CN115421082A - 一种金具与电缆导体压接状态测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电缆压接技术领域，具体为一种金具与电缆导体压接状态测试装置及方法，装置包括装置主体，所述装置主体内滑动连接有绝缘操作台，所述绝缘操作台上设有电缆固定组件，所述电缆固定组件用于将压接状态测试件固定在绝缘操作台上，所述装置主体上设有电流发生器和接触电阻测试仪。本发明解决了现有的金具与电缆导体压接状态测试装置在进行测试件的压接状态测试时，由于缺乏固定组件，测试件在操作台上活动放置，若操作人员碰到正在测试的测试件很可能使得测试件与电流发生器或接触电阻测试仪之间的连接中断，从而导致测试结果存在较大误差的技术问题。

Description

一种金具与电缆导体压接状态测试装置及方法
技术领域
本发明涉及电缆压接技术领域，特别涉及一种金具与电缆导体压接状态测试装置及方法。
背景技术
金具与电缆导体压接状态测试装置是一种检测电缆导体与金具之间的压接质量的一种装置；
现有的金具与电缆导体压接状态测试装置在进行测试件的压接状态测试时，由于缺乏固定组件，测试件在操作台上活动放置，若操作人员碰到正在测试的测试件很可能使得测试件与电流发生器或接触电阻测试仪之间的连接中断，从而导致测试结果存在较大误差。
发明内容
本发明提供一种金具与电缆导体压接状态测试装置及方法，用以解决上述背景技术提出的技术问题。
为解决上述技术问题，本发明公开了一种金具与电缆导体压接状态测试装置及方法，装置包括包括装置主体，所述装置主体内滑动连接有绝缘操作台，所述绝缘操作台上设有电缆固定组件，所述电缆固定组件用于将压接状态测试件固定在绝缘操作台上，所述装置主体上设有电流发生器和接触电阻测试仪。
优选的，所述压接状态测试件包括第一电缆、第二电缆和金具，所述第一电缆的第一电缆导体和所述第二电缆的第二电缆导体压接在金具内。
优选的，所述绝缘操作台左右滑动连接在所述装置主体内，装置主体上上下滑动连接有照明组件。
优选的，所述电缆固定组件包括：
适应性调节滑槽，所述适应性调节滑槽开设于所述绝缘操作台上；
连接架体，所述连接架体滑动连接在所述适应性调节滑槽内，所述连接架体一端固定连接有第一固定块，所述连接架体另一端固定连接有第二固定块；
调节弹力带，所述调节弹力带一端固定连接在所述第一固定块上，所述调节弹力带另一端贯穿所述第二固定块，所述第二固定块上固定连接有弹力带固定钉体。
优选的，所述装置主体底部设有移动组件，所述移动组件包括：
L型升降支撑板，所述L型升降支撑板上下滑动连接在所述装置主体内，所述L型升降支撑板上固定连接有第一直线电机，所述第一直线电机远离所述L型升降支撑板的一端位于所述装置主体内；
万向轮，所述装置主体内设有万向轮导杆，所述万向轮导杆上滑动连接有万向轮，所述装置主体内壁固定连接有第二直线电机，所述第二直线电机工作端固定连接在所述万向轮上。
优选的，所述装置主体内设有测试件剔除组件，所述测试件剔除组件包括：
驱动转轴、启动齿轮和闸板齿轮，所述驱动转轴转动连接在所述装置主体内的第一安装腔内，所述启动齿轮和闸板齿轮固定连接在所述驱动转轴上；
闸板齿条和闸板，所述闸板固定连接在所述闸板齿条上，所述闸板齿条滑动连接在所述第一安装腔前后两侧壁，所述闸板远离所述闸板齿条的一端位于所述装置主体的第二安装腔内；
驱动凸轮，所述驱动凸轮固定连接在所述驱动转轴上；
安装块，所述安装块固定连接在所述第一安装腔内，所述安装块上固定连接有第一导杆，所述第一导杆上上下滑动连接有第一导筒，所述第一导筒上固定连接有第一杆件和第二杆件，所述第一杆件上固定连接有推盘，所述推盘用于与所述驱动凸轮相互配合，所述第一导杆上套设有第一弹性件；
第二导杆和第二导筒，所述第二导杆固定连接在所述第一安装腔内，所述第二导筒滑动连接在所述第二导杆上，所述第二导杆上套设有第二弹性件，所述第二导筒上固定连接有定位卡块，所述定位卡块用于与所述第二杆件远离所述第一导筒的一端相互配合；
台体，所述台体固定连接在所述第一安装腔内，所述台体上固定连接有转换齿轮安装座，所述转换齿轮安装座上转动连接有转换齿轮，所述台体上滑动连接有转换齿条，所述转换齿条与所述转换齿轮相互啮合，所述转换齿条与所述第二导筒通过弯杆固定连接；
导向筒，所述导向筒固定连接在所述安装块上，所述导向筒内滑动连接有啮合杆体，所述啮合杆体与所述导向筒内壁固定连接有第三弹性件，所述啮合杆体远离所述第三弹性件的一端固定连接有插接头；
不合格测试件收纳筒体，所述不合格测试件收纳筒体上下滑动连接在所述第二安装腔内，所述不合格测试件收纳筒体上固定连接有筒体滑块，所述筒体滑块与所述第二安装腔内壁之间通过第四弹性件连接，所述不合格测试件收纳筒体上设有插接头连接孔，所述插接头连接孔用于与所述插接头相互配合。
优选的，还包括：
铰链盖体，所述铰链盖体转动连接在所述不合格测试件收纳筒体底部，所述铰链盖体上设有第一驱动件，所述第一驱动件用于驱动所述铰链盖体转动；
Z型栓，所述Z型栓滑动连接在所述不合格测试件收纳筒体上，所述Z型栓位于所述不合格测试件收纳筒体内的一端与Z型栓驱动齿轮相互啮合，所述Z型栓驱动齿轮上设有第二驱动件，所述第二驱动件用于驱动所述Z型栓驱动齿轮转动，所述Z型栓位于所述不合格测试件收纳筒体外的一端用于与所述铰链盖体端面相互配合；
