CN115312344B - 一种用于老炼试验系统的控制开关及二极管老炼试验系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及元件老炼试验技术领域，具体涉及一种用于老炼试验系统的控制开关及二极管老炼试验系统。二极管老炼试验系统采用了用于老炼试验系统的控制开关。控制开关包括：外壳、清理层、第一导电片、第二导电片和按压控制组件。外壳具有内腔。第一导电片设于内腔之中，两第一导电片分别贯穿至外壳之外。按压控制组件安装于内腔，第二导电片设于按压控制组件靠近第一导电片的一侧。按压控制组件用于驱动第二导电片靠近和远离第一导电片。清理层设于内腔的内壁，以用于在第二导电片靠近、远离第一导电片的过程中对第二导电片表面进行清理。其能够实现自清洁，有效地降低了接触不良等问题的发生概率，很好地控制了老炼试验系统本身的系统误差。

Description

一种用于老炼试验系统的控制开关及二极管老炼试验系统

技术领域

本发明涉及元件老炼试验技术领域，具体而言，涉及一种用于老炼试验系统的控制开关及二极管老炼试验系统。

背景技术

目前的老炼试验板的安装检查都是在工作人员进行试验板的安装后，通过目测的方式进行二次检查，很容易出现疏漏。

在老炼试验的过程中，经常需要对试验故障进行排查，常见的试验故障主要有：接触不良、连接不稳等。

在实际的老炼试验过程中，有些实验异常现象并非完全是由老炼器件本身或者老炼器件的安装引起的，这些将增大对试验故障的排查难度。

有鉴于此，特提出本申请。

发明内容

本发明的第一个目的在于提供一种用于老炼试验系统的控制开关，其结构简单、使用方便，在使用过程中能够实现自清洁，有效地降低了接触不良等问题的发生概率，很好地控制了老炼试验系统本身的系统误差，降低了试验故障排查过程的复杂程度，对于提高老炼试验的稳定性和可靠性而言具有积极意义。

本发明的第二个目的在于提供一种二极管老炼试验系统，其能够准确地对老炼器件的试验故障进行排查，规避了人工检查的盲目性，实现了快速对故障部位进行提示，大大降低了故障排查过程的时间耗费，有助于老炼试验的高效开展。

本发明的实施例是这样实现的：

一种用于老炼试验系统的控制开关，其包括：外壳、清理层、第一导电片、第二导电片和按压控制组件。

外壳具有内腔。第一导电片设于内腔之中，两第一导电片分别贯穿至外壳之外。按压控制组件安装于内腔，第二导电片设于按压控制组件靠近第一导电片的一侧。按压控制组件用于驱动第二导电片靠近第一导电片以将两第一导电片导通，以及用于驱动第二导电片远离第一导电片以使两第一导电片断开。

清理层设于内腔的内壁，以用于在第二导电片靠近、远离第一导电片的过程中对第二导电片表面进行清理。

进一步地，内腔中还设置有定位座，定位座设于内腔的一端端面，两第一导电片分设于定位座的两侧，且两第一导电片分别贴合于定位座的相对两侧侧壁。

按压控制组件用于驱动第二导电片插入到第一导电片和定位座之间，以将两第一导电片导通。

进一步地，第一导电片用于与定位座贴合的一端端部卷曲为弧形。

进一步地，第二导电片用于与第一导电片贴合的区域具有隆起部，隆起部由第一导电片的表面朝第一导电片所在一侧凸起形成，隆起部的周围设置有海绵层，海绵层沿隆起部的周向布置。其中，海绵层的厚度略小于隆起部的厚度。

进一步地，按压控制组件包括弹性件、第一控制件和第二控制件。

弹性件抵接于第二控制件和内腔的端壁之间，第一控制件位于第二控制件远离弹性件的一侧。

第一控制件能够推动第二控制件压缩弹性件，从而使第二导电片靠近第一导电片以将两第一导电片导通。

进一步地，内腔中设置有导向筋。第一控制件设有用于与导向筋配合的第一滑槽。第二控制件开设有用于与导向筋配合的第二滑槽，多个第二滑槽沿第二控制件的周向分布设置。第一控制件和第二控制件均可滑动地配合于导向筋。

第一控制件靠近第二控制件的一侧设置有第一凸起和第二凸起，第一凸起和第二凸起之间构成凹陷部，第一凸起和第二凸起的两侧均为导滑面。

相邻两第二滑槽之间均设置有配合部，配合部包括第一配合面、第二配合面和第三配合面。

第一配合面的一端延伸至第二滑槽，另一端沿第二控制件的周向延伸并逐渐远离第一控制件。第二配合面的一端与第一配合面远离第二滑槽的一端连接并沿第二滑槽的长度方向设置，第二配合面的另一端朝向第一控制件延伸。第三配合面的一端与第二配合面远离第一配合面的一端连接，另一端沿第二控制件的周向延伸并逐渐远离第一控制件，第三配合面远离第二配合面的一端延伸至另一第二滑槽。

