CN115019703B - 显示面板、检测方法及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种显示面板、检测方法及电子设备，涉及显示技术领域，可以对数据线进行自动检测，提高检测精度以及检测效率。该显示面板包括：N条数据线、N个检测模块、检测信号线和控制模块；第i条数据线的第一端获取第一数据信号；除第i条数据线之外的其它数据线的第一端获取第二数据信号；第i检测模块在检测阶段将第i条数据线的第二端的信号传输至第i检测模块的第二端；除第i检测模块之外的其他检测模块在检测阶段阻止第二数据信号通过；检测信号线在检测阶段将第i检测模块的第二端的第一检测信号传输至控制模块，以使控制模块根据第一检测信号与第一数据信号确定第i条数据线是否存在缺陷；1≤i≤N，i和N均为正整数。

Description

显示面板、检测方法及电子设备

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、检测方法及电子设备。

背景技术

电子设备实现显示功能的重要部件是显示面板。目前显示领域的两大主流显示面板包括液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)面板和有机发光二极管(Organic LightEmitting Diode，OLED)显示面板。LCD面板和OLED显示面板由于具有高分辨率、可透明显示、柔性显示等特点被广泛应用于电视、电脑、手机、穿戴设备、车载等电子设备中。

但是由于工艺制程或者其他原因，LCD面板和OLED显示面板中用于驱动像素电路的数据线容易产生断线，导致显示出现黑线条(LCD面板)或白线条(OLED显示面板)，严重影响显示面板的显示效果。

为了对数据线进行检测，目前是通过软件手动定位或显微镜定位的方法找到存在缺陷的数据线的位置。通过软件手动定位或显微镜定位的方法找到存在缺陷的数据线的位置，检测精度较差，且周期长、效率低。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请提供一种显示面板、检测方法及电子设备。可以对数据线进行自动检测，提高检测精度以及检测效率。

第一方面，本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板包括：N条数据线、N个检测模块、检测信号线和控制模块；数据线和检测模块均包括第一端和第二端；N条数据线沿第一方向延伸、沿第二方向排列，且N条数据线的第二端与N个检测模块的第一端一一对应耦合；N个检测模块的第二端均与检测信号线耦合；其中，第一方向与第二方向交叉；第i条数据线的第一端用于获取第一数据信号；除第i条数据线之外的其它数据线的第一端用于获取第二数据信号；第i检测模块用于在检测阶段将第i条数据线的第二端的信号传输至第i检测模块的第二端；除第i检测模块之外的其他检测模块用于在检测阶段阻止所述第二数据信号通过；检测信号线用于在检测阶段将第i检测模块的第二端的第一检测信号传输至控制模块，以使控制模块根据第一检测信号与第一数据信号确定第i条数据线是否存在缺陷；其中，1≤i≤N，i和N均为正整数。

通过检测模块完成对各数据线的自动检测，检测效率和检测精度高。此外，所有的检测模块的第二端均与同一检测信号线耦合，如此，可以降低检测信号线的数量，无需为每个检测模块均设置一条检测信号线。当检测信号线的数量减少时，可以减少检测信号线占用非显示区的区域，有利于显示面板的窄边框化。此外，本申请实施例提供的对数据线进行自动检测的方法可以在电子设备出厂前完成对数据线的自动检测，也可以是当电子设备使用后出现问题时，完成对数据线的自动检测，检测方便。

其中，第一检测信号为在检测阶段，第i检测模块的第二端的检测信号，即在检测阶段，检测信号线上传输的检测信号。

示例性的，第一方向和第二方向相垂直。

在一些可能实现的方式中，显示面板还包括：至少一个复位模块；复位模块包括第一端和第二端；复位模块的第一端与检测模块的第二端耦合；复位模块用于在复位阶段将复位模块的第二端接收的复位信号传输至各检测模块的第二端，以对检测模块的第二端进行复位。通过复位模块对各检测模块的第二端进行复位，防止其他信号对检测的影响，以及防止检测其中一条数据线时，各检测模块的第二端残留的第一数据信号对检测的影响，提高检测的准确性。

在一些可能实现的方式中，在上述显示面板还包括至少一个复位模块的基础上，检测信号线还用于在复位阶段将检测模块的第二端的第二检测信号发送至控制模块，以使控制模块根据第二检测信号与复位信号确定检测模块的第二端是否复位完成，以确定检测模块的第二端的信号是否为复位信号，避免虽然进行了复位，但是检测模块的第二端的信号不是复位信号，影响检测，这样一来，可以进一步提高检测的准确性。

其中，第二检测信号为在复位阶段，检测模块的第二端的检测信号，即在复位阶段，检测信号线上传输的检测信号。

在一些可能实现的方式中，在上述显示面板还包括至少一个复位模块的基础上，复位模块包括第一晶体管，第一晶体管包括栅极、第一极和第二极；第一晶体管的第一极与检测模块的第二端耦合，第一晶体管的第二极用于接收复位信号，第一晶体管的栅极用于获取第一开关信号；第一开关信号用于在复位阶段控制第一晶体管导通，并在检测阶段控制第一晶体管关断，不会影响检测阶段的检测。复位模块包括但不限于晶体管，只要可以对检测模块的第二端进行复位的结构均在本申请的保护范围内。当复位模块是第一晶体管时，可以与显示面板中的像素驱动电路中的晶体管同层设置，制备像素驱动电路中的晶体管时同时制备出第一晶体管，简化工艺步骤。

在一些可能实现的方式中，上述检测模块包括第二晶体管和二极管；第二晶体管包括栅极、第一极和第二极；第二晶体管的第一极与数据线的第二端耦合，第二晶体管的第二极与二极管的阳极耦合，第二晶体管的栅极用于获取第二开关信号；各二极管的阴极均与检测信号线耦合；第二开关信号用于在复位阶段控制第二晶体管关断，并在检测阶段控制第二晶体管导通。通过第二晶体管和二极管可使第一数据信号通过，阻止第二数据信号通过，完成对数据线的检测。

