CN115646781A - 一种uv胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及FOG绑定技术领域,且公开了一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,包括以下步骤:第一步:FOG状态上POL&银浆不良;第二步:撕铜箔;第三步:清洗银浆;第四步:拔上POL;第五步:LCD清洁;第六步:贴上POL;第七步:补打银浆,该UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,环绕银浆点式涂布面胶免返修除面胶工艺为在TFT端子区涂布面时环绕TFT端子区Ag银浆点边缘进行面胶涂布的工艺,杜绝在返修过程因TFT端子区面胶完全覆盖Ag银浆点导致CF面补打银浆与TFT端子区Ag银奖点的不能连接导通问题,提高可返修性和减少返修除面胶流程及除面胶导致的LCD报废损耗问题产生。
Description
技术领域
本发明涉及FOG绑定技术领域,具体为一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺。
背景技术
模组产品设计生产过程中,绝大部分FOG绑定后产品均需要在产品TFT端子涂面胶以保护TFT端子IC&FPC绑定四周密封性及TFT端子表面ITO线路起到防护效果,起到在特定高温高湿&盐雾&冷热冲击&水煮等环境下保证产品的电性性能和抗ITO表面刮伤性能。返修上POL&银浆不良过程因CF面银浆被擦拭清洁后,面胶胶材对TFT端子整面进行涂布封装,TFT面Ag银浆点被面胶完全覆盖,补打银浆后CF面银浆与TFT端子银浆点无连接不能导通,影响电性性能,只能进行除面胶返修作业,返修过程增加LCD报废损耗产生问题。故需开发新型面胶涂布方案来解决除面胶返修流程LCD报废损耗问题。
目前TFT端子整面面胶涂胶工艺及常用面胶材料总结归纳为以下几种:
UV胶面胶TFT整面涂布满TFT端子工艺:使用UV胶面胶胶材对TFT端子整面进行涂布封装,TFT面Ag银浆点被UV胶面胶完全覆盖,返修过程因TFT端子Ag银浆点被UV胶面胶完全覆盖,补银浆后CF面银浆与TFT端子银浆点无连接不能导通,影响电性性能;
Turffy胶面胶TFT整面涂布满TFT端子工艺:使用Turffy胶面胶胶材对TFT端子整面进行涂布封装,TFT面Ag银浆点被Turffy胶面胶完全覆盖,返修过程因TFT端子Ag银浆点被Turffy胶面胶完全覆盖,补银浆后CF面银浆与TFT端子银浆点无连接不能导通,影响电性性能;
氟化剂面胶TFT整面涂布满TFT端子工艺:使用氟化剂面胶胶材对TFT端子整面进行涂布封装,TFT面Ag银浆点被氟化剂面胶完全覆盖,返修过程因TFT端子Ag银浆点被氟化剂面胶完全覆盖,补银浆后CF面银浆与TFT端子银浆点无连接不能导通,影响电性性能;
环绕银奖点式TFT整面涂布满TFT端子工艺:在TFT端子面胶涂布过程对银浆点位置周边进行环绕式涂布;
经调查,对于TFT整面面胶涂布均为覆盖TFT端子Ag银浆点涂布工艺,在产品返修过程CF面银浆被擦拭后,补银浆后与TFT端子Ag银浆点无连接效果,不能进行导通,影响电性性能,只能进行除面胶返修作业,返修过程增加LCD报废损耗产生问题。对于TFT端子区整面涂布面胶工艺在返修上POL&银浆不良过程均无有效方案解决除面胶流程减少LCD报废损耗问题,为此我们提出了一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,解决了上述的问题。
(二)技术方案
为实现上述所述目的,本发明提供如下技术方案:一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,包括以下步骤:
第一步:FOG状态上POL&银浆不良;
第二步:撕铜箔;
第三步:清洗银浆;
第四步:拔上POL;
第五步:LCD清洁;
第六步:贴上POL;
第七步:补打银浆。
优选的,第二步中的具体步骤如下:采用电烙铁,调到高温400度左右,放在铜箔上,对铜箔进行加温,加热时间为十秒,等到铜箔松动,然后将铜箔撕下即可。
优选的,第三步中的具体步骤如下:将LCD放置到工装中,然后将清洗液倒在LCD的银浆上,然后静置十分钟,直到银浆融化,然后将银浆清理。
优选的,第五步的内容如下液晶屏幕有两种:硬屏、软屏,一般都是软屏,区分方法:手指轻触其表面,起水波纹的是软屏,反之是硬屏;
硬屏清洁:新毛巾蘸清水顺着同一方向擦拭,不要来回反复抹,如遇强力污渍,可用毛巾蘸少许白醋去污,注意凡是用白醋擦过的地方,需要用清水重新擦一遍;
软屏清洁:必须使用正规的清洁套装,擦拭时同样不要来回反复抹,注意:专用清洁布一经使用,即使及时将其洗净晾干,不能二次使用。
优选的,第七步包括以下步骤:
第一步:将LCD固定在工装上;