第二导电片设于第二控制件靠近第一导电片的一侧。

其中，第一控制件和第二控制件被构造为：当第一滑槽和第二滑槽均与导向筋配合时，第一凸起和第二凸起均与配合部配合，第一配合面远离第二配合面的一端与第一凸起远离第二凸起的导滑面贴合，第三配合面与第二凸起靠近第一凸起的导滑面贴合。按压第一控制件使第二滑槽与导向筋分离，导向筋的端部与第一配合面相抵。释放第一控制件，第二控制件转动，导向筋同时与第一配合面和第二配合面相抵，第三配合面与第一凸起远离第二凸起的导滑面贴合，另一第一配合面与第二凸起靠近第一凸起的导滑面贴合，且该另一第一配合面与第一凸起之间具有间隙，第二导电片与第一导电片贴合，将两侧的第一导电片导通。按压第一控制件使第二配合面与导向筋分离，该另一第一配合面沿第二凸起滑动，该另一第一配合面的端部与第一凸起相抵。释放第一控制件，第二控制件转动，导向筋沿第三配合面配合至另一第二滑槽，第一凸起和第二凸起与另一配合部配合，第二导电片与第一导电片分离。

进一步地，清理层沿第二控制件的周向进行分布。

一种二极管老炼试验系统，其包括上述的用于老炼试验系统的控制开关。

进一步地，二极管老炼试验系统包括：终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路和电流采样电路。

老炼试验回路与恒流控制回路电性连接，恒流控制回路与电流采样电路电性连接，恒流控制回路和电流采样电路均与MCU电路电性连接，MCU电路与终端控制计算机电性连接。

老炼试验回路包括若干并联的恒流回路，每个恒流回路中设置有若干串联的用于安装二极管的夹具，且每个恒流回路还设置有用于检测每个二极管的实际电压的电压检测模块。

老炼试验回路中设有控制开关。

进一步地，在恒流回路中，每个夹具的两端均设置有第一电性连接部。

二极管老炼试验系统还包括：验证电路。

验证电路串联有标准二极管和控制开关，其中，标准二极管与进行老炼试验的二极管型号相同。验证电路的两端具有用于与第一电性连接部连接的第二电性连接部。

本发明实施例的技术方案的有益效果包括：

控制开关的内腔的侧壁设置有清理层，清理层沿内腔的周向设置，在操作按钮使第二控制件运动的过程中，清理层能够间歇式地与第二导电片接触，对第二导电片的表面进行清理，以防止控制开关本身出现第一导电片和第二导电片接触不良的问题。

控制开关处于关闭状态时，即使弹性件失效，第二控制件落向定位座，第一导电片和第二导电片也不会接通，能够避免意外接通。

总体而言，本发明实施例提供的用于老炼试验系统的控制开关，其结构简单、使用方便，在使用过程中能够实现自清洁，有效地降低了接触不良等问题的发生概率，很好地控制了老炼试验系统本身的系统误差，降低了试验故障排查过程的复杂程度，对于提高老炼试验的稳定性和可靠性而言具有积极意义。本发明实施例提供的二极管老炼试验系统能够准确地对老炼器件的试验故障进行排查，规避了人工检查的盲目性，实现了快速对故障部位进行提示，大大降低了故障排查过程的时间耗费，有助于老炼试验的高效开展。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的二极管老炼试验故障排除方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的二极管老炼试验系统的整体构成示意图；

图3为本发明实施例提供的二极管老炼试验系统的老炼试验回路的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的二极管老炼试验系统的验证电路的构成示意图；

图5为本发明实施例提供的二极管老炼试验系统的控制开关处于断开状态的内部结构示意图；

图6为本发明实施例提供的二极管老炼试验系统的控制开关处于连通状态的内部结构示意图；

图7为第一控制件、第二控制件和定位座的关系示意图；

图8为第一控制件、第二控制件和定位座在另一视角上的关系示意图；

图9为第一控制件、第二控制件和定位座的第一视角的立体结构示意图；

图10为第一控制件、第二控制件和定位座的另一视角的立体结构示意图；

图11为第一导电片与导电脚的第一配合状态的示意图；

图12为第一导电片与导电脚的第二配合状态的示意图；

图13为第一导电片与导电脚的第三配合状态的示意图；

图14为导电脚的结构示意图。

附图标记说明：

二极管老炼试验系统1000；老炼试验回路100；第一电性连接部110；验证电路200；标准二极管210；第二电性连接部220；控制开关300；第一导电片310；连接部311；导电脚320；隆起部321；海绵层322；外壳330；内腔331；扩径段332；导向筋333；清理层334；弹性件340；第一控制件350；第一滑槽351；第一导滑面352；第二导滑面353；第三导滑面354；第四导滑面355；第二控制件360；第二滑槽361；第二凹陷区362；第一配合面363；第二配合面364；第三配合面365；按钮370；定位座380；第一凹陷区381。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例1