重量传感器，所述重量传感器设置在所述铰链盖体内，用于检测所述不合格测试件收纳筒体内不合格压接状态测试件的重量，所述重量传感器与所述第一驱动件和所述第二驱动件电连接，所述第二安装腔底部开设有清理通道。
一种金具与电缆导体压接状态测试方法，包括以下步骤：
步骤一：将第一电缆的第一电缆导体和第二电缆的第二电缆导体塞入金具内，并用压接装置对金具外壁施加压力，完成第一电缆导体、第二电缆导体与金具的压接，形成压接状态测试件，压接装置的压接方式包括坑压压接或围压压接方式中的任意一种；
步骤二：将电流发生器的两端通过导线分别与第一电缆远离金具的一端和第二电缆远离金具的一端连接，形成一个闭合的试验回路；
步骤三：将接触电阻测试仪的两夹头分别与金具的两端连接，接触电阻测试仪用于测量金具与第一电缆导体和第二电缆导体连接位置处的接触电阻；
步骤四：通过电流发生器对试验回路进行通流温升试验，测量并记录金具与第一电缆导体和第二电缆导体连接位置的温度变化情况；
步骤五：接触电阻测试仪再次测量金具与第一电缆导体和第二电缆导体连接位置处的接触电阻；
步骤六：装置主体上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件压接状态进行判断。
优选的，通过电流发生器对试验回路进行通流温升试验，测量并记录金具与第一电缆导体和第二电缆导体连接位置的温度变化情况包括：
S1：在金具上取间隔一定距离的两点作为检测点，分别为检测点a和检测点b，在检测点a和检测点b处分别设置第一温度传感器和第二温度传感器，所述第一温度传感器用于检测检测点a处的温度，所述第二温度传感器用于检测检测点b处的温度；
S2：所述电流发生器向试验回路依次通n种不同强度的电流，在通入每种电流时，每隔20分钟记录一次第一温度传感器和第二温度传感器的检测值。
优选的，所述判断模块与所述第一温度传感器、第二温度传感器、接触电阻测试仪和电流发生器电连接，所述装置主体上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件压接状态进行判断包括以下步骤：
S3：计算试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数：
Figure BDA0003828062500000051
其中，
Figure BDA0003828062500000052
为试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数，th为试验回路通入第n种电流的总通电时长，20表示20分钟时间间隔，
Figure BDA0003828062500000053
为试验回路通入第n种电流时第i+1次记录时所述第一温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000054
为试验回路通入第n种电流时第i次记录时所述第一温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000055
为试验回路通入第n种电流时第i+1次记录时所述第二温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000056
为试验回路通入第n种电流时第i次记录时所述第二温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000057
为试验回路通入第n种电流时检测点a的最大预设温度变化值，
Figure BDA0003828062500000058
为试验回路通入第n种电流时检测点b的最大预设温度变化值，e为自然数，取值为2.71，
Figure BDA0003828062500000059
为试验回路通入第n种电流时，所述步骤五中接触电阻测试仪的检测值，R0为步骤三中接触电阻测试仪的检测值，R1为金具内第一电缆导体的实际电阻，R2为金具内第二电缆导体的实际电阻，R3为金具的实际电阻，γ为金具与第一电缆导体和第二电缆导体连接位置处的电阻随温度的变化率，即温度每上升一度对应的金具与第一电缆导体和第二电缆导体连接位置处的电阻的增量值；
S4：判断第一电缆导体、第二电缆导体与金具压接位置的压接是否合格：
Figure BDA00038280625000000510
其中，δ为第一电缆导体、第二电缆导体与金具的综合压接合格常数，β为所述判断模块的判断误差系数，x为所述电流发生器向试验回路通入的电流强度种数，
Figure BDA00038280625000000511
为试验回路通入第n种电流时第一电缆导体、第二电缆导体与金具压接位置的基准压接不良状态系数；
Figure BDA00038280625000000512
Figure BDA00038280625000000513
为补偿常数，若W＝0，则证明第一电缆导体、第二电缆导体与金具压接位置压接不合格，此时压接状态测试件为不合格品，若W＝1，则证明第一电缆导体、第二电缆导体与金具压接位置压接合格，此时压接状态测试件为合格品。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明整体结构示意图。
