CN115380202A - 米粒品质测定装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种能够简便地在短时间内测定白度和光泽值的紧凑的测定装置。该测定装置具有：工作台(20)，其供载有米粒的试样盘(10)载置；光泽测定器(30)，其对载置于工作台的试样盘的米粒的表面照射光泽测定用的光，并接收其反射光，从而来测定米粒的光泽；以及白度测定器(40)，其也对载置于工作台的试样盘照射白度测定用的光，并通过试样盘接收来自试样盘的米粒的反射光，从而来测定米粒的白度。

Description

米粒品质测定装置

技术领域

本发明涉及能够测定米粒的白度和光泽的装置。

背景技术

日本国内的市场中的精米的品质评价一般以白度进行，但在海外市场的长粒精米中，白度和光泽成为品质评价项目。

作为测定白度的装置，例如市售有非专利文献1所记载的糙米白度计、精米白度计。另外，在专利文献1中公开了精白度测定装置。作为光泽测定装置，已知有专利文献2、专利文献3的谷物的光泽测定装置。这些测定白度的装置及测定光泽的装置均是向精米照射光，测定其反射光的结构。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平1-142441号公报

专利文献2：日本特开2019-211280号公报

专利文献3：美国专利申请公开第2016/0320311号说明书

非专利文献

非专利文献1：株式会社凯特科学研究所主页<https：//www.kett.co.jp/wp-content/uploads/2018/09/c300_catalog_rev0201.pdf>

发明内容

发明要解决的课题

以往，为了测量精米的白度和光泽值，需要白度测定装置和光泽测定装置这两台装置，因此需要两台装置的设置空间。另外，由于需要用两台装置分别进行测定作业，因此存在测定需要时间这样的问题。

本发明的目的在于提供一种能够在短时间内测定白度和光泽值的紧凑的测定装置。

用于解决课题的方案

为了实现上述目的，本发明的米粒品质测定装置的特征在于，具有：工作台，其供载有米粒的试样盘载置；光泽测定器，其对载置于工作台的试样盘的米粒的表面照射光泽测定用的光，并接收其反射光，从而来测定米粒的光泽；以及白度测定器，其对载置于工作台的试样盘的米粒照射白度测定用的光，并接收来自所述试样盘的米粒的反射光，从而来测定米粒的白度。

例如，光泽测定器配置于工作台的上方，白度测定器配置于工作台的下方。在该情况下，白度测定器构成为，从载置于工作台的试样盘的下表面通过试样盘照射白度测定用的光，并通过所述试样盘接收来自试样盘的米粒的反射光。

试样盘可以使用具有为了测定光泽而配置一层米粒的光泽用试样区域和为了测定白度而填充多层米粒的白度用试样区域的结构的试样盘。在该情况下，对于白度用试样区域，优选试样盘由透过白度测定用的光的材质构成。

作为上述工作台，可以使用转台。在该情况下，可以构成为，在转台设置有用于载置试样盘的所述白度用区域的开口或透过白度测定用光的窗口，在工作台的下表面配置有一个以上的基准板。在这样的结构中，随着转台的旋转，试样盘和一个以上的基准板依次配置在被照射白度测定用的光的位置。

例如，试样盘的光泽测定用试样区域载置于转台的旋转中心。

光泽测定器可以构成为具备：第一光源，其从斜上方对载置于工作台的试样盘的米粒照射第一波长的光；第二光源，其从上方对试样盘的米粒照射第二波长的光；相机，其利用来自试样盘的第一波长的光及第二波长的光拍摄试样盘；以及光泽计算部。在该情况下，光泽计算部根据相机所拍摄的图像生成第一波长的光的试样盘的米粒的图像和第二波长的光的试样盘的米粒的图像，并基于两个图像计算试样盘的米粒的光泽值。

白度测定器例如构成为，具备：第三光源，其配置于工作台的下部，向试样盘的米粒照射白度测定用的第三光；受光部，其配置于工作台的下方，接收来自试样盘的米粒的白度测定用的第三光的反射光；以及白度计算部，其根据受光部的受光强度计算白度。