在一些可能实现的方式中，上述检测模块包括第二晶体管和第三晶体管；第二晶体管和第三晶体管均包括栅极、第一极和第二极；第二晶体管的第一极与数据线的第二端耦合，第二晶体管的第二极与第三晶体管的第一极耦合，第二晶体管的栅极用于获取第二开关信号；第三晶体管的栅极与第三晶体管的第一极耦合；各第三晶体管的第二端均与检测信号线耦合；第二开关信号用于在复位阶段控制第二晶体管关断，并在检测阶段控制第二晶体管导通。通过第二晶体管和第三晶体管可使第一数据信号通过，阻止第二数据信号通过，完成对数据线的检测。当检测模块包括第二晶体管和第三晶体管时，可以与显示面板中的像素驱动电路中的晶体管同层设置，制备像素驱动电路中的晶体管时同时制备出第二晶体管和第三晶体管，简化工艺步骤。

在一些可能实现的方式中，在检测模块包括第二晶体管和二极管，或者，检测模块包括第二晶体管和第三晶体管的基础上，显示面板还包括反相器和至少一个复位模块；复位模块包括第一晶体管，第一晶体管包括栅极、第一极和第二极；第一晶体管的第一极与检测模块的第二端耦合，第一晶体管的第二极用于接收复位信号；反相器的输入端与第二晶体管的栅极耦合，反相器的输出端与第一晶体管的栅极耦合。这样一来，无需单独为第一晶体管和第二晶体管分别设置开关信号线，例如只需要设置一条可以传输第二开关信号的开关信号线，或者，只需要设置一条可以传输第一开关信号的开关信号线即可。这样设置的好处在于，结构简单，且有利于显示面板的窄边框化。

在一些可能实现的方式中，在上述显示面板还包括至少一个复位模块的基础上，复位模块的数量为一，N个检测模块的第二端均与复位模块的第一端耦合。通过一个复位模块即可在复位阶段完成对N个检测模块的第二端的复位，复位模块的数量减小，结构简单，相应的，减少了复位模块占用非显示区的面积，有利于显示面板的窄边框化。

在一些可能实现的方式中，在上述显示面板还包括至少一个复位模块的基础上，复位模块的数量为N个，N个复位模块的第一端与N个检测模块的第二端一一对应耦合，N个复位模块的第二端相耦合，所有复位模块的第二端耦合之后同时接收复位信号。如此，保证各复位模块接收复位信号的同步性，且无需为每个复位模块设置提供复位信号的线，减少布线，有利于显示面板的窄边框化。

在一些可能实现的方式中，在上述显示面板还包括至少一个复位模块的基础上，复位信号为接地电位。接地电位例如可以从显示面板中的结构中获得，例如静电屏蔽结构中获得，如此，无需单独设置提供复位信号的线，简化工艺步骤。

第二方面，本申请实施例提供一种电子设备，该电子设备包括上述任一项的显示面板。能够实现上述显示面板的所有效果。

第三方面，本申请实施例提供一种检测方法，该检测方法应用于上述任一项的显示面板，能够实现上述显示面板的所有效果；

所述检测方法包括：在检测阶段，接收检测信号线反馈的第一检测信号；在检测阶段，判断第一检测信号是否等于第i条数据线的第一端获取的第一数据信号；若是，则确定第i条数据线不存在缺陷；若否，则确定第i条数据线存在缺陷；循环执行上述步骤，直至N条数据线均检测完成。

在一些可能实现的方式中，显示面板还包括至少一个复位模块，复位模块包括第一晶体管；检测模块包括第二晶体管和第三晶体管；第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管均包括栅极、第一极和第二极；第一晶体管的第一极与第三晶体管的第二端耦合，第一晶体管的第二极用于接收复位信号；第二晶体管的第一极与数据线的第二端耦合，第二晶体管的第二极与第三晶体管的第一极耦合；第三晶体管的栅极与第三晶体管的第一极耦合；各第三晶体管的第二端均与检测信号线耦合；

接收检测信号线反馈的第一检测信号之前，还包括：在复位阶段，向第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将复位信号写入第三晶体管的第二极；在检测阶段，向第二晶体管的栅极发送第二开关信号，以将第i条数据线的第二端的信号传输至检测信号线。

在一些可能实现的方式中，显示面板还包括至少一个复位模块，所述复位模块包括第一晶体管；所述检测模块包括第二晶体管和二极管；所述第一晶体管和所述第二晶体管均包括栅极、第一极和第二极；所述第一晶体管的第一极与所述二极管的阴极耦合，所述第一晶体管的第二极用于接收所述复位信号；所述第二晶体管的第一极与所述数据线的第二端耦合，所述第二晶体管的第二极与所述二极管的阳极耦合；所述二极管的阴极与所述第一晶体管的第一极耦合；各所述二极管的阴极均与检测信号线耦合；

接收检测信号线反馈的第一检测信号之前，还包括：在复位阶段，向第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将复位信号写入二极管的阴极；在检测阶段，向第二晶体管的栅极发送第二开关信号，以将第i条数据线的第二端的信号传输至检测信号线。

在一些可能实现的方式中，检测方法还包括：在复位阶段，接收检测信号线反馈的第二检测信号；在复位阶段，判断第二检测信号是否等于复位信号；若是，则向第二晶体管的栅极发送第二开关信号；若否，则向第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将复位信号写入第三晶体管的第二极；或者，若否，则向第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将复位信号写入二极管的阴极。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的又一种电子设备的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的又一种电子设备的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图9为本申请实施例提供的一种检测模块和复位模块的时序图；

图10为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的一种检测方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。