图2为本发明图1的A处局部放大图。
图3为本发明图1的B处局部放大图。
图4为本发明电缆固定组件结构示意图。
图5为本发明测试件剔除组件结构示意图。
图中：1、装置主体；100、第一电缆；1000、第一电缆导体；101、第二电缆；1010、第二电缆导体；102、金具；103、电流发生器；104、压接状态测试件；105、接触电阻测试仪；106、照明组件；2、绝缘操作台；3、电缆固定组件；300、适应性调节滑槽；3000、连接架体；3001、第一固定块；3002、第二固定块；3003、调节弹力带；3004、弹力带固定钉体；4、测试件剔除组件；400、驱动转轴；4000、启动齿轮；4001、闸板齿轮；4002、闸板齿条；4003、闸板；4004、第一安装腔；4005、第二安装腔；4006、驱动凸轮；4007、安装块；4008、第一导杆；4009、第一导筒；401、第一杆件；4010、第二杆件；4011、推盘；4012、第二导杆；4013、第二导筒；4014、第二弹性件；4015、定位卡块；4016、台体；4017、转换齿轮安装座；4018、转换齿轮；4019、转换齿条；402、弯杆；4020、导向筒；4021、啮合杆体；4022、第三弹性件；4023、插接头；4024、不合格测试件收纳筒体；4025、筒体滑块；4026、第四弹性件；4027、插接头连接孔；4028、铰链盖体；4029、Z型栓；403、重量传感器；4030、清理通道；4031、第一弹性件；4032、Z型栓驱动齿轮；4033、超声传感器；5、移动组件；500、L型升降支撑板；5000、第一直线电机；5001、万向轮；5002、万向轮导杆；5003、第二直线电机。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本发明，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案以及技术特征可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提供如下实施例:
实施例1
本发明实施例提供了一种金具与电缆导体压接状态测试装置，如图1-5所示，包括装置主体1，装置主体1内滑动连接有绝缘操作台2，绝缘操作台2上设有电缆固定组件3，电缆固定组件3用于将压接状态测试件104固定在绝缘操作台2上，装置主体1上设有电流发生器103和接触电阻测试仪105。
一种金具与电缆导体压接状态测试方法，包括以下步骤：
步骤一：将第一电缆100的第一电缆导体1000和第二电缆101的第二电缆导体1010塞入金具102内，并用压接装置对金具102外壁施加压力，完成第一电缆导体1000、第二电缆导体1010与金具102的压接，形成压接状态测试件104，压接装置的压接方式包括坑压压接或围压压接方式中的任意一种；
步骤二：将电流发生器103的两端通过导线分别与第一电缆100远离金具102的一端和第二电缆101远离金具102的一端连接，形成一个闭合的试验回路；
步骤三：将接触电阻测试仪105的两夹头分别与金具102的两端连接，接触电阻测试仪105用于测量金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置处的接触电阻；
步骤四：通过电流发生器103对试验回路进行通流温升试验，测量并记录金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置的温度变化情况；
步骤五：接触电阻测试仪105再次测量金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置处的接触电阻；
步骤六：装置主体1上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件104压接状态进行判断。
上述技术方案的工作原理及有益效果为：一种金具与电缆导体压接状态测试装置使用时，将压接状态测试件104通过电缆固定组件3固定在绝缘操作台2上，之后通过接触电阻测试仪105测量金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置处的接触电阻，通过电流发生器103对压接状态测试件104进行通流温升试验，通过测试结果判断压接状态测试件104的压接质量，通过对压接质量的判断减少或避免由于压接方式不当导致压接电阻过大，出现的导体连接部位发热的问题，从而降低线路故障的概率，减轻由于线路故障造成的停电损失；
本发明解决了现有的金具与电缆导体压接状态测试装置在进行测试件的压接状态测试时，由于缺乏固定组件，测试件在操作台上活动放置，若操作人员碰到正在测试的测试件很可能使得测试件与电流发生器或接触电阻测试仪之间的连接中断，从而导致测试结果存在较大误差的技术问题。
实施例2
在上述实施例1的基础上，压接状态测试件104包括第一电缆100、第二电缆101和金具102，第一电缆100的第一电缆导体1000和第二电缆101的第二电缆导体1010压接在金具102内；
绝缘操作台2左右滑动连接在装置主体1内，装置主体1上上下滑动连接有照明组件106；
电缆固定组件3包括：
适应性调节滑槽300，适应性调节滑槽300开设于绝缘操作台2上；
