CN115597800A - 一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于一种液浮陀螺测试装置及测试方法，为解决目前动压轴承陀螺电机刚度测试时，手动调整电容测微仪的测头与高速转子的距离，导致调整间距不在线性行程区间，容易对测头造成损伤，调整精度和效率都较低，也不利于重复测试的技术问题，提供一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置及测试方法，微距调整测试组件，结合第一弹簧、第二弹簧、第三弹簧、锁紧弹性套筒上端的径向弹性结构、进给套筒与进给滑套的螺纹配合、进给套筒与壳体的螺纹配合，能够调整位于锁紧弹性套筒内的电容测微仪，使电容测微仪沿轴向微小运动，在进行刚度测试时，能够实现对电容测微仪相对待测电机之间的距离进行微小调整，测试可靠性高。

Description

一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置及测试方法

技术领域

本发明属于一种液浮陀螺测试装置及测试方法，具体涉及一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置及测试方法。

背景技术

液浮陀螺包括一浮、二浮和三浮惯性仪表，动压轴承陀螺电机是二浮、三浮惯性仪表的核心元件，主要应用于空间站、卫星、飞船以及战略武器的惯性测量系统，动压轴承陀螺电机刚度测试主要是对电机抗承载能力进行检测，进而评价惯性仪表在工作环境下的抗力学环境能力。其中，对动压轴承陀螺电机刚度进行测试时，如何实现对测试用传感器的微距进行调整，是保证动压轴承陀螺电机刚度准确、可靠测试的关键要素。

动压轴承陀螺电机的转速一般为30000r/min，支承动压轴承陀螺电机转子高速旋转的动压轴承工作间隙仅有1μm~3μm，为了测试动压轴承陀螺电机的刚度，需要将高精度的电容测微仪的测头抵近高速旋转的电机转子，由于高精度电容测微仪的线性工作行程为±10μm，因此，测头调整到位后，与高速转子距离在10μm左右。目前，通常通过松开或压紧传感器的压板，对传感器测头进行手动调整，在对电容测微仪的测头与高速转子之间的测量距离进行调整时，往往会出现调整间距不在线性行程区间，测头容易与高速运动的电机转子接触，对测头造成损伤，另外，调整精度和效率都较低，也不利于重复测试。

发明内容

本发明为解决目前动压轴承陀螺电机刚度测试时，手动调整电容测微仪的测头与高速转子的距离，导致调整间距不在线性行程区间，容易对测头造成损伤，调整精度和效率都较低，也不利于重复测试的技术问题，提供一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置及测试方法。

为达到上述目的，本发明采用以下技术方案予以实现：

一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特殊之处在于，包括转台、安装座和两个微距调整测试组件；

所述安装座与转台相连，用于通过转台实现安装座的旋转和翻转；

所述微距调整测试组件包括壳体、进给套筒、锁紧弹性套筒、电容测微仪，以及安装在壳体内的进给滑套、第一弹簧、第二弹簧和第三弹簧；壳体呈中空柱状，内壁上开设有导向槽，导向槽沿轴向延伸；进给滑套外壁与导向槽内壁相适配；进给套筒、锁紧弹性套筒和电容测微仪由外至内依次套设，进给套筒上端位于壳体外部，下端与进给滑套内壁上端螺纹配合，进给套筒外壁与壳体螺纹配合，锁紧弹性套筒上端为径向弹性结构，锁紧弹性套筒上端外部安装有用于压缩径向弹性结构的锁紧件，锁紧弹性套筒下端侧壁开设有第一台阶面和第二台阶面，第一台阶面位于第二台阶面上方，进给套筒下端面位于第一台阶面上方，进给滑套下端面位于第二台阶面上方；第一弹簧套设于进给套筒外部，且位于进给滑套上端面和壳体内上端面之间，第二弹簧套设于锁紧弹性套筒下端外部，且位于进给滑套下端面和壳体内下端面之间，第三弹簧位于锁紧弹性套筒下端面和壳体内下端面之间；电容测微仪的测头延伸至壳体下端外部；第一弹簧的压紧力大于第二弹簧的压紧力；

所述安装座用于安装待测电机，所述壳体固定在安装座上，一个所述电容测微仪的测头与待测电机转子外圆面相对设置，另一个所述电容测微仪的测头与待测电机转子任一轴向端面相对设置。