本申请实施例的说明书和权利要求书中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述对象的特定顺序。例如，第一目标对象和第二目标对象等是用于区别不同的目标对象，而不是用于描述目标对象的特定顺序。

在本申请实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。

在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指两个或两个以上。例如，多个处理单元是指两个或两个以上的处理单元；多个系统是指两个或两个以上的系统。

本申请实施例提供一种电子设备，本申请实施例提供的电子设备可以是电视、电脑、平板电脑、个人数字助理(personal digital assistant，简称PDA)、车载电脑、手机、智能穿戴式设备、智能家居设备等包括显示面板的电子设备，本申请实施例对上述电子设备的具体形式不作特殊限定。

以下对本申请实施例提供的电子设备的具体结构和用途进行说明。

如图1所示，图1示出了本申请实施例提供的电子设备的结构示意图，电子设备100包括控制系统10、显示面板20和主板30等结构。控制系统10例如设置于主板30上。显示面板20和主板30例如可以通过柔性电路板耦合。

控制系统10例如包括片上系统(System on Chip，SoC)。SoC内部例如集成有中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、图像处理器(Graphic Processing Unit，GPU)和调制解调器(Modem)等。需要说明的是，CPU、GPU、Modem等可以集成在SoC上，也可以分开设置，本申请实施例对此不作限定。

显示面板20例如可以是LCD面板、OLED显示面板、LED显示面板等，其中，LED显示面板例如包括Micro-LED显示面板、Mini-LED显示面板等。本申请实施例不对显示面板20的类型进行限定。

继续参见图1，显示面板20例如包括显示区AA和非显示区NAA。显示区AA内，数据线21和扫描线22交叉设置，限定出多个子像素区域，子像素区域中设置有子像素23，子像素23例如包括像素驱动电路(图中未示出)。多个子像素23例如呈阵列排布。非显示区NAA设置有驱动芯片24，驱动芯片24包括多个数据输出引脚241。多个数据输出引脚241与多个数据线21一一对应耦合。控制系统10发送控制信号至驱动芯片24，驱动芯片24的内部电路对控制信号进行处理后生成数据信号，数据信号通过数据输出引脚241传输至数据线21，以通过数据线21向子像素23写入数据信号。

或者，参见图2，非显示区NAA内还设置有多路选择电路25，多路选择电路25包括多个多路选择单元251。一个多路选择单元251的输入端与一个数据输出引脚241耦合，该多路选择单元251的输出端例如可以和至少两条数据线21耦合。控制系统10发送控制信号至驱动芯片24，驱动芯片24的内部电路对控制信号进行处理后生成数据驱动信号，数据驱动信号通过数据输出引脚241传输至多路选择单元251，以通过多路选择单元251向子像素23写入数据信号。多路选择电路25的设置可以减少数据输出引脚241的数量。

需要说明的是，下述示例均以非显示区NAA内不设置多路选择电路25作为示例进行说明。

还需要说明的是，驱动芯片24可以设置在显示面板20上，也可以不设置于显示面板20上，例如可以设置于显示面板20和主板30之间的柔性电路板上，本申请实施例对此不作限定。当驱动芯片24设置于柔性电路板上时，有利于显示面板的窄边框化。本申请实施例均以驱动芯片24设置于显示面板20上为例进行的说明。

继续参见图1或图2，非显示区NAA内，还设置有移位寄存器26，移位寄存器26包括多个级联的移位寄存单元，每级移位寄存单元的扫描信号输出端261与一行子像素23对应的扫描线22耦合。驱动芯片24的内部电路对控制信号进行处理后还生成扫描驱动信号。扫描驱动信号传输至移位寄存器26后生成扫描信号，并通过移位寄存单元的扫描信号输出端261传输至扫描线22。其中，移位寄存器26的数量可以为一，如图1或图2所示，一组级联的移位寄存器26设置于显示区AA的一侧。可选的，参见图3，移位寄存器26的数量还可以为二，两组级联的移位寄存器26分别位于显示区AA两侧相对设置的非显示区NAA，位于非显示区NAA的两组移位寄存器26的扫描信号输出端261通过一扫描线22耦合，与同一扫描线22耦合的移位寄存器26通过扫描信号输出端261向该扫描线22同步输出扫描信号。这样一来，可以避免扫描线22上存在压降影响显示面板的显示效果。

此处需要说明的是，下述示例均以非显示区NAA内设置一组移位寄存器26作为示例进行说明。

为了解决背景技术中的问题，本申请实施例提供的显示面板还包括检测模块、检测信号线和复位模块，通过在显示面板内设置检测模块、检测信号线和复位模块，可实现对显示面板内各数据线的自动检测，且可以对有缺陷的数据线精准定位，提高检测精度和检测效率。

以下结合电子设备对显示面板以及显示面板内的检测模块和复位模块进行具体说明。

如图4所示，显示面板20还包括位于非显示区NAA的多个检测模块27和多个复位模块28。示例性的，数据线21的数量为N条，检测模块27和复位模块28的数量例如也均为N个，其中，N为大于或等于1的正整数。N条数据线21包括第一条数据线21(1)、第二条数据线21(2)、…、第N-1条数据线21(N-1)、第N条数据线21(N)。N个检测模块27包括第一检测模块27(1)、第二检测模块27(2)、……、第N-1检测模块27(N-1)、第N检测模块27(N)。N个复位模块28包括第一复位模块28(1)、第二复位模块28(2)、……、第N-1复位模块28(N-1)、第N复位模块28(N)。第一检测模块27(1)的第一端与第一条数据线21(1)的第二端耦合，第一检测模块27(1)的第二端与第一复位模块28(1)的第一端耦合，第一复位模块28(1)的第二端用于接收复位信号Vref。第二检测模块27(2)的第一端与第二条数据线21(2)的第二端耦合，第二检测模块27(2)的第二端与第二复位模块28(2)的第一端耦合，第二复位模块28(2)的第二端用于接收复位信号Vref。……。第N-1检测模块27(N-1)的第一端与第N-1条数据线21(N-1)的第二端耦合，第N-1检测模块27(N-1)的第二端与第N-1复位模块28(N-1)的第一端耦合，第N-1复位模块28(N-1)的第二端用于接收复位信号Vref。第N检测模块27(N)的第一端与第N条数据线21(N)的第二端耦合，第N检测模块27(N)的第二端与第N复位模块28(N)的第一端耦合，第N复位模块28(N)的第二端用于接收复位信号Vref。此外，显示面板20还包括检测信号线29，各检测模块27的第二端均与检测信号线29耦合。