在该情况下，白度计算部可以构成为，基于向试样盘的米粒照射白度测定用的光的情况下的受光强度和代替所述试样盘的米粒而配置基准板的情况下的受光强度来计算白度。

另外，光泽计算部也可以通过对第二波长的光的试样盘的米粒的图像实施规定的处理，来计算试样盘的米粒所包含的乳白色的米粒的所述图像上的面积。白度计算部具备校正部，该校正部基于光泽计算部计算出的乳白色的米粒的面积来对白度进行校正。

作为一例，试样盘也可以采用在中央设置有白度用试样区域，以包围白度用试样区域的外周的方式设置有深度比白度用试样区域浅的光泽用试样区域的图9那样的结构。

试样盘也可以与工作台形成为一体的结构。

发明效果

根据本发明，能够提供一种可以在短时间内测定白度和光泽值的紧凑的测定装置。

附图说明

图1是本发明的实施方式1的米粒品质测定装置的包含旋转轴的面的剖视图。

图2是将本发明的实施方式1的米粒品质测定装置的第二光源32配置在试样盘10的上方的结构的包含旋转轴的面的剖视图。

图3中的(a)是实施方式1的试样盘10的剖视图，(b)是俯视图。

图4是实施方式1的米粒品质测定装置的载置有试样盘10的工作台20的俯视图。

图5是实施方式1的米粒品质测定装置的横穿白度测定用区域12及光泽测定区域11的位置处的剖视图。

图6是示出实施方式1的米粒品质测定装置的测定动作的流程图。

图7中的(a)是实施方式2的具备基准板的试样盘110a的剖视图，(b)是白度测定用的试样盘110b的剖视图，(c)是光泽测定用的试样盘110c的剖视图。

图8中的(a)是实施方式2的具备基准板的光泽测定用的试样盘111a的剖视图，(b)是白度测定用的试样盘110b的剖视图。

图9中的(a)是实施方式2的具备基准板的试样盘110a的剖视图，(b)是具备白度测定用区域12和光泽测定用区域11这两者的试样盘110b的剖视图，(c)是试样盘110b的立体图。

图10是示出实施方式3的米粒品质测定装置的测定动作的流程图。

图11是实施方式4的米粒品质测定装置的横穿白度测定用区域12及光泽测定区域11的位置处的剖视图。

图12是实施方式5的精米装置的框图。

具体实施方式

以下，使用附图对本发明的一实施方式的米粒品质测定装置进行说明。

<<实施方式1>>

以下，对实施方式1的米粒品质测定装置进行说明。

如图1所示，本实施方式的米粒品质测定装置构成为具备供载有米粒的试样盘10载置的工作台20、光泽测定器30、以及白度测定器40。

这样，通过采用在一台装置内具备光泽测定器30和白度测定器40这两者的结构，能够提供一种可以用一台装置在短时间内测定光泽和白度这两者的紧凑的米粒品质测定装置。

在本实施方式中，如图1所示，对在工作台20的上方配置有光泽测定器30、在工作台20的下方配置有白度测定器40的结构进行说明。

光泽测定器30对试样盘10的米粒的表面照射光泽测定用的光，通过接收其反射光来测定米粒的光泽。具体而言，光泽测定器30构成为具备：射出第一波长的光的第一光源31；射出第二波长的光的第二光源32；以及利用第一波长及第二波长的光拍摄试样盘的相机33。第一光源31配置在从斜上方对载置于工作台的试样盘10的米粒照射第一波长的光的位置。相机33配置在接收由试样盘10的米粒反射的第一波长光的反射光的位置。第二光源32从试样盘10的米粒的上方照射第二波长光。第二光源32的位置只要是由米粒反射的第二波长光的反射光被相机33接收的位置即可，可以配置在任意位置。例如，第二光源32可以如图1那样配置在隔着试样盘10与第一光源31对置的位置，也可以如图2所示那样配置在试样盘10的正上方，沿着试样盘10的主平面的法线方向对试样盘10照射第二波长光。相机33接收由试样盘10的米粒反射的第一波长光的反射光和第二波长光的反射光，对米粒进行拍摄。需要说明的是，也可以在相机33的前方配置防止由米粒引起的第一波长光的散射光入射的光学元件(例如偏振片)。

