CN220154578U - 一种温差电器件制冷性能测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请涉及半导体器件测试技术领域，具体涉及一种温差电器件制冷性能测试系统。一种温差电器件制冷性能测试系统，包括测量单元，电源单元和样品台，样品台用于夹持待测温差电器件，电源单元与待测温差电器件组成测试回路以将待测温差电器件的两端分为热端和冷端，测量单元用于采集待测温差电器件的制冷参数，样品台包括恒温部与动温部，待测温差电器件的热端与恒温部抵接，待测温差电器件的冷端与动温部抵接，测量单元分别与恒温部、待测温差电器件和动温部连接，其中恒温部用于使温差电器件的热端温度恒定，动温部用于可选择地为温差电器件的冷端提供热能。

Description

一种温差电器件制冷性能测试系统

技术领域

本申请涉及半导体器件测试技术领域，具体涉及一种温差电器件制冷性能测试系统。

背景技术

基于佩尔捷效应的温差电转换技术可实现制冷，与传统制冷技术相比，温差电制冷具有无需压缩机，绿色环保、安全可靠、寿命长等优点，而且响应速度快和控温精度高，可集成在其它电子设备用于局部的制冷控温，在一些特殊场合（空间狭小、大温差等）甚至是不可替代的。

中国专利CN 113466542 A公开的一种热电制冷器件效能测试装置与测试方法，但是其存在如下问题：一方面，该装置在测试制冷量和制冷效能时，直接将冷端补偿加热器的电功率作为器件的制冷量，众所周知，电加热功率有很大一部分是通过热辐射到外部环境，因此，采用该方法会导致测试得到的制冷量偏大，制冷效能偏小；另一方面，该装置采用点接触加压方式，样品受力集中，容易导致样品冷面温度不均匀甚至损伤样品。

此外，中国专利CN 212459488 U公开了一种半导体制冷片温差测试装置，该装置虽然设置了第一隔热垫和第二隔热垫，还是间接的将热端和冷端进行连通，冷端负载受热传导、对流、辐射影响大，且热端也没有控温装置，随着测试时间的增加，热端温度迅速上升，冷端温度也会上升，因此，只能粗略测量室温下的温差，且该装置也不能测试制冷量和制冷效率。

综上所述，现有技术对温差电器件的制冷性能的测量精度不足，需要进一步改进。

实用新型内容

本申请提供一种温差电器件制冷性能测试系统，以实现更加精确测量温差电器件的制冷性能。

本申请的第一方面，提供一种温差电器件制冷性能测试系统，包括测量单元，电源单元和样品台，所述样品台用于夹持待测温差电器件，所述电源单元与所述待测温差电器件组成测试回路以将所述待测温差电器件的两端分为热端和冷端，

所述样品台包括用于使所述温差电器件的热侧温度恒定的恒温部与可选择地为所述温差电器件的冷端提供热量的动温部，所述待测温差电器件的热端与所述恒温部抵接，所述待测温差电器件的冷端与所述动温部抵接，所述测量单元分别与所述恒温部、所述待测温差电器件和所述动温部连接，其中

所述测量单元分别与所述恒温部，待测温差电元件和所述动温部连接用以采集所述待测温差电器件的制冷参数。

可选的，在本申请一些实施例中，所述制冷参数包括制冷量，所述动温部包括热流计和热源，所述热流计一侧与所述待测温差电器件冷端抵接，另一侧与所述热源抵接，其中

所述热源能够为所述待测温差电器件的冷端提供热量用以使得所述待测温差电器件的冷端和热端温度相同，所述测量单元基于所述热流计在距离所述待测温差电器件的不同位置处的温度值获得所述待测温差电器件的制冷量。

