因此，所述实施例不局限于所示实施例，而是符合与本文公开的原理和特征一致的最宽范围。

下文中相对于示例实施例和/或附图所公开的所有特征可以单独或以任何子组合的方式与本公开各方面的特征(包括其优选实施例的特征)相组合，只要得出的特征组合对于本领域技术人员而言是合理的。

为了本公开的目的，例如，短语“A、B和C中的至少一个”意味着(A)、(B)、(C)、(A和B)、(A和C)、(B和C)或(A、B和C)，其在列出三个以上的元素时包括所有其他可能的排列。换言之，“A和B中的至少一个”通常意味着“A和/或B”，即，单独的“A”、单独的“B”或“A和B”。

在图1中，示出了用于校准管理的系统10，该系统10包括至少一个测量仪器12，用于测试被测器件(DUT)14，例如电子器件。

被测器件14与测量仪器12连接，特别是以有线或无线的方式。因此，被测器件14可以借助于类似一条或多条电缆和/或一个或多个固定装置的组件15连接到测量仪器12。

因此，测量仪器12能够根据特定测试例程来测试被测器件14，以便在属性/特性方面表征被测器件14。

系统10还包括与测量仪器12连接的监视设备16，使得监视设备16能够在测试被测器件14期间收集来自测量仪器12的参数。

这些收集到的参数可以包括：根据被测器件14的测量的不确定度、对代替被测器件14所使用的金标准的检查、和/或在IEEE 370中定义的参数，即用于电气器件的电气特性的参数，特别是散射参数或者更确切地说是s-参数完整性。

此外，收集到的参数可以包括：与连接到测量仪器12的至少一个组件15(类似一条或多条电缆和/或一个或多个固定装置)的运动相关联的参数、与测量仪器12本身的运动相关联的参数、测量仪器12的通电和断电周期、测量仪器12的空闲时间、测量仪器12的使用时间、测量仪器12的预期寿命、测量仪器12的自对准失败的次数以及测量仪器12的温度廓线。

所有这些参数可以借助于监视设备16来收集，以便在测试被测器件14期间监视测量仪器12。

监视设备16在测试被测器件14期间从测量仪器12接收不同种类的参数，其中监视设备16基于收集到的参数来创建校准廓线。换言之，校准廓线是基于用于获得参数的各种不同方法来创建的。

校准廓线指示测量仪器12的校准状态，使得调查了测量仪器12是否处于校准状态。此外，可以从校准廓线中得出测量仪器12的下一次校准何时有必要。

此外，校准廓线可以基于收集到的参数的趋势和/或统计数据来创建，从而识别特定参数(例如，增加的不确定度)的变化行为。

通常，被测器件14是测量装置17的一部分，该测量装置17包括测量仪器12、用于将被测器件14与测量仪器12连接的组件15(类似一条或多条电缆和/或一个或多个固定装置)，以及可选地可以与测量仪器12连接的其他仪器(其在图1中用虚线表示)。用于设置测量装置的所有这些不同的组件/仪器/设备可能对用户处所的测量仪器12的校准状态产生影响，特别是对整个测量装置产生影响。换言之，所有这些不同的组件/仪器/设备都可能影响测量仪器12的校准状态。

系统10还包括界面18，经由界面18可以输出信息，即基于校准廓线的信息，该校准廓线是基于在被测器件14的测试期间收集到的参数而创建的。

界面18可以是图形用户界面(GUI)，其直接(即以视觉方式)将相应信息提供给系统10的用户。然而，界面18也可以涉及数据界面，其将相应信息转发给后续系统，该后续系统处理所获得的信息。特别地，界面18涉及简单网络管理协议(SNMP)界面。

在所示的实施例中，界面18是图形用户界面，该图形用户界面是监视设备16的一部分。

该信息被输出，以便通知系统10的用户是否有必要对测量仪器12进行新的校准。

此外，能如何延长新校准的信息可以经由界面18输出，使得更多的被测器件14可以在实际校准间隔中借助于测量仪器12进行测试，从而推迟下一次校准。

因此，系统10是校准管理系统，该校准管理系统被配置为管理和调度测量仪器12的校准，如提供校准是否(很快)到期的信息，以及可选地如何推迟下一次校准同时保持测量仪器12处于其操作状态的信息。