下面以N为6为例，对检测模块27和复位模块28的工作原理进行具体说明。且下述实施例中均以N为6为例进行的说明，下述实施例不再赘述。

继续参见图4，首先，在复位阶段，各复位模块28的第二端接收复位信号Vref，并将接收的复位信号Vref传输至复位模块28的第一端。由于复位模块28的第一端与检测模块27的第二端耦合，因此，复位信号Vref可对检测模块27的第二端进行复位，防止检测模块27的第二端有其他信号，避免其他信号对检测造成影响。此外，由于检测信号线29与各检测模块27的第二端均耦合，因此，检测信号线29可将检测模块27的第二端的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与复位信号Vref进行比较，若检测信号Ts与复位信号Vref相等表明复位完成。

复位完成后，在检测阶段，第一条数据线21(1)的第一端接收第一数据信号S1，并将接收到的第一数据信号S1传输至第一检测模块27(1)。第二条数据线21(2)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)、第六条数据线21(6)的第一端分别接收第二数据信号S2，并将接收到的第二数据信号S2传输至与其耦合的检测模块27，即第二条数据线21(2)将接收的第二数据信号S2传输至第二检测模块27(2)，第三条数据线21(3)将接收的第二数据信号S2传输至第三检测模块27(3)，第四条数据线21(4)将接收的第二数据信号S2传输至第四检测模块27(4)，第五条数据线21(5)将接收的第二数据信号S2传输至第五检测模块27(5)，第六条数据线21(6)将接收的第二数据信号S2传输至第六检测模块27(6)。其中，第一数据信号S1例如可以为高电平信号，第二数据信号S2例如可以为低电平信号。检测模块27可使第一数据信号S1通过，但阻止第二数据信号S2通过。因此，若第一条数据线21(1)没有线条缺陷时，第一数据信号S1通过第一条数据线21(1)和第一检测模块27(1)后，传输至检测信号线29。而，不论第二条数据线21(2)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)是否有线条缺陷，第二数据信号S2都无法传输至检测信号线29(第二检测模块27(2)、第三检测模块27(3)、第四检测模块27(4)、第五检测模块27(5)、第六检测模块27(6)阻止第二数据信号S2通过)。这样一来，检测信号线29仅将第一条数据线21(1)传输的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与第一数据信号S1进行比较，若检测信号Ts与第一数据信号S1相等，则表明第一条数据线21(1)没有线条缺陷；若检测信号Ts与第一数据信号S1不同，则表明第一条数据线21(1)有线条缺陷。如此，完成对第一条数据线21(1)的自动检测。

接着，在复位阶段，各复位模块28的第二端均接收复位信号Vref，并将复位信号Vref传输至复位模块28的第一端。复位信号Vref对各检测模块27的第二端进行复位，防止其他信号对检测的影响，以及防止检测第一条数据线21(1)时，各检测模块27的第二端残留的第一数据信号S1对检测的影响。检测信号线29可将检测模块27的第二端的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与复位信号Vref进行比较，若检测信号Ts与复位信号Vref相等表明复位完成。

复位完成后，在检测阶段，第二条数据线21(2)接收第一数据信号S1，并将接收到的第一数据信号S1传输至第二检测模块27(2)。第一条数据线21(1)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)、第六条数据线21(6)分别接收第二数据信号S2，并将接收到的第二数据信号S2传输至与其耦合的检测模块27，即第一条数据线21(1)将接收的第二数据信号S2传输至第一检测模块27(1)，第三条数据线21(3)将接收的第二数据信号S2传输至第三检测模块27(3)，第四条数据线21(4)将接收的第二数据信号S2传输至第四检测模块27(4)，第五条数据线21(5)将接收的第二数据信号S2传输至第五检测模块27(5)，第六条数据线21(6)将接收的第二数据信号S2传输至第六检测模块27(6)。其中，第一数据信号S1例如可以为高电平信号，第二数据信号S2例如可以为低电平信号。检测模块27可使第一数据信号S1通过，但阻止第二数据信号S2通过。因此，若第二条数据线21(2)没有线条缺陷时，第一数据信号S1通过第二条数据线21(2)和第二检测模块27(2)后，传输至检测信号线29。而，不论第一条数据线21(1)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)是否有线条缺陷，第二数据信号S2都无法传输至检测信号线29(第一检测模块27(1)、第三检测模块27(3)、第四检测模块27(4)、第五检测模块27(5)、第六检测模块27(6)阻止第二数据信号S2通过)。这样一来，检测信号线29将第二条数据线21(2)传输的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与第一数据信号S1进行比较；若检测信号Ts与第一数据信号S1不同，则表明第二条数据线21(2)有线条缺陷。如此，完成对第二条数据线21(2)的自动检测。

接着，以同样的方法完成对第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)的自动检测。

需要说明的是，上述的控制模块可以包括模数转换器和控制单元。检测信号线29反馈的检测信号Ts传输至模数转换器，模数转换器将该信号转换成数字信号后，发送至控制单元，控制单元将数字信号与需要比较的信号(例如复位信号Vref或第一数据信号S1)。其中，控制模块可以集成在驱动芯片24内；也可以集成在控制系统10中；还可以单独设置于的主板30上，本申请实施例对控制模块的设置位置不作限定。