请参照图1，本实施例提供一种二极管老炼试验故障排除方法，其包括：

将若干二极管串联构成恒流回路，并将若干恒流回路并联构成老炼试验回路；

设定老炼电压；

获取每个二极管的实际电压和每个恒流回路的实际电流，根据老炼电压、实际电压和实际电流排除试验故障。

其中，试验故障包括：安装错误、接触不良、电压错误和二极管损坏中的至少一者。老炼电压指的是在正常老炼试验的过程中，为每个二极管设定的试验电压。

在实际进行老炼试验的过程中，将需要老炼的二极管安装完毕后，根据设定的老炼电压设定好输入电压之后，根据每个二极管的实际电压和每个恒流回路的实际电流，就可以对安装错误、接触不良、电压错误和二极管损坏等试验故障进行排查，非常直观。

总体而言，本发明实施例提供的二极管老炼试验故障排除方法能够准确地对老炼器件的试验故障进行排查，规避了人工检查的盲目性，实现了快速对故障部位进行提示，大大降低了故障排查过程的时间耗费，有助于老炼试验的高效开展。

具体的，在进行试验故障排除的过程中，包括但不限于以下几种方式。

方式一：设置第一电流阈值和第一电压阈值。根据老炼电压、实际电压和实际电流排除试验故障的过程中，若有恒流回路的实际电流小于或等于第一电流阈值，且在该恒流回路中，从某个二极管开始实际电压均小于或等于第一电压阈值，则检查实际电压小于或等于第一电压阈值的第一个二极管是否安装错误。安装错误包括但不限于二极管装反、二极管未与恒流回路接通等。

其中，第一电压阈值低于老炼电压，第一电流阈值低于正常实验过程中二极管处于老炼电压下的电流值。第一电流阈值和第一电压阈值可以根据实际情况灵活设置，一般情况下，在方式一中，第一电流阈值和第一电压阈值都可以设置为0，也可以设置为接近于0，且不限于此。

方式二：设置第二电压阈值。根据老炼电压、实际电压和实际电流排除试验故障的过程中，若实际电流正常，且在恒流回路中有某个二极管的实际电压大于或等于第二电压阈值，则检查该二极管是否接触不良。

其中，第二电压阈值高于老炼电压。第二电压阈值可以根据实际情况灵活设置。

方式三：设置第二电流阈值和第三电压阈值。根据老炼电压、实际电压和实际电流排除试验故障的过程中，若全部恒流回路的实际电流均小于或等于第二电流阈值，且全部二极管的实际电压均大于或等于第三电压阈值，则检查老炼电压是否设置正确。一般来说，这是由于老炼试验的输入电压偏低造成的。

其中，第二电流阈值低于正常实验过程中二极管处于老炼电压下的电流值，第三电压阈值高于老炼电压。第二电流阈值和第三电压阈值可以根据实际情况灵活设置。

在方式三中，由于二极管的物理特性，当其通过一定电流时，二极管器件的管压降并不受外界条件控制，而是由自身特性决定，结合此特性，通过方式三可以快速判断出电压不足的问题。

方式四：设置第三电流阈值和第四电压阈值。根据老炼电压、实际电压和实际电流排除试验故障的过程中，若有恒流回路的的实际电流小于或等于第三电流阈值，且该恒流回路中有某个二极管的实际电压大于或等于第四电压阈值，则检查该二极管是否接触不良。

其中，第三电流阈值小于正常实验过程中二极管处于老炼电压下的电流值，第四电压阈值大于老炼电压。第三电流阈值和第四电压阈值可以根据实际情况灵活设置。

需要说明的是，方式一、方式二、方式三和方式四更适合在老炼试验刚刚开始时对试验故障进行排除，但如果试验故障是在老炼试验开始一段时间之后才出现的，虽然利用方式一、方式二、方式三和方式四同样能够对试验故障进行排查，但是要马上处理相应的试验故障的话，势必会影响到其他二极管的老炼试验进程，如果在老炼试验过程中，频繁地对某些恒流回路或者整个老炼试验回路进行停机操作，会严重影响老炼试验的正常进行。

