CN115634847B - 一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电子元器件技术领域,尤其是一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,包括工作台,所述工作台顶部设置有测试机构和拨动机构,所述测试机构用于对电路板进行硬度测试,所述拨动机构用于对测试合格的电路板进行拨动收集,所述工作台的顶部开设有放置槽,所述放置槽的底面上开设有通槽,所述通槽贯穿所述工作台,所述放置槽用于放置待检测的电路板,此装置通过往复驱动机构的设置,使得装置可以水平推动检测不合格的电路板至所述三角倾斜收集槽和所述收集槽处进行收集,从而有利于装置自动对检测不合格的电路板进行分类处理。
Description
技术领域
本发明涉及电子元器件领域,尤其涉及一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置。
背景技术
电路板几乎是任何电子产品的基础,出现在各种电子设备中,一般说来,如果在某设备中有电子元器件,那么它们也都是被安装在大小各异的电路板表面。
现有技术公开了部分电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置的发明专利,申请号为202111415653.2的中国专利,公开了一种电子元器件生产加工用电路板硬度检测装置,包括装置外壳,所述装置外壳的内部开设有工作腔,所述装置外壳的内部且位于所述工作腔的两侧均开设有上传动腔。
现有的测试机构再对电路板进行测试的过程中,由于在生产过程中存在一些残次品,可能测试机构在对测试电路板硬度测试的过程中会造成电路板本身发生完全断裂或者电路板表面出现不平整但是未断裂的情况,而针对不同状态下的电路板,后期是需要人工去分类,这样才能更好的检查每个电路板存在哪些问题,如果统一将不合格的电路板放置到同一个收集箱中,这样在后续返厂维修时需要人工再次耗费时间对不同状态的电路板进行分类,极大的耗费了工作时间,为此,本发明提出了一种电子元器件生产加工用电路板硬度检测装置用于解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置。
为达到以上目的,本发明采用的技术方案为:一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,包括工作台,所述工作台顶部设置有测试机构和拨动机构,所述测试机构用于对电路板进行硬度测试,所述拨动机构用于对测试合格的电路板进行拨动收集,所述工作台的顶部开设有放置槽,所述放置槽的底面上开设有通槽,所述通槽贯穿所述工作台,所述放置槽用于放置待检测的电路板;
所述放置槽内开设有三角倾斜收集槽,所述三角倾斜收集槽用于筛选通过已经完全断裂的电路板,所述工作台的顶部开设有收集槽,所述收集槽位于三角倾斜收集槽底边背向所述通槽的一侧,所述收集槽用于筛选通过不合格但完整的电路板,所述工作台的底部固定有收集箱,所述收集箱内固定有隔离板,所述收集箱用于对所述三角倾斜收集槽和所述收集槽中筛选掉落的电路板进行分类收集;
所述工作台的底部设置有往复驱动机构,所述往复驱动机构用于沿着放置槽水平推动检测不合格的电路板至所述三角倾斜收集槽和所述收集槽处进行收集。
优选的,所述往复驱动机构包括两个固定座和连接座,两个所述固定座均固定在所述工作台的底部,两个所述固定座之间固定有滑动杆,所述滑动杆的外壁上滑动连接有移动套,所述移动套的外壁底部固定有往复杆,所述往复杆的外壁上滑动连接有升降座,所述升降座朝向所述放置槽的一侧固定有滑动座,所述滑动座的顶部固定有支撑座,所述支撑座的顶部固定有两个推杆,所述推杆用于对检测不合格的电路板进行推动收集,并且所述推杆位于所述通槽的内部,所述连接座固定于所述工作台的底部,所述连接座背向所述滑动杆的一侧固定有安装板,所述安装板的顶部固定有驱动电机,所述驱动电机的输出轴端贯穿所述连接座后固定有转杆,所述转杆背向所述连接座的一端固定有推动座,所述推动座的内部滑动贯穿插设有推动杆,所述推动杆朝向所述三角倾斜收集槽的一端固定有侧板,所述侧板朝向所述放置槽固定有横板,所述横板上通过支柱与升降座转动连接,所述推动杆上套设有推动弹簧,所述推动弹簧的一端与所述推动座固定连接,所述推动弹簧的另一端与所述侧板固定连接。