进一步地，所述锁紧弹性套筒包括锥段和柱段；锥段大端与柱段上端相连，第一台阶面和第二台阶面位于柱段下端侧壁；

所述锥段侧壁沿周向均匀开设有多个伸缩缝，伸缩缝一端延伸至锥段小端端面，另一端延伸至柱段上端侧壁。

进一步地，所述壳体包括壳体本体和底板；

所述壳体本体上端和下端均开口设置，底板安装在壳体本体下端开口处，底板中心处沿轴向开设有第一通孔，用于电容测微仪的测头延伸至底板下端外部；

所述导向槽位于壳体本体内壁；

所述第一弹簧位于进给滑套上端面和壳体本体内上端面之间；

所述第二弹簧位于进给滑套下端面和底板上端面之间；

所述第三弹簧位于锁紧弹性套筒下端面和底板上端面之间；

所述进给套筒外壁与壳体本体上端开口处螺纹配合。

进一步地，所述底板上端面开设有环形容置槽；

所述环形容置槽位于第一通孔外沿，所述第三弹簧位于环形容置槽内。

进一步地，所述进给滑套外壁设置有第三台阶面；

所述进给滑套位于第三台阶面上方的外壁与壳体本体内壁之间留有间隙，所述间隙的宽度与导向槽的深度相等。

进一步地，所述锁紧件为螺母，螺母的内壁为与锥段相适配的锥面；

所述锥段外壁上设有与螺母相适配的螺纹。

另外，本发明还提供了一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试方法，采用上述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特殊之处在于，包括以下步骤：

S1，使安装在安装座上的待测电机轴向与水平方向保持平行，将电容测微仪的测头与待测电机转子外圆面相对设置的微距调整测试组件作为径向微距调整测试组件，将电容测微仪的测头与待测电机转子任一轴向端面相对设置的微距调整测试组件作为轴向微距调整测试组件；

S2，在待测电机处于工作状态下，旋转径向微距调整测试组件中的进给套筒，使进给套筒下端端面与第一台阶面相抵，继续旋转进给套筒，使进给滑套向下运动并压缩第二弹簧，同时，进给滑套下端面对第二台阶面施加向下的压力，带动锁紧弹性套筒向下运动，使电容测微仪的测头向待测电机转子外圆面靠近，直至达到预设位置，将此时电容测微仪的测头与待测电机转子外圆面之间的距离记作A；

S3，通过转台翻转安装座，使待测电机以轴线为旋转轴转动180°，通过径向微距调整测试组件中的电容测微仪，测试电容测微仪的测头与待测电机转子外圆面之间的距离，记作B；

S4，旋转轴向微距调整测试组件中的进给套筒，使进给套筒下端端面与第一台阶面相抵，继续旋转进给套筒，使进给滑套向下运动并压缩第二弹簧，同时，进给滑套下端面对第二台阶面施加向下的压力，带动锁紧弹性套筒向下运动，使电容测微仪的测头向待测电机转子轴向端面靠近，直至达到预设位置；

S5，通过转台旋转安装座，使待测电机以经过轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动90°，通过轴向微距调整测试组件中的电容测微仪，测试电容测微仪的测头与待测电机转子轴向端面之间的距离，记作C；

S6，通过转台旋转安装座，使待测电机以经过轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动180°，通过轴向微距调整测试组件中的电容测微仪，测试电容测微仪的测头与待测电机转子轴向端面之间的距离，记作D；

S7，根据A和B的差值，确定动压轴承陀螺电机径向刚度；根据C和D的差值，确定动压轴承陀螺电机轴向刚度。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

1.本发明提出一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其中的微距调整测试组件，结合第一弹簧、第二弹簧、第三弹簧、锁紧弹性套筒上端的径向弹性结构、进给套筒与进给滑套的螺纹配合、进给套筒与壳体的螺纹配合，能够调整位于锁紧弹性套筒内的电容测微仪，使电容测微仪沿轴向微小运动，在进行刚度测试时，能够实现对电容测微仪相对待测电机转子之间的距离进行微小调整，且电容测微仪的装卡固定可靠，电容测微仪的测头与待测电机转子之间不会发生相对旋转，测试可靠性高。本发明的测试装置中，对电容测微仪进行轴向调整时，调整量精确受控，调整效率高，且能够实现微米级调整和测距。

