CN212207570U - 一种集成电路测试平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于集成电路测试技术领域，尤其是一种集成电路测试平台，针对现有的集成电路检测设备都是将集成电路板插入到测试基座上来进行测试，通常会对集成电路电触点以及引脚产生磨损的问题，现提出如下方案，其包括测试台，所述测试台的顶部开设有凹槽，且凹槽的两侧均固定设置有挡板，凹槽内固定设置有检测板，检测板的两端与两个挡板固定连接，且检测板为U形结构，所述检测板的两侧均水平开设有滑槽，检测板的上方设置有两个方形夹持杆，本实用新型设置了夹持板，夹持板上设置有刻度槽，检测时将集成电路板放置到刻度槽内，由下方探针板进行电信号检测，完美解决了集成电路板测试会产生磨损的问题。

Description

一种集成电路测试平台

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试平台。

背景技术

集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。

常规的集成电路检测设备都是将集成电路板插入到测试基座上来进行测试，通常会对集成电路电触点以及引脚产生磨损，为此我们提出了一种集成电路测试平台，来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决集成电路板测试会产生磨损的缺点，而提出的一种集成电路测试平台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种集成电路测试平台，包括测试台，所述测试台的顶部开设有凹槽，且凹槽的两侧均固定设置有挡板，凹槽内固定设置有检测板，检测板的两端与两个挡板固定连接，且检测板为U形结构，所述检测板的两侧均水平开设有滑槽，且检测板的上方水平设置有两个方形夹持杆，所述方形夹持杆的两端固定连接有螺旋杆，且螺旋杆与滑槽相配合并延伸至滑槽外，螺旋杆上螺纹连接有螺栓，且螺栓位于滑槽外侧。

优选的，所述螺旋杆的一侧固定连接有方块，两个方块相互靠近的一侧均铰接连接有活动杆，两个方块中间位置设置有椭圆块，两个活动杆相靠近的一端分别铰接连接在椭圆块的两端，椭圆块转动连接在检测板上。

优选的，所述检测板顶部开设有方孔，方孔内放置有探针板，且探针板上均匀设置有探针，探针底部连接有弹簧，弹簧固定连接在探针板上，方孔底部固定安装有测试机，测试机与探针板电性连接。

优选的，所述方形夹持杆相靠近的一侧设置有刻度槽，刻度槽位于探针板上方。

优选的，所述测试台的顶部安装有控制器，控制器与测试机电性连接。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

由于设置了测试机、探针板，测试机与探针板电性连接，检测时测试机输出电信号通过探针板传输到集成电路板上可以对集成电路进行检测。

由于设置了方形夹持杆、刻度槽、方块、活动杆、椭圆块，刻度槽可以准确标示探针板位置，保证集成电路板与探针接触，方块、活动杆椭圆块的设置可以在移动一个方形夹持杆的同时带动另一个方形夹持杆，方便完成对集成电路板的夹持。

本实用新型通过设置方形夹持杆，方形夹持杆上设置有刻度槽，确保集成电路板对准探针板，检测时将集成电路板放置到刻度槽内，由下方探针板进行电信号检测，完美解决了集成电路板测试会产生磨损的问题。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种集成电路测试平台的立体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种集成电路测试平台的俯视结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种集成电路测试平台的检测板与方形夹持杆的立体结构示意图。

图中：1测试台、2挡板、3检测板、4滑槽、5方形夹持杆、6螺旋杆、7 螺栓、8方块、9活动杆、10椭圆块、11刻度槽、12探针板、14控制器。

具体实施方式

下面将结合本实施例中的附图，对本实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。

实施例一

参照图1-3，一种集成电路测试平台，包括测试台1，测试台1的顶部开设有凹槽，且凹槽的两侧均固定设置有挡板2，凹槽内固定设置有检测板3，检测板3的两端与两个挡板2固定连接，且检测板3为U形结构，检测板3的两侧均水平开设有滑槽4，且检测板3的上方水平设置有两个方形夹持杆5，方形夹持杆5的两端固定连接有螺旋杆6，且螺旋杆6与滑槽4相配合并延伸至滑槽4外，螺旋杆6上螺纹连接有螺栓7，且螺栓7位于滑槽4外侧，保证方形夹持杆5可以在滑槽4内移动，完成对集成电路板的夹持。

本实施例中，螺旋杆的一侧固定连接有方块8，两个方块8相互靠近的一侧均铰接连接有活动杆9，两个方块8中间位置设置有椭圆块10，两个活动杆 9相靠近的一端分别铰接连接在椭圆块10的两端，椭圆块10转动连接在检测板2上，保证移动一个方形夹持杆5时，另一个方形夹持杆5会同时移动，便于夹持。