优选的,所述工作台的顶部固定有转动架,所述转动架内固定有固定柱,所述固定柱的外壁上转动连接有点压板,所述点压板背向所述放置槽的一端固定有伸缩板,所述点压板位于三角倾斜收集槽的上方,所述伸缩板的底部转动连接有升降杆,靠近所述升降杆的所述固定座上设置有触发机构,在电路板移动至所述三角倾斜收集槽的内部时,所述触发机构触发启动后向上推动所述升降杆。
优选的,所述触发机构包括移动杆,所述移动杆滑动贯穿插设于所述固定座的一侧,所述移动杆背向所述移动套的一端固定有倾斜块,所述倾斜块的顶部开设有倾斜面,所述倾斜面位于所述升降杆的正下方,所述移动杆的外壁套设有拉簧,所述拉簧的一端与所述固定座固定连接,所述拉簧的另一端与所述倾斜块固定连接。
优选的,所述通槽的两侧壁均开设有滑动通槽,两个所述滑动通槽内均固定有多个支撑弹簧,同一所述滑动通槽内部的所述支撑弹簧朝向所述通槽的一端共同固定有卡合板,所述卡合板滑动连接于所述滑动通槽的内壁中,两个所述卡合板的相对侧相互接触并且位于所述通槽的内部,两个所述卡合板背向所述三角倾斜收集槽的一端均开设有斜面。
优选的,所述放置槽内部背向所述三角倾斜收集槽的一端开设有横槽,所述横槽内放置有清扫件,所述清扫件上开设有槽孔,所述清扫件背向的三角倾斜收集槽一侧固定有拉伸弹簧,所述拉伸弹簧背向的三角倾斜收集槽的一端固定有滑动块,所述通槽的内部背向的三角倾斜收集槽的一端固定有滑轨,所述滑轨与所述滑动块滑动连接,所述支撑座的顶部固定有两个卡合杆,所述卡合杆用于配合所述槽孔驱动所述清扫件运动。
优选的,所述工作台的顶部开设有输送槽和两个固定槽,两个所述固定槽位于输送槽的两侧,两个所述固定槽的内部均固定有滑架,两个所述滑架内框侧壁之间均固定有分隔块,两个所述滑架的内框侧壁均开设有移动槽,两个所述移动槽内均滑动连接有位移杆,两个所述位移杆的背向所述移动槽的一端均固定有支撑块,两个所述滑架内框侧壁之间均固定有固定块,所述固定块位于所述分隔块的下方,两个所述支撑块的顶部均设置有调节机构,所述支撑块放置在所述分隔块的顶部,两个所述支撑块之间和两个所述固定块之间均转动连接有连接杆,两个所述连接杆上均固定有输送滚辊,所述固定槽内开设有电机槽,所述电机槽内固定有电机,所述电机的输出轴端部贯穿所述固定块后与连接杆固定连接。
优选的,所述调节机构包括螺纹杆,所述螺纹杆螺纹贯穿插设于所述滑架的顶部,所述螺纹杆的底部固定有减震弹簧,所述减震弹簧的底端与所述支撑块固定连接。
优选的,所述测试机构包括装置板和辅助板,所述辅助板转动连接于所述工作台的顶部,所述辅助板用于对放置在所述放置槽内的电路板进行辅助定位,所述装置板固定于所述工作台的顶部,所述装置板朝向所述放置槽的一侧固定有装置杆,所述装置杆的外壁底部固定有气缸,所述气缸的伸缩端固定有测试压头。
优选的,所述拨动机构包括安装座,所述安装座固定于工作台的顶部,所述安装座的顶部固定有液压杆,液压杆的伸缩端固定有L型推杆,所述L型推杆用于对测试合格的电路板进行推动收集。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
1.本发明通过往复驱动机构的设置,使得装置可以水平推动检测不合格的电路板至所述三角倾斜收集槽和所述收集槽处进行收集,从而有利于装置自动对检测不合格的电路板进行分类处理。
2.本发明通过触发机构的设置,使得移动套与移动杆接触时,可以带动倾斜块移动,当倾斜块与升降杆抵触时带动升降杆向上运动,从而通过升降杆带动点压板沿着固定柱转动,进而可以对经过三角倾斜收集槽的不合格电路板进行点压,从而有利于装置将断裂和未断裂的电路板进行分类收集。
3.本发明通过设置清扫件的设置,再通过往复驱动机构带会进入到槽孔中并带动清扫件向上运动,清扫件向上移动带动滑动块在滑轨中向上移动,清扫件向上移动后脱离横槽,随后清扫件到达放置槽表面,从而有利于清扫件对放置槽上残留的碎屑进行清理。
附图说明
图1为本发明的第一整体结构示意图;
图2为本发明的第二整体结构示意图;
图3为本发明的图2中A处的放大结构示意图;
图4为本发明去除工作台的结构示意图;
图5为本发明的图4中B处的放大结构示意图;
图6为本发明去除工作台的另一视角结构示意图(局部视图);
图7为本发明的图6中F处的放大结构示意图;
图8为本发明的第三整体的结构示意图;