本申请中，每个数据线21均设置一检测模块27，通过检测模块27完成对各数据线21的自动检测，检测效率和检测精度高。此外，所有的检测模块27的第二端均与同一检测信号线29耦合，且通过复位模块28对各检测模块27的第二端进行复位，如此，可以降低检测信号线29的数量，无需为每个检测模块27均设置一条检测信号线29。当检测信号线29的数量减少时，可以减少检测信号线占用非显示区NAA的区域，有利于显示面板的窄边框化。此外，本申请实施例提供的对数据线21进行自动检测的方法可以在电子设备100出厂前完成对数据线21的自动检测，也可以是当电子设备100使用后出现问题时，完成对数据线21的自动检测，检测方便。

对于各复位模块28的第二端接收复位信号Vref的方式，本实施例不作具体限定。只要各复位模块28的第二端可以接收到复位信号Vref即可。

一种可能实现的方式中，继续参见图4，复位模块28的第二端分别接收复位信号Vref。如此，可以灵活的控制传输复位信号Vref的时间。

又一种可能实现的方式，参见图5，所有复位模块28的第二端相耦合，所有复位模块28的第二端耦合之后接收复位信号Vref。如此，保证各复位模块28接收复位信号Vref的同步性，且可以减少布线，有利于显示面板20的窄边框化。

对于复位信号Vref，复位信号Vref例如可以是控制模块发送的固定信号。但不构成对本申请的限定。在其他可选实施例中，复位信号Vref还可以是接地电位。这样设置的好处在于，接地电位例如可以从显示面板20中的结构中获得，例如静电屏蔽结构中，如此，无需单独设置提供复位信号Vref的线，简化工艺步骤。

此外，对于复位模块28的数量，本申请实施例不对复位模块28的数量进行限定。上述示例均以复位模块28的数量和检测模块27的数量相等为例进行的说明，但不构成对本申请的限定。在其他可选的实施方式中，复位模块28的数量例如还可以仅为一个。例如参见图6，所有检测模块27的第二端均与该复位模块28的第一端耦合。当复位模块28的数量为一时，即复位模块28的数量减小，相应的，减少了复位模块28占用非显示区NAA的面积，有利于显示面板20的窄边框化。

需要说明的是，下述示例均以复位模块28的数量为N，且所有复位模块28的第二端相耦合为例进行的说明。

对于复位模块28的具体结构，本实施例不对复位模块28的具体结构进行限定，只要可以完成对检测模块27的第二端进行复位即可。

在一些可能的实现方式中，参见图7，复位单元28包括第一晶体管M1。第一晶体管M1的第一极与检测模块27的第二端耦合，第一晶体管M1的第二极用于接收复位信号Vref，第一晶体管M1的栅极用于获取第一开关信号C1。第一开关信号C1用于控制第一晶体管M1的导通或截止，进而控制是否将复位信号Vref传输至检测模块27的第二端。

需要说明的是，本实施例中第一晶体管M1的第一极为第一晶体管M1的源极和漏极中的一者，第一晶体管M1的第二极为第一晶体管M1的源极和漏极中的另一者。下述实施例中的晶体管相同，下述实施例中不再赘述。

对于检测模块27的具体结构，本实施例不对检测模块27的具体结构进行限定，只要可使第一数据信号S1通过，阻止第二数据信号S2通过即可。

在一些可能的实现方式中，继续参见图7，检测模块27包括第二晶体管M2和二极管D。第二晶体管M2的第一极与数据线21耦合，第二晶体管M2的第二极与二极管D的阳极耦合，二极管D的阴极与第一晶体管M1的第一极耦合。第二晶体管M2的栅极用于第二开关信号C2。第二开关信号C2用于控制第二晶体管M2的导通或截止，进而控制是否将数据线21上传输的数据信号(第一数据信号S1或第二数据信号S2)传输至二极管D的阳极。二极管D可以使得第一数据信号S1通过，阻止第二数据信号S2通过。

又一些可能的实现方式中，参见图8，检测模块27包括第二晶体管M2和第三晶体管M3。第二晶体管M2的第一极与数据线21耦合，第二晶体管M2的第二极与第三晶体管M3的第一极耦合，第三晶体管M3的第二极与第一晶体管M1的第一极耦合。第二晶体管M2的栅极用于第二开关信号C2。第三晶体管M3的栅极与第三晶体管M3的第一极耦合。第二开关信号C2用于控制第二晶体管M2的导通或截止，进而控制是否将数据线21上传输的数据信号(第一数据信号S1或第二数据信号S2)传输至第三晶体管M3的第一极。第三晶体管M3可以使得第一数据信号S1通过，阻止第二数据信号S2通过。

当复位单元28包括第一晶体管M1，检测模块27包括第二晶体管M2和第三晶体管M3时，第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3可以同时形成，无需单独设置，这样一来，可以简化工艺步骤。

下面以复位单元28包括第一晶体管M1，检测模块27包括第二晶体管M2和第三晶体管M3对本申请的具体实现方式进行介绍。其中，第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3可以均为P型晶体管，也可以均为N型晶体管，本发明实施例对此不作限定。下面以第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3均为N型晶体管，对检测模块27和复位模块28的工作原理进行具体说明：

图9是本发明实施例提供的一种检测模块和复位模块的时序图，结合图8和图9，在T1时间段，即复位阶段，第一晶体管M1的栅极获取的第一开关信号C1为高电平，第二晶体管M2的栅极获取的第二开关信号C2为低电平，此时，第一晶体管M1导通，第二晶体管M2和第三晶体管M3关断。复位信号Vref通过导通的第一晶体管M1写入第三晶体管M3的第二极，以对第三晶体管M3的第二极进行初始化，其中，复位信号Vref为低电平信号，防止其他信号对检测的影响。此外，检测信号线29可将第三晶体管M3的第二极的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与复位信号Vref进行比较，若检测信号Ts与复位信号Vref相等表明复位完成。

