CN115032230A - 一种热电材料器件的测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种热电材料器件的测试设备，该测试设备包括测试基体、门体结构和至少两个测试台装置，测试基体具有测试内腔，测试内腔的一侧具有开口，门体结构连接于测试基体。测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件。控温元件设置于测试基座，控温元件具有接触侧，控温元件能够调整接触侧的温度。支撑结构具有第一端和第二端，第一端与测试基座连接，第二端与活动块可转动地连接，第一驱动组件与活动块连接。使用者可以通过支撑结构和第一驱动组件改变测试基座和控温元件的姿态和位置，从而改变测试设备施加在待测试器件上的温差方向，进而有利于提升测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。

Description

一种热电材料器件的测试设备

技术领域

本申请涉及热电测试装置技术领域，具体涉及一种热电材料器件的测试设备。

背景技术

热电材料能够实现热能与电能之间的直接转换，对工业余热、环境热能回收具有重要意义。热电材料回收热能的能力与材料的性能息息相关，其中主要研究参数包括seebeck系数S、热导率κ、电导率σ，以及热电器件的转化效率η。而由于无机热电材料的seebeck系数S较小，对于低温差环境而言所能产生的电势比较小，特别是在可穿戴领域，热电器件所能产生的电势远远小于传感器和可穿戴设备的工作电压，尽管可以通过利用dc-dc电路对其进行升压，但是在升压后其效率会有巨大损失。因此，在近些年涌现出众多关于高热电势的离子型热电材料器件的研究工作，然而对于这一类离子热电材料器件的研究缺乏相关专业的测试设备。特别是，现有的测试设备在进行测试时，其施加在待测试器件上的温差方向通常是固定且单一的，这降低了测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是：现有的测试设备施加在待测试器件上的温差方向通常是固定且单一的，导致测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性差。

第一方面，一种实施例中提供一种热电材料器件的测试设备，包括：

测试基体，所述测试基体具有测试内腔，所述测试内腔的一侧具有开口；

门体结构，所述门体结构连接于所述测试基体，所述门体结构用于封闭所述开口；以及

至少两个测试台装置，所述测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件；所述测试基座用于承载待测试器件，所述控温元件设置于所述测试基座，所述控温元件具有接触侧，所述控温元件能够调整所述接触侧的温度，所述接触侧用于与所述待测试器件接触；所述支撑结构具有第一端和第二端，所述第一端与所述测试基座连接，所述第二端与所述活动块可转动地连接，所述第一驱动组件与所述活动块连接，用以带动所述活动块作直线升降运动。

一种实施例中，测试台装置还包括转轴件和第一锁紧件，所述转轴件与所述活动块可转动地连接，所述转轴件具有贯通的第一安装孔，所述支撑结构的第二端插入所述第一安装孔；所述第一锁紧件贯穿所述第一安装孔的孔壁，并与所述支撑结构的第二端接触，所述第一锁紧件与所述转轴件螺纹连接，用以将所述支撑结构的第二端抵紧在第一安装孔内。

一种实施例中，测试台装置还包括套接件和第二锁紧件，所述套接件具有贯通的第二安装孔，所述支撑结构的第一端插入所述第二安装孔；所述第二锁紧件贯穿所述第二安装孔的孔壁，并与所述支撑结构的第一端接触，所述第二锁紧件与所述套接件螺纹连接，用以将所述支撑结构的第一端抵紧在第二安装孔内。

一种实施例中，所述第一驱动组件包括驱动电机、驱动丝杆和导向杆，所述驱动丝杆转动设置，所述导向杆平行于所述驱动丝杆，所述活动块与所述驱动丝杆和导向杆套接，所述驱动电机的输出端与所述驱动丝杆连接，所述驱动电机用于驱动所述驱动丝杆转动，以带动所述活动块沿所述驱动丝杆和导向杆的延伸方向运动。

一种实施例中，测试台装置还包括第二驱动组件，所述控温元件与所述测试基座活动连接，所述第二驱动组件与所述控温元件连接，所述第二驱动组件用于驱动所述控温元件在所述测试基座上运动。

一种实施例中，还包括冷热壁装置，所述冷热壁装置包括第一导热块和第一导热通道，所述第一导热块设置在所述测试内腔的侧壁上；所述第一导热通道设置在所述第一导热块内部，所述第一导热通道的两端分别具有第一导热入口和第一导热出口，以使工质能够通过所述第一导热入口进入第一导热通道和通过所述第一导热出口排出所述第一导热通道。