为了克服该问题，二极管老炼试验故障排除方法还包括：

设置验证电路，验证电路串联有标准二极管和控制开关，标准二极管与进行老炼试验的二极管型号相同；

检测到试验故障时，在发生试验故障的二极管处并联验证电路；

连通控制开关后，对试验故障进行排查。消除试验故障后，断开控制开关，并将验证电路拆下。

在老炼试验开始一段时间之后，如果出现了试验故障，可以根据方式一、方式二、方式三和方式四对故障类型进行判断，并将验证电路与发生试验故障的二极管并联。此时，连通验证电路的控制开关，验证电路处于正常的通路状态，此时将发生试验故障的二极管取下进行故障排查，也不会影响到该恒流回路的正常老炼进程。

当将排查故障之后的二极管重新正确安装之后，由于验证电路与二极管并联，整体电阻降低，该恒流回路的实际电流会增大，验证电路所位置的实际电压会降低，这样也从侧面反映了原来的二极管的故障已经被顺利排查掉了。此时，将控制开关断开，若该恒流回路的实际电流和实际电压均恢复正常，就可以将验证电路拆下了。

设置验证电路之后，使得在老炼试验过程中能够更加方便地对试验故障进行排查，并保障老炼试验的顺利、连续进行，同时还对故障的成功排查起到指示作用。

综上所述，本发明实施例提供的二极管老炼试验故障排除方法能够准确地对老炼器件的试验故障进行排查，规避了人工检查的盲目性，实现了快速对故障部位进行提示，大大降低了故障排查过程的时间耗费，有助于老炼试验的高效开展。

实施例2

请参照图2，本实施例提供一种用于实现实施例1中的二极管老炼试验故障排除方法的二极管老炼试验系统1000，二极管老炼试验系统1000包括：终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路100和电流采样电路。

老炼试验回路100与恒流控制回路电性连接，恒流控制回路与电流采样电路电性连接，恒流控制回路和电流采样电路均与MCU电路电性连接，MCU电路与终端控制计算机电性连接。

请结合图3，老炼试验回路100包括若干并联的恒流回路，每个恒流回路中设置有若干串联的用于安装二极管的夹具（图中未示出），且每个恒流回路还设置有用于检测每个二极管的实际电压的电压检测模块。

具体在本实施例中，每个恒流回路中设置有四个串联的用于安装二极管的夹具，二极管通过夹具安装于恒流回路当中，实现二极管在恒流回路中的串联。20个恒流回路并联构成老炼试验回路100，老炼试验回路100可一次性对80个二极管（D1、D2、D3、······、D80）进行老炼试验。

可以理解，老炼试验回路100中恒流回路的数量、每个恒流回路中可安装的二极管的数量均可以根据实际需要灵活设置，并不局限于此。

终端控制计算机与MCU电路电性连接，MCU电路与恒流控制回路电性连接，恒流控制回路具体为20路，恒流控制回路和电流采样电路之间设置了运算放大电路。

其中，每个二极管的实际电压可以通过计算得到，计算过程包括：根据设定的老炼电压确定输入电压Vin，检测每个二极管的尾端电压（V1、V2、V3、······、V80），根据输入电压Vin和尾端电压（V1、V2、V3、······、V80）可以计算出每个二极管的实际电压。

为了能够更加清楚地说明实施例1中的二极管老炼试验故障排除方法的方式一、方式二、方式三和方式四，结合本事实例中的二极管老炼试验系统1000进行示例性说明。其中，以每个二极管的老炼电压设定为1V、老炼电流设定为500mA为例进行说明。可以理解，实际的老炼电压和老炼电流可以根据时机情况灵活调整，并不局限于此。

关于方式一的一个示例：如果某一个恒流回路的实际电流显示为“0”，检查该恒流回路的4个二极管的实际电压是否正常。若第二个恒流回路的实际电流显示为“0”，同时二极管D5、二极管D6的实际电压显示为“1.00V”，V7、V8显示为“0”，Vin显示为“5.08V”，V5显示为“4.08V”，V6显示为“3.08V”，V7、V8显示为“0”，则优先考虑二极管D7没有正确安装，例如二极管装反或者根本没有安装到位造成类似于断路的问题，导致了电流回路不通。若二极管D7的安装不存在问题，那么就要考虑二极管D7自身断路或损坏。

关于方式二的一个示例：如果某一个恒流回路的实际电流显示为“500mA”，例如第三个恒流回路的实际电流显示为“500mA”，二极管D9、二极管D10的实际电压显示为“1.00V”，二极管D11电压显示为“1.53V”，二极管D10电压显示为“1.00V”，Vin显示为“5.08V”，V9显示为“4.08V”，V10显示为“3.08V”，V11显示为“1.55V”，V12显示为“0.55V”，则基本可以确定二极管D11的夹具接触不良。