图9为本发明的图8中C处的放大结构示意图;
图10为本发明的图8中G处的放大结构示意图;
图11为本发明的沿工作台剖面后的结构示意图(局部视图);
图12为本发明的图11中D处的放大结构示意图;
图13为本发明的第四整体的结构示意图(局部视图);
图14为本发明的图11中E处的放大结构示意图;
图15为本发明的沿工作台剖面后的另一视角结构示意图。
图中:1、工作台;2、液压杆;3、L型推杆;4、通槽;5、放置槽;6、滑动座;7、支撑座;8、推杆;9、三角倾斜收集槽;10、收集槽;11、固定座;12、连接座;13、滑动杆;14、移动套;15、往复杆;16、升降座;17、驱动电机;18、转杆;19、推动座;20、推动杆;21、侧板;22、横板;23、支柱;24、推动弹簧;25、转动架;26、固定柱;27、点压板;28、升降杆;29、移动杆;30、倾斜块;31、倾斜面;32、拉簧;33、卡合板;34、支撑弹簧;35、横槽;36、清扫件;37、拉伸弹簧;38、滑动块;39、滑轨;40、卡合杆;41、槽孔;42、滑架;43、移动槽;44、位移杆;45、支撑块;46、连接杆;47、输送滚辊;48、螺纹杆;49、减震弹簧;50、装置板;51、装置杆;52、气缸;53、测试压头;54、安装座;55、安装板;56、分隔块;57、电机;58、收集箱;59、隔离板;60、辅助板;61、电机槽;62、固定槽;63、输送槽;64、滑动通槽;65、固定块;66、伸缩板。
具体实施方式
以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例,本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。
如图1至图15所示的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,包括工作台1,工作台1顶部设置有测试机构和拨动机构,测试机构用于对电路板进行硬度测试,拨动机构用于对测试合格的电路板进行拨动收集,工作台1的顶部开设有放置槽5,放置槽5的底面上开设有通槽4,通槽4贯穿工作台1,放置槽5用于放置待检测的电路板;
放置槽5内开设有三角倾斜收集槽9,三角倾斜收集槽9用于筛选通过已经完全断裂的电路板,工作台1的顶部开设有收集槽10,收集槽10位于三角倾斜收集槽9底边背向通槽4的一侧,收集槽10用于筛选通过不合格但完整的电路板,工作台1的底部固定有收集箱58,收集箱58内固定有隔离板59,收集箱58用于对三角倾斜收集槽9和收集槽10中筛选掉落的电路板进行分类收集;
工作台1的底部设置有往复驱动机构,往复驱动机构用于沿着放置槽5水平推动检测不合格的电路板至三角倾斜收集槽9和收集槽10处进行收集;工作时,在对电路板硬度进行测试的过程中,由于电路板硬度测试过程中存在残次品,从而通常是需要对测试合格和不合格的电路板进行分类收集,便于后续处理,在收集过程中,因为有些电路板在测试过程中出现完全断裂开和部分粘连的情况,所以需要对此种情况在分类的基础上再次进行分类收集,以便于后续工作人员对电路板进行不同的处理,本发明的具体实施例可以解决以上问题,具体实施方式如下:首先将电路板放置到放置槽5中,再打开测试机构,测试机构下降对电路板的硬度进行测试,当电路板硬度测试合格,拨动机构在设置好的程序作用下开始工作,将合格的电路板拨入到放置箱中,当电路板硬度测试不合格,程序使往复驱动机构开始工作,往复驱动机构启动后对不合格的电路板进行推动,使得不合格的电路板被推动后向三角倾斜收集槽9处移动,使得断裂的电路板被推动至三角倾斜收集槽9上方后,由于三角倾斜收集槽9背向通槽4的方向宽度逐渐增大,从而使得对电路板的支撑点位置逐渐向电路板的边缘处移动,从而使得电路板由于中部失去支撑而通过通槽4进行掉落至收集箱58的内部,而中部未断裂的电路板通过边缘的支撑而继续被推动沿着三角倾斜收集槽9的顶部移动,直至电路板移动至收集槽10的顶部后,电路板的边缘失去支撑,从而沿着收集槽10向下掉落至收集箱58的内部,从而通过三角倾斜收集槽9和收集槽10的设置,实现对完全断裂的电路板和未断裂但是损坏的电路板的筛选收集,从而有利于对损坏程度不同的电路板的分类收集,往复驱动机构呈回字形路线进行推动,从而有利于工作者不间断的放置电路板进入放置槽5中,避免测试工作中断,如此循环工作,从而有利于对不同情况的电路板进行分类收集,节省后续工作人员的整理时间。