2.本发明中的锁紧弹性套筒包括锥段和柱段，通过锥段侧壁设置的伸缩缝，能够高效实现锁紧弹性套筒对电容测微仪的抱紧或松开，抱紧时固定牢靠，且便于调整。

3.本发明中壳体为分体式结构，便于对测试装置进行拆装。

4.本发明中进给滑套外壁设有第三台阶面，有效避免了进给滑套沿轴向向上运动时，与壳体本体内壁之间产生结构干涉。

5.本发明基于上述测试装置还提出了一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试方法，电容测微仪的轴向调整量精确，且能够简便的控制电容测微仪的轴向伸缩量，便于高效的重复测试。

附图说明

图1为本发明一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置实施例的示意图；

图2为图1的左视图；

图3为图1的A-A剖视图；

图4为本发明一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置实施例中锁紧弹性套筒的示意图。

其中：1-转台连接柄、2-安装座、3-电容测微仪、4-径向微距调整测试组件、5-待测电机、6-测头、7-第一通孔、8-环形容置槽、9-间隙、10-轴向微距调整测试组件、11-壳体、12-壳体本体、13-底板、14-导向槽、15-进给套筒、16-锁紧弹性套筒、17-锥段、18-柱段、19-锁紧件、20-第一台阶面、21-第二台阶面、22-第一弹簧、23-第二弹簧、24-第三弹簧、25-第三台阶面、26-进给滑套、27-伸缩缝。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

发明针对现有技术中，对液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度进行测试时，电容测微仪3的测头6调整量不够精确、进给量不受控，导致测试重复性低、调整效率低的问题，设计了一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置及测试方法，通过微距调整测试组件，能够实现对动压轴承陀螺电机刚度测试时，电容测微仪3的装卡固定可靠，能够在微米级精度下实现高效微动调节，保证电容测微仪3的测头6与被测表面不发生相对旋转，测头6与被测表面不会因调节不当产生接触，导致测头6损坏。

如图1和图2所示，是一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置的具体实施例，包括转台、安装座2、转台连接柄1和两个微距调整测试组件。其中，两个微距调整测试组件分别作为径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10。径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10均固定安装在安装座2上，在本实施例中，具体通过螺钉安装在安装座2上。需要测试时，将待测电机5安装在安装座2上，具体可通过压块和螺钉进行安装。转台连接柄1也通过螺钉安装在安装座2上，为了结构更加紧凑且避免结构干涉，可将转台连接柄1设置于安装座2的后端，待测电机5安装在安装座2的前端。转台连接柄1延伸至安装座2之外，并与转台相连，通过转台能够实现安装座2的旋转和翻转，进而对待测电机5进行旋转和翻转，另外，由于径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10均固定安装在安装座2上，在旋转和翻转的过程中，径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10相对待测电机5并不会产生相对位置的变化，此处的翻转，指使安装座2和待测电机5同步以待测电机5轴线为旋转轴转动，此处的旋转，指使安装座2和待测电机5以经过待测电机5轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动。电容测微仪3分别安装在径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10中，电容测微仪3的测头6延伸至径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10的外部，通过径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10的其他部件，可以对电容测微仪3的测头6与被测表面之间的微小距离进行调节，同时实现测量。