关于方式三的一个示例：如果全部恒流回路的实际电流均低于老炼电流要求的500mA，检查发现所有恒流回路的4个二极管的实际电压均高于老炼电压，优先考虑是老炼试验电压设置过低。由于二极管的物理特性，当其通过一定电流时，二极管器件的管压降并不受外界条件控制，而是由自身特性决定；例如实际电流均在“350mA～400mA”的范围内，且所有二极管的实际电压均为“1.30V～1.60V”，可以确定是输入电压设置不足。

关于方式四的一个示例：第三个恒流回路的实际电流显示为“380mA”，二极管D9、二极管D10的实际电压显示为“1.00V”，二极管D11电压显示为“1.68V”、二极管D10电压显示为“1.00V”，Vin显示为“5.08V”，V9显示为“4.08V”，V10显示为“3.08V”，V11显示为“1.40V”，V12显示为“0.40V”，则基本可以确定二极管D11的夹具接触不良。

进一步的，请结合图3，在每个恒流回路中，每个夹具的两端均设置有第一电性连接部311110。在本实施例中，每个恒流回路中设置了5个第一电性连接部311110，整个老炼试验回路100中一共设置了100个第一电性连接部311110，分别是：Q1、Q2、Q3、······、Q100。

二极管老炼试验系统1000还包括：验证电路200，如图4所示。验证电路200串联有标准二极管210和控制开关300，其中，标准二极管210与进行老炼试验的二极管型号相同。验证电路200的两端具有用于与第一电性连接部311110连接的第二电性连接部311220。

第一连接部311和第二连接部311之间的电性连接方式包括但不限于触点式连接、磁吸式连接、卡扣式连接。

其中，为了便于操作，控制开关300为按压式开关。

请结合图5~图10，具体的，控制开关300包括：第一导电片310、第二导电片、外壳330、按压控制组件和定位座380。按压控制组件包括：弹性件340、第一控制件350、第二控制件360和按钮370。

外壳330具有内腔331，内腔331中设置有导向筋333，导向筋333沿内腔331的长度方向设置，导向筋333的一端延伸至内腔331的一端端壁，导向筋333的另一端与内腔331的另一端的端部之间留有间隙。

在本实施例中，内腔331呈圆柱状，导向筋333沿内腔331的轴向设置。导向筋333为四根，四根导向筋333沿内腔331的周向均匀间隔设置。

内腔331中远离导向筋333的一端为内腔331的扩径段332，为第一导电片310的安装预留了空间。定位座380固定连接于内腔331中远离导向筋333的一端端壁，定位座380呈圆柱状，定位座380与内腔331同轴设置，定位座380的直径小于内腔331的直径。两个第一导电片310分设于定位座380的相对两侧，第一导电片310靠近定位座380的一端端部卷曲为弧状并与定位座380的侧壁相抵，第一导电片310的另一端延伸至扩径段332中并贯穿至外壳330的外部，第一导电片310的外端设置有用于与电路连接的连接部311。

第一控制件350和第二控制件360均设于内腔331当中，第二控制件360位于第一控制件350靠近定位座380的一侧。

第一控制件350开设有用于与导向筋333配合的第一滑槽351，第一滑槽351为四个，四个第一滑槽351沿第一控制件350的周向均匀间隔设置，第一控制件350通过第一滑槽351可滑动地与导向筋333配合，从而使第一控制件350能够沿内腔331的周向进行运动。

第二控制件360开设有用于与导向筋333配合的第二滑槽361，第二滑槽361为四个，四个第二滑槽361沿第二控制件360的周向均匀间隔设置，第二控制件360能够通过第二滑槽361可滑动地与导向筋333配合，从而使第二控制件360能够沿内腔331的轴向进行运动。

第一控制件350和第二控制件360二者的侧壁均与内腔331的侧壁贴合。

弹性件340抵接于第二控制件360和定位座380之间。为了提高弹性件340的安装稳定性，定位座380靠近第二控制件360的一侧开设有用于与弹性件340的一端配合的第一凹陷区381，第二控制件360靠近定位座380的一侧开设有用于与弹性件340的另一端配合的第二凹陷区362。弹性件340包括但不限于弹簧。

按钮370连接于第一控制件350远离第二控制件360的一侧，按钮370贯穿内腔331远离定位座380的一端端壁并延伸至外壳330之外，通过按压按钮370，可以将第一控制件350和第二控制件360朝定位座380推动。

第一控制件350靠近第二控制件360的一侧设置有第一凸起和第二凸起，第一凸起和第二凸起均靠近第一控制件350的边缘设置，且第一凸起和第二凸起沿第一控制件350的周向进行布置，第一凸起和第二凸起之间构成了一个凹陷部。在第一控制件350中，沿第一控制件350的周向，相邻的量第一滑槽351

