CN114915889A - 耳机测试工站的校准方法、装置、耳机测试工站及介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种耳机测试工站的校准方法、装置、耳机测试工站以及计算机可读存储介质，该方法包括：获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；若检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。本发明能够实现及时准确的自动触发针对耳机测试工站进行校准，既节省时间和人力资源还能有效地提升耳机产品的生产效率。

Description

耳机测试工站的校准方法、装置、耳机测试工站及介质

技术领域

本发明涉及耳机技术领域，尤其涉及一种耳机测试工站的校准方法、装置、耳机测试工站以及计算机可读存储介质。

背景技术

时下，智能耳机已经在市场上得到非常广泛的普及，尤其是麦克风和/或者扬声器品质优异的智能耳机更是受到众多市场用户的关注和追捧。因此，为了提高智能耳机的市场占有率，众多的耳机生产商对耳机麦克风和/或者扬声器的功能提出了更高要求，因此，针对耳机麦克风和/或者扬声器进行更高要求的工站测试也就显得十分必要，而要完成耳机麦克风和/或者扬声器更高要求的工站测试最不可忽视的就是对工站进行校准。

目前校准测试工站的方式主要是基于对耳机麦克风和/或者扬声器的测试结果来定时对工站进行校准以使之满足正常测试的要求。如此，目前的工站校准方式一方面需要依赖测试维护工程师通过经验或者产线报警来判断是否启动对工站进行校准，这难免会令校准动作具有延迟性和不准确性，而另一方面则是需要测试维护工程师持续进行频繁的判断和启动校准的动作，不仅会花费较多时间和人力资源，还会降低了耳机设备整个产线的生产效率，尤其是在有多个机台同时加入设备生产的场景，这种缺陷将更加明显。

综上，现有的对测试耳机麦克风和/或者扬声器的工站进行校准的方式存在准确性差和耗费资源较多且严重影响耳机产品生产效率的技术问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种耳机测试工站的校准方法、装置、耳机测试工站以及计算机可读存储介质，旨在实现及时准确的自动触发针对耳机测试工站进行校准，既节省时间和人力资源还能有效地提升耳机产品的生产效率。

为实现上述目的，本发明提供一种耳机测试工站的校准方法，所述耳机测试工站的校准方法包括：

获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

若检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

可选地，所述方法还包括：

获取与所述测试曲线结果邻近的多组测试曲线结果，并确定所述多组测试曲线结果是否执行过偏移；

在确定所述多组测试曲线结果均执行过偏移时，执行所述针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果的步骤。

可选地，在所述触发针对所述耳机测试工站进行校准的步骤之后，所述方法还包括：

获取进行校准后的耳机测试工站针对所述耳机产品进行功能测试的新的测试曲线结果，并检测所述新的测试曲线结果是否处于所述阈值界限范围；

若检测到所述新的测试曲线结果不处于所述阈值界限范围，则确定所述耳机产品为不良品并输出对应提示。

可选地，所述方法还包括：

计算所述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积以确定所述测试曲线结果的偏移幅度。

可选地，所述根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

检测所述偏移幅度是否超过预设的偏移幅度阈值；

若检测到所述偏移幅度超过所述偏移幅度阈值，则触发针对所述测试曲线结果进行校准。

可选地，所述触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

根据预设理论曲线结果针对所述测试曲线结果执行偏移直到所述预设理论曲线结果与执行偏移后的测试曲线结果之间的重合面积，达到预设的重合面积最小条件。

可选地，所述方法还包括：

调用所述耳机测试工站针对预设的耳机标样产品进行功能测试，并将针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果进行存储。

为实现上述目的，本发明还提供一种耳机测试工站的校准装置，所述耳机测试工站的校准装置包括：

检测模块，用于获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

第一校准模块，用于若所述检测模块检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

第二校准模块，用于若所述检测模块检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

本发明耳机测试工站的校准装置的各个功能模块在运行时实现如上所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。

为实现上述目的，本发明还提供一种耳机测试工站，所述耳机测试工站包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的耳机测试工站的校准程序，所述耳机测试工站的校准程序被所述处理器执行时实现如上所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有耳机测试工站的校准程序，所述耳机测试工站的校准程序被处理器执行时实现如上所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。