在T2时间段，即检测阶段，第一晶体管M1的栅极获取的第一开关信号C1为低电平，第二晶体管M2的栅极获取的第二开关信号C2为高电平，此时，第一晶体管M1关断，第二晶体管M2和第三晶体管M3导通。第一条数据线21(1)接收第一数据信号S1(高电平信号)，并将接收到的第一数据信号S1传输至第一检测模块27(1)。第二条数据线21(2)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)、第六条数据线21(6)分别接收第二数据信号S2(低电平信号)，并将接收到的第二数据信号S2传输至与其耦合的检测模块27，即第二条数据线21(2)将接收的第二数据信号S2传输至第二检测模块27(2)，第三条数据线21(3)将接收的第二数据信号S2传输至第三检测模块27(3)，第四条数据线21(4)将接收的第二数据信号S2传输至第四检测模块27(4)，第五条数据线21(5)将接收的第二数据信号S2传输至第五检测模块27(5)，第六条数据线21(6)将接收的第二数据信号S2传输至第六检测模块27(6)。第一检测模块27(1)内的第二晶体管M2以及第三晶体管M3可以使第一数据信号S1通过。第二检测模块27(2)、第三检测模块27(3)、第四检测模块27(4)、第五检测模块27(5)以及第六检测模块27(6)内的第二晶体管M2和第三晶体管M3阻止第二数据信号S2通过。因此，若第一条数据线21(1)没有线条缺陷时，第一数据信号S1通过第一条数据线21(1)和第一检测模块27(1)内的第二晶体管M2以及第三晶体管M3后，传输至检测信号线29。而，不论第二条数据线21(2)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)是否有线条缺陷，第二数据信号S2都无法传输至检测信号线29。这样一来，检测信号线29将第一条数据线21(1)传输的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与第一数据信号S1进行比较，若检测信号Ts与第一数据信号S1相等，则表明第一条数据线21(1)没有线条缺陷；若检测信号Ts与第一数据信号S1不同，则表明第一条数据线21(1)有线条缺陷。如此，完成对第一条数据线21(1)的自动检测。

在T3时间段，即复位阶段，第一晶体管M1的栅极获取的第一开关信号C1为高电平，第二晶体管M2的栅极获取的第二开关信号C2为低电平，此时，第一晶体管M1导通，第二晶体管M2和第三晶体管M3关断。复位信号Vref通过导通的第一晶体管M1写入第三晶体管M3的第二极，以对第三晶体管M3的第二极进行初始化，其中，复位信号Vref为低电平信号，防止其他信号对检测的影响，以及防止检测第一条数据线21(1)时，各检测模块27的第二端残留的第一数据信号S1对检测的影响。此外，检测信号线29可将第三晶体管M3的第二极的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与复位信号Vref进行比较，若检测信号Ts与复位信号Vref相等表明复位完成。

在T4时间段，即检测阶段，第一晶体管M1的栅极获取的第一开关信号C1为低电平，第二晶体管M2的栅极获取的第二开关信号C2为高电平，此时，第一晶体管M1关断，第二晶体管M2和第三晶体管M3导通。第二条数据线21(2)接收第一数据信号S1(高电平信号)，并将接收到的第一数据信号S1传输至第二检测模块27(2)。第一条数据线21(1)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)、第六条数据线21(6)分别接收第二数据信号S2(低电平信号)，并将接收到的第二数据信号S2传输至与其耦合的检测模块27，即第一条数据线21(1)将接收的第二数据信号S2传输至第一检测模块27(1)，第三条数据线21(3)将接收的第二数据信号S2传输至第三检测模块27(3)，第四条数据线21(4)将接收的第二数据信号S2传输至第四检测模块27(4)，第五条数据线21(5)将接收的第二数据信号S2传输至第五检测模块27(5)，第六条数据线21(6)将接收的第二数据信号S2传输至第六检测模块27(6)。第二检测模块27(2)内的第二晶体管M2以及第三晶体管M3可以使第一数据信号S1通过。第一检测模块27(1)、第三检测模块27(3)、第四检测模块27(4)、第五检测模块27(5)以及第六检测模块27(6)内的第二晶体管M2和第三晶体管M3阻止第二数据信号S2通过。因此，若第二条数据线21(2)没有线条缺陷时，第一数据信号S1通过第二条数据线21(2)和第二检测模块27(2)内的第二晶体管M2以及第三晶体管M3后，传输至检测信号线29。而，不论第一条数据线21(1)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)是否有线条缺陷，第二数据信号S2都无法传输至检测信号线29。这样一来，检测信号线29将第二条数据线21(2)传输的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与第一数据信号S1进行比较，若检测信号Ts与第一数据信号S1相等，则表明第二条数据线21(2)没有线条缺陷；若检测信号Ts与第一数据信号S1不同，则表明第二条数据线21(2)有线条缺陷。如此，完成对第二条数据线21(2)的自动检测。

在T5时间段，即复位阶段，第一晶体管M1的栅极获取的第一开关信号C1为高电平，第二晶体管M2的栅极获取的第二开关信号C2为低电平，此时，第一晶体管M1导通，第二晶体管M2和第三晶体管M3关断。复位信号Vref通过导通的第一晶体管M1写入第三晶体管M3的第二极，以对第三晶体管M3的第二极进行初始化，其中，复位信号Vref为低电平信号，防止其他信号对检测的影响，以及防止检测第二条数据线21(2)时，各检测模块27的第二端残留的第一数据信号S1对检测的影响。此外，检测信号线29可将第三晶体管M3的第二极的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与复位信号Vref进行比较，若检测信号Ts与复位信号Vref相等表明复位完成。