第一凸起和第二凸起的两侧均为导滑面，具体的，第一凸起远离第二凸起的导滑面为第一导滑面352、第一凸起靠近第二凸起的导滑面为第二导滑面353，第二凸起靠近第一凸起的导滑面为第三导滑面354，第二凸起远离第一凸起的导滑面为第四导滑面355。第一导滑面352远离第二导滑面353的一端延伸至第一滑槽351的端部，第二导滑面353远离第一导滑面352的一端与第三导滑面354远离第四导滑面355的一端相接触，第四导滑面355远离第三导滑面354的一端延伸至另一第一滑槽351的端部。

第二控制件360设置有用于与第一控制件350相适配的配合部，具体的，配合部包括第一配合面363、第二配合面364和第三配合面365。第一配合面363、第二配合面364和第三配合面365均可看做是由第二控制件360靠近第一控制件350的一侧凹陷形成，但不局限于此。

其中，第一配合面363、第二配合面364和第三配合面365依次相连，第一配合面363、第二配合面364和第三配合面365均布置于第二控制件360的边缘并沿第二控制件360的周向分布，相邻两第二滑槽361之间均设置有配合部。

第一配合面363远离第二配合面364的一端延伸至第二滑槽361的端部，另一端沿第二控制件360的周向延伸并逐渐远离第一控制件350。第二配合面364沿第二滑槽361的长度方向设置，第二配合面364远离第一控制件350的一端与第一配合面363远离第二滑槽361的一端相连。第三配合面365的一端与第二配合面364远离第一配合面363的一端连接，第三配合面365沿第二控制件360的周向延伸并逐渐远离第一控制件350，第三配合面365远离第二配合面364的一端延伸至另一第二滑槽361。

第二导电片设于第二控制件360靠近第一导电片310的一侧。具体的，第二导电片的主体部分内嵌于第二控制件360当中，第二导电片具有四个呈片状的导电脚320，四个导电脚320暴露于第二控制件360之外并位于第二控制件360靠近第一导电片310的一侧，四个导电脚320沿第二控制件360的周向均匀间隔设置，四个导电脚320之间相互电性导通。在弹性件340的弹力作用下，第二控制件360始终具有远离定位座380的运动趋势。当把第二控制件360朝定位座380推动时，四个导电脚320可以与定位座380的侧壁接触，也就是说，四个导电脚320可以运动至将定位座380“包围”起来的状态，此时，四个导电脚320均与定位座380的侧壁贴合，定位座380能够对导电脚320起到支持作用。

在本实施例中，四个导电脚320靠近内腔331的侧壁的一侧表面与第二控制件360的侧壁位于同一曲面。四个导电脚320靠近内腔331的侧壁的一侧表面用于与第一导电片310接触并电性导通。

其中，第一控制件350和第二控制件360被构造为：

（1）当第一滑槽351和第二滑槽361均与导向筋333配合时，第一凸起和第二凸起均与配合部配合。第一配合面363远离第二配合面364的一端与第一导滑面352贴合，第三配合面365与第三导滑面354贴合。第三配合面365与第二导滑面353之间留有间隙，也就是说，第三配合面365与凹陷部的底部之间还留有间隙。此时，在弹性件340的作用下，第二控制件360远离定位座380，第一导电片310和第二导电片分离，按钮370伸出于外壳330之外，控制开关300处于断开状态。

（2）按压按钮370将第一控制件350和第二控制件360朝定位座380推动，使第二控制件360的第二滑槽361从导向筋333的端部脱出，在弹性件340的弹力作用下，以及在第一配合面363和第一导滑面352、第三配合面365与第三导滑面354的引导作用下，第二控制件360沿其周向发生转动。在转动过程中，第一配合面363沿第一导滑面352滑动，第三配合面365沿第三导滑面354滑动，第三配合面365滑动至凹陷部的底部，导向筋333的端部抵接于第一配合面363。该状态下，第二导电片虽然朝第一导电片310靠近，但二者并未接触，二者处于如图11所示的状态。

（3）释放按钮370，在弹性件340的作用下，第二控制件360和第一控制件350被朝远离定位座380的一侧推动，在导向筋333和第一配合面363的引导作用下，第二控制件360继续转动，导向筋333的端沿着第一配合面363朝第二配合面364运动，直至导向筋333同时与第一配合面363和第二配合面364贴合，即导向筋333配合至第一配合面363和第二配合面364的交界处。在该状态下，第二控制件360继续相对第一控制件350发生了转动，导电脚320将第一导电片310朝远离定位座380的一侧推动，第二导电片的导电脚320转动至第一导电片310和定位座380之间，如图12所示，第一导电片310与第二导电片接通，控制开关300处于连通状态。另外，在转动过程中，另一个配合部的第一配合面363转动过来与第三导滑面354贴合，另一个配合部的第一配合面363与第二导滑面353之间留有间隙，也就是说，另一个配合部的第一配合面363与凹陷部的底部之间还留有间隙。