一种实施例中，所述控温元件包括半导体制冷片、第二导热块和第二导热通道，所述第二导热块与所述测试基座连接，所述半导体制冷片的一侧与所述第二导热块接触，另一侧用于与待测试器件接触，所述第二导热通道设置在所述第二导热块内部，所述第二导热通道的两端分别具有第二导热入口和第二导热出口，以使工质能够通过所述第二导热入口进入第二导热通道和通过所述第二导热出口排出所述第二导热通道。

一种实施例中，还包括控制座、控制面板和控制装置，所述控制座与测试基体连接，所述控制面板和控制装置连接于所述控制座，所述控制面板与所述控制装置电连接。

一种实施例中，所述控制座具有控制内腔，所述控制内腔内设有循环装置，所述循环装置包括水箱和加热制冷循环器，所述循环装置用于提供起换热作用的循环水。

一种实施例中，还包括紫外灯箱和湿度控制模块，所述紫外灯箱和湿度控制模块设置在所述测试内腔内；所述测试基体内设有气体接口和真空抽气接口，所述气体接口用于与气体源连接，以调节测试内腔的气体环境，所述真空抽气接口用于与真空泵连接，以调节测试内腔的真空度。

依据上述实施例的热电材料器件的测试设备，该测试设备包括测试基体、门体结构和至少两个测试台装置，测试基体具有测试内腔，测试内腔的一侧具有开口。门体结构连接于测试基体，门体结构用于封闭开口。测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件。测试基座用于承载待测试器件，控温元件设置于测试基座，控温元件具有接触侧，控温元件能够调整接触侧的温度，接触侧用于与待测试器件接触。支撑结构具有第一端和第二端，第一端与测试基座连接，第二端与活动块可转动地连接，第一驱动组件与活动块连接，用以带动活动块作直线升降运动。当需要对待测试器件进行测试时，可以将支撑结构相对活动块转动，并通过第一驱动组件驱动活动块作直线升降运动，以改变测试基座和控温元件的姿态和位置，从而改变测试设备施加在待测试器件上的温差方向，进而有利于提升测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。

附图说明

图1为本申请一种实施例中测试设备的立体视角的结构示意图；

图2为本申请一种实施例中测试设备的正面视角的结构示意图；

图3为本申请图2中沿A-A方向的剖视图；

图4为本申请一种实施例中垂直形态下两个测试台装置的结构示意图；

图5为本申请一种实施例中水平形态下两个测试台装置的结构示意图；

图6为本申请一种实施例中垂直形态下两个测试基座和控温元件的结构示意图；

图7为本申请一种实施例中单个测试台装置的结构示意图；

图8为本申请一种实施例中冷热壁装置的立体视角的结构示意图；

图9为本申请一种实施例中冷热壁装置的正面视角的结构示意图；

图10为本申请图9中沿B-B方向的剖视图；

图11为本申请一种实施例中测试台装置装夹薄膜型待测试器件的结构示意图；

附图标记：100、测试基体；110、气体接口；120、循环水接口；130、电缆接口组件；140、真空抽气接口；150、湿度控制模块；150、测试内壳；160、测试外壳；200、门体结构；210、观察窗；300、测试台装置；310、测试基座；320、控温元件；321、半导体制冷片；322、第二导热块；323、第二导热通道；330、支撑结构；331、第一端；332、第二端；340、活动块；350、第一驱动组件；351、驱动电机；352、驱动丝杆；353、导向杆；360、转轴件；370、第一锁紧件；380、套接件；390、第二锁紧件；3100、第二驱动组件；3110、压块；3120、固定螺栓；3130、均热板；400、冷热壁装置；410、第一导热块；420、第一导热通道；500、控制座；510、散热孔；600、控制面板；700、控制装置；800、循环装置；900、紫外灯箱。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