作为本发明的一种实施方式,往复驱动机构包括两个固定座11和连接座12,两个固定座11均固定在工作台1的底部,两个固定座11之间固定有滑动杆13,滑动杆13的外壁上滑动连接有移动套14,移动套14的外壁底部固定有往复杆15,往复杆15的外壁上滑动连接有升降座16,升降座16朝向放置槽5的一侧固定有滑动座6,滑动座6的顶部固定有支撑座7,支撑座7的顶部固定有两个推杆8,推杆8用于对检测不合格的电路板进行推动收集,并且推杆8位于通槽4的内部,连接座12固定于工作台1的底部,连接座12背向滑动杆13的一侧固定有安装板55,安装板55的顶部固定有驱动电机17,驱动电机17的输出轴端贯穿连接座12后固定有转杆18,转杆18背向连接座12的一端固定有推动座19,推动座19的内部滑动贯穿插设有推动杆20,推动杆20朝向三角倾斜收集槽9的一端固定有侧板21,侧板21朝向放置槽5固定有横板22,横板22上通过支柱23与升降座16转动连接,推动杆20上套设有推动弹簧24,推动弹簧24的一端与推动座19固定连接,推动弹簧24的另一端与侧板21固定连接;工作时,当单片机结合程序发出测试不合格的指令时,程序自动启动驱动电机17,驱动电机17启动后通过输出轴带动转杆18转动,转杆18带动推动座19转动,推动座19带动推动杆20转动,推动杆20转动后具有带动侧板21和横板22、升降座16转动的趋势,由于升降座16滑动竖向滑动套设在往复杆15的外部,使得升降座16只能够沿着往复杆15的外壁竖向移动,从而使得推动杆20带动侧板21先向下运动,侧板21带动横板22向下运动,横板22带动升降座16在往复杆15向下运动,并且由于移动套14滑动套设在滑动杆13的外圈,使得推动杆20转动过程中同步推动移动套14沿着滑动杆13向推动座19的方向移动,升降座16在水平移动到过程中,转杆18会在推动座19中滑动,同时侧板21配合推动座19对推动弹簧24进行压缩,同时,横板22通过支柱23自身也会在升降座16上转动,从而有利于维持装置正常工作,适应运动轨迹,升降座16带动滑动座6和支撑座7向下运动,支撑座7带动推杆8向下运动,当推动杆20转动至竖直状态后,升降座16带动往复杆15水平移动到滑动杆13的一半距离时,此时侧板21和横板22继续转动,推动弹簧24释放弹簧力,使得升降座16逐渐向往复杆15的上方移动,并且,随着推动杆20的转动带动移动套14沿着滑动杆13继续滑动,使得升降座16通过滑动座6和支撑座7带动推杆8向上运动,使得推杆8向上移动穿过通槽4,进而使得推杆8可以对测试不合格的电路板进行推动,从而推动测试不合格的电路板向三角倾斜收集槽9的方向移动进行推动收集,当推杆8向呈水平向初始位置移动时,装置运动状态基本相同,当弹簧再次释放弹簧力时,有利于推动推杆8对电路板进行输送,推杆8的完整移动路线循环往复,从而有利于工作者不间断的放置电路板进入放置槽5中,避免测试工作中断,有利于后续电路板进行分类收集,当电路板分类完成,推杆8此时回归原位等待下一次指令。
作为本发明的一种实施方式,工作台1的顶部固定有转动架25,转动架25内固定有固定柱26,固定柱26的外壁上转动连接有点压板27,点压板27背向放置槽5的一端固定有伸缩板66,点压板27位于三角倾斜收集槽9的上方,伸缩板66的底部转动连接有升降杆28,靠近升降杆28的固定座11上设置有触发机构,在电路板移动至三角倾斜收集槽9的内部时,触发机构触发启动后向上推动升降杆28;工作时,在电路板经过三角倾斜收集槽9时,一是电路板可能存在部分折叠不容易进入到三角倾斜收集槽9中,二是可能存在断裂的电路板出现部分粘连但是符合完全断裂标准的电路板,此时电路板在经过三角倾斜收集槽9时,无法判断断裂情况,导致将符合完全断裂的电路板误收集到收集槽10中的情况,不利于进行分类收集,本发明的具体实施例可以解决以上问题,具体实施方式如下:当推杆8将不合格的电路板输送到三角倾斜收集槽9的上方时,此时移动套14会触碰到触发机构,触发机构带动伸缩板66向上运动,伸缩板66带动点压板27绕固定柱26翻转,同时伸缩板66能够伸缩,为点压板27和伸缩板66翻转过程中的长度变化进行适应配合,点压板27与固定柱26连接处,点压板27上预留有其在呈弧形转动过程中的预留口,从而有利于适配点压板27在呈弧形转动时产生的位移,防止装置卡死,从而点压板27的另一端会对输送过来的电路板进行点压,不但可以使经过三角倾斜收集槽9上方的断裂电路板更好的进入三角倾斜收集槽9中,还会对粘连的电路板进行分离,从容有利于将电路板进行分类,升降杆28的质量远大于点压板27的质量,从而有利于点压板27更好的复位。