接着，以同样的方法完成对第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)的自动检测。

通过上述示例可知，当第一晶体管M1关断时，第二晶体管M2导通；当第一晶体管M1导通时，第二晶体管M2关断。即第一晶体管M1的栅极获取的第一开关信号C1和第二晶体管M2的栅极获取的第二开关信号C2的相位相反。因此，参见图10，显示面板20还包括反相器40。反相器40的输入端与第二晶体管M2的栅极耦合，反相器40的输出端与第一晶体管M1的栅极耦合，反相器40的输入端用于获取第二开关信号C2。这样一来，无需单独为第一晶体管M1和第二晶体管M2分别设置开关信号线，即只需要设置一条可以传输第二开关信号C2的开关信号线即可。这样设置的好处在于，结构简单，且有利于显示面板20的窄边框化。

基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种检测方法，该检测方法例如可以应用于图8所示的显示面板，可以对图8所示的显示面板内的数据线进行检测。图11是本发明实施例提供的一种检测方法的流程图，如图11所示，该检测方法包括：

S111、在复位阶段，向第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将复位信号写入第三晶体管的第二极。

S112、接收检测信号线反馈的第二检测信号。

S113、判断第二检测信号是否等于复位信号；若第二检测信号等于复位信号，则执行步骤S114；若第二检测信号不等于复位信号，则返回至步骤S111。

S114、在检测阶段，向第二晶体管的栅极发送第二开关信号，以将第i条数据线的第二端的信号传输至检测信号线。

S115、接收检测信号线反馈的第一检测信号。

S116、判断第一检测信号是否等于第i条数据线上传输的第一数据信号；若第一检测信号等于第一数据信号，则执行步骤S117；若第一检测信号不等于第一数据信号，则执行步骤S118。

S117、确定第i条数据线不存在缺陷。

S118、确定第i条数据线存在缺陷。

S119、循环执行步骤S111至步骤S118，直至N条数据线均检测完成；其中，i为小于等于N的正整数。

需要说明的是，为了区分复位阶段和检测阶段，检测信号线29反馈的检测信号Ts。在复位阶段，检测信号线29反馈的检测信号Ts为第二检测信号，即检测模块27的第二端的检测信号Ts为第二检测信号；在检测阶段，检测信号线29反馈的检测信号Ts为第一检测信号，即第i检测模块27(i)的第二端的检测信号Ts为第一检测信号。实际上都是检测信号线29反馈的检测信号Ts。

具体的，控制模块向第一晶体管M1的栅极发送第一开关信号，第一晶体管M1导通，复位信号Vref写入第三晶体管M3的第二极，以对第三晶体管M3的第二极进行初始化。检测信号线29将第三晶体管M3的第二极的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与复位信号Vref进行比较，若检测信号Ts与复位信号Vref相等表明复位完成。然后控制模块向第二晶体管M2的栅极发送第二开关信号C2，第二晶体管M2和第三晶体管M3导通。第一条数据线21(1)接收第一数据信号S1(高电平信号)，并将接收到的第一数据信号S1传输至第一检测模块27(1)。第二条数据线21(2)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)、第六条数据线21(6)分别接收第二数据信号S2(低电平信号)，并将接收到的第二数据信号S2传输至与其耦合的检测模块27，即第二条数据线21(2)将接收的第二数据信号S2传输至第二检测模块27(2)，第三条数据线21(3)将接收的第二数据信号S2传输至第三检测模块27(3)，第四条数据线21(4)将接收的第二数据信号S2传输至第四检测模块27(4)，第五条数据线21(5)将接收的第二数据信号S2传输至第五检测模块27(5)，第六条数据线21(6)将接收的第二数据信号S2传输至第六检测模块27(6)。第一检测模块27(1)内的第二晶体管M2以及第三晶体管M3可以使第一数据信号S1通过。第二检测模块27(2)、第三检测模块27(3)、第四检测模块27(4)、第五检测模块27(5)以及第六检测模块27(6)内的第二晶体管M2和第三晶体管M3阻止第二数据信号S2通过。因此，若第一条数据线21(1)没有线条缺陷时，第一数据信号S1通过第一条数据线21(1)和第一检测模块27(1)内的第二晶体管M2以及第三晶体管M3后，传输至检测信号线29。而，不论第二条数据线21(2)、第三条数据线21(3)、第四条数据线21(4)、第五条数据线21(5)和第六条数据线21(6)是否有线条缺陷，第二数据信号S2都无法传输至检测信号线29。这样一来，检测信号线29将第一条数据线21(1)传输的信号反馈至控制模块。控制模块将检测信号线29反馈的检测信号Ts与第一数据信号S1进行比较，若检测信号Ts与第一数据信号S1相等，则表明第一条数据线21(1)没有线条缺陷；若检测信号Ts与第一数据信号S1不同，则表明第一条数据线21(1)有线条缺陷。如此，完成对第一条数据线21(1)的自动检测。循环上述步骤，直至所有数据线21的检测完成。这样一来，实现了数据线21的自动检测，检测效率和检测精度高。

以上所述，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (15)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：N条数据线、N个检测模块、检测信号线和控制模块；所述数据线和所述检测模块均包括第一端和第二端；所述检测信号线的数量为一个；

N条所述数据线沿第一方向延伸、沿第二方向排列，且N条数据线的第二端与N个检测模块的第一端一一对应耦合；N个所述检测模块的第二端均与所述检测信号线耦合；其中，所述第一方向与所述第二方向交叉；

第i条数据线的第一端用于获取第一数据信号；除所述第i条数据线之外的其它数据线的第一端用于获取第二数据信号；

第i检测模块用于在检测阶段将所述第i条数据线的第二端的信号传输至所述第i检测模块的第二端；除所述第i检测模块之外的其他检测模块用于在所述检测阶段阻止所述第二数据信号通过；