请参考图1-10，本实施例提供一种热点材料器件的测试设备。

请参考图1-10，该测试设备包括测试基体100、门体结构200和至少两个测试台装置300。

测试基体100具有测试内腔，测试内腔的一侧具有开口。门体结构200连接于测试基体100，门体结构200用于封闭开口。测试台装置300包括测试基座310、控温元件320、支撑结构330、活动块340和第一驱动组件350。测试基座310用于承载待测试器件，控温元件320设置于测试基座310，控温元件320具有接触侧，控温元件320能够调整接触侧的温度，接触侧用于与待测试器件接触。支撑结构330具有第一端331和第二端332，第一端331与测试基座310连接，第二端332与活动块340可转动地连接，第一驱动组件350与活动块340连接，用以带动活动块340作直线升降运动。

当需要对待测试器件进行测试时，可以将支撑结构330相对活动块340转动，并通过第一驱动组件350驱动活动块340作直线升降运动，以改变测试基座310和控温元件320的姿态和位置，从而改变测试设备施加在待测试器件上的温差方向，进而有利于提升测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。具体地，本实施例中，测试内腔为密封腔体。支撑结构330的第一端331垂直于支撑结构330的第二端332，使得支撑结构330整体呈“L”形，在其他实施例中，支撑结构330的第一端331和第二端332之间的角度也可以根据实际需求设置为其他合适的数值，例如，30°、60°等。

请参考图1和2，在一种实施例中，门体结构200上设有观察窗210，观察窗210可以选用透明的石英材质，以便使用者观察测试内腔内部的情况。

请参考图4-7，在一种实施例中，测试台装置300还包括转轴件360和第一锁紧件370，转轴件360与活动块340可转动地连接，转轴件360具有贯通的第一安装孔，支撑结构330的第二端332插入第一安装孔。第一锁紧件370贯穿第一安装孔的孔壁，并与支撑结构330的第二端332接触，第一锁紧件370与转轴件360螺纹连接，用以将支撑结构330的第二端332抵紧在第一安装孔内。

通过转轴件360与支撑结构330的第二端332的配合，实现了支撑结构330与活动块340的转动连接。当需要改变支撑结构330的第二端332在第一安装孔内的位置时，可以拧松第一锁紧件370，再将支撑结构330的第二端332在第一安装孔内运动，以将支撑结构330的第二端332移动至合适的位置和姿态，接着拧紧第一锁紧件370，以固定支撑结构330的第二端332的位置和姿态。具体地，本实施例中第一锁紧件370可以选用各种合适型号的螺钉。

请参考图4-7，在一种实施例中，测试台装置300还包括套接件380和第二锁紧件390，套接件380具有贯通的第二安装孔，支撑结构330的第一端331插入第二安装孔。第二锁紧件390贯穿第二安装孔的孔壁，并与支撑结构330的第一端331接触，第二锁紧件390与套接件380螺纹连接，用以将支撑结构330的第一端331抵紧在第二安装孔内。

当需要改变支撑结构330的第一端331在第二安装孔内的位置时，可以拧松第二锁紧件390，再将支撑结构330的第一端331在第二安装孔内运动，以将支撑结构330的第一端331移动至合适的位置和姿态，接着拧紧第二锁紧件390，以固定支撑结构330的第一端331的位置和姿态。具体地，本实施例中第二锁紧件390可以选用各种合适型号的螺钉。

具体地，图4和图5展示了测试设备的两种测试形态，两个测试台装置300分别形成的冷端和热端，请参考图5，图5中冷端和热端沿水平方向排布，用于给待测试器件施加同一水平面内的温差，请参考图4，图4中冷端和热端沿竖直方向排布，用于给待测试器件垂直施加温差。也即，根据测试环境的不同，温差可以施加在垂直方向或者同一水平面内方向。

需要说明的是，重力的作用会影响离子热电(特别是溶剂为溶液离子热电器件)的性能，因此通过旋转两个测试台装置300，当控温元件320的热面与重力方向平行时，可以消除重力因素对器件性能的影响。此外，当两个测试台装置300转换成位于同一水平面内时，可以作为加热装置使用，再配合其他固件可以进行其他类型的测量。

对于无机热电材料而言，本实施例可以提供一种材料PN型快速鉴别的方法，可提高初步的筛选工作效率。具体地，将待测试器件夹持在测试台装置300上，且上端加热为热端，下端制冷为冷端，在热端和冷端之间接通电压表，根据电压表读数的正负可以判断出导电类型：如为n型样品则示数为正，如为P型样品则示数为负。运用此功能能够快速对制备的热电材料进行筛选，提高实验效率。