连接架体3000，连接架体3000滑动连接在适应性调节滑槽300内，连接架体3000一端固定连接有第一固定块3001，连接架体3000另一端固定连接有第二固定块3002；
调节弹力带3003，调节弹力带3003一端固定连接在第一固定块3001上，调节弹力带3003另一端贯穿第二固定块3002，第二固定块3002上固定连接有弹力带固定钉体3004；
装置主体1底部设有移动组件5，移动组件5包括：
L型升降支撑板500，L型升降支撑板500上下滑动连接在装置主体1内，L型升降支撑板500上固定连接有第一直线电机5000，第一直线电机5000远离L型升降支撑板500的一端位于装置主体1内；
万向轮5001，装置主体1内设有万向轮导杆5002，万向轮导杆5002上滑动连接有万向轮5001，装置主体1内壁固定连接有第二直线电机5003，第二直线电机5003工作端固定连接在万向轮5001上。
上述技术方案的工作原理及有益效果为：使用时，将绝缘操作台2从装置主体1内拉出，将压接状态测试件104通过电缆固定组件3固定在绝缘操作台2时，根据压接状态测试件104的实际长度，手动推动连接架体3000沿适应性调节滑槽300滑动到适宜位置，之后将调节弹力带3003跨过压接状态测试件104的周向后，穿过第二固定块3002，并将其拉紧固定在弹力带固定钉体3004上，从而将压接状态测试件104固定在绝缘操作台2上；
当需要移动装置主体1时，第二直线电机5003伸长，驱动万向轮5001沿万向轮导杆5002向右滑动，同时第一直线电机5000带动L型升降支撑板500向上运动，使得万向轮5001与地面接触，之后推动装置主体1运动至指定位置。
实施例3
在实施例1或2的基础上，装置主体1内设有测试件剔除组件4，测试件剔除组件4包括：
驱动转轴400、启动齿轮4000和闸板齿轮4001，驱动转轴400转动连接在装置主体1内的第一安装腔4004内，启动齿轮4000和闸板齿轮4001固定连接在驱动转轴400上；
闸板齿条4002和闸板4003，闸板4003固定连接在闸板齿条4002上，闸板齿条4002滑动连接在第一安装腔4004前后两侧壁，闸板4003远离闸板齿条4002的一端位于装置主体1的第二安装腔4005内；
驱动凸轮4006，驱动凸轮4006固定连接在驱动转轴400上；
安装块4007，安装块4007固定连接在第一安装腔4004内，安装块4007上固定连接有第一导杆4008，第一导杆4008上上下滑动连接有第一导筒4009，第一导筒4009上固定连接有第一杆件401和第二杆件4010，第一杆件401上固定连接有推盘4011，推盘4011用于与驱动凸轮4006相互配合，第一导杆4008上套设有第一弹性件4031；
第二导杆4012和第二导筒4013，第二导杆4012固定连接在第一安装腔4004内，第二导筒4013滑动连接在第二导杆4012上，第二导杆4012上套设有第二弹性件4014，第二导筒4013上固定连接有定位卡块4015，定位卡块4015用于与第二杆件4010远离第一导筒4009的一端相互配合；
台体4016，台体4016固定连接在第一安装腔4004内，台体4016上固定连接有转换齿轮安装座4017，转换齿轮安装座4017上转动连接有转换齿轮4018，台体4016上滑动连接有转换齿条4019，转换齿条4019与转换齿轮4018相互啮合，转换齿条4019与第二导筒4013通过弯杆402固定连接；
导向筒4020，导向筒4020固定连接在安装块4007上，导向筒4020内滑动连接有啮合杆体4021，啮合杆体4021与导向筒4020内壁固定连接有第三弹性件4022，啮合杆体4021远离第三弹性件4022的一端固定连接有插接头4023；
不合格测试件收纳筒体4024，不合格测试件收纳筒体4024上下滑动连接在第二安装腔4005内，不合格测试件收纳筒体4024上固定连接有筒体滑块4025，筒体滑块4025与第二安装腔4005内壁之间通过第四弹性件4026连接，不合格测试件收纳筒体4024上设有插接头连接孔4027，插接头连接孔4027用于与插接头4023相互配合；
还包括：
铰链盖体4028，铰链盖体4028转动连接在不合格测试件收纳筒体4024底部，铰链盖体4028上设有第一驱动件，第一驱动件用于驱动铰链盖体4028转动；
Z型栓4029，Z型栓4029滑动连接在不合格测试件收纳筒体4024上，Z型栓4029位于不合格测试件收纳筒体4024内的一端与Z型栓驱动齿轮4032相互啮合，Z型栓驱动齿轮4032上设有第二驱动件，第二驱动件用于驱动Z型栓驱动齿轮4032转动，Z型栓4029位于不合格测试件收纳筒体4024外的一端用于与铰链盖体4028端面相互配合；
重量传感器403，重量传感器403设置在铰链盖体4028内，用于检测不合格测试件收纳筒体4024内不合格压接状态测试件104的重量，重量传感器403与第一驱动件和第二驱动件电连接，第二安装腔4005底部开设有清理通道4030。