本发明中，在通过耳机测试工站针对耳机产品进行相关功能测试的过程中，首先获取该耳机测试工站针对该耳机产品进行功能测试得到的测试曲线结果，并立即检测该测试曲线结果是否是存于预设的阈值界限范围，如此，若检测到该测试曲线结果是处于该阈值界限范围，则进一步根据该测试曲线结果的偏移幅度来直接触发针对该测试曲线结果进行校准即可，而若检测到该测试曲线结果是不处于该阈值界限范围的，则进一步先针对该测试曲线结果执行整体的偏移得到偏移后的测试曲线结果，之后在检测到该偏移后的测试曲线结果是处于该阈值界限范围时，自动的触发针对该耳机测试工站进行校准。

相比于传统针对耳机测试工站进行校准的方式，本发明通过耳机测试在运行过程中针对耳机产品进行测试的测试曲线结果来进行分析判断之后，自动的触发针对该耳机测试工站的校准，如此，能够及时准确的自动触发针对耳机测试工站进行校准，从而节省了传统校准方式耗费的时间和人力资源。

此外，本发明还通过测试曲线结果的偏移幅度来直接触发针对该测试曲线结果的自动校准，从而能够减少针对耳机测试工站整体的校准次数，从而有效地提升耳机产品的生产效率。

附图说明

图1为本发明耳机测试工站的校准方法一实施例的流程示意图；

图2为本发明耳机测试工站的校准方法一实施涉及的具体应用流程示意图；

图3为本发明耳机测试工站的校准方法一实施例涉及的一应用场景示意图；

图4为本发明耳机测试工站的校准方法一实施例涉及的另一应用场景示意图；

图5为本发明耳机测试工站的校准装置较佳实施例的功能模块示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明耳机测试工站的校准方法第一实施例的流程示意图。

本发明实施例提供了耳机测试工站的校准方法的实施例，需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

在本实施例中，本发明提供的耳机测试工站的校准方法包括：

步骤S10：获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

在本实施例中，耳机测试工站在持续运行以连续的针对多个耳机产品进行功能测试的过程中，在针对当前的某个耳机产品进行功能测试时，获取测试得到的该耳机产品的测试曲线结果，并立即检测该测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围。

需要说明的是，在本实施例中，预设的阈值界限范围具体可以是由耳机产品的开发设计人员基于市场客户的需要而自主定义的该耳机产品的测试曲线范围的最大误差范围。应当理解的是，基于实际应用的不同设计需要，在不同可行的实施方式当中，耳机产品的设计开发人员当然可以基于不同时长客户的需要来具体设定不同大小的阈值界限范围，因此，本发明耳机测试工站的校准方法并不针对该阈值界限范围的具体大小进行限定。

示例性地，在如图2所示的具体应用流程中，耳机测试工站预先将耳机产品的设计开发人员所自主定义的阈值界限范围存储在本地(图示的“阈值存储”)，然后，在耳机测试工站针对耳机产品进行诸如麦克风和/或者扬声器各自对应的功能测试之后，立即获取得到该耳机产品经过耳机测试工站进行功能测试得到的测试曲线结果，该测试曲线结果具体可以为如图3和图4各自所示应用场景当中的测试曲线S1。再然后，耳机测试工站即针对该测试曲线结果进行检测以确定该测试曲线结果是否是处于预先存储的阈值界限范围之内。

步骤S20：若检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

在本实施例中，在耳机测试工站针对获取到的对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果是否处于阈值界限范围过程中，若耳机测试工站检测到该测试曲线结果是处于该阈值界限范围之内时，则耳机测试工站进一步确定该测试曲线结果相对于预设理论曲线结果之间的偏移幅度，并根据该偏移幅度的大小直接触发针对该测试曲线结果的自动校准。

此外，需要说明的是，上述的预设理论曲线结果具体可以为耳机测试工站预先针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果。在本实施例以及后文所阐述其它各实施例中，本发明耳机测试工站的校准方法还可以包括：

步骤A：调用所述耳机测试工站针对预设的耳机标样产品进行功能测试，并将针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果进行存储。