测试样品与控温元件320之间的热接触质量是保证测试数据准确的重要因素之一，本发明在待测试器件和控温元件320之间施加一定的压力降低接触热阻，保证控温元件320的温度尽可能与样品之间的温度相等。如图4所示，当采用垂直加热模式时，直接依靠冷热端的控温元件320给待测试器件施压，保证良好的热接触。如图5所示，测试台装置300还包括压块3110、固定螺栓3120和均热板3130，均热板3130覆盖在半导体制冷片321用于与待检测器件接触的一侧，固定螺栓3120将压块3110连接于均热板3130，当测量薄膜型的待测试器件时则采用图11所示的装样方式，将压块3110分别用固定螺栓3120固定在待测试器件的冷热端的均热板3130上，并通过压块3110将待检测器件压紧在均热板3130上，以保证待测试器件在冷热端的良好接触。

针对器件性能的测试，在本发明中使用电子负载，通过调节电子负载的值测量器件的输出功率，开路电压、短路电流和器件的内阻。应用电子负载电路，极大方便测试热电器件的放电测试效率，免除了手动接外接负载和频繁的操控机械开关的断开和闭合操作。保证在一次测试的过程中得到输出了功率、开路电压、短路电流和内阻等众参数。

请参考图4-7，在一种实施例中，第一驱动组件350包括驱动电机351、驱动丝杆352和导向杆353，驱动丝杆352转动设置，导向杆353平行于驱动丝杆352，活动块340与驱动丝杆352和导向杆353套接，驱动电机351的输出端与驱动丝杆352连接，驱动电机351用于驱动驱动丝杆352转动，以带动活动块340沿驱动丝杆352和导向杆353的延伸方向运动。

当需要驱动活动块340作直线升降运动时，通过驱动电机351驱动驱动丝杆352转动，进而带动活动块340沿驱动丝杆352和导向杆353的延伸方向运动。

请参考图4-7，在一种实施例中，测试设备还包括第二驱动组件3100，控温元件320与测试基座310活动连接，第二驱动组件3100与控温元件320连接，第二驱动组件3100用于驱动控温元件320在测试基座310上运动。

可以通过第二驱动组件3100驱动控温元件320在测试基座310上运动，以调整两个测试台装置300的控温元件320的相对位置，从而有利于进一步提升测试设备对不同尺寸和测试需求的待测试器件的适应性。具体地，这一功能用于薄膜热电材料及器件的性能测试时，可以根据薄膜器件或材料的尺寸调节冷端跟热端之间的距离。第二驱动组件3100可以选用电机驱动的丝杆传动结构、电机驱动的齿轮齿条传动结构或气缸驱动结构。

请参考图1-3和7-10，在一种实施例中，测试设备还包括冷热壁装置400，冷热壁装置400包括第一导热块410和第一导热通道420，第一导热块410设置在测试内腔的侧壁上。第一导热通道420设置在第一导热块410内部，第一导热通道420的两端分别具有第一导热入口和第一导热出口，以使工质能够通过第一导热入口进入第一导热通道420和通过第一导热出口排出第一导热通道420。

通过第一导热块410和第一导热通道420实现对测试内腔中环境温度的快速调节，具体地，可以通过将不同温度的工质从第一导热入口和第一导热出口循环进入和排出第一导热通道420，实现快速换热。本实施例中，第一导热块410选用铜块，在其他实施例中，第一换热块也可以选用其他高导热系数的材质。该方案能够很好的实现-10℃-60℃温度范围内的调控，该温度范围足以适用离子热电材料的器件的相关测试。相比红外加热方案，本方案能够快速的实现冷热切换，可以加快腔体在高温状态下的冷却速度，提升整个装置的测试效率。并且该方案实施简单且测试成本低。

请参考图1-3，在一种实施例中，测试基体100包括双层的腔体壳，双层的腔体壳分别为测试内壳150和测试外壳160，测试内壳150和测试外壳160之间具有一定的间隙起绝热保护作用。测试内壳150选用高热导率材料，并与冷热壁装置400直接接触，从而增大换热面积，提高测试内腔内部温度分布均匀的速率，双层的腔体壳也有利于提高测试内腔的密封性。