光泽计算部34通过根据波长对相机33所拍摄的图像进行分离，从而生成基于第一波长光的试样盘10的米粒的图像和基于第二波长光的试样盘10的米粒的图像，并对两个图像进行处理，从而计算试样盘10的米粒的光泽值。

优选第一波长光和第二波长光为不同的波长。例如，作为第一波长光，能够使用红色光，作为第二波长光，能够使用蓝色光。

白度测定器40向试样盘10的米粒照射白度测定用的第三光，通过试样盘10接收来自试样盘10的米粒的反射光，由此测定米粒的白度。具体而言，白度测定器40构成为具备：向试样盘10的米粒照射白度测定用的第三光的第三光源41a、41b；接收来自试样盘10的米粒的白度测定用的第三光的反射光的受光部42；以及根据受光部42的受光强度计算白度的白度计算部43。在此，如图1那样，白度测定器40配置于工作台20的下部，但也可以配置于工作台20的上部。在图1的例子中，第三光源41a、41b为两个，分别从相对于试样盘10的下表面的法线约45度的角度照射第三光(例如蓝色光)。另外，在图1的例子中，受光部42配置在试样盘10的下表面的法线方向上。

白度计算部43的白度计算方法可以是任意的计算方法，例如可以构成为，将从第三光源41a、41b向试样盘10的米粒照射白度测定用的第三光的情况下的受光部42的受光强度与代替试样盘10的米粒而配置基准板的情况下的受光强度进行比较，来计算白度。

这样，在本实施方式中，能够用一个测定装置进行光泽测定和白度测定，但光泽测定和白度测定的优选试样的形态不同。如图3的(a)所示，在光泽测定中，优选将米粒15在试样盘10排列一层(厚度方向为米一粒的量)，使米粒15均匀地横倒(使长轴与工作台20的主平面大致平行)，向排列在试样盘10上的米粒15的腹部分照射第一波长光及第二波长光，接收其反射光。另一方面，在白度测定中，为了紧密地配置米粒、消除间隙而稳定地进行测定，优选将米粒15多层地填充到试样盘10中，照射第三光。

因此，如图3的(a)、(b)所示，试样盘10可以使用具有为了测定光泽而配置一层米粒15的光泽用试样区域11、以及为了测定白度而填充多层米粒的白度用试样区域12的结构的试样盘。在此，由于白度用试样区域12从试样盘11的底面10a接受白度测定用的第三光的照射，因此底面10a由透过第三光的材质构成。

作为工作台20，如图4及图5所示，优选使用作为驱动源而具备马达23的转台。在转台20上设置有用于载置试样盘10的白度用区域12的开口20a或使白度测定用的第三光透过的窗口。也可以在转台20的下表面配置一个以上的基准板21、22。用于载置白度用区域12的开口20a和基准板21、22以转台20的旋转轴24为中心配置在同心圆上。这样，通过具备颜色不同的两个以上的基准板21、22，能够高精度地求出白度。另外，也能够高精度地进行本实施方式的装置的出厂前的白度的校正。例如，能够将白度测定用的白色的基准板21和茶色度测定用的茶色的基准板22固定在转台20的下表面。作为白色的基准板21及茶色的基准板22，使用预先求出白度的树脂板。需要说明的是，也可以使用灰色等其他颜色的基准板21来代替茶色的基准板22。另外，也可以使用三种以上的基准板进一步提高校正精度。

在这样的结构中，随着转台的旋转，试样盘和一个以上的基准板21、22依次配置在被第三光源41a、41b的蓝色光照射的位置，由受光部42检测各自的反射光强度。由此，能够高精度地测量试样的白度。

需要说明的是，在图4及图5的结构中，试样盘10的光泽测定用试样区域11载置于转台20的旋转中心(旋转轴24)。由此，随着转台20的旋转，能够从整个周向照射第一波长及第二波长的光而测定光泽值。

<光泽及白度的测定时的动作>

利用图6的流程图，对通过实施方式1的米粒品质测定装置测定米粒的光泽及白度时的各部分的动作进行说明。

(步骤101)

首先，在图3的(a)、(b)的试样盘10的光泽测定区域11中，以放倒的状态排列一层米粒15，另一方面，在白度测定区域12中，填充多层米粒，如图4那样，搭载在转台20上。

(步骤102)

通过马达23使转台20以规定的转速连续旋转。

(步骤103)