径向微距调整测试组件4和轴向微距调整测试组件10的结构完全相同，以下以径向微距调整测试组件4的结构为例进行说明。

如图3所示，径向微距调整测试组件4包括壳体11、进给套筒15、锁紧弹性套筒16、电容测微仪3，以及安装在壳体11内的进给滑套26、第一弹簧22、第二弹簧23和第三弹簧24。壳体11包括壳体本体12和底板13，壳体本体12呈中空柱状，壳体11上端和下端均开口设置，底板13通过螺钉安装在壳体本体12下端开口处，底板13中心处沿轴向开设有第一通孔7，用于电容测微仪3的测头6向下延伸至底板13下端外部。壳体本体12内壁上开设有导向槽14，导向槽14沿轴向延伸，进给滑套26外壁与导向槽14内壁相适配，通过导向槽14能够限制进给滑套26的轴向移动范围。进给套筒15、锁紧弹性套筒16和电容测微仪3由外至内依次套设，进给套筒15上端位于壳体本体12上端外部，进给套筒15下端与进给滑套26内壁上端螺纹配合，进给套筒15外壁与壳体本体12上端开口处螺纹配合。如图4所示为锁紧弹性套筒16的一种结构示意图，锁紧弹性套筒16包括锥段17和柱段18，锥段17大端与柱段18上端相连，柱段18下端侧壁开设有第一台阶面20和第二台阶面21，第一台阶面20位于第二台阶面21上方，进给套筒15下端面位于第一台阶面20上方，进给滑套26下端面位于第二台阶面21上方。锥段17侧壁沿周向均匀开设有多个伸缩缝27，伸缩缝27一端延伸至锥段17小端端面，另一端延伸至柱段18上端侧壁，使锁紧弹性套筒16上端形成径向弹性结构，锥段17外部安装有用于压缩径向弹性结构的锁紧件19，当锁紧件19套装在锁紧弹性套筒16上端的锥段17上，并向下移动对锥段17外壁施加外力时，锥段17会向内收紧，将电容测微仪3抱紧，锁紧件19可采用螺母，锥段17外壁上设有与螺母相适配的螺纹，螺母内壁为与锥段17相适配的锥面。第一弹簧22套设于进给套筒15外部，且位于进给滑套26上端面和壳体本体12内上端面之间，第二弹簧23套设于柱段18外部，第二弹簧23位于进给滑套26下端面和底板13上端面之间。底板13上端面开设有环形容置槽8，环形容置槽8位于第一通孔7外沿，第三弹簧24位于环形容置槽8内，且第三弹簧24位于锁紧弹性套筒16下端面和底板13上端面之间。另外，需要第一弹簧22的压紧力大于第二弹簧23的压紧力。

径向微距调整测试组件4中电容测微仪3的测头6与待测电机5转子外圆面相对设置，轴向微距调整测试组件10中电容测微仪3的测头6与待测电机5转子任一轴向端面相对设置。

作为一种优选方案，进给滑套26外壁设置有第三台阶面25，进给滑套26位于第三台阶面25上方的外壁与壳体本体12内壁之间留有间隙9，间隙9的宽度与导向槽14的深度相等，当进给滑套26向上运动时，不会与导向槽14的上端侧壁产生结构干扰。

对本发明的液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置进行装配时，将第一弹簧22、进给滑套26和第二弹簧23依次同轴安装于壳体本体12内，同时，使第一弹簧22、进给滑套26、第二弹簧23沿轴向从上至下依次设置，进给滑套26沿着导向槽14装入，通过导向槽14限制进给滑套26的轴向运动范围，同时使进给滑套26只能沿导向槽14进行轴向运动。然后，通过螺纹结构，从壳体本体12的上端开口处，将进给套筒15旋入壳体11内，并使进给套筒15下端外壁与进给滑套26上端内壁螺纹旋接。再将锁紧弹性套筒16从壳体本体12下端开口处穿入，使锁紧弹性套筒16上端锥段17位于壳体本体12上端外部，在锥段17外部安装锁紧件19，此时，锁紧件19未锁紧锥段17，将底板13安装在壳体本体12的底部，同时，通过底板13压紧第二弹簧23和第三弹簧24，并用螺钉固定底板13和壳体本体12。最后，在锁紧弹性套筒16内装入电容测微仪3，放置适当后，通过锁紧件19锁紧锥段17，使锁紧弹性套筒16将电容测微仪3牢靠抱住。

在装配阶段，第一弹簧22、第二弹簧23和第三弹簧24，都已有相应的预压紧力，特别是第三弹簧24一直处于受压状态，进而保证在后续调整电容测微仪3的测头6时，锁紧弹性套筒16始终能被托起，此外，通过装配保证了第一弹簧22的压紧力大于第二弹簧23的压紧力。

当需要使电容测微仪3的测头6远离被测表面时，旋转进给套筒15，使进给套筒15的下端面与第一台阶面20相抵，继续同向旋转进给套筒15，由于进给套筒15和进给滑套26之间的螺纹配合，进给滑套26向上运动，第一弹簧22被压缩，在第三弹簧24的作用下，推动锁紧弹性套筒16向上移动，电容测微仪3同步沿着轴向向远离被测表面的方向移动。

