CN115342757A - 一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明是一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法。本发明涉及精密机械检测技术领域，本发明包括：轴系连接件、A旋转轴系、B旋转轴系、半反半透镜机构、反射透镜机构和自准直仪，轴系连接件设置在中心位置，A旋转轴系转动安装在轴系连接件一端，B旋转轴系转动安装在轴系连接件另一端，A旋转轴系和B旋转轴系关于轴系连接件对称并沿同轴分布，半反半透机构设置在A旋转轴系端部且半反半透镜机构内设置有半反半透镜，反射透镜机构设置在B旋转轴系端部且反射透镜机构内设置有反射透镜，自准直仪固定安装在半反半透镜一侧。利用一个自准直仪，同时对两个同轴旋转轴系的轴系位置进行检测，以此测量两轴轴系的平行度误差。

Description

一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法

技术领域

本发明涉及精密机械检测技术领域，是一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法。

背景技术

同轴双轴转台是双液晶光栅光轴调整机构中的伺服驱动结构，其为两个同轴安装的一轴转动机构，每个旋转轴可独立带动一个液晶光栅转动，两个液晶配合转动时即可在二维空间上实现光轴的调整。双光栅转台在装调时除满足轴系晃动要求外，还需保证两个回转轴的平行度，保证选装过程中两个液晶光栅平行。为此在双光栅装配过程中必须对两轴平行度进行测试。

现有技术当中，传统机械检测方法可采用千分表测量两轴端面跳动，以此测试两轴角度偏差，但受限于千分表精度和打表圆面直径的限制，其精度较低。

有鉴于此，亟待设计出一种同轴双轴转台机械平行度检测方法及装置，采用自准直仪器结合反射镜检测轴系晃动精度的原理，采用一个自准直仪结合一半反射一半投射的反射镜，同时检测两个同轴转系的旋转中心位置，即可以检测两个旋转轴的平行度。该方法测量精度高，并且测量仪器无需移动，测量基准统一，具有精度好、可信度高的优势。

发明内容

为了解决以上现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种同轴双轴转台机械平行度检测装置及方法，采用自准直仪器结合反射镜检测轴系晃动精度的原理，采用一个自准直仪结合一半反射一半投射的反射镜，同时检测两个同轴转系的旋转中心位置，即可以检测两个旋转轴的平行度。该方法测量精度高，并且测量仪器无需移动，测量基准统一，具有精度好、可信度高的优势。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

本发明提供了一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法，本发明提供了以下技术方案：

一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，所述装置包括：轴系连接件、A旋转轴系、B旋转轴系、半反半透镜机构、反射透镜机构和自准直仪，所述轴系连接件设置在中心位置，所述A旋转轴系转动安装在所述轴系连接件一端，所述B旋转轴系转动安装在所述轴系连接件另一端，所述A旋转轴系和所述B旋转轴系关于所述轴系连接件对称并沿同轴分布，所述半反半透机构设置在所述A旋转轴系端部且所述半反半透镜机构内设置有半反半透镜，所述反射透镜机构设置在所述B旋转轴系端部且所述反射透镜机构内设置有反射透镜，所述自准直仪固定安装在所述半反半透镜一侧。

优选地，所述半反半透镜机构包括：半反半透镜调整件和半反半透镜，所述半反半透镜调整件设置在所述A旋转轴系端部，所述半反半透镜安装在所述半反半透镜调整件外侧壁面。

优选地，所述半反半透镜包括：第一透镜、反射膜和切换挡板，所述第一透镜安装在所述半反半透镜的框架内，所述反射膜镀制在所述第一透镜表面，所述反射膜的镀制面积沿竖直方向占据所述第一透镜面积的一半，所述第一透镜形成反射面和透射面，所述切换挡板遮挡地安装在所述反射面之外，并且所述切换挡板设置为可开合结构。

优选地，所述反射透镜机构包括：反射透镜调整件和反射透镜，所述反射透镜调整件设置在所述B旋转轴系端部，所述反射透镜安装在所述反射透镜调整件外侧壁面。

优选地，所述反射透镜内设置有第二透镜，所述第二透镜的全断面为反射面。

优选地，当在进行双光栅转台测试时，转台平行度要求为5″。

一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法，包括以下步骤：

步骤1：将轴系连接件安装在中心位置，A旋转轴系和B旋转轴系分别转动安装在轴系连接件的两侧，将半反半透镜机构安装在A旋转轴系端部，反射透镜机构安装在B旋转轴系端部，将自准直仪固定安装在半反半透镜机构侧；

步骤2：打开第一透镜上安装的切换挡板，使得切换挡板将第一透镜的反射暴露完全，调整自准直仪和半反半透镜调整件，保证自准直仪通过半反半透镜反射后可靠成像，并且保证A旋转轴系全周转动过程当中，自准直仪的十字丝在视场中心保持不动；