请参考图1-3，在一种实施例中，测试内腔内设置有多处温度传感器，用以监控并反馈测试内腔内部的温度值，并通过PID控制原理对腔体内部温度实施控制。

请参考图1-3，在一种实施例中，测试内腔内部预留有足够的接口，包括气体接口110、冷却循环水接口120、电缆接口组件130和真空抽气接口140。真空抽气口配合外接真空泵可将测试腔体抽成真空环境。此外，在测试过程中可以通过气体接口110充入氮气或者氦气，以满足所需求的测试条件。为了调控整个腔体的湿度，在腔体内部设置了湿度控制模块150，通过相应的控制，即可实现整个腔体内部的湿度调控。电缆接口组件130主要用于腔体内部测试样品电学参数的测试、测试台装置300的供电和反馈线路，热电偶快插接口等。以上接口都做了密封处理，保证真空或者其他气氛条件下的气密性。

请参考图4-7，在一种实施例中，控温元件320包括半导体制冷片321、第二导热块322和第二导热通道323，第二导热块322与测试基座310连接，半导体制冷片321的一侧与第二导热块322接触，另一侧用于与待测试器件接触，第二导热通道323设置在第二导热块322内部，第二导热通道323的两端分别具有第二导热入口和第二导热出口，以使工质能够通过第二导热入口进入第二导热通道323和通过第二导热出口排出第二导热通道323。

半导体制冷片321能够改变与待测试器件接触一侧的温度，并在两个测试台装置300的半导体制冷片321之间形成温差，从而对同时与两个半导体制冷片321接触的待测试器件进行测试。而通过第二导热块322和第二导热通道323，可以实现对半导体制冷片321另一侧快速换热。具体地，利用半导体制冷片321的帕尔贴效应在制冷片的两侧分别制冷和发热，为了精准控制冷片的温度，在控温元件320的表面贴有热电偶探头，并利用PID控温技术实现温度的控制，为了降低功耗和拓宽控温元件320的控温范围，半导体制冷片321的另一侧与第二导热块322接触。

此外，由于本申请中的控温元件320包括半导体制冷片321，其冷热端可以根据通电电流的方向进行反转，借于此优势和热释电的测试原理，本测试设备同样也可以完全胜任热释电这一类型材料的性能测试。

请参考图1-3，在一种实施例中，测试设备还包括控制座500、控制面板600和控制装置700，控制座500与测试基体100连接，控制面板600和控制装置700连接于控制座500，控制面板600与控制装置700电连接。使用者可以通过控制面板600输入控制指令，并通过控制装置700控制电路器件依指令工作。

请参考图1-3，在一种实施例中，控制座500具有控制内腔，控制内腔内设有循环装置800，循环装置800包括水箱和加热制冷循环器，循环装置800用于提供起换热作用的循环水。可以通过水箱储放液态工质，通过加热制冷循环器将一定温度的工质循环输送给第一导热通道420和第二导热通道323。

请参考图1-3，在一种实施例中，控制内腔的侧壁上具有散热孔510，散热孔510用于配合风扇形成对流进行控制内腔内的散热。

请参考图1-3，在一种实施例中，测试设备还包括紫外灯箱900，紫外灯箱900设置在测试内腔内，通过紫外灯箱900给测试内腔提供紫外光照射的测试环境。紫外灯箱900用于研究表明紫外光会诱导机热电材料的seebeck系数和内阻发生变化，配合本测试设备的原有功能可以完成在这一条件下器件相应的性能测试。

另一方面，本实施例还提供一种热点材料器件的测试测试方法，该测试方法可以应用于上述的测试设备。

该测试方法包括装样步骤，根据待测试器件的属性选择调整测试两个测试台装置300的相对位置关系，例如，当测试块状的待测试器件(包括有无机块体和离子热电材料块体)时，待测试器件的放置的位置如图4所示，当测试薄膜型的待测试器件时，待测试器件放置的位置如图5所示。具体地，通过第一驱动组件350、第二驱动组件3100、第一锁紧件370、第二锁紧件390和转轴件360可以调节两个测试台装置300的相对位置并实现装样。