接着，从第一光源31及第二光源32向搭载于旋转的转台20的试样盘10的中心的光泽测定区域11的米粒15照射第一波长光及第二波长光，利用相机33拍摄第一波长光及第二波长光的图像。

(步骤104)

光泽计算部34通过处理相机33的图像来测定光泽值。

光泽值的计算方法可以使用各种方法，例如使用以下的方法。第一光源31配置在隔着试样盘10与相机33对置的位置，因此相机33对被照射了第一波长光的载置于试样盘10的米粒的反射光进行拍摄。此时，相机33也接收照射到试样盘10的米粒的周边区域(试样盘10的边缘、工作台等)的第一波长光的反射光。另一方面，第二光源32配置于试样盘10的上方，因此照射的第二波长光中的被米粒反射的光到达相机33。

光泽计算部34通过预先确定的适当的阈值对由相机33拍摄到的第一波长光的图像进行二值化处理，从而提取第一波长光的反射光的图像。第一波长光的反射光是由米粒的腹部的平滑面反射的光，但由于来自周边构件的反射光也一起被相机33拍摄，因此反射光的图像是将米粒的光泽区域和米粒的周边区域(试样盘10的边缘、工作台等)的平滑面的区域合起来的图像。

另一方面，光泽计算部34通过预先确定的适当的阈值对由相机33拍摄的第二波长光的图像进行二值化处理，由此去除来自米粒以外的区域的反射光等，提取来自米粒的反射光的图像。第二光源32配置于试样盘10的上方，因此由相机33拍摄到的第二波长光的反射光是被米粒的表面、内部反射的光，二值化处理后的第二波长光的图像是存在有米粒的区域(谷物区域)的图像。

光泽计算部34计算第二波长光的二值化处理后的图像(谷物区域)的面积(S0)。另外，光泽计算部34通过计算第一波长光的二值化图像和第二波长光的二值化处理后的图像的重叠区域的面积，来提取谷物区域内的光泽区域，并计算其面积(S2)。通过求出光泽区域的面积(S2)与谷物区域的面积(S0)之比(S2/S0)来计算光泽值。

此时，在本实施方式中，一边使转台20旋转360度，一边从第一光源31及第二光源32向试样盘10的光泽测定区域11的米粒照射光，计算出按照360度的旋转角度的光泽值之后，求出其平均值。由此，即使在试样盘10的光泽测定区域11的米粒的排列方式存在不均匀的情况下，通过求出各角度的光泽值的平均值，也能够不受排列方式的不均匀的影响而高精度地计算光泽值。

在计算光泽值后，熄灭第一光源31及第二光源32。此时，也可以根据需要使转台20的旋转停止。

(步骤105)

在使转台20停止的情况下，再次通过马达23使转台20的旋转开始。由此以规定的转速连续旋转。

(步骤106)

如果载置于转台20的白色的基准板21随着转台20的旋转而到达白度测定器40的第三光源41a、41b的照射区域，则白度测定器40开始自接收被从第三光源41a、41b照射了蓝色光的白色的基准板21的反射光的受光部42取得其输出数据，从而来检测光量。受光部42继续取得输出数据直至白色基准板21脱离第三光源41a、41b的照射区域为止。

白度测定器40如果检测出例如转台20的旋转角度到达了预先确定的角度范围，则判定为到达了第三光源41a、41b的照射区域，可以开始取得来自受光部42的输出数据。

(步骤107)

如果随着转台20的旋转，茶色的基准板22到达第三光源41a、41b的照射区域，则白度测定器40开始自接收被从第三光源41a、41b照射了蓝色光的茶色的基准板22的反射光的受光部42取得其输出数据，由此来检测光量。受光部42继续取得输出数据直至茶色的基准板22脱离第三光源41a、41b的照射区域为止。

(步骤108)

如果随着转台20的旋转，试样盘10的白度测定用区域12的底面到达了第三光源41a、41b的照射区域，则白度测定器40开始自受光部42取得其输出数据，由此检测光量，该受光部42接收来自被从第三光源41a、41b照射了蓝色光的白度测定用区域12的米粒的反射光。受光部42继续取得输出数据直至白度测定用区域12的底面脱离第三光源41a、41b的照射区域为止。