步骤3：记录此时自准直仪的十字丝两方向的位置数据为X₁和Y₁；

步骤4：关闭第一透镜上安装的切换挡板，使得切换挡板将第一透镜的反射面暴露遮挡，保持自准直仪位置不变，调整B旋转轴系上的反射透镜调整件，保证自准直仪透过半反半透镜经过第二透镜反射后形成可靠成像，并且保证B旋转轴系全周转动时，自准直仪的十字丝在视场某位置保持不动；

步骤5：记录此时自准直仪的十字丝两方向的位置数据为X₂和Y₂；

步骤6：X₁-Y₁以及X₂-Y₂两组数据即为A旋转轴系和B旋转轴系之间的平行度误差。

优选地，当在进行双光栅转台测试时，转台平行度要求为5″。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以用于实现一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法。

本发明具有以下有益效果：

本发明采用自准直仪与半反半透镜、反射透镜和切换挡板相结合，可以利用一个自准直仪，同时对两个同轴旋转轴系的轴系位置进行检测，以此测量两轴轴系的平行度误差。该方法采用光学方法测量，具有检测精度高、检测结果直观可靠，不受结构尺寸限制的优势。同时，检测过程中采用一个自准直仪固定不动，检测基准统一，其检测结果误差较小。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置整体结构示意图；

图2为本发明一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置第一透镜和第二透镜结构示意图。

其中，1-轴系连接件，2-A旋转轴系，3-B旋转轴系，4-半反半透镜机构，5-反射透镜机构，6-自准直仪，41-半反半透镜调整件，42-半反半透镜，51-反射透镜调整件，52-反射透镜，411-第一透镜，412-反射膜，413-切换挡板，511-第二透镜。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

以下结合具体实施例，对本发明进行了详细说明。

具体实施例一：

根据图1至图2所示，本发明为解决上述技术问题采取的具体优化技术方案是：本发明涉及一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法。

本发明公开了一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，包括：轴系连接件1、A旋转轴系2、B旋转轴系3、半反半透镜机构4、反射透镜机构5和自准直仪6，所述轴系连接件1设置在中心位置，所述A旋转轴系2转动安装在所述轴系连接件1一端，所述B旋转轴系3转动安装在所述轴系连接件1另一端，所述A旋转轴系2和所述B旋转轴系3关于所述轴系连接件1对称并沿同轴分布，所述半反半透机构设置在所述A旋转轴系2端部且所述半反半透镜机构4内设置有半反半透镜42，所述反射透镜机构5设置在所述B旋转轴系3端部且所述反射透镜机构5内设置有反射透镜52，所述自准直仪6固定安装在所述半反半透镜42一侧。

本实施例中，所述半反半透镜机构4包括：半反半透镜调整件41、半反半透镜42，所述半反半透镜调整件41设置在所述A旋转轴系2端部，所述半反半透镜42安装在所述半反半透镜调整件41外侧壁面。

本实施例中，所述半反半透镜42包括：第一透镜411、反射膜412和切换挡板413，所述第一透镜411安装在所述半反半透镜42的框架内，所述反射膜412镀制在所述第一透镜411表面，所述反射膜412的镀制面积沿竖直方向占据所述第一透镜411面积的一半，所述第一透镜411形成反射面和透射面，所述切换挡板413遮挡地安装在所述透射面之外，并且所述切换挡板413设置为可开合结构。

本实施例中，所述反射透镜机构5包括：反射透镜调整件51和反射透镜52，所述反射透镜调整件51设置在所述B旋转轴系3端部，所述反射透镜52安装在所述反射透镜调整件51外侧壁面。

本实施例中，所述反射透镜52内设置有第二透镜511，所述第二透镜511全断面为反射面。

一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法，包括以下步骤：

步骤1：将轴系连接件1安装在中心位置，A旋转轴系2和B旋转轴系3分别转动安装在轴系连接件1两侧，将半反半透镜机构4安装在A旋转轴系2端部，反射透镜机构5安装在B旋转轴系3端部，将自准直仪6固定安装在半反半透镜机构4侧；

步骤2：打开第一透镜411上安装的切换挡板413，使得切换挡板413将第一透镜411的反射暴露完全，调整自准直仪6和半反半透镜调整件41，保证自准直仪6通过半反半透镜42反射后可靠成像，并且保证A旋转轴系2全周转动过程当中，自准直仪6的十字丝在视场中心保持不动；

步骤3:记录此时自准直仪6的十字丝两方向的位置数据为X₁和Y₁；

步骤4：关闭第一透镜411上安装的切换挡板413，使得切换挡板413将第一透镜411的反射面暴露遮挡，保持自准直仪6位置不变，调整B旋转轴系3上的反射透镜调整件51，保证自准直仪6透过半反半透镜42经过第二透镜511反射后形成可靠成像，并且保证B旋转轴系3全周转动时，自准直仪6的十字丝在视场某位置保持不动；