作为本发明的一种实施方式,触发机构包括移动杆29,移动杆29滑动贯穿插设于固定座11的一侧,移动杆29背向移动套14的一端固定有倾斜块30,倾斜块30的顶部开设有倾斜面31,倾斜面31位于升降杆28的正下方,移动杆29的外壁套设有拉簧32,拉簧32的一端与固定座11固定连接,拉簧32的另一端与倾斜块30固定连接;工作时,移动套14与移动杆29接触时会推动其水平移动,移动杆29带动倾斜块30移动,倾斜块30移动后拉动拉簧32,倾斜块30被推动移动后带动倾斜面31移动,当倾斜块30上的倾斜面31与升降杆28接触时,推动升降杆28沿着倾斜面31上升,从而带动点压板27对电路板进行点压,从而有利于收集断裂的电路板,当移动套14移动远离移动杆29后,拉簧32通过自身形变产生的弹性力拉动倾斜块30复位,从而带动移动杆29移动复位。
作为本发明的一种实施方式,通槽4的两侧壁均开设有滑动通槽64,两个滑动通槽64内均固定有多个支撑弹簧34,同一滑动通槽64内部的支撑弹簧34朝向通槽4的一端共同固定有卡合板33,卡合板33滑动连接于滑动通槽64的内壁中,两个卡合板33的相对侧相互接触并且位于通槽4的内部,两个卡合板33背向三角倾斜收集槽9的一端均开设有斜面;工作时,在测试机构对电路板硬度进行测试的过程中,需要对推杆8的移动位置进行限定,防止其位置发生偏移,也需要对通槽4进行封闭处理,防止电路板在崩坏时碎片影响到其它部件,进而影响后续工作,本发明的具体实施例可以解决以上问题,具体实施方式如下:当推杆8水平移动时与卡合板33接触,卡合板33会向滑动通槽64内收缩,从而有利于将卡合板33上的碎屑清除,也可以限定推杆8的移动路线,防止发生偏移,当推杆8移动到预定位置脱离卡合板33时,卡合板33在支撑弹簧34的作用下恢复原位,两个卡合板33再次对通槽4进行封闭,从而有利于防止电路板在崩裂过程中损伤其他部件。
作为本发明的一种实施方式,放置槽5内部背向三角倾斜收集槽9的一端开设有横槽35,横槽35内放置有清扫件36,清扫件36上开设有槽孔41,清扫件36背向的三角倾斜收集槽9一侧固定有拉伸弹簧37,拉伸弹簧37背向的三角倾斜收集槽9的一端固定有滑动块38,通槽4的内部背向的三角倾斜收集槽9的一端固定有滑轨39,滑轨39与滑动块38滑动连接,支撑座7的顶部固定有两个卡合杆40,卡合杆40用于配合槽孔41驱动清扫件36运动;工作时,在测试机构对电路板硬度进行测试的过程中,对于测试中的一些不合格的电路板可能存在破裂的情况,而破裂成一些碎屑的电路板会散落在放置槽5中,如果不对这些碎屑进行清理,就会影响下一次的测试数据,不利于得到准确的数据结果,造成不必要的损坏,因此需要在对不合格的电路板进行输送时需要对放置槽5进行同步清理,本发明的具体实施例可以解决以上问题,具体实施方式如下:工作时,当支撑座7带动卡合杆40运动,卡合杆40随着推杆8向上运动时,卡合杆40会进入到槽孔41中并带动清扫件36向上运动,清扫件36向上移动带动滑动块38在滑轨39中向上移动,清扫件36向上移动后脱离横槽35,随后清扫件36到达放置槽5表面,卡合杆40带动清扫件36水平移动,从而有利于清扫件36对放置槽5上残留的碎屑进行清理,使其进入到三角倾斜收集槽9中,此时清扫件36移动的同时带动拉伸弹簧37同步拉伸,当卡合杆40向下移动脱离槽孔41时,此时清扫件36在拉伸弹簧37的作用下自动回收,清扫件36收回后在重力作用下与滑动块38同步向下移动,滑动块38向下滑动复位,清扫件36向下落回横槽35的内部,从而有利于下一次使用,提升使用效果。