上述技术方案的工作原理及工作原理为：测试件剔除组件4工作时，工作人员脚部推动启动齿轮4000转动，启动齿轮4000转动带动驱动转轴400转动，驱动转轴400转动带动闸板齿轮4001转动，闸板齿轮4001转动带动闸板齿条4002移动，闸板齿条4002移动带动闸板4003向左移动，闸板4003向左移动使得第二安装腔4005顶部被打开，在驱动转轴400转动的过程中带动驱动凸轮4006转动，驱动凸轮4006推动推盘4011向下运动，推盘4011向下运动带动第一杆件401向下运动，第一杆件401向下运动带动第一导筒4009沿第一导杆4008向下运动，在第一导筒4009向下运动的过程中，第二杆件4010向下运动，第二杆件4010向下运动脱离其与定位卡块4015之间的相互配合，从而使得第二导筒4013在第二弹性件4014的作用下沿第二导杆4012向左运动，第二导筒4013向左运动带动转换齿条4019向左运动，转换齿条4019向左运动带动转换齿轮4018转动，转换齿轮4018转动带动啮合杆体4021向左运动，啮合杆体4021向左运动带动插接头4023与插接头连接孔4027脱离配合，之后不合格测试件收纳筒体4024在第四弹性件4026的作用下向上运动，操作人员将需要剔除的不合格压接状态测试件104扔入不合格测试件收纳筒体4024内；
之后操作人员将不合格测试件收纳筒体4024向下按压，在不合格测试件收纳筒体4024经过插接头4023处时，超声波传感器4033检测到不合格测试件收纳筒体4024后，第三驱动件驱动啮合杆体4021向右运动，啮合杆体4021向右运动使得插接头4023与插接头连接孔4027再次相互配合，同时啮合杆体4021向右运动带动转换齿轮4018转动，转换齿轮4018转动带动转换齿条4019向左运动，转换齿条4019向左运动带动第二导筒4013向左运动，之后人工反向转动启动齿轮4000，从而使得驱动凸轮4006与推盘4011脱离抵接配合，从而使得第一导筒4009在第一弹性件4031的作用下向上运动，使得第二杆件4010与定位卡块4015再次相互配合；
当不合格测试件收纳筒体4024内的不合格的压接状态测试件104累计重量超过预设重量时，即重量传感器403的实际检测值超过其预设值时，第二驱动件驱动Z型栓驱动齿轮4032转动，Z型栓驱动齿轮4032带动Z型栓4029向左运动，使得Z型栓4029与铰链盖体4028端面脱离配合，之后第一驱动件驱动铰链盖体4028转动，铰链盖体4028转动使得其内的不合格的压接状态测试件104经清理通道4030排出不合格测试件收纳筒体4024。
实施例4
在实施例1的基础上，通过电流发生器103对试验回路进行通流温升试验，测量并记录金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置的温度变化情况包括：
S1：在金具102上取间隔一定距离的两点作为检测点，分别为检测点a和检测点b，在检测点a和检测点b处分别设置第一温度传感器和第二温度传感器，第一温度传感器用于检测检测点a处的温度，第二温度传感器用于检测检测点b处的温度；
S2：电流发生器103向试验回路依次通n种不同强度的电流，在通入每种电流时，每隔20分钟记录一次第一温度传感器和第二温度传感器的检测值；
判断模块与第一温度传感器、第二温度传感器、接触电阻测试仪105和电流发生器103电连接，装置主体1上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件104压接状态进行判断包括以下步骤：
判断模块与第一温度传感器、第二温度传感器、接触电阻测试仪105和电流发生器103电连接，装置主体1上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件104压接状态进行判断包括以下步骤：
S3：计算试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数：
Figure BDA0003828062500000131
其中，
Figure BDA0003828062500000132
为试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数，th为试验回路通入第n种电流的总通电时长，20表示20分钟时间间隔，
Figure BDA0003828062500000133
为试验回路通入第n种电流时第i+1次记录时第一温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000134
为试验回路通入第n种电流时第i次记录时第一温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000135
为试验回路通入第n种电流时第i+1次记录时第二温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000136
为试验回路通入第n种电流时第i次记录时第二温度传感器的检测值，
Figure BDA0003828062500000137
为试验回路通入第n种电流时检测点a的最大预设温度变化值，
Figure BDA0003828062500000138
为试验回路通入第n种电流时检测点b的最大预设温度变化值，e为自然数，取值为2.71，
Figure BDA0003828062500000141