关门步骤，关闭门体结构200，并通过在控制面板600输入目标腔体温度、真空度以及调节相应的气氛。

参数输入步骤，在控制面板600输入冷端和热端的目标温度，利用PID控制冷热端到目标温度。

测试步骤，通过数字万用表(集成在控制装置700中)开始采集电压信号、并采用四线法测量样品的内阻。采用四象限电源表既对器件进行IV测试并获得输出功率。当需要进行恒电阻放电时，只需要利用电子负载，选择相应的阻值，即可进行相应的测试。

数据处理步骤，利用相应配套的软件对采集的数据进行处理并得到开路电压、电流、seebeck系数(或者热电势)和功率等参数。

以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (10)

1.一种热电材料器件的测试设备,其特征在于，包括：

测试基体，所述测试基体具有测试内腔，所述测试内腔的一侧具有开口；

门体结构，所述门体结构连接于所述测试基体，所述门体结构用于封闭所述开口；以及

至少两个测试台装置，所述测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件；所述测试基座用于承载待测试器件，所述控温元件设置于所述测试基座，所述控温元件具有接触侧，所述控温元件能够调整所述接触侧的温度，所述接触侧用于与所述待测试器件接触；所述支撑结构具有第一端和第二端，所述第一端与所述测试基座连接，所述第二端与所述活动块可转动地连接，所述第一驱动组件与所述活动块连接，用以带动所述活动块作直线升降运动。

2.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，测试台装置还包括转轴件和第一锁紧件，所述转轴件与所述活动块可转动地连接，所述转轴件具有贯通的第一安装孔，所述支撑结构的第二端插入所述第一安装孔；所述第一锁紧件贯穿所述第一安装孔的孔壁，并与所述支撑结构的第二端接触，所述第一锁紧件与所述转轴件螺纹连接，用以将所述支撑结构的第二端抵紧在第一安装孔内。

3.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，测试台装置还包括套接件和第二锁紧件，所述套接件具有贯通的第二安装孔，所述支撑结构的第一端插入所述第二安装孔；所述第二锁紧件贯穿所述第二安装孔的孔壁，并与所述支撑结构的第一端接触，所述第二锁紧件与所述套接件螺纹连接，用以将所述支撑结构的第一端抵紧在第二安装孔内。

4.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一驱动组件包括驱动电机、驱动丝杆和导向杆，所述驱动丝杆转动设置，所述导向杆平行于所述驱动丝杆，所述活动块与所述驱动丝杆和导向杆套接，所述驱动电机的输出端与所述驱动丝杆连接，所述驱动电机用于驱动所述驱动丝杆转动，以带动所述活动块沿所述驱动丝杆和导向杆的延伸方向运动。

5.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，测试台装置还包括第二驱动组件，所述控温元件与所述测试基座活动连接，所述第二驱动组件与所述控温元件连接，所述第二驱动组件用于驱动所述控温元件在所述测试基座上运动。

6.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括冷热壁装置，所述冷热壁装置包括第一导热块和第一导热通道，所述第一导热块设置在所述测试内腔的侧壁上；所述第一导热通道设置在所述第一导热块内部，所述第一导热通道的两端分别具有第一导热入口和第一导热出口，以使工质能够通过所述第一导热入口进入第一导热通道和通过所述第一导热出口排出所述第一导热通道。

7.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述控温元件包括半导体制冷片、第二导热块和第二导热通道，所述第二导热块与所述测试基座连接，所述半导体制冷片的一侧与所述第二导热块接触，另一侧用于与待测试器件接触，所述第二导热通道设置在所述第二导热块内部，所述第二导热通道的两端分别具有第二导热入口和第二导热出口，以使工质能够通过所述第二导热入口进入第二导热通道和通过所述第二导热出口排出所述第二导热通道。

8.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括控制座、控制面板和控制装置，所述控制座与测试基体连接，所述控制面板和控制装置连接于所述控制座，所述控制面板与所述控制装置电连接。

9.如权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述控制座具有控制内腔，所述控制内腔内设有循环装置，所述循环装置包括水箱和加热制冷循环器，所述循环装置用于提供起换热作用的循环水。

10.如权利要求1-9任一项所述的测试设备，其特征在于，还包括紫外灯箱和湿度控制模块，所述紫外灯箱和湿度控制模块设置在所述测试内腔内；所述测试基体内设有气体接口和真空抽气接口，所述气体接口用于与气体源连接，以调节测试内腔的气体环境，所述真空抽气接口用于与真空泵连接，以调节测试内腔的真空度。

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