可选的，在本申请一些实施例中，所述制冷参数包括温差量，所述动温部包括测温块，其中

所述测温块用于传导所述待测温差电器件冷端的温度，所述测量单元分别与所述测温块和所述恒温部连接用以实现对所述待测温差电器件温差量的测试。

可选的，在本申请一些实施例中，所述测温块由高热导率材料制成，其中

所述测温块与所述待测温差电器件冷端的接触面尺寸不小于所述待测温差电器件的冷端尺寸。

可选的，在本申请一些实施例中，所述制冷参数包括制冷效率，所述测量单元与所述待测温差电器件连接用于测量所述待测温差电器的输入功率，其中

所述测量单元基于所述待测温差电器件的输入功率和所述制冷量获得所述待测温差电器件的制冷效率。

可选的，在本申请一些实施例中，所述温差电器件制冷性能测试系统还包括温度控制单元，所述温度控制单元用于控制所述恒温部和所述热源的温度，其中

所述温度控制单元具有双通道PID控制以独立控制所述恒温部和所述热源。

可选的，在本申请一些实施例中，所述测试系统还包括气氛单元，所述气氛单元用于为所述温差电器件提供测试气氛。

可选的，在本申请一些实施例中，所述样品台还包括夹持部，所述夹持部分别与所述恒温部和所述动温部抵接用以实现对所述待测温差电器件的夹持。

可选的，在本申请一些实施例中，所述夹持部包括框体，传动轴和驱动器，所述驱动器用于驱动所述传动轴沿设定方向运动，其中

所述框体包括上压板，上支杆和基板，所述上压板与所述基板通过所述上支杆活动连接，所述恒温部，所述待测温差电器件和所述动温部依次叠放在所述基板上，所述上压板与所述动温部抵靠，所述传动轴贯通所述基板与所述恒温部抵接。

可选的，在本申请一些实施例中，所述夹持部还包括波纹管，所述波纹管套设在设置在所述基板和所述驱动器间的所述驱动轴上，其中

所述波纹管与所述基板和所述驱动器均密封固定。

本申请的有益效果在于：

在测试最大温差时，通过设置测温块，且让测温块紧密贴合覆盖温差电器件冷端，相对于压力抵接测温，避免温差电器件冷端通过结构件与周围环境之间传递热量，有效的减少环境热负载的影响；

采用高热导率的测温块紧贴于温差电器件，温度场更均匀，相对于点接触测温，更能体现温差电器件的真实温差；

在最大制冷模式下，根据温差与制冷量的线性关系，通过测量一组“温差－制冷量”获得最大制冷量的方法相对于只测试一个点，可以避免一些偶然的因素引入的误差；

采用热流计测量制冷量的方法更加准确，避免了加热器热辐射、对流等影响。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请提供的一种温差电器件制冷性能测试装置示意图；

图2是本申请提供的一种样品架结构图；

图3是本申请提供的一种热流计结构图；

图4是本申请提供的一种的压紧机构的样品台结构图

图5是本申请提供的一种最大温差测试原理图；

图6是本申请提供的一种最大制冷量、制冷效率测试原理图；

图7为本申请提供的一种热流计使用的铜块热导率属性；

图8为实施例中测试的温差电器件制冷温差与电流的关系曲线图；

图9为实施例中测试的温差电器件制冷量与制冷温差关系曲线图；

图10为实施例中测试的温差电器件制冷效率与制冷温差关系曲线图。

附图标记：

10，气氛单元；20，样品台；

210，恒温部；211，恒温台；212，恒温源；

220，动温部；221，测温块；222，热流计；2221，第一孔；2222，第二孔；223，热源；

230，夹持部；2311，上压板；2312，上支杆；2313，基板；2314，下压板；2315，下支杆；232，传动轴；2331，气缸；2332，气缸接头；2333，秤重传感器；234，波纹管；235，隔温件；

30，温差电器件；40，电源单元；50，测量单元，60，控制单元；70，温度控制单元。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”通常是指装置实际使用或工作状态下的上、下、左和右，具体为附图中的图面方向。

需要说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对本申请实施例优选顺序的限定。且在以下实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

随着温差电制冷技术在工业领域得到应用发展，出现了各种形状、尺寸规格的器件，甚至有些形状很不规则，然而，最直接的反映温差电器件制冷性能好坏的技术参数主要包括其在一定温度下的最大温差∆T_max、最大制冷量Q_max及制冷效率COP。

对最大温差、最大制冷量及制冷效率的定义如下：

在制冷模式时，当温差电器件工作在最佳电流，并且冷端热负载为零时，稳定时器件两端的温差为最大温差∆T_max；

在制冷模式时，当温差电器件工作在最佳电流，并且两端的温差为零时，器件冷端的抽热能力为最大制冷量Q_max；

在制冷模式时，当温差电器件工作时，此时的制冷量与输入电功率的比值为制冷效率。

请参阅图1-10，图1中示出了一种温差电器件30制冷性能测试系统，用于测试温差电器件30的制冷性能，制冷性能包括最大温差，最大制冷量和制冷效率，包括用于为温差电器件30提供测试气氛的气氛单元10，用于放置温差电器件30的样品台20，用于与温差电器件30电连接以构成测试回路的电源单元40，用于采集温差电器件30的制冷参数的测量单元50。测试气氛优选为真空或惰性测试气氛。