为试验回路通入第n种电流时，步骤五中接触电阻测试仪105的检测值，R0为步骤三中接触电阻测试仪105的检测值，R1为金具102内第一电缆导体1000的实际电阻，R2为金具102内第二电缆导体1010的实际电阻，R3为金具102的实际电阻，γ为金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置处的电阻随温度的变化率，即温度每上升一度对应的金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置处的电阻的增量值；
S4：判断第一电缆导体1000、第二电缆导体1010与金具102压接位置的压接是否合格：
Figure BDA0003828062500000142
其中，δ为第一电缆导体1000、第二电缆导体1010与金具102的综合压接合格常数，β为判断模块的判断误差系数，x为电流发生器103向试验回路通入的电流强度种数，
Figure BDA0003828062500000143
为试验回路通入第n种电流时第一电缆导体1000、第二电缆导体1010与金具102压接位置的基准压接不良状态系数；
Figure BDA0003828062500000144
Figure BDA0003828062500000145
为补偿常数，若W＝0，则证明第一电缆导体1000、第二电缆导体1010与金具102压接位置压接不合格，此时压接状态测试件104为不合格品，若W＝1，则证明第一电缆导体1000、第二电缆导体1010与金具102压接位置压接合格，此时压接状态测试件104为合格品。
上述技术方案的工作原理及有益效果为：采用金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置处的接触电阻值和通流升温实验对压接状态测试件104的压接合格状态进行综合判定，使得试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数
Figure BDA0003828062500000146
的计算结果更加精确，当检测点a相邻两次记录温度差值
Figure BDA0003828062500000147
和检测点b相邻两次记录温度差值
Figure BDA0003828062500000148
较大时，证明金具102与第一电缆导体1000和第二电缆导体1010连接位置发热不稳定，压接状态测试件104不合格，
Figure BDA0003828062500000151
证明在通入x中不同强度电流进行x个升温实验中，较多实验的实验结果显示实际压接不良状态系数超过基准压接不良状态系数，此时判定压接状态测试件104为不合格品，
Figure BDA0003828062500000152
证明在通入x中不同强度电流进行x个升温实验中，有较少实验的实验结果显示实际压接不良状态系数小于基准压接不良状态系数，此时判定压接状态测试件104为合格品。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种金具与电缆导体压接状态测试装置，其特征在于，包括装置主体(1)，所述装置主体(1)内滑动连接有绝缘操作台(2)，所述绝缘操作台(2)上设有电缆固定组件(3)，所述电缆固定组件(3)用于将压接状态测试件(104)固定在绝缘操作台(2)上，所述装置主体(1)上设有电流发生器(103)和接触电阻测试仪(105)。
2.根据权利要求1所述的金具与电缆导体压接状态测试装置，其特征在于，所述压接状态测试件(104)包括第一电缆(100)、第二电缆(101)和金具(102)，所述第一电缆(100)的第一电缆导体(1000)和所述第二电缆(101)的第二电缆导体(1010)压接在金具(102)内。
3.根据权利要求1所述的金具与电缆导体压接状态测试装置，其特征在于，所述绝缘操作台(2)左右滑动连接在所述装置主体(1)内，装置主体(1)上上下滑动连接有照明组件(106)。
4.根据权利要求1所述的金具与电缆导体压接状态测试装置，其特征在于，所述电缆固定组件(3)包括：
适应性调节滑槽(300)，所述适应性调节滑槽(300)开设于所述绝缘操作台(2)上；
连接架体(3000)，所述连接架体(3000)滑动连接在所述适应性调节滑槽(300)内，所述连接架体(3000)一端固定连接有第一固定块(3001)，所述连接架体(3000)另一端固定连接有第二固定块(3002)；
调节弹力带(3003)，所述调节弹力带(3003)一端固定连接在所述第一固定块(3001)上，所述调节弹力带(3003)另一端贯穿所述第二固定块(3002)，所述第二固定块(3002)上固定连接有弹力带固定钉体(3004)。
5.根据权利要求1所述的金具与电缆导体压接状态测试装置，其特征在于，所述装置主体(1)底部设有移动组件(5)，所述移动组件(5)包括：
L型升降支撑板(500)，所述L型升降支撑板(500)上下滑动连接在所述装置主体(1)内，所述L型升降支撑板(500)上固定连接有第一直线电机(5000)，所述第一直线电机(5000)远离所述L型升降支撑板(500)的一端位于所述装置主体(1)内；
万向轮(5001)，所述装置主体(1)内设有万向轮导杆(5002)，所述万向轮导杆(5002)上滑动连接有万向轮(5001)，所述装置主体(1)内壁固定连接有第二直线电机(5003)，所述第二直线电机(5003)工作端固定连接在所述万向轮(5001)上。