作为本发明的一种实施方式,工作台1的顶部开设有输送槽63和两个固定槽62,两个固定槽62位于输送槽63的两侧,两个固定槽62的内部均固定有滑架42,两个滑架42内框侧壁之间均固定有分隔块56,两个滑架42的内框侧壁均开设有移动槽43,两个移动槽43内均滑动连接有位移杆44,两个位移杆44的背向移动槽43的一端均固定有支撑块45,两个滑架42内框侧壁之间均固定有固定块65,固定块65位于分隔块56的下方,两个支撑块45的顶部均设置有调节机构,支撑块45放置在分隔块56的顶部,两个支撑块45之间和两个固定块65之间均转动连接有连接杆46,两个连接杆46上均固定有输送滚辊47,固定槽62内开设有电机槽61,电机槽61内固定有电机57,电机57的输出轴端部贯穿固定块65后与连接杆46固定连接;工作时,当完整的电路板需要输送到收集槽10中时,由于电路板的状态不同可能存在出现鼓包或者不平整的情况,此时在后续的收集过程中可能存在影响堆叠的问题,因此需要对出现不平整状态的电路板进行处理,本发明的具体实施例可以解决以上问题,具体实施方式如下,电机57带动连接杆46转动,连接杆46带动位于底部的输送滚辊47转动,当推杆8将完整的电路板输送至两个输送滚辊47时,底部的输送滚辊47带动电路板向收集槽10移动,此时通过两个输送滚辊47之间的配合,对位于两个输送滚辊47之间电路板进行输送的同时也会对电路板上不平整的地方进行挤压,从而有利于将电路上不平整的部位压平,方便堆叠。
作为本发明的一种实施方式,调节机构包括螺纹杆48,螺纹杆48螺纹贯穿插设于滑架42的顶部,螺纹杆48的底部固定有减震弹簧49,减震弹簧49的底端与支撑块45固定连接;工作时,可以依据电路板的厚度转动螺纹杆48,使得螺纹杆48可以在滑架42上滑动,进而可以调整支撑块45的距离,使得两个输送滚辊47之间的距离可以根据电路板的厚度进行调节,通过减震弹簧49可以在对电路板上的不平处进行挤压时进行缓冲,从而有利于防止输送滚辊47压坏电路板。
作为本发明的一种实施方式,测试机构包括装置板50和辅助板60,辅助板60转动连接于工作台1的顶部,辅助板60用于对放置在放置槽5内的电路板进行辅助定位,装置板50固定于工作台1的顶部,装置板50朝向放置槽5的一侧固定有装置杆51,装置杆51的外壁底部固定有气缸52,气缸52的伸缩端固定有测试压头53;工作时,电路板放置到放置槽5中后,转动辅助板60对电路板的上侧进行固定,从而有利于防止电路板在测试过程中发生晃动,当固定完成后,气缸52带动测试压头53对电路板硬度进行测试。
作为本发明的一种实施方式,拨动机构包括安装座54,安装座54固定于工作台1的顶部,安装座54的顶部固定有液压杆2,液压杆2的伸缩端固定有L型推杆3,L型推杆3用于对测试合格的电路板进行推动收集;工作时,当程序判断电路板硬度测试合格,此时液压杆2开始工作,液压杆2带动L型推杆3移动,L型推杆3对合格的电路板推送到箱子中,从而有利于集中收集。
本发明工作原理:在对电路板硬度进行测试的过程中,由于电路板硬度测试过程中存在残次品,从而通常是需要对测试合格和不合格的电路板进行分类收集,便于后续处理,在收集过程中,因为有些电路板在测试过程中出现完全断裂开和部分粘连的情况,所以需要对此种情况在分类的基础上再次进行分类收集,以便于后续工作人员对电路板进行不同的处理,本发明的具体实施例可以解决以上问题,具体实施方式如下:首先将电路板放置到放置槽5中,再打开测试机构,测试机构下降对电路板的硬度进行测试,当电路板硬度测试合格,拨动机构在设置好的程序作用下开始工作,将合格的电路板拨入到放置箱中,当电路板硬度测试不合格,程序使往复驱动机构开始工作,往复驱动机构启动后对不合格的电路板进行推动,使得不合格的电路板被推动后向三角倾斜收集槽9处移动,使得断裂的电路板被推动至三角倾斜收集槽9上方后,由于三角倾斜收集槽9背向通槽4的方向宽度逐渐增大,从而使得对电路板的支撑点位置逐渐向电路板的边缘处移动,从而使得电路板由于中部失去支撑而通过通槽4进行掉落至收集箱58的内部,而中部未断裂的电路板通过边缘的支撑而继续被推动沿着三角倾斜收集槽9的顶部移动,直至电路板移动至收集槽10的顶部后,电路板的边缘失去支撑,从而沿着收集槽10向下掉落至收集箱58的内部,从而通过三角倾斜收集槽9和收集槽10的设置,实现对完全断裂的电路板和未断裂但是损坏的电路板的筛选收集,从而有利于对损坏程度不同的电路板的分类收集,往复驱动机构呈回字形路线进行推动,从而有利于工作者不间断的放置电路板进入放置槽5中,避免测试工作中断,如此循环工作,从而有利于对不同情况的电路板进行分类收集,节省后续工作人员的整理时间。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明的范围内,本发明要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (10)