步骤5：记录此时自准直仪6的十字丝两方向的位置数据为X₂和Y₂；

步骤6:X₁-Y₁以及X₂-Y₂两组数据即为A旋转轴系2和B旋转轴系3之间的平行度误差。

工作原理：

参见图1和图2：

A旋转轴系2和B旋转轴系3通过轴系连接件1安装在一起，两个轴系转动轴同轴安装，并可分别独立绕转动轴转动，半反半透镜42其第一透镜411表面一半镀制反射膜412，另一半保持透射，照射到半反半透镜42表面的光线一半反射，另一半透射而出。反射透镜52其第二透镜511表面全部镀制反射膜412，照射到镜面的光线全部发生反射现象。

测试时，在A旋转轴系2一侧安装自准直仪6，调整自准直仪6保证其光轴与A旋转轴系2旋转轴平行。A旋转轴系2轴端安装半反半透镜调整件41，半反半透镜调整件41上安装半反半透镜42，调整半反半透镜调整件41保证半反半透镜42的第一透镜411面与A旋转轴系2旋转轴垂直，第一透镜411反射面前方安装切换挡板413。

切换挡板413关闭时，可完全遮挡住第一透镜411的反射面但不遮挡透射面，照射到半反半透镜42上的光可以透射但无法反射。

切换挡板413打开时可暴露出半反半透镜42的反射面同时遮挡住透射面，照射到半反半透镜42上的光可以反射但无法透射，半反半透镜42、切换挡板413及半反半透镜调整件41可随A旋转轴系2转动，B旋转轴系3轴端安装反射镜调整机构，反射镜调整机构上安装反射透镜机构5，调整反射透镜调整件51保证反射透镜52的第二透镜511表面与B旋转轴系3旋转轴垂直，切换挡板413及镜座可随B旋转轴系3转动，安装时同时保证半反半透镜42和全反射镜反射面朝向自准直仪6一侧，保证自准直仪6可通过半反半透镜42和反射透镜52镜面反射可靠成像。

测试时首先关闭切换挡板413，调整自准直仪6与B旋转轴系3上的反射透镜调整件51，保证自准直仪6通过半反半透镜42反射后可靠成像，并且B旋转轴系3全周转动时，自准直仪6十字丝在视场中心保持不动，记录此时自准直仪6两方向的位置数据。

然后打开挡板，保持自准直仪6位置不变，调整A旋转轴系2上的半反半透镜调整件41，保证自准直仪6透过半反半透镜42经反射透镜52反射后可靠成像，同时A旋转轴系2全周转动时，自准直仪6十字丝在视场某一位置不动，记录记录此时自准直仪6两个方向的位置数据并与B旋转轴系3转动时两个方向的位置做差，即为A旋转轴系2和B旋转轴系3的平行度误差。

具体实施例二：

本发明提供一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法及装置，当应用到双光栅转台测试时，转台平行度要求为5″。

步骤1：将轴系连接件1安装在中心位置，A旋转轴系2和B旋转轴系3分别转动安装在轴系连接件1两侧，将半反半透镜机构4安装在A旋转轴系2端部，反射透镜机构5安装在B旋转轴系3端部，将自准直仪6固定安装在半反半透镜机构4侧；

步骤2：打开第一透镜411上安装的切换挡板413，使得切换挡板413将第一透镜411的反射暴露完全，调整自准直仪6和半反半透镜调整件41，保证自准直仪6通过半反半透镜42反射后可靠成像，并且保证A旋转轴系2全周转动过程当中，自准直仪6的十字丝在视场中心保持不动；

步骤3:记录此时自准直仪6的十字丝两方向的位置数据为X₁和Y₁；

步骤4：关闭第一透镜411上安装的切换挡板413，使得切换挡板413将第一透镜411的反射面暴露遮挡，保持自准直仪6位置不变，调整B旋转轴系3上的反射透镜调整件51，保证自准直仪6透过半反半透镜42经过第二透镜511反射后形成可靠成像，并且保证B旋转轴系3全周转动时，自准直仪6的十字丝在视场某位置保持不动；

步骤5：记录此时自准直仪6的十字丝两方向的位置数据为X₂和Y₂；

步骤6:X₁-Y₁以及X₂-Y₂两组数据即为A旋转轴系2和B旋转轴系3之间的平行度误差。

本发明采用自准直仪6与半反半透镜42、反射透镜52和切换挡板413相结合，可以利用一个自准直仪6，同时对两个同轴旋转轴系的轴系位置进行检测，以此测量两轴轴系的平行度误差。该方法采用光学方法测量，具有检测精度高、检测结果直观可靠，不受结构尺寸限制的优势。同时，检测过程中采用一个自准直仪6固定不动，检测基准统一，其检测结果误差较小。