(步骤109)

白度计算部43根据在步骤106、107、108中接收到的各个反射光的光量的平均(时间平均)来计算白度。白度的计算方法可以是任意的方法，例如可以使用如下方法：使用预先确定的反射光量与白度的关系，基于在步骤108中接收到的来自试样的米粒的反射光量求出白度，根据在步骤104、106中求出的来自基准板的反射光量来对求出的白度进行校正。另外，也可以构成为，根据在步骤104、106中求出的来自基准板的反射光量，对在步骤108中从第三光源41a、41b向试样照射的光量进行控制。

(步骤110)

在显示部51显示在步骤104及109中求出的光泽值、白度。

如上所述，根据本实施方式，能够通过一台紧凑的测定装置来测定米粒的白度和光泽值。

另外，不需要在中途将试样盘10的试样切换为光泽值用和白度用，也不需要切换基准板21和试样盘10。因此，能够在短时间内容易地测定光泽值和白度。

而且，在本实施方式中，能够一边使转台20旋转一边分别测定光泽值和白度，因此能够排除试样盘10的米粒的排列方式的不均匀的影响，每次测定自动地进行基于基准板的校正，因此能够高精度地测定光泽值和白度。

需要说明的是，在上述的测定动作中，是在测定光泽值之后测定白度的动作，但也可以从上下的测定器30、40同时照射光，同时测定光泽值和白度。

需要说明的是，试样盘10也可以与转台20形成为一体结构。

另外，在本实施方式中，在白度测定时，一边使转台20旋转一边进行反射光的测定，但如果基准板21、基准板22、试样盘10的白度测定区域12到达了第三光源41a、41b的照射区域，则也可以暂时使转台20停止，进行反射光的测定。

<<实施方式2>>

作为实施方式2，对与实施方式1不同的试样盘的形状例进行说明。

实施方式1的试样盘10是具备光泽测定用区域11和白度测定用区域12这两者的一体型的试样盘，但也可以如图7的(b)、(c)那样分离成两个试样盘110b、110c。另外，也可以如图7的(a)那样，通过将基准板21配置于基准用试样盘110a的底面，并与试样盘110b切换配置，来测定基准板21的反射光量。

另外，也可以如图8的(a)那样，在光泽测定用的试样盘110a的底面配置基准板21。在该情况下，白度测定用的试样盘110b是与图7的(b)相同的结构。通过使用图8的(a)、(b)的试样盘110a、110b，能够使试样盘110a兼用光泽测定用的试样盘和基准板21，因此与图7的情况相比能够减少试样盘的数量。

另外，如图9的(b)示出的剖视图、图9的(c)示出的立体图那样，试样盘112b也可以使用在中央设置有白度用试样区域12、以包围白度用试样区域12的外周的方式设置有深度比白度用试样区域12浅的光泽用试样区域11的结构。在该情况下，基准板21也可以使用与图7的(a)同样地配置于试样盘110a的底面的基准板。

在使用上述图8、图9的试样盘的情况下，使用在中心轴上配置有被照射光泽测定用的光的区域和被照射白度测定用的光的区域这两者的工作台20。即，构成为，在工作台20的中央设置开口或窗口，配置试样盘、基准板21。该结构的试样盘112b能够从上下的测定器30、40同时照射光，同时测定光泽值和白度。

<<实施方式3>>

在实施方式3中，对使用由光泽测定器30求出的值来校正在实施方式1中求出的由白度测定器40测定出的白度的校正部43a(参照图1)进行说明。在米粒中混有乳白色的米粒的情况下，由于乳白色的米粒的光的反射率高，因此存在白度测定器50的受光部42检测出的反射光的光量变大的倾向。因此，在步骤109中计算出的白度比准确的白度大。而且，白度变大的倾向依赖于乳白色的米粒在试样盘10的试样(米粒)的面积中所占的面积。因此，在本实施方式中，在白度计算部43中具备根据乳白色的米粒的面积来校正计算出的白度的校正部43a。乳白色的米粒的面积通过对由光泽计算部34的相机33拍摄到的基于第二波长的光的试样盘10的米粒的图像实施规定的处理来计算。