6.根据权利要求1所述的金具与电缆导体压接状态测试装置，其特征在于，所述装置主体(1)内设有测试件剔除组件(4)，所述测试件剔除组件(4)包括：
驱动转轴(400)、启动齿轮(4000)和闸板齿轮(4001)，所述驱动转轴(400)转动连接在所述装置主体(1)内的第一安装腔(4004)内，所述启动齿轮(4000)和闸板齿轮(4001)固定连接在所述驱动转轴(400)上；
闸板齿条(4002)和闸板(4003)，所述闸板(4003)固定连接在所述闸板齿条(4002)上，所述闸板齿条(4002)滑动连接在所述第一安装腔(4004)前后两侧壁，所述闸板(4003)远离所述闸板齿条(4002)的一端位于所述装置主体(1)的第二安装腔(4005)内；
驱动凸轮(4006)，所述驱动凸轮(4006)固定连接在所述驱动转轴(400)上；
安装块(4007)，所述安装块(4007)固定连接在所述第一安装腔(4004)内，所述安装块(4007)上固定连接有第一导杆(4008)，所述第一导杆(4008)上上下滑动连接有第一导筒(4009)，所述第一导筒(4009)上固定连接有第一杆件(401)和第二杆件(4010)，所述第一杆件(401)上固定连接有推盘(4011)，所述推盘(4011)用于与所述驱动凸轮(4006)相互配合，所述第一导杆(4008)上套设有第一弹性件(4031)；
第二导杆(4012)和第二导筒(4013)，所述第二导杆(4012)固定连接在所述第一安装腔(4004)内，所述第二导筒(4013)滑动连接在所述第二导杆(4012)上，所述第二导杆(4012)上套设有第二弹性件(4014)，所述第二导筒(4013)上固定连接有定位卡块(4015)，所述定位卡块(4015)用于与所述第二杆件(4010)远离所述第一导筒(4009)的一端相互配合；
台体(4016)，所述台体(4016)固定连接在所述第一安装腔(4004)内，所述台体(4016)上固定连接有转换齿轮安装座(4017)，所述转换齿轮安装座(4017)上转动连接有转换齿轮(4018)，所述台体(4016)上滑动连接有转换齿条(4019)，所述转换齿条(4019)与所述转换齿轮(4018)相互啮合，所述转换齿条(4019)与所述第二导筒(4013)通过弯杆(402)固定连接；
导向筒(4020)，所述导向筒(4020)固定连接在所述安装块(4007)上，所述导向筒(4020)内滑动连接有啮合杆体(4021)，所述啮合杆体(4021)与所述导向筒(4020)内壁固定连接有第三弹性件(4022)，所述啮合杆体(4021)远离所述第三弹性件(4022)的一端固定连接有插接头(4023)，所述插接头(4023)固定连接有超声波传感器(4033)，所述啮合杆体(4021)上设有第三驱动件，所述第三驱动件用于驱动所述啮合杆体(4021)沿所述导向筒(4020)滑动，所述第三驱动件与所述超声波传感器(4033)电连接；
不合格测试件收纳筒体(4024)，所述不合格测试件收纳筒体(4024)上下滑动连接在所述第二安装腔(4005)内，所述不合格测试件收纳筒体(4024)上固定连接有筒体滑块(4025)，所述筒体滑块(4025)与所述第二安装腔(4005)内壁之间通过第四弹性件(4026)连接，所述不合格测试件收纳筒体(4024)上设有插接头连接孔(4027)，所述插接头连接孔(4027)用于与所述插接头(4023)相互配合。
7.根据权利要求6所述的金具与电缆导体压接状态测试装置及方法，其特征在于，还包括：
铰链盖体(4028)，所述铰链盖体(4028)转动连接在所述不合格测试件收纳筒体(4024)底部，所述铰链盖体(4028)上设有第一驱动件，所述第一驱动件用于驱动所述铰链盖体(4028)转动；
Z型栓(4029)，所述Z型栓(4029)滑动连接在所述不合格测试件收纳筒体(4024)上，所述Z型栓(4029)位于所述不合格测试件收纳筒体(4024)内的一端与Z型栓驱动齿轮(4032)相互啮合，所述Z型栓驱动齿轮(4032)上设有第二驱动件，所述第二驱动件用于驱动所述Z型栓驱动齿轮(4032)转动，所述Z型栓(4029)位于所述不合格测试件收纳筒体(4024)外的一端用于与所述铰链盖体(4028)端面相互配合；
重量传感器(403)，所述重量传感器(403)设置在所述铰链盖体(4028)内，用于检测所述不合格测试件收纳筒体(4024)内不合格的压接状态测试件(104)的重量，所述重量传感器(403)与所述第一驱动件和所述第二驱动件电连接，所述第二安装腔(4005)底部开设有清理通道(4030)。
8.一种金具与电缆导体压接状态测试方法，用于采用如权利要求1-7任一项所述的金具与电缆导体压接状态测试装置进行压接状态测试，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：将第一电缆(100)的第一电缆导体(1000)和第二电缆(101)的第二电缆导体(1010)塞入金具(102)内，并用压接装置对金具(102)外壁施加压力，完成第一电缆导体(1000)、第二电缆导体(1010)与金具(102)的压接，形成压接状态测试件(104)，压接装置的压接方式包括坑压压接或围压压接方式中的任意一种；