当需要使电容测微仪3的测头6靠近被测表面时，沿反方向旋转进给套筒15，因为第一弹簧22比第二弹簧23的压紧力更大，通过进给套筒15与壳体本体12的螺纹配合，以及进给套筒15与进给滑套26的螺纹配合，进给滑套26向下运动，第二弹簧23被压缩，进给滑套26继续向下运动，对第二台阶面21施加向下的压力，推动锁紧弹性套筒16向下移动，电容测微仪3同步沿着轴向向靠近被测表面的方向移动。

基于上述原理，本发明提出一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试方法，具体包括以下步骤：

S1，使安装在安装座2上的待测电机5轴向与水平方向保持平行；

S2，在待测电机5处于稳定工作状态下，使径向微距调整测试组件4中的电容测微仪3的测头6靠近待测电机5转子外圆面，记录此时电容测微仪3的测头6与待测电机5转子外圆面之间的距离，记作A；

S3，通过转台翻转安装座2，使待测电机5以轴线为旋转轴转动180°，通过径向微距调整测试组件4中的电容测微仪3，测试电容测微仪3的测头6与待测电机5转子外圆面之间的距离，记作B；

根据步骤S2和步骤S3得到的A和B的差值，确定动压轴承陀螺电机径向刚度；

S4，使轴向微距调整测试组件10中的电容测微仪3的测头6靠近待测电机5转子轴向端面，直至达到预设位置；

S5，通过转台旋转安装座2，使待测电机5以经过轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动90°，通过轴向微距调整测试组件10中的电容测微仪3，测试电容测微仪3的测头6与待测电机5转子轴向端面之间的距离，记作C；

S6，通过转台旋转安装座2，使待测电机5以经过轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动180°，通过轴向微距调整测试组件10中的电容测微仪3，测试电容测微仪3的测头6与待测电机5转子轴向端面之间的距离，记作D；

根据步骤S5和步骤S6得到的C和D的差值，确定动压轴承陀螺电机轴向刚度。

本发明的液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试方法，解决了动压轴承陀螺电机刚度测试过程中，电容测微仪3的微距调整问题，能够保证液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试结果准确可靠，本发明的测试装置和测试方法也可以拓展应用至其他有微距调整需求的场景，具有一定的工程意义。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于：包括转台、安装座(2)和两个微距调整测试组件；

所述安装座(2)与转台相连，用于通过转台实现安装座(2)的旋转和翻转；

所述微距调整测试组件包括壳体(11)、进给套筒(15)、锁紧弹性套筒(16)、电容测微仪(3)，以及安装在壳体(11)内的进给滑套(26)、第一弹簧(22)、第二弹簧(23)和第三弹簧(24)；壳体(11)呈中空柱状，内壁上开设有导向槽(14)，导向槽(14)沿轴向延伸；进给滑套(26)外壁与导向槽(14)内壁相适配；进给套筒(15)、锁紧弹性套筒(16)和电容测微仪(3)由外至内依次套设，进给套筒(15)上端位于壳体(11)外部，下端与进给滑套(26)内壁上端螺纹配合，进给套筒(15)外壁与壳体(11)螺纹配合，锁紧弹性套筒(16)上端为径向弹性结构，锁紧弹性套筒(16)上端外部安装有用于压缩径向弹性结构的锁紧件(19)，锁紧弹性套筒(16)下端侧壁开设有第一台阶面(20)和第二台阶面(21)，第一台阶面(20)位于第二台阶面(21)上方，进给套筒(15)下端面位于第一台阶面(20)上方，进给滑套(26)下端面位于第二台阶面(21)上方；第一弹簧(22)套设于进给套筒(15)外部，且位于进给滑套(26)上端面和壳体(11)内上端面之间，第二弹簧(23)套设于锁紧弹性套筒(16)下端外部，且位于进给滑套(26)下端面和壳体(11)内下端面之间，第三弹簧(24)位于锁紧弹性套筒(16)下端面和壳体(11)内下端面之间；电容测微仪(3)的测头(6)延伸至壳体(11)下端外部；第一弹簧(22)的压紧力大于第二弹簧(23)的压紧力；

所述安装座(2)用于安装待测电机(5)，所述壳体(11)固定在安装座(2)上，一个所述电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子外圆面相对设置，另一个所述电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子任一轴向端面相对设置。