（4）再次按压按钮370，使第二控制件360通过第二配合面364沿导向筋333运动，使导向筋333与第二配合面364分离，在弹性件340的弹力作用下，以及在另一个配合部的第一配合面363和第三导滑面354的引导作用下，第二控制件360继续转动，另一个配合部的第一配合面363运动至凹陷部的底部，导向筋333的端部能够与第三配合面365接触。

（5）再次释放按钮370，在弹性件340的作用下，第二控制件360和第一控制件350又远离定位座380，在导向筋333和第三配合面365的引导下，第二控制件360继续转动，导向筋333沿着第三配合面365运动至另一个第二滑槽361当中，在该状态下，第二控制件360能够通过第二滑槽361继续沿着导向筋333朝远离定位座380的一侧运动，使第一导电片310和第二导电片分离，控制开关300重新断开，如图13所示。此时，与（1）中处于相同的状态，不同的是，与此处的第一凸起和第二凸起相配合的配合部因为第二控制件360发生了转动而变得不同，也就是说，此时与此处的第一凸起和第二凸起相配合的配合部是另一个配合部。

通过以上过程，就完成了控制开关300一个完整的开启和断开过程。

进一步的，内腔331的侧壁设置有清理层334，清理层334沿内腔331的周向设置，在操作按钮370使第二控制件360运动的过程中，清理层334能够间歇式地与第二导电片接触，对第二导电片的表面进行清理，以防止控制开关300本身出现第一导电片310和第二导电片接触不良的问题。

其中，清理层334包括但不限于海绵。

在本实施例中，请结合图14，在导电脚320用于与第一导电片310贴合的一侧，导电脚320的中部相对其周缘具有隆起部321，隆起方向垂直于导电脚320的表面，隆起部321的周围（即导电脚320的周缘）覆盖有海绵层322，海绵层322的厚度略小于隆起部321的厚度。通过该设计，当第二导电片的导电脚320刚刚与第一导电片310接触时，导电脚320的周缘的海绵层322也能够对第一导电片310进行清理，当控制开关300处于接通状态时，导电脚320的隆起部321与第一导电片310接触实现导通。

总的来说，控制开关300使用非常方便，非常适合对老炼过程中的试验故障进行排除。

需要说明的是，控制开关300处于关闭状态时，第一导电片310和第二导电片处于如图11所示的状态，即使弹性件340失效，第二控制件360落向定位座380，第一导电片310和第二导电片也不会接通，能够避免意外接通。

综上所述，本发明实施例提供的二极管老炼试验系统1000能够准确地对老炼器件的试验故障进行排查，规避了人工检查的盲目性，实现了快速对故障部位进行提示，大大降低了故障排查过程的时间耗费，有助于老炼试验的高效开展。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于老炼试验系统的控制开关，其特征在于，包括：外壳、清理层、第一导电片、第二导电片和按压控制组件；

所述外壳具有内腔；所述第一导电片设于所述内腔之中，两所述第一导电片分别贯穿至所述外壳之外；所述按压控制组件安装于所述内腔，所述第二导电片设于所述按压控制组件靠近所述第一导电片的一侧；所述按压控制组件用于驱动所述第二导电片靠近所述第一导电片以将两所述第一导电片导通，以及用于驱动所述第二导电片远离所述第一导电片以使两所述第一导电片断开；

所述清理层设于所述内腔的内壁，以用于在所述第二导电片靠近、远离所述第一导电片的过程中对所述第二导电片表面进行清理；

所述按压控制组件包括弹性件、第一控制件和第二控制件；

所述弹性件抵接于所述第二控制件和所述内腔的端壁之间，所述第一控制件位于所述第二控制件远离所述弹性件的一侧；

所述第一控制件能够推动所述第二控制件压缩所述弹性件，从而使所述第二导电片靠近所述第一导电片以将两所述第一导电片导通；

所述内腔中设置有导向筋；所述第一控制件设有用于与所述导向筋配合的第一滑槽；所述第二控制件开设有用于与所述导向筋配合的第二滑槽，多个所述第二滑槽沿所述第二控制件的周向分布设置；所述第一控制件和所述第二控制件均可滑动地配合于所述导向筋；