监视设备16包括处理电路20，该处理电路20接收来自测量仪器12的参数并相应地处理这些参数以便创建校准廓线，该校准廓线指示测量仪器12特别是整个测量装置17的校准状态，或者更确切地说，测量仪器12相对于测量装置17的校准状态。

除了从测量仪器12接收到的参数之外，监视设备16，特别是处理电路20，可以(额外地)考虑类似环境温度和/或环境湿度的环境参数，这也可能对测量仪器12的校准状态产生影响。

在图2中，示出了相应的校准例程，其说明了如何管理测量仪器12的校准，特别是如何创建校准廓线。

如图2所示，对于借助于测量仪器12每次单独测量被测器件14，借助于监视设备16收集来自测量仪器12的参数。这在图2的第一方框中用“1次测量”表示。

基于收集到的参数，借助于监视设备16，特别是处理电路20，计算校准廓线。

然后，对照与校准廓线相关联的裕度检查所计算的校准廓线，以便验证指示测量仪器12的校准状态的实际校准廓线是否在裕度内。

在所计算的校准廓线在规定的裕度内的情况下，则不需要(重新)校准，因此可以执行下一次测量。

在实际校准廓线不在裕度内的情况下，测量仪器12的(重新)校准是(很快)有必要的。因此，该相应的信息经由界面18被输出。

通常，相应的检查也借助于监视设备14特别是处理电路20来执行。

此外，图2示出了当执行检查时得出的新裕度，该新裕度将被应用于下一次检查，即与由测量仪器12执行的下一次测量相关联的检查。因此，用于评估校准廓线的裕度总是在实际条件方面进行适应调整。

相应地，由于裕度被持续地调整到实际条件，获得了持续的优化过程。

换言之，校准廓线是针对借助于测量仪器12执行的每次单独的测量而创建的。

以类似的方式，在创建的校准廓线的间隔检查期间使用的裕度也持续地进行调整，即在执行每次单独的检查之后。

因此，由于监视设备16在每次检查之后调整裕度，整个系统10提供了持续的校准监视以及校准调整。

相比之下，如图3所示，现有技术中的校准例程是在已经执行了特定数量的测量之后以固定的方式进行的，这是因为(重新)校准发生在预定时间(例如，每三天的上午9点)，而不管测量仪器12或者更确切地说是测量装置17的当前状态如何。

如上文所提及的，用于校准管理的系统10以及管理测量仪器16的校准的相应方法持续地监视指示测量仪器12的校准状态的校准廓线，其中该校准廓线是针对借助于测量仪器12执行的每次单独的测量而创建的。

为了确定测量仪器12的校准是否有必要，监视设备16对照裕度检查单独创建的校准廓线，该裕度也在每次执行检查之后被动态地调整。因此，用于评估校准廓线的裕度被调整到真实条件。该调整可以基于在实际检查期间确定的一个或多个偏差。

当对照裕度检查所创建的校准廓线时，可以确定校准的紧迫性。因此，监视设备16可以确定校准是否不必要，校准是否很快有必要，或者校准是否必须立即进行。

通常，系统10提供了持续的校准监视，因为校准廓线是为每次测量而持续创建的，并且对照每次测量的相应裕度进行检查。

除了关于校准的信息之外，还可以经由界面18生成和输出测试特定的信息。

测试特定的信息可以涉及DUT测试特定的信息，其可以用于创建DUT专用的性能表。DUT专用性能表可以包括用于性能指标和实际分数的置信水平。因此，该信息允许为具有正常器件不满足的规格的客户选择特定DUT。

因此，测试特定的信息基于要由测量仪器12测试的被测器件14。

本文所公开的特定实施例，特别是相应的一个或多个模块和一个或多个单元，利用电路系统(例如，一个或多个电路)以便实施本文所公开的标准、协议、方法或技术，可操作地耦合两个或更多个组件，生成信息，处理信息，分析信息，生成信号，编码/解码信号，转换信号，传送和/或接收信号，控制其他设备等。可以使用任何类型的电路。