电源单元40和温差电器件30组成测试电路，测试电路的导通电流将温差电器件30的两端形成为热端与冷端。请参阅图2，样品台20包括恒温部210和动温部220。具体地，温差电器件30的热侧与恒温部210抵接，恒温部210用于使得温差电器件30的热端保持恒定温度。

温差电器件30的冷端与动温部220抵接。动温部220用于可选择地为温差电器件30冷端提供热量以保证温差电器件30冷侧有足够的热量以吸热。具体地，当温差电器件30制冷性能测试系统用于测试温差电器件30的最大温差时，动温部220无需为温差电器件30地冷侧提供热量；当温差电器件30制冷测试系统用于测试温差电器件的最大制冷量和制冷效率时，动温部220用于向温差电器件30传导热量，使得温差电器件30的冷端温度保持在特定数值。

测量单元50分别与恒温部210、温差电器件30和动温部220连接以测量温差电器件30的制冷参数，例如冷端和热端的温度值，制冷量，输入电功率等制冷参数中的一个或多个。

当需要测量温差电器件30的最大温差时，设置恒温台211温度使其保持一致，电源单元40由小到大逐级递增输出电流，使得温差电器件30的冷侧开始制冷，此时动温部220不提供热量，当冷端温度稳定后，通过测量单元50采集不同电流下的温差电器件30的冷端和热端的温差，确定最大温差。

当需要测量温差电器件30的最大制冷量时，设置恒温台211温度使其保持一致，电源单元40输出特定电流，优选为最大温差状态下的输出电流，动温部220向温差电器件30提供热量，直至冷端温度与热端温度一致，通过测量单元50检测不同温差下的制冷量，确定最大制冷量。

当需要测量温差电器件30的制冷效率（COP）时，设置恒温台211温度使其保持一致，电源单元40输出特定电流，使得温差电器件30的冷端和热端存在温度差，通过测量单元50获得输入电功率和制冷量，确定制冷效率，其中，输入电功率通过测量温差电器件引脚两端的输入电压和电流计算得到。

由此，通过设置气氛单元10，包括恒温部210和动温部220的样品台20，电源单元40和测量单元50以组成待测温差电器件30制冷性能测试系统，并将电源单元40和温差电器件30组成测试回路，尤其是将动温部220设置为可选择地输出热量，能够很好的实现对于待测温差电器件30的制冷性能的直接测试，提高检测效率。

请继续参阅图2-4，在一个实施方式中，动温部220包括测温块221，热流计222和热源223。热流计222一侧与热源223连接，一侧与测温块221连接，热流计222与测量单元50连接用于测量温差电器件30的制冷量。测温块221与温差电器件30的冷端抵接，测温块221与测量单元50连接用于测量温差电器件30的冷端温度。热源223与热流计222连接用于提供热量，例如电加热器，优选为铠装电加热器。

请参阅图2，图3，热流计222在靠近温差电器件30冷端处设置有第一孔2221，在远离温差电器件30冷端处设置有第二孔2222。第一孔2221和第二孔2222用于分别容置测量单元50的测量端以检测第一孔2221和第二孔2222的温度差，实现对温差电器件30的制冷量的确定。

具体的，对温差电器件30的制冷量的确定通过如下公式计算获得：

，

其中，

λ为热流计材料的热导率，单位为W/m.K；

ΔT为热流计上第一温度与第二温度之间的差值，单位为K；

W为热流计的截面积长度，单位为m；

L为热流计截面积宽度，单位为m；

H为热流计上第一、第二温度检测孔之间的距离，单位为m。

由此，通过设置包括有热流计222，测温块221和热源223的动温部220，能够很好的实现对于温差电器件30的制冷量的测量。

由此，通过设置包括有热流计222，测温块221和热源223的动温部220，能够很好的实现对于温差电器件30的制冷量的测量。

需要说明的是，本申请通过利用热流计222在距离温差电器件30不同位置处的温度的不同，借用热流计222本身的特性能够很好的实现对于温差电器件30的制冷量的测试。通过本申请的方案，能够很好的解决现有技术中直接将温差电器件30冷侧加热器的电功率直接作为温差电器件30制冷量计算中导致的测量效果偏大的问题，提高测量精度。