1.一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,包括工作台(1),所述工作台(1)顶部设置有测试机构和拨动机构,所述测试机构用于对电路板进行硬度测试,所述拨动机构用于对测试合格的电路板进行拨动收集,其特征在于,所述工作台(1)的顶部开设有放置槽(5),所述放置槽(5)的底面上开设有通槽(4),所述通槽(4)贯穿所述工作台(1),所述放置槽(5)用于放置待检测的电路板;
所述工作台(1)的底部固定有收集箱(58),所述放置槽(5)内开设有三角倾斜收集槽(9),由于所述三角倾斜收集槽(9)背向所述通槽(4) 的方向宽度逐渐增大,从而使 得对电路板的支撑点位置逐渐向电路板的边缘处移动,从而使得电路板由于中部失去支撑而通过所述通槽(4)进行掉落至所述收集箱(58)的内部,所述三角倾斜收集槽(9)用于筛选通过已经完全断裂的电路板,所述工作台(1)的顶部开设有收集槽(10),所述收集槽(10)位于三角倾斜收集槽(9)底边背向所述通槽(4)的一侧,所述收集槽(10)用于筛选通过不合格但完整的电路板,所述收集箱(58)内固定有隔离板(59),所述收集箱(58)用于对所述三角倾斜收集槽(9)和所述收集槽(10)中筛选掉落的电路板进行分类收集;
所述工作台(1)的底部设置有往复驱动机构,所述往复驱动机构用于沿着放置槽(5)水平推动检测不合格的电路板至所述三角倾斜收集槽(9)和所述收集槽(10)处进行收集。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述往复驱动机构包括两个固定座(11)和连接座(12),两个所述固定座(11)均固定在所述工作台(1)的底部,两个所述固定座(11)之间固定有滑动杆(13),所述滑动杆(13)的外壁上滑动连接有移动套(14),所述移动套(14)的外壁底部固定有往复杆(15),所述往复杆(15)的外壁上滑动连接有升降座(16),所述升降座(16)朝向所述放置槽(5)的一侧固定有滑动座(6),所述滑动座(6)的顶部固定有支撑座(7),所述支撑座(7)的顶部固定有两个推杆(8),所述推杆(8)用于对检测不合格的电路板进行推动收集,并且所述推杆(8)位于所述通槽(4)的内部,所述连接座(12)固定于所述工作台(1)的底部,所述连接座(12)背向所述滑动杆(13)的一侧固定有安装板(55),所述安装板(55)的顶部固定有驱动电机(17),所述驱动电机(17)的输出轴端贯穿所述连接座(12)后固定有转杆(18),所述转杆(18)背向所述连接座(12)的一端固定有推动座(19),所述推动座(19)的内部滑动贯穿插设有推动杆(20),所述推动杆(20)朝向所述三角倾斜收集槽(9)的一端固定有侧板(21),所述侧板(21)朝向所述放置槽(5)固定有横板(22),所述横板(22)上通过支柱(23)与升降座(16)转动连接,所述推动杆(20)上套设有推动弹簧(24),所述推动弹簧(24)的一端与所述推动座(19)固定连接,所述推动弹簧(24)的另一端与所述侧板(21)固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述工作台(1)的顶部固定有转动架(25),所述转动架(25)内固定有固定柱(26),所述固定柱(26)的外壁上转动连接有点压板(27),所述点压板(27)背向所述放置槽(5)的一端固定有伸缩板(66),所述点压板(27)位于三角倾斜收集槽(9)的上方,所述伸缩板(66)的底部转动连接有升降杆(28),靠近所述升降杆(28)的所述固定座(11)上设置有触发机构,在电路板移动至所述三角倾斜收集槽(9)的内部时,所述触发机构触发启动后向上推动所述升降杆(28)。
4.根据权利要求3所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述触发机构包括移动杆(29),所述移动杆(29)滑动贯穿插设于所述固定座(11)的一侧,所述移动杆(29)背向所述移动套(14)的一端固定有倾斜块(30),所述倾斜块(30)的顶部开设有倾斜面(31),所述倾斜面(31)位于所述升降杆(28)的正下方,所述移动杆(29)的外壁套设有拉簧(32),所述拉簧(32)的一端与所述固定座(11)固定连接,所述拉簧(32)的另一端与所述倾斜块(30)固定连接。