具体实施例三：

本发明提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征是：该程序被处理器执行，以用于实现一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法。

具体实施例四：

本发明提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征是：所述处理器执行所述计算机程序时实现一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、 “示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或 者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表 述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或 N 个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下， 本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特 征进行结合和组合。 此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性 或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“N 个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。 流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个 或更 N 个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分， 并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的 实施例所属技术领域的技术人员所理解。 在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实 现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令 执行系统、装置或设备（如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统）使用，或结合这些指令执行系统、装置或设 备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播 或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用 的装置。计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或 N 个 布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM 或闪速存储器），光纤装置，以 及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进 行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存 储在计算机存储器中。 应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实 施方式中，N 个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或 固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技 术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离 散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场 可编程门阵列（FPGA）等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可 以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中， 该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。 此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各 个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以 软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读 取存储介质中。

以上所述仅是一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法的优选实施方式，一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置及方法的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于该思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和变化，这些改进和变化也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，其特征是：所述装置包括：轴系连接件、A旋转轴系、B旋转轴系、半反半透镜机构、反射透镜机构和自准直仪，所述轴系连接件设置在中心位置，所述A旋转轴系转动安装在所述轴系连接件一端，所述B旋转轴系转动安装在所述轴系连接件另一端，所述A旋转轴系和所述B旋转轴系关于所述轴系连接件对称并沿同轴分布，所述半反半透机构设置在所述A旋转轴系端部且所述半反半透镜机构内设置有半反半透镜，所述反射透镜机构设置在所述B旋转轴系端部且所述反射透镜机构内设置有反射透镜，所述自准直仪固定安装在所述半反半透镜一侧。

2.根据权利要求1所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，其特征是：

所述半反半透镜机构包括：半反半透镜调整件和半反半透镜，所述半反半透镜调整件设置在所述A旋转轴系端部，所述半反半透镜安装在所述半反半透镜调整件外侧壁面。

3.根据权利要求2所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，其特征是：

所述半反半透镜包括：第一透镜、反射膜和切换挡板，所述第一透镜安装在所述半反半透镜的框架内，所述反射膜镀制在所述第一透镜表面，所述反射膜的镀制面积沿竖直方向占据所述第一透镜面积的一半，所述第一透镜形成反射面和透射面，所述切换挡板遮挡地安装在所述反射面之外，并且所述切换挡板设置为可开合结构。

4.根据权利要求3所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，其特征是：

所述反射透镜机构包括：反射透镜调整件和反射透镜，所述反射透镜调整件设置在所述B旋转轴系端部，所述反射透镜安装在所述反射透镜调整件外侧壁面。

5.根据权利要求4所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，其特征是：

所述反射透镜内设置有第二透镜，所述第二透镜的全断面为反射面。

6.根据权利要求5所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测装置，其特征是：当在进行双光栅转台测试时，转台平行度要求为5″。

7.一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法，其特征是：包括以下步骤：

步骤1：将轴系连接件安装在中心位置，A旋转轴系和B旋转轴系分别转动安装在轴系连接件的两侧，将半反半透镜机构安装在A旋转轴系端部，反射透镜机构安装在B旋转轴系端部，将自准直仪固定安装在半反半透镜机构侧；

步骤2：打开第一透镜上安装的切换挡板，使得切换挡板将第一透镜的反射暴露完全，调整自准直仪和半反半透镜调整件，保证自准直仪通过半反半透镜反射后可靠成像，并且保证A旋转轴系全周转动过程当中，自准直仪的十字丝在视场中心保持不动；

步骤3：记录此时自准直仪的十字丝两方向的位置数据为X₁和Y₁；

步骤4：关闭第一透镜上安装的切换挡板，使得切换挡板将第一透镜的反射面暴露遮挡，保持自准直仪位置不变，调整B旋转轴系上的反射透镜调整件，保证自准直仪透过半反半透镜经过第二透镜反射后形成可靠成像，并且保证B旋转轴系全周转动时，自准直仪的十字丝在视场某位置保持不动；

步骤5：记录此时自准直仪的十字丝两方向的位置数据为X₂和Y₂；

步骤6：X₁-Y₁以及X₂-Y₂两组数据即为A旋转轴系和B旋转轴系之间的平行度误差。

8.根据权利要求6所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法，其特征是：当在进行双光栅转台测试时，转台平行度要求为5″。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征是：该程序被处理器执行，以用于实现如权利要求7-8任意一项权利要求所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法。

10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征是：所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求7-8任意一项权利要求所述的一种同轴双轴转台机械轴平行度检测方法。

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