还需要说明的是，对于测温块221，设置测温块221的目的在于面抵接测温，进而使得温差电器件30的温差更均匀。

在一个实施方式中，侧测温块221为片状块体，截面与温差电器件30的轮廓尺寸一致。相应地，热流计222优选为柱体，基截面尺寸与温差电器件30尺寸一致。可以更好的测量温差电器件30的冷端温度和制冷量。

在一个实施方式中，当测试所述温差电器件的最大温差时，所述动温部220优选为仅有测温块221。由于热流计222本身为一个较大的热负载，在测量最大温差时，由于热流计222的存在将会影响温差电器件冷端温度所能达到的极限值，导致最终测量的温差电器件的最大温差值与理论值存在较大的误差。而通过在测最大温差时的使得动温部只有测温块，能够最大程度的降低测试误差，提高测试精度。

相应地，在一个优选实施方式中，当测试所述温差电器件的最大制冷量和制冷效率时，通过设置热流计，能够更加精准地测算出温差电器件冷端的实际吸收热量，提高测量精度。

请继续参阅图2，图5，恒温部210包括恒温台211和恒温源（图中未示出）。恒温源与恒温台211连接以保证恒温台211温度恒定。优选地，恒温源为水冷套。

在另一个实施方式中，所述恒温台可嵌设电加热器，以提高温差电器件测试温度范围。

在另一个实施方式中，为了使温差电器件30热端温度控制更稳定，恒温台211的截面尺寸大于温差电器件30尺寸。

在另一个实施方式中，恒温部210和动温部220上设置有盲孔用于容置测量单元50的检测端子，进而实现尽可能地降低环境因素对于温差电器件30温度检测中的影响，提高检测精度。

在另一个实施方式中，恒温台211，测温块221和热流计222均采用高热导率的材料制成，例如金属铜、铝、氮化硅陶瓷、氮化铝陶瓷等。

在另一个实施方式中，为了更好地实现对温差电器件30的温度测量，温差电器件30与测温块221和恒温台211均通过导热膏连接，实现良好的热接触。

进一步地，电源单元40优选为程控直流电源。

在又一个实施方式中，请参阅图5-6，为了消除电压测试时引线对测试结果的影响，测量单元50与温差电器件30之间采用“四线”方式连接构成制冷测试回路。

在另一个实施方式中，所述测量单元50设置有至少六个通道，通道一（ch1）、通道二（ch4）、通道三（ch3）和通道四（ch4）分别用于采集温差电器件30的热侧温度、冷侧温度、热流计222第一温度、热流计222第二温度，通道五（ch5）、通道六（ch6）分别用于采集测试电流和温差电器件的输入电压。

在另一个实施方式中，样品台20还包括温度控制单元，温度控制单元具有双通道PID温度控制，第一通道用于通过恒温源温度控制恒温台211的温度，第二通道通过控制热源223温度以控制温差电器件30的冷端温度。

在另一个实施方式中，样品台20还包括控制单元，控制单元与温度控制单元，电源单元40，测量单元50和动温部220连接以实现自动控制，控制单元能够可选择的控制热源223的加热功率以实现对所述温差电器件30的冷端可选择地提供热量，控制单元优选为工控机，控制单元通过USB转GPIB接头与电源单元40和测量单元50相连，通过USB转RS-485接头与温度控制单元相连。

在另一个实施方式中，请参阅图4，为了更好的实现温差电器件30与恒温部210和动温部220的抵接，样品台20还包括夹持部230。

作为一个示例实施方式，夹持部230包括框体231，传动轴232和驱动器233，温差电器件30，恒温部210和动温部220设置在框体231内，恒温部210与框体231的一个面抵接，动温部220与框体231的另一个面抵接。传动轴232穿过框体231与恒温部210抵接，传动轴232能够相对于框体231运动，驱动器233用于驱动传动轴232相对于框体231位置的调整，实现框体231与恒温部210和动温部220的抵接。