本实施例中，检测板2顶部开设有方孔，方孔内放置有探针板12，且探针板12上均匀设置有探针，探针底部连接有弹簧，弹簧固定连接在探针板12上，方孔底部固定安装有测试机，测试机与探针板12电性连接，测试机发出电信号通过探针板12传输到集成电路板上，来完成集成电路的测试。

本实施例中，方形夹持杆5相靠近的一侧设置有刻度槽11，刻度槽11位于探针板12上方，确保集成电路板对准探针板12。

本实施例中，测试台1的顶部安装有控制器14，控制器14与测试机电性连接，方便对测试机进行控制。

实施例二

参照图1-3，一种集成电路测试平台，包括测试台1，测试台1的顶部开设有凹槽，且凹槽的两侧均固定焊接有挡板2，凹槽内固定设置有检测板3，检测板3的两端与两个挡板2固定焊接，且检测板3为U形结构，检测板3的两侧均水平开设有滑槽4，且检测板3的上方水平滑动设置有两个方形夹持杆 5，方形夹持杆5的两端固定焊接有螺旋杆6，且螺旋杆6与滑槽4相配合并延伸至滑槽4外，螺旋杆6上螺纹连接有螺栓7，且螺栓7位于滑槽4外侧，保证方形夹持杆5可以在滑槽4内移动，完成对集成电路板的夹持。

本实施例中，螺旋杆6的一侧固定焊接有方块8，两个方块8相互靠近的一侧均铰接连接有活动杆9，两个方块8中间位置转动设置有椭圆块10，两个活动杆9相靠近的一端分别铰接连接在椭圆块10的两端，椭圆块10转动连接在检测板3上，保证移动一个方形夹持杆5时，另一个方形夹持杆5会同时移动，便于夹持。

本实施例中，检测板3顶部开设有方孔，方孔内固定放置有探针板12，且探针板12上均匀设置有探针，探针底部焊接有弹簧，弹簧固定焊接在探针板 12上，方孔底部固定安装有测试机，测试机与探针板12电性连接，测试机发出电信号通过探针板12传输到集成电路板上，来完成集成电路的测试。

本实施例中，方形夹持杆5相靠近的一侧固定设置有刻度槽11，刻度槽 11位于探针板12上方，确保集成电路板对准探针板12。

本实施例中，测试台1的顶部安装有控制器14，控制器14与测试机电性连接，方便对测试机进行控制。

本实施例中，在进行集成电路板的测试时，先准备好需要测试的集成电路板，方形夹持杆5两端固定焊接有螺旋杆6，螺旋杆6一端焊接有方块8，活动杆9的一端铰接连接在方块8上，另一端铰接连接在椭圆块10的一端，移动其中一个方形夹持杆5时，活动杆9将拉着椭圆块10转动，同时带着另一个方形夹持杆5移动，到合适距离时，将集成电路板对准刻度槽11放下，微微移动方形夹持杆5夹紧集成电路板，转动螺旋杆6上的螺栓7，固定住方形夹持杆5，之后通过控制器14启动测试机，测试机输出的电信号通过探针板 12传输到集成电路上完成对集成电路的测试，测试结果也会通过控制器14显示出来。

以上所述，仅为本实施例较佳的具体实施方式，但本实施例的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实施例揭露的技术范围内，根据本实施例的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实施例的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种集成电路测试平台，包括测试台，其特征在于，所述测试台的顶部开设有凹槽，且凹槽的两侧均固定设置有挡板，凹槽内固定设置有检测板，检测板的两端与两个挡板固定连接，且检测板为U形结构，所述检测板的两侧均水平开设有滑槽，且检测板的上方水平设置有两个方形夹持杆，所述方形夹持杆的两端固定连接有螺旋杆，且螺旋杆与滑槽相配合并延伸至滑槽外，螺旋杆上螺纹连接有螺栓，且螺栓位于滑槽外侧。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于，所述螺旋杆的一侧固定连接有方块，两个方块相互靠近的一侧均铰接连接有活动杆，两个方块中间位置设置有椭圆块，两个活动杆相靠近的一端分别铰接在椭圆块的两端，椭圆块转动连接在检测板上。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于，所述检测板顶部开设有方孔，方孔内放置有探针板，且探针板上均匀设置有探针，探针底部连接有弹簧，弹簧固定连接在探针板上，方孔底部固定安装有测试机，测试机与探针板电性连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于，两个方形夹持杆相互靠近的一侧均设置有刻度槽，刻度槽位于探针板上方。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试平台，其特征在于，所述测试台的顶部安装有控制器，控制器与测试机电性连接。

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