所述检测信号线用于在检测阶段将所述第i检测模块的第二端的第一检测信号传输至所述控制模块，以使所述控制模块根据所述第一检测信号与所述第一数据信号确定所述第i条数据线是否存在缺陷；

其中，1≤i≤N，i和N均为正整数。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：至少一个复位模块；所述复位模块包括第一端和第二端；所述复位模块的第一端与所述检测模块的第二端耦合；

所述复位模块用于在复位阶段将所述复位模块的第二端接收的复位信号传输至各所述检测模块的第二端，以对所述检测模块的第二端进行复位。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号线还用于在所述复位阶段将所述检测模块的第二端的第二检测信号发送至所述控制模块，以使所述控制模块根据所述第二检测信号与所述复位信号确定所述检测模块的第二端是否复位完成。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述复位模块包括第一晶体管，所述第一晶体管包括栅极、第一极和第二极；

所述第一晶体管的第一极与所述检测模块的第二端耦合，所述第一晶体管的第二极用于接收所述复位信号，所述第一晶体管的栅极用于获取第一开关信号；

所述第一开关信号用于在复位阶段控制所述第一晶体管导通，并在所述检测阶段控制所述第一晶体管关断。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测模块包括第二晶体管和二极管；所述第二晶体管包括栅极、第一极和第二极；

所述第二晶体管的第一极与所述数据线的第二端耦合，所述第二晶体管的第二极与所述二极管的阳极耦合，所述第二晶体管的栅极用于获取第二开关信号；各所述二极管的阴极均与所述检测信号线耦合；

所述第二开关信号用于在复位阶段控制所述第二晶体管关断，并在所述检测阶段控制所述第二晶体管导通。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测模块包括第二晶体管和第三晶体管；所述第二晶体管和所述第三晶体管均包括栅极、第一极和第二极；

所述第二晶体管的第一极与所述数据线的第二端耦合，所述第二晶体管的第二极与所述第三晶体管的第一极耦合，所述第二晶体管的栅极用于获取第二开关信号；所述第三晶体管的栅极与所述第三晶体管的第一极耦合；各所述第三晶体管的第二端均与所述检测信号线耦合；

所述第二开关信号用于在复位阶段控制所述第二晶体管关断，并在所述检测阶段控制所述第二晶体管导通。

7.根据权利要求5或6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括反相器和至少一个复位模块；所述复位模块包括第一晶体管，所述第一晶体管包括栅极、第一极和第二极；所述第一晶体管的第一极与所述检测模块的第二端耦合，所述第一晶体管的第二极用于接收复位信号；

所述反相器的输入端与所述第二晶体管的栅极耦合，所述反相器的输出端与所述第一晶体管的栅极耦合。

8.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述复位模块的数量为一，N个所述检测模块的第二端均与所述复位模块的第一端耦合。

9.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述复位模块的数量为N个，N个复位模块的第一端与N个检测模块的第二端一一对应耦合，N个所述复位模块的第二端相耦合。

10.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述复位信号为接地电位。

11.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的显示面板。

12.一种检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-10中任一项所述的显示面板，所述检测方法包括：

在检测阶段，接收所述检测信号线反馈的第一检测信号；

在检测阶段，判断所述第一检测信号是否等于所述第i条数据线的第一端获取的所述第一数据信号；

若是，则确定第i条数据线不存在缺陷；

若否，则确定第i条数据线存在缺陷；

循环执行上述步骤，直至N条数据线均检测完成。

13.根据权利要求12所述的检测方法，其特征在于，所述显示面板还包括至少一个复位模块，所述复位模块包括第一晶体管；所述检测模块包括第二晶体管和第三晶体管；所述第一晶体管、所述第二晶体管和所述第三晶体管均包括栅极、第一极和第二极；所述第一晶体管的第一极与所述第三晶体管的第二端耦合，所述第一晶体管的第二极用于接收复位信号；所述第二晶体管的第一极与所述数据线的第二端耦合，所述第二晶体管的第二极与所述第三晶体管的第一极耦合；所述第三晶体管的栅极与所述第三晶体管的第一极耦合；各所述第三晶体管的第二端均与检测信号线耦合；

所述接收所述检测信号线反馈的第一检测信号之前，还包括：

在复位阶段，向所述第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将所述复位信号写入第三晶体管的第二极；

在检测阶段，向第二晶体管的栅极发送第二开关信号，以将所述第i条数据线的第二端的信号传输至所述检测信号线。

14.根据权利要求12所述的检测方法，其特征在于，所述显示面板还包括至少一个复位模块，所述复位模块包括第一晶体管；所述检测模块包括第二晶体管和二极管；所述第一晶体管和所述第二晶体管均包括栅极、第一极和第二极；所述第一晶体管的第一极与所述二极管的阴极耦合，所述第一晶体管的第二极用于接收复位信号；所述第二晶体管的第一极与所述数据线的第二端耦合，所述第二晶体管的第二极与所述二极管的阳极耦合；所述二极管的阴极与所述第一晶体管的第一极耦合；各所述二极管的阴极均与检测信号线耦合；

所述接收所述检测信号线反馈的第一检测信号之前，还包括：

在复位阶段，向第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将所述复位信号写入二极管的阴极；

在检测阶段，向第二晶体管的栅极发送第二开关信号，以将所述第i条数据线的第二端的信号传输至所述检测信号线。

15.根据权利要求13或14所述的检测方法，其特征在于，还包括：

在复位阶段，接收所述检测信号线反馈的第二检测信号；

在复位阶段，判断所述第二检测信号是否等于所述复位信号；

若是，则向第二晶体管的栅极发送第二开关信号；

若否，则向所述第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将所述复位信号写入所述第三晶体管的第二极；或者，若否，则向所述第一晶体管的栅极发送第一开关信号，以将所述复位信号写入二极管的阴极。

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