在实施例中，除了其他方面之外，电路系统包括一个或多个计算设备，诸如处理器(例如，微处理器)、中央处理单元(CPU)、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、片上系统(SoC)等或其任何组合，并且可以包括离散的数字或模拟电路元件或电子器件或其组合。在实施例中，电路包括硬件电路实施方式(例如，模拟电路中的实施方式、数字电路中的实施方式等以及其组合)。

本申请可以引用数量和数字。除非特别说明，否则这些这些数量和数字不应被认为是限制性的，而是与本申请相关联的示例性的可能数量或数目。同样在这方面，本申请可以使用术语“多个”指代数量或数字。在这方面，术语“多个”意指大于1的任何数字，例如2、3、4、5等。术语“大约(about)”、“近似(approximately)”、“接近(near)”等意指规定值的正负5％。

虽然相对于一个或多个实施方式已经说明和描述了本公开，但是在阅读和理解本说明书和附图时，本领域的其他技术人员将会想到等效的变更和修改。另外，尽管仅相对于若干实施方式之一可能已经公开了本公开的特定特征，但是这些特征可以与其他实施方式的一个或多个其他特征相组合，这对于任何给定的或特定的申请可能是期望且有益的。

Claims (19)

1.一种用于校准管理的系统，所述系统包括：

至少一个测量仪器，用于测试被测器件；和

监视设备，其中所述监视设备与所述测量仪器连接，其中所述监视设备在测试期间收集来自所述测量仪器的参数，其中所述监视设备基于收集到的参数而创建校准廓线，其指示所述测量仪器的校准状态，并且其中，

所述系统包括界面，经由所述界面，输出基于校准廓线的信息，其指示所述测量仪器的新校准是否有必要。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述系统是校准管理系统，所述校准管理系统被配置为管理所述测量仪器的校准。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其中，至少一个环境参数在创建所述校准廓线时也被考虑在内，并且其中所述至少一个环境参数包括环境温度和环境湿度中的至少一个。

4.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，收集到的参数包括以下中的至少一个：来自测量的不确定度、对金标准的检查、IEEE 370中定义的参数、与连接到所述测量仪器的组件的运动相关联的参数、与所述测量仪器的运动相关联的参数、通电和断电周期、空闲时间、使用时间、预期寿命、自对准的失败次数以及所述测量仪器的温度廓线。

5.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述参数的趋势和统计数据中的至少一个在创建所述校准廓线时被考虑在内。

6.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述校准廓线是基于用于获得所述参数的各种不同方法来创建的。

7.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述监视设备将创建的校准廓线对照与所述校准廓线相关联的裕度检查。

8.根据权利要求7所述的系统，其中，所述监视设备被配置为：在将所述创建的校准廓线对照所述裕度检查时，确定所述校准的紧迫性。

9.根据权利要求7或8所述的系统，其中，所述监视设备被配置为：在将所述创建的校准廓线对照所述裕度检查时，识别所述校准是否不必要、所述校准是否很快有必要、或者所述校准是否必须立即进行。

10.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述监视设备针对借助于所述测量仪器执行的每次测量而创建所述校准廓线。

11.根据权利要求7至9中任一项所述的系统，其中，所述监视设备针对借助于所述测量仪器执行的每次测量而将所述创建的校准廓线对照所述裕度检查。

12.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述系统提供持续的校准监视。

13.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述监视设备调整与所述校准廓线相关联的所述裕度。

14.根据权利要求13所述的系统，其中，所述监视设备在每次检查之后调整与所述校准廓线相关联的所述裕度。

15.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，经由所述界面提供的信息包括关于如何延长新校准的信息。

16.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述界面提供测试特定的信息。

17.根据权利要求16所述的系统，其中，所述测试特定的信息基于要由所述测量仪器测试的被测器件。

18.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述监视设备提供所述界面。

19.一种管理测量仪器的校准的方法，所述方法包括以下步骤：

-借助于测量仪器，执行对被测器件的测试，

-借助于监视设备，收集来自所述测量仪器的参数，

-处理借助于所述监视设备收集到的参数，

-基于收集到的参数创建校准廓线，所述校准廓线指示所述测量仪器的校准状态，以及

-经由界面输出基于所述校准廓线的信息，其中所述信息指示所述测量仪器的新校准是否有必要。

Images