第二步:对银浆进行加热,然后将银浆刷在工装上;
第三步:此时银浆通过工装上的孔洞,落入到PCB板上,然后静置,直到银浆冷却,银浆凝固。
(三)有益效果
与现有技术相比,本发明提供了一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,具备以下有益效果:
1、该UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,环绕银浆点式涂布面胶免返修除面胶工艺为在TFT端子区涂布面时环绕TFT端子区Ag银浆点边缘进行面胶涂布的工艺,杜绝在返修过程因TFT端子区面胶完全覆盖Ag银浆点导致CF面补打银浆与TFT端子区Ag银奖点的不能连接导通问题,提高可返修性和减少返修除面胶流程及除面胶导致的LCD报废损耗问题产生。
附图说明
图1为本发明结构流程示意图;
图2为本发明与改善前对比示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在模组FOG生产后进行TFT端子区面胶涂布过程进行环绕Ag银浆点涂布面胶封装。:
FOG产品状态产品,CF&TFT端子区完成打Ag银浆;
涂布面胶的机台针头打胶路径环绕银浆点设置;
涂布面胶后完成环绕TFT银浆点涂布面胶效果;
后工序检查出的上POL&银浆类不良在返修过程不再除TFT面胶流程;
上POL&银浆类不良进行清洁Ag银浆后完成下步返修后可进行补打银浆,CF银浆与TFT端子区Ag银浆点连接良好,导通性正常,电性性能正常;
常规TFT端子区整面涂布面胶工艺:FOG状态上POL&银浆不良→撕铜箔&→除面胶→清洗银浆→拔上POL→LCD清洁→贴上POL→补打银浆,原有TFT整面涂布银浆工艺日均返修除面胶数量1221pcs,日均除面胶LCD功能报废60pcs,不良率;4.91%;
一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,包括以下步骤:
FOG状态上POL&银浆不良→撕铜箔&→清洗银浆→拔上POL→LCD清洁→贴上POL→补打银浆,改善为环绕TFT银浆点涂布面胶后减少了返修除面胶流程,直接可进行清洗银浆及后工序补打银浆作业,日均产生除面胶报废为0pcs,不良率0%,优化为环绕银浆点式涂布面胶免返修除面胶工艺后日均减少除面胶报废60pcs,报废率改善4.91%。
使用环绕银浆点式涂布面胶免返修除面胶工艺样品投入40pcs进行高温高湿工作实验、双85工作实验、冷热冲击实验、盐雾保存实验、确认电测、外观均无异常,确认结果OK。
参阅图2,改善为环绕TFT Ag银浆点后,TFT Ag银浆点表面漏出,可直接减少上pol类&银浆类不良减少了返修除面胶和洗银浆工序和人力。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,其特征在于,包括以下步骤:
第一步:FOG状态上POL&银浆不良;
第二步:撕铜箔;
第三步:清洗银浆;
第四步:拔上POL;
第五步:LCD清洁;
第六步:贴上POL;
第七步:补打银浆。
2.根据权利要求1所述的一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,其特征在于:第二步中的具体步骤如下:采用电烙铁,调到高温400度左右,放在铜箔上,对铜箔进行加温,加热时间为十秒,等到铜箔松动,然后将铜箔撕下即可。
3.根据权利要求1所述的一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,其特征在于:第三步中的具体步骤如下:将LCD放置到工装中,然后将清洗液倒在LCD的银浆上,然后静置十分钟,直到银浆融化,然后将银浆清理。
4.根据权利要求1所述的一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,其特征在于:第五步的内容如下液晶屏幕有两种:硬屏、软屏,一般都是软屏,区分方法:手指轻触其表面,起水波纹的是软屏,反之是硬屏;
硬屏清洁:新毛巾蘸清水顺着同一方向擦拭,不要来回反复抹,如遇强力污渍,可用毛巾蘸少许白醋去污,注意凡是用白醋擦过的地方,需要用清水重新擦一遍;
软屏清洁:必须使用正规的清洁套装,擦拭时同样不要来回反复抹,注意:专用清洁布一经使用,即使及时将其洗净晾干,不能二次使用。
5.根据权利要求1所述的一种UV胶环绕银浆点涂布达到优化返修流程的工艺,其特征在于:第七步包括以下步骤:
第一步:将LCD固定在工装上;
第二步:对银浆进行加热,然后将银浆刷在工装上;
第三步:此时银浆通过工装上的孔洞,落入到PCB板上,然后静置,直到银浆冷却,银浆凝固。
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