实施方式3的米粒品质测定装置的装置结构与实施方式1的装置相同。

使用图10的流程图对具体的处理进行说明。

首先，与实施方式1同样地进行图6的步骤101～109，求出白度W。

(步骤901)

接着，光泽计算部34利用预先求出的阈值对在实施方式102中拍摄出的第二波长的光的试样盘10的米粒的图像进行二值化处理。该阈值是比去除了在步骤103中来自不是米粒的区域的反射光等的阈值大的值。乳白色的米粒的光的反射率比通常的米粒大，因此在第二波长的光的试样盘10的米粒的图像中，成为亮度大的米粒图像。因此，光泽计算部34利用预先确定的阈值对图像进行二值化处理，以能够明确地检测乳白色部分。光泽计算部34计算二值化后的图像的乳白色的米粒图像的面积(S1)。

(步骤902)

光泽计算部34计算乳白色的米粒图像的面积(S1)与步骤103的谷物区域的面积(S0)之比X(＝S1/S0)。

(步骤903)

光泽计算部使用在步骤902中求出的比X，使用预先确定的算式对在步骤109中计算出的白度W进行校正，求出校正后的白度W’。

这样，本实施方式的装置是测定光泽值和白度这两者的装置，因此能够根据计算光泽值的中途的图像的值来校正白度，计算高精度的白度。

<<实施方式4>>

在上述的实施方式1～3中，对光泽测定器30配置于工作台20的上方、白度测定器40配置于工作台20的下方的例子进行了说明，但也可以将光泽测定器30和白度测定器40这两者配置于工作台20的上方，也可以将两者配置于工作台20的下方。例如，如图11所示，在将光泽测定器30和白度测定器40这两者配置于工作台20的上方的情况下，白度测定器40构成为，从试样盘10的米粒的上方照射光，由配置于试样盘10的上方的受光部42接收其反射光。此时，优选预先在试样盘10的白度测定区域12的米粒上搭载透明板，使米粒的上表面平坦。

这样，通过将光泽测定器30和白度测定器40这两者配置于工作台20的上方，从白度测定器40的第三光源照射的第三光不会穿过试样盘10的底面而照射，而是从米粒的试样的表面照射，直接由受光部42接收其反射光。因此，具有能够不受试样盘10的底面的影响地接收反射光这样的优点。

另外，在本实施方式中，也可以将光泽测定器30的第一光源31及第二光源32的一方或双方兼用作白度测定器40的第三光源41a、41b。

<<实施方式5>>

作为实施方式5，使用图12对使用了实施方式1～4中任一方式的米粒品质测定装置的精米装置进行说明。图12的精米装置具备：精米机201和碾米机202；以及分别与精米机201和碾米机202连接的米粒品质测定装置1。

用精米机201进行了规定时间精米之后的米粒的一部分作为试样搬入米粒品质测定装置1，测定白度及光泽。测定值从米粒品质测定装置1向精米机201的精米控制部输出。精米控制部在接收到的测定值未达到作为目标的白度和/或光泽值的情况下，以进一步进行精米的方式对各部分进行控制。在达到了目标值的情况下，精米控制部结束精米，将精米后的米粒搬出到碾米机202。

碾米机202将进行了规定时间碾米之后的米粒的一部分作为试样搬入米粒品质测定装置1，测定白度及光泽。测定值从米粒品质测定装置1向碾米机202的碾米控制部输出。碾米控制部在接收到的测定值未达到作为目标的白度和/或光泽值的情况下，以进一步进行碾米的方式对各部分进行控制。在达到了目标值的情况下，结束碾米，搬出精米后的米粒。

这样，本实施方式的精米装置能够基于由米粒品质测定装置1测定出的白度和/或光泽值进行控制，因此能够自动地控制精米工序。另外，在使用实施方式3的米粒品质测定装置1的情况下，能够使用校正后的精度高的白度进行控制，因此能够提高精米的控制的精度。

附图标记说明：

10…试样盘，10a…底面，11…光泽测定用区域，12…白度测定用区域，15…米粒，20…工作台，20a…开口，23…马达，30…光泽测定器，31…第一光源，32…第二光源，33…相机，34…光泽计算部，40…白度测定器，41a、41b…第三光源，42…受光部，43…白度计算部，43a…校正部，51…显示部，201…精米机，202…碾米机。