在又一个实施方式中，框架包括上压板2311，上支杆2312和基板2313，上压板2311与基板2313通过上支杆2312活动连接，优选为螺栓连接使得上压板2311可调整与上支杆2312的相对位置。恒温部210，温差电器件30和动温部220依次叠放在基板2313上，上压板2311与动温部220抵靠。基板2313上设置有通孔用于使传动轴232贯穿通孔与恒温部210抵接。

在另一个实施方式中，夹持部230还包括波纹管234，波纹管234套设在设置在基板2313和驱动器233间的驱动轴上，波纹管234与基板2313和驱动器233均通过法兰密封固定，以为温差电器件30提供一个较好的测试气氛。

在另一个实施方式中，驱动器233包括气缸2331，气缸2331接头和秤重传感器2333，气缸2331接头一端与气缸2331连接，另一端与秤重传感器2333连接，秤重传感器2333通过波纹管234的法兰与驱动杆连接。秤重传感器2333用于显示夹紧力，以方便测量人员调整对恒温部210和动温部220的夹紧力。

在另一个实施方式中，框体231还包括下压板2314和下支杆2315，下压板2314与基板2313通过下支杆2315活动连接，优选为螺栓连接使得下压板2314可调整与下支杆2315的相对位置。气缸2331与下压板2314固定连接，气缸2331的输出端穿过下压板2314与气缸2331接头连接，通过气缸2331输出端的伸缩带动传力轴通过恒温部210和动温部220将温差电器件30压紧。

在又一个实施方式中，夹持部230还包括隔温件235，隔温件235设置在上压板2311和动温部220间，用于减少动温部220与周围环境之间地热传递，提高能量利用效率。

本申请还提供了一种利用温差电器件30制冷性能测试系统进行温差电器件30制冷性能测试的测试步骤，所述测试步骤包括：

步骤一：将待测温差电器件30设置在样品台20上，使得待测温差电器件30与动温部220和恒温部210抵接，电连接待测温差电器件30与电源单元40、测量单元50；

步骤二：通过气氛单元10为所述待测温差电器件30提供测试气氛，使得待测温差电器件30处于测试气氛中；

步骤三：控制温度控制器，使恒温台211处于设定温度，获取不同电流数值下的制冷温差数值，确定最大温差值及最佳工作电流；

步骤四：调整电源单元40至最佳工作电流状态，通过调整热源223使得温差电热器的冷侧端热端温度相同，获取不同温差下制冷量的数据和输入电功率，确定最大制冷量及制冷效率。

实施例：

本实施例提供了一种利用本申请提供的一种温差电器件30制冷性能测试系统和测试方法测量一温差电器件30（型号为TEC1-12703，截面尺寸为30×30mm）在不同温度下性能的实施方案。

根据样品的截面尺寸确定了恒温台211的尺寸为60×60mm，测温块221和热流计222的截面尺寸为30×30mm，热流计222选用高纯铜块加工而成，其热导率如图7所示，两个测温孔之间的距离为30mm，将样品冷端、冷端面涂上导热膏后安装到样品架，连接引线，将热电偶插入对应测温孔。

关闭样品室，建立真空环境，当真空度高于10-1帕时，启动温差电器件30制冷性能测试，设置恒温台211温度为25℃、50℃，设置电流步距为0.5A，温度步距为5℃，开始测试。

控制温度控制器、数据采集器工作，当温度稳定时，直流电源按照所设步距从0开始输出电流，在这个过程中记录电流与制冷温差，绘制制冷温差与电流关系曲线，如图8所示，从图中获得样品的最佳工作电流为3A，冷侧温度为25℃、50℃时对应的最大温差分别为62℃、73℃。

接着，进行最大制冷量和制冷效率测试，打开样品室，将热流计222、热源223、隔热块安装到样品架上，启动压紧机构，设置压力为30kg，重新建立测试气氛，控制直流电源输出最佳工作电流3A，数据采集器工作，当温度稳定时，控制热源223按照所设步距值开始升温，在升温过程中，记录输入功率、制冷量与温差，绘制温差与制冷量、制冷效率与温差的关系如图9、图10所示，分别对25℃、50℃的制冷量与温差曲线进行线性拟合得到温差电器件30的最大制冷量为24.4W和26.8W。