5.根据权利要求4所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述通槽(4)的两侧壁均开设有滑动通槽(64),两个所述滑动通槽(64)内均固定有多个支撑弹簧(34),同一所述滑动通槽(64)内部的所述支撑弹簧(34)朝向所述通槽(4)的一端共同固定有卡合板(33),所述卡合板(33)滑动连接于所述滑动通槽(64)的内壁中,两个所述卡合板(33)的相对侧相互接触并且位于所述通槽(4)的内部,两个所述卡合板(33)背向所述三角倾斜收集槽(9)的一端均开设有斜面。
6.根据权利要求5所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述放置槽(5)内部背向所述三角倾斜收集槽(9)的一端开设有横槽(35),所述横槽(35)内放置有清扫件(36),所述清扫件(36)上开设有槽孔(41),所述清扫件(36)背向的三角倾斜收集槽(9)一侧固定有拉伸弹簧(37),所述拉伸弹簧(37)背向的三角倾斜收集槽(9)的一端固定有滑动块(38),所述通槽(4)的内部背向的三角倾斜收集槽(9)的一端固定有滑轨(39),所述滑轨(39)与所述滑动块(38)滑动连接,所述支撑座(7)的顶部固定有两个卡合杆(40),所述卡合杆(40)用于配合所述槽孔(41)驱动所述清扫件(36)运动。
7.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述工作台(1)的顶部开设有输送槽(63)和两个固定槽(62),两个所述固定槽(62)位于输送槽(63)的两侧,两个所述固定槽(62)的内部均固定有滑架(42),两个所述滑架(42)内框侧壁之间均固定有分隔块(56),两个所述滑架(42)的内框侧壁均开设有移动槽(43),两个所述移动槽(43)内均滑动连接有位移杆(44),两个所述位移杆(44)的背向所述移动槽(43)的一端均固定有支撑块(45),两个所述滑架(42)内框侧壁之间均固定有固定块(65),所述固定块(65)位于所述分隔块(56)的下方,两个所述支撑块(45)的顶部均设置有调节机构,所述支撑块(45)放置在所述分隔块(56)的顶部,两个所述支撑块(45)之间和两个所述固定块(65)之间均转动连接有连接杆(46),两个所述连接杆(46)上均固定有输送滚辊(47),所述固定槽(62)内开设有电机槽(61),所述电机槽(61)内固定有电机(57),所述电机(57)的输出轴端部贯穿所述固定块(65)后与连接杆(46)固定连接。
8.根据权利要求7所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述调节机构包括螺纹杆(48),所述螺纹杆(48)螺纹贯穿插设于所述滑架(42)的顶部,所述螺纹杆(48)的底部固定有减震弹簧(49),所述减震弹簧(49)的底端与所述支撑块(45)固定连接。
9.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述测试机构包括装置板(50)和辅助板(60),所述辅助板(60)转动连接于所述工作台(1)的顶部,所述辅助板(60)用于对放置在所述放置槽(5)内的电路板进行辅助定位,所述装置板(50)固定于所述工作台(1)的顶部,所述装置板(50)朝向所述放置槽(5)的一侧固定有装置杆(51),所述装置杆(51)的外壁底部固定有气缸(52),所述气缸(52)的伸缩端固定有测试压头(53)。
10.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件生产加工的电路板硬度检测装置,其特征在于,所述拨动机构包括安装座(54),所述安装座(54)固定于工作台(1)的顶部,所述安装座(54)的顶部固定有液压杆(2),液压杆(2)的伸缩端固定有L型推杆(3),所述L型推杆(3)用于对测试合格的电路板进行推动收集。
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