Claims (15)

1.一种米粒品质测定装置，其特征在于，

所述米粒品质测定装置具有：

工作台，其供载有米粒的试样盘载置；

光泽测定器，其对载置于所述工作台的所述试样盘的米粒的表面照射光泽测定用的光，并接收其反射光，从而来测定所述米粒的光泽；以及

白度测定器，其对载置于所述工作台的所述试样盘的米粒照射白度测定用的光，并接收来自所述试样盘的米粒的反射光，从而来测定所述米粒的白度。

2.根据权利要求1所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述光泽测定器配置于所述工作台的上方，

所述白度测定器配置于所述工作台的下方，从载置于所述工作台的所述试样盘的下表面通过所述试样盘照射白度测定用的光，并通过所述试样盘接收来自所述试样盘的米粒的反射光。

3.根据权利要求2所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述米粒品质测定装置还具有试样盘，

所述试样盘具有：光泽用试样区域，其为了测定所述光泽而配置一层米粒；以及白度用试样区域，其为了测定所述白度而填充多层米粒，

对于所述白度用试样区域，所述试样盘由透过所述白度测定用的光的材质构成。

4.根据权利要求3所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述工作台为转台，

在所述转台设置有用于载置所述试样盘的所述白度用区域的开口或透过所述白度测定用的光的窗口，

在所述工作台的下表面配置有一个以上的基准板，

随着所述转台的旋转，所述试样盘和所述一个以上的基准板依次配置在被照射所述白度测定用的光的位置。

5.根据权利要求4所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述白度测定器一边使所述转台连续地旋转，一边向通过被照射所述白度测定用的光的位置的所述试样盘的米粒和所述一个以上的基准板依次照射白度测定用的光，并接收反射光。

6.根据权利要求4所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

如果所述试样盘及所述一个以上的基准板依次到达了被照射所述白度测定用的光的位置，则所述白度测定器使所述转台停止，照射白度测定用的光，并接收反射光。

7.根据权利要求3所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述工作台为转台，

所述光泽测定器一边使所述转台连续地旋转，一边向所述试样盘的光泽用试样区域的米粒依次照射光泽测定用的光，并接收反射光。

8.根据权利要求4至7中任一项所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述试样盘的所述光泽测定用试样区域载置于所述转台的旋转中心。

9.根据权利要求3所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述光泽测定器具备：第一光源，其从斜上方对载置于所述工作台的所述试样盘的米粒照射第一波长的光；第二光源，其从上方对所述试样盘的米粒照射第二波长的光；相机，其利用来自所述试样盘的所述第一波长的光及第二波长的光拍摄所述试样盘；以及光泽计算部，

所述光泽计算部根据所述相机所拍摄的图像生成所述第一波长的光的所述试样盘的米粒的图像和所述第二波长的光的所述试样盘的米粒的图像，并基于两个图像计算所述试样盘的米粒的光泽值。

10.根据权利要求9所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述白度测定器具备：第三光源，其配置于所述工作台的下方，向所述试样盘的米粒照射白度测定用的第三光；受光部，其配置于所述工作台的下方，接收来自所述试样盘的米粒的所述白度测定用的第三光的反射光；以及白度计算部，其根据所述受光部的受光强度计算白度。

11.根据权利要求10所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述白度计算部基于向所述试样盘的米粒照射所述白度测定用的第三光的情况下的所述受光强度和代替所述试样盘的米粒而配置基准板的情况下的所述受光强度来计算白度。

12.根据权利要求10所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述光泽计算部通过对所述第二波长的光的所述试样盘的米粒的图像实施规定的处理，来计算所述试样盘的米粒所包含的乳白色的米粒的面积，

所述白度计算部具备校正部，所述校正部基于所述光泽计算部计算出的乳白色的米粒的面积来对所述白度进行校正。

13.根据权利要求2所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述试样盘在中央设置有所述白度用试样区域，以包围所述白度用试样区域的外周的方式设置有深度比所述白度用试样区域浅的光泽用试样区域。

14.根据权利要求1所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述试样盘与所述工作台为一体。

15.根据权利要求1所述的米粒品质测定装置，其特征在于，

所述光泽测定器及所述白度测定器均配置于所述工作台的上方。

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