以上对本申请的方案进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

在整篇说明书中提到“一个实施例”、“实施例”或“具体实施例”意指与结合实施例描述的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中，并且不一定在所有实施例中。因而，在整篇说明书中不同地方的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”或“在具体实施例中”的各个表象不一定是指相同的实施例。此外，本申请的任何具体实施例的特定特征、结构或特性可以按任何合适的方式与一个或多个其他实施例结合。应当理解 本文所述和所示的申请实施例的其他变型和修改可能是根据本文教导的，并将被视作本申请精神和范围的一部分。

还应当理解还可以以更分离或更整合的方式实施附图所示元件中的一个或多个，或者甚至因为在某些情况下不能操作而被移除或因为可以根据特定应用是有用的而被提供。

另外，除非另外明确指明，附图中的任何标志箭头应当仅被视为示例性的，而并非限制。此外，除非另外指明，本文所用的术语“或”一般意在表示“和/或”。在术语因提供分离或组合能力是不清楚的而被预见的情况下，部件或步骤的组合也将视为已被指明。

Claims (10)

1. 一种温差电器件制冷性能测试系统，包括测量单元，电源单元和样品台，所述样品台用于夹持待测温差电器件，所述电源单元与所述待测温差电器件组成测试回路以将所述待测温差电器件的两端分为热端和冷端，其特征在于：

所述样品台包括用于使所述温差电器件的热端温度恒定的恒温部与可选择地为所述温差电器件的冷端提供热能的动温部，所述待测温差电器件的热端与所述恒温部抵接，所述待测温差电器件的冷端与所述动温部抵接，所述测量单元分别与所述恒温部、所述待测温差电器件和所述动温部连接，其中

所述测量单元分别与所述恒温部，待测温差电元件和所述动温部连接用以采集所述待测温差电器件的制冷参数。

2.根据权利要求1所述的温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述制冷参数包括制冷量，所述动温部包括热流计和热源，所述热流计一侧与所述待测温差电器件冷端抵接，另一侧与所述热源抵接，其中

所述热源能够为所述待测温差电器件的冷端提供热量用以使得所述待测温差电器件的冷端和热端温度相同，所述测量单元基于所述热流计在距离所述待测温差电器件的不同位置处的温度值获得所述待测温差电器件的制冷量。

3.根据权利要求2所述的温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述制冷参数包括温差量，所述动温部包括测温块，其中

所述测温块用于传导所述待测温差电器件冷端的温度，所述测量单元分别与所述测温块和所述恒温部连接用以实现对所述待测温差电器件温差量的测试。

4.根据权利要求3所述的温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述测温块由高热导率材料制成，其中

所述测温块与所述待测温差电器件冷端的接触面尺寸不小于所述待测温差电器件的冷端尺寸。

5.根据权利要求2所述的温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述制冷参数包括制冷效率，所述测量单元与所述待测温差电器件连接用于测量所述待测温差电器的输入功率，其中

所述测量单元基于所述待测温差电器件的输入功率和所述制冷量获得所述待测温差电器件的制冷效率。

6.根据权利要求2所述的一种温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述温差电器件制冷性能测试系统还包括温度控制单元，所述温度控制单元用于控制所述恒温部和所述热源的温度，其中

所述温度控制单元具有双通道PID控制以独立控制所述恒温部和所述热源。

7.根据权利要求1所述的一种温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括气氛单元，所述气氛单元用于为所述温差电器件提供测试气氛。

8. 根据权利要求1至7中任一项所述的一种温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述样品台还包括夹持部，所述夹持部分别与所述恒温部和所述动温部抵接用以实现对所述待测温差电器件的夹持。

9.根据权利要求8所述的一种温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述夹持部包括框体，传动轴和驱动器，所述驱动器用于驱动所述传动轴沿设定方向运动，其中

所述框体包括上压板，上支杆和基板，所述上压板与所述基板通过所述上支杆活动连接，所述恒温部，所述待测温差电器件和所述动温部依次叠放在所述基板上，所述上压板与所述动温部抵靠，所述传动轴贯通所述基板与所述恒温部抵接。

10.根据权利要求9所述的一种温差电器件制冷性能测试系统，其特征在于，所述夹持部还包括波纹管，所述波纹管套设在设置在所述基板和所述驱动器间的所述传动轴上，其中

所述波纹管与所述基板和所述驱动器均密封固定。