步骤二：将电流发生器(103)的两端通过导线分别与第一电缆(100)远离金具(102)的一端和第二电缆(101)远离金具(102)的一端连接，形成一个闭合的试验回路；
步骤三：将接触电阻测试仪(105)的两夹头分别与金具(102)的两端连接，接触电阻测试仪(105)用于测量金具(102)与第一电缆导体(1000)和第二电缆导体(1010)连接位置处的接触电阻；
步骤四：通过电流发生器(103)对试验回路进行通流温升试验，测量并记录金具(102)与第一电缆导体(1000)和第二电缆导体(1010)连接位置的温度变化情况；
步骤五：接触电阻测试仪(105)再次测量金具(102)与第一电缆导体(1000)和第二电缆导体(1010)连接位置处的接触电阻；
步骤六：装置主体(1)上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件(104)压接状态进行判断。
9.根据权利要求8所述的金具与电缆导体压接状态测试方法，其特征在于，通过电流发生器(103)对试验回路进行通流温升试验，测量并记录金具(102)与第一电缆导体(1000)和第二电缆导体(1010)连接位置的温度变化情况包括：
S1：在金具(102)上取间隔一定距离的两点作为检测点，分别为检测点a和检测点b，在检测点a和检测点b处分别设置第一温度传感器和第二温度传感器，所述第一温度传感器用于检测检测点a处的温度，所述第二温度传感器用于检测检测点b处的温度；
S2：所述电流发生器(103)向试验回路依次通n种不同强度的电流，在通入每种电流时，每隔20分钟记录一次第一温度传感器和第二温度传感器的检测值。
10.根据权利要求9所述的金具与电缆导体压接状态测试方法，其特征在于，所述判断模块与所述第一温度传感器、第二温度传感器、接触电阻测试仪(105)和电流发生器(103)电连接，所述装置主体(1)上的判断模块基于步骤三到步骤五的检测结果对压接状态测试件(104)压接状态进行判断包括以下步骤：
S3：计算试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数：
Figure FDA0003828062490000061
其中，
Figure FDA0003828062490000062
为试验回路通入第n种电流时判断模块输出的实际压接不良状态系数，th为试验回路通入第n种电流的总通电时长，20表示20分钟时间间隔，
Figure FDA0003828062490000063
为试验回路通入第n种电流时第i+1次记录时所述第一温度传感器的检测值，
Figure FDA0003828062490000064
为试验回路通入第n种电流时第i次记录时所述第一温度传感器的检测值，
Figure FDA0003828062490000065
为试验回路通入第n种电流时第i+1次记录时所述第二温度传感器的检测值，
Figure FDA0003828062490000066
为试验回路通入第n种电流时第i次记录时所述第二温度传感器的检测值，
Figure FDA0003828062490000067
为试验回路通入第n种电流时检测点a的最大预设温度变化值，
Figure FDA0003828062490000068
为试验回路通入第n种电流时检测点b的最大预设温度变化值，e为自然数，取值为2.71，
Figure FDA0003828062490000069
为试验回路通入第n种电流时，所述步骤五中接触电阻测试仪(105)的检测值，R0为步骤三中接触电阻测试仪(105)的检测值，R1为金具(102)内第一电缆导体(1000)的实际电阻，R2为金具(102)内第二电缆导体(1010)的实际电阻，R3为金具(102)的实际电阻，γ为金具(102)与第一电缆导体(1000)和第二电缆导体(1010)连接位置处的电阻随温度的变化率，即温度每上升一度对应的金具(102)与第一电缆导体(1000)和第二电缆导体(1010)连接位置处的电阻的增量值；
S4：判断第一电缆导体(1000)、第二电缆导体(1010)与金具(102)压接位置的压接是否合格：
Figure FDA00038280624900000610
其中，δ为第一电缆导体(1000)、第二电缆导体(1010)与金具(102)的综合压接合格常数，β为所述判断模块的判断误差系数，x为所述电流发生器(103)向试验回路通入的电流强度种数，
Figure FDA00038280624900000611
为试验回路通入第n种电流时第一电缆导体(1000)、第二电缆导体(1010)与金具(102)压接位置的基准压接不良状态系数；
Figure FDA0003828062490000071
Figure FDA0003828062490000072
为补偿常数，若W＝0，则证明第一电缆导体(1000)、第二电缆导体(1010)与金具(102)压接位置压接不合格，此时压接状态测试件(104)为不合格品，若W＝1，则证明第一电缆导体(1000)、第二电缆导体(1010)与金具(102)压接位置压接合格，此时压接状态测试件(104)为合格品。
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