2.根据权利要求1所述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于：所述锁紧弹性套筒(16)包括锥段(17)和柱段(18)；锥段(17)大端与柱段(18)上端相连，第一台阶面(20)和第二台阶面(21)位于柱段(18)下端侧壁；

所述锥段(17)侧壁沿周向均匀开设有多个伸缩缝(27)，伸缩缝(27)一端延伸至锥段(17)小端端面，另一端延伸至柱段(18)上端侧壁。

3.根据权利要求1或2所述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于：所述壳体(11)包括壳体本体(12)和底板(13)；

所述壳体本体(12)上端和下端均开口设置，底板(13)安装在壳体本体(12)下端开口处，底板(13)中心处沿轴向开设有第一通孔(7)，用于电容测微仪(3)的测头(6)延伸至底板(13)下端外部；

所述导向槽(14)位于壳体本体(12)内壁；

所述第一弹簧(22)位于进给滑套(26)上端面和壳体本体(12)内上端面之间；

所述第二弹簧(23)位于进给滑套(26)下端面和底板(13)上端面之间；

所述第三弹簧(24)位于锁紧弹性套筒(16)下端面和底板(13)上端面之间；

所述进给套筒(15)外壁与壳体本体(12)上端开口处螺纹配合。

4.根据权利要求3所述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于：所述底板(13)上端面开设有环形容置槽(8)；

所述环形容置槽(8)位于第一通孔(7)外沿，所述第三弹簧(24)位于环形容置槽(8)内。

5.根据权利要求4所述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于：所述进给滑套(26)外壁设置有第三台阶面(25)；

所述进给滑套(26)位于第三台阶面(25)上方的外壁与壳体本体(12)内壁之间留有间隙(9)，所述间隙(9)的宽度与导向槽(14)的深度相等。

6.根据权利要求4所述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于：所述锁紧件(19)为螺母，螺母的内壁为与锥段(17)相适配的锥面；

所述锥段(17)外壁上设有与螺母相适配的螺纹。

7.一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试方法，采用权利要求1至6任一所述一种液浮陀螺动压轴承陀螺电机刚度测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

S1，使安装在安装座(2)上的待测电机(5)轴向与水平方向保持平行，将电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子外圆面相对设置的微距调整测试组件作为径向微距调整测试组件(4)，将电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子任一轴向端面相对设置的微距调整测试组件作为轴向微距调整测试组件(10)；

S2，在待测电机(5)处于工作状态下，旋转径向微距调整测试组件(4)中的进给套筒(15)，使进给套筒(15)下端端面与第一台阶面(20)相抵，继续旋转进给套筒(15)，使进给滑套(26)向下运动并压缩第二弹簧(23)，同时，进给滑套(26)下端面对第二台阶面(21)施加向下的压力，带动锁紧弹性套筒(16)向下运动，使电容测微仪(3)的测头(6)向待测电机(5)转子外圆面靠近，直至达到预设位置，将此时电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子外圆面之间的距离记作A；

S3，通过转台翻转安装座(2)，使待测电机(5)以轴线为旋转轴转动180°，通过径向微距调整测试组件(4)中的电容测微仪(3)，测试电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子外圆面之间的距离，记作B；

S4，旋转轴向微距调整测试组件(10)中的进给套筒(15)，使进给套筒(15)下端端面与第一台阶面(20)相抵，继续旋转进给套筒(15)，使进给滑套(26)向下运动并压缩第二弹簧(23)，同时，进给滑套(26)下端面对第二台阶面(21)施加向下的压力，带动锁紧弹性套筒(16)向下运动，使电容测微仪(3)的测头(6)向待测电机(5)转子轴向端面靠近，直至达到预设位置；

S5，通过转台旋转安装座(2)，使待测电机(5)以经过轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动90°，通过轴向微距调整测试组件(10)中的电容测微仪(3)，测试电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子轴向端面之间的距离，记作C；

S6，通过转台旋转安装座(2)，使待测电机(5)以经过轴线中心并与重力g方向重合的直线为旋转轴转动180°，通过轴向微距调整测试组件(10)中的电容测微仪(3)，测试电容测微仪(3)的测头(6)与待测电机(5)转子轴向端面之间的距离，记作D；

S7，根据A和B的差值，确定动压轴承陀螺电机径向刚度；根据C和D的差值，确定动压轴承陀螺电机轴向刚度。

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