所述第一控制件靠近所述第二控制件的一侧设置有第一凸起和第二凸起，所述第一凸起和所述第二凸起之间构成凹陷部，所述第一凸起和所述第二凸起的两侧均为导滑面；

相邻两所述第二滑槽之间均设置有配合部，所述配合部包括第一配合面、第二配合面和第三配合面；

所述第一配合面的一端延伸至所述第二滑槽，另一端沿所述第二控制件的周向延伸并逐渐远离所述第一控制件；所述第二配合面的一端与所述第一配合面远离所述第二滑槽的一端连接并沿所述第二滑槽的长度方向设置，所述第二配合面的另一端朝向所述第一控制件延伸；所述第三配合面的一端与所述第二配合面远离所述第一配合面的一端连接，另一端沿所述第二控制件的周向延伸并逐渐远离所述第一控制件，所述第三配合面远离所述第二配合面的一端延伸至另一所述第二滑槽；

所述第二导电片设于所述第二控制件靠近所述第一导电片的一侧；

其中，所述第一控制件和所述第二控制件被构造为：当所述第一滑槽和所述第二滑槽均与所述导向筋配合时，所述第一凸起和所述第二凸起均与所述配合部配合，所述第一配合面远离所述第二配合面的一端与所述第一凸起远离所述第二凸起的导滑面贴合，所述第三配合面与所述第二凸起靠近所述第一凸起的导滑面贴合；按压所述第一控制件使所述第二滑槽与所述导向筋分离，所述导向筋的端部与所述第一配合面相抵；释放所述第一控制件，所述第二控制件转动，所述导向筋同时与所述第一配合面和所述第二配合面相抵，所述第三配合面与所述第一凸起远离所述第二凸起的导滑面贴合，另一所述第一配合面与所述第二凸起靠近所述第一凸起的导滑面贴合，且该另一所述第一配合面与所述第一凸起之间具有间隙，所述第二导电片与所述第一导电片贴合，将两侧的所述第一导电片导通；按压所述第一控制件使所述第二配合面与所述导向筋分离，该另一所述第一配合面沿所述第二凸起滑动，该另一所述第一配合面的端部与所述第一凸起相抵；释放所述第一控制件，所述第二控制件转动，所述导向筋沿所述第三配合面配合至另一所述第二滑槽，所述第一凸起和所述第二凸起与另一所述配合部配合，所述第二导电片与所述第一导电片分离。

2.根据权利要求1所述的用于老炼试验系统的控制开关，其特征在于，所述内腔中还设置有定位座，所述定位座设于所述内腔的一端端面，两所述第一导电片分设于所述定位座的两侧，且两所述第一导电片分别贴合于所述定位座的相对两侧侧壁；

所述按压控制组件用于驱动所述第二导电片插入到所述第一导电片和所述定位座之间，以将两所述第一导电片导通。

3.根据权利要求2所述的用于老炼试验系统的控制开关，其特征在于，所述第一导电片用于与所述定位座贴合的一端端部卷曲为弧形。

4.根据权利要求1所述的用于老炼试验系统的控制开关，其特征在于，所述第二导电片用于与所述第一导电片贴合的区域具有隆起部，所述隆起部由所述第二 导电片的表面朝所述第一导电片所在一侧凸起形成，所述隆起部的周围设置有海绵层，所述海绵层沿所述隆起部的周向布置；其中，所述海绵层的厚度略小于所述隆起部的厚度。

5.根据权利要求1所述的用于老炼试验系统的控制开关，其特征在于，所述清理层沿所述第二控制件的周向进行分布。

6.一种二极管老炼试验系统，其特征在于，包括：如权利要求1~5任一项所述的用于老炼试验系统的控制开关。

7.根据权利要求6所述的二极管老炼试验系统，其特征在于，所述二极管老炼试验系统包括：终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路和电流采样电路；

所述老炼试验回路与所述恒流控制回路电性连接，所述恒流控制回路与所述电流采样电路电性连接，所述恒流控制回路和所述电流采样电路均与所述MCU电路电性连接，所述MCU电路与所述终端控制计算机电性连接；

所述老炼试验回路包括若干并联的恒流回路，每个所述恒流回路中设置有若干串联的用于安装二极管的夹具，且每个所述恒流回路还设置有用于检测每个二极管的实际电压的电压检测模块；

所述老炼试验回路中设有所述控制开关。

8.根据权利要求7所述的二极管老炼试验系统，其特征在于，在所述恒流回路中，每个所述夹具的两端均设置有第一电性连接部；

所述二极管老炼试验系统还包括：验证电路；

所述验证电路串联有标准二极管和控制开关，其中，所述标准二极管与进行老炼试验的二极管型号相同；所述验证电路的两端具有用于与所述第一电性连接部连接的第二电性连接部。

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