在本实施例中，耳机测试工站在针对上述需要测试麦克风和/或者扬声器功能的耳机产品进行测试之前，预先还被调用以针对由耳机产品的设计开发人员自主选定的耳机标样产品来进行该麦克风和/或者扬声器的功能测试，从而将针对该耳机标样产品进行测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果存储在本地(如图2所示应用流程中的“理论曲线数据本地存储”，预设理论曲线结果具体可以为如图3和图4各自所示应用场景当中的理论曲线S2)。

如此，在后续耳机测试工作针对耳机产品进行功能测试的过程中，即可参照本地存储的预设理论曲线结果确定测试曲线结果的偏移幅度，以进一步根据该偏移幅度确定触发针对测试曲线结果本身的自动校准。

步骤S30：若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

在本实施例中，在耳机测试工站针对获取到的对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果是否处于阈值界限范围过程中，若耳机测试工站检测到该测试曲线结果不处于该阈值界限范围之内时，则耳机测试工站将进一步先针对该测试曲线结果执行整体的偏移以得到偏移后的测试曲线结果，之后，再进一步检测该偏移后的测试曲线结果是否是处于该阈值界限范围，从而在检测到该偏移后的测试曲线结果是处于该阈值界限范围之内时，即确定执行偏移前该测试曲线结果超过该阈值界限范围是由于耳机测试工站出现误差而引起的，从而立即自动的触发针对耳机测试工站进行校准。

进一步地，在一些可选地实施例中，在上述步骤S30中“针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果”的步骤之前，本发明耳机测试工站的校准方法，还可以包括：

步骤B：获取与所述测试曲线结果邻近的多组测试曲线结果，并确定所述多组测试曲线结果是否执行过偏移；

在本实施例中，耳机测试工站在检测到获取到的测试曲线结果不处于上述的阈值界限范围，从而针对该测试曲线结果进行偏移以得到偏移后的测试曲线结果之前，还进一步获取该耳机测试工站在针对当前耳机产品进行功能测试之前和/或者之后，针对其它的耳机产品进行相同的功能测试所得到的多组测试曲线结果，并进一步确定该多组测试曲线结果是否是执行过偏移。

示例性地，如图2所示的应用流程，在耳机测试工站检测到针对当前耳机产品进行麦克风和/或者扬声器对应功能测试得到的测试曲线结果，不处于上述的阈值界限范围(图示的Limit范围)之后，进一步获取在此之前或者之后针对其它耳机产品进行相同的功能测试得到的邻近的多组测试曲线结果，然后通过读取本地日志文件中与得到该每一组测试曲线结果的测试过程对应的日志数据，来检测确定该每一组测试曲线结果是否是基于执行了整体偏移之后才得到的，即确定该多组测试曲线结果是否执行过偏移。

步骤C：在确定所述多组测试曲线结果均执行过偏移时，执行所述针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果的步骤。

在本实施例中，若耳机测试工站通过检测确定获取到的与当前耳机产品的测试结果曲线相邻近的多组测试曲线结果均是执行过偏移的，则耳机测试工站才开始执行上述进一步先针对当前耳机产品的测试结果曲线测试曲线结果执行偏移以得到偏移后的测试曲线结果，之后再进一步检测该偏移后的测试曲线结果是否是处于该阈值界限范围，从而在检测到该偏移后的测试曲线结果是处于该阈值界限范围之内时，立即自动的触发针对耳机测试工站进行校准的过程。

在本实施例中，通过耳机测试工站在持续运行以连续的针对多个耳机产品进行功能测试的过程中，在针对当前的某个耳机产品进行功能测试时，获取测试得到的该耳机产品的测试曲线结果，并立即检测该测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；在耳机测试工站针对获取到的对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果是否处于阈值界限范围过程中，若耳机测试工站检测到该测试曲线结果是处于该阈值界限范围之内时，则耳机测试工站进一步确定该测试曲线结果相对于预设理论曲线结果之间的偏移幅度，并根据该偏移幅度的大小直接触发针对该测试曲线结果的自动校准；或者，若耳机测试工站检测到该测试曲线结果不处于该阈值界限范围之内时，则耳机测试工站将进一步先针对该测试曲线结果执行整体的偏移以得到偏移后的测试曲线结果，之后，再进一步检测该偏移后的测试曲线结果是否是处于该阈值界限范围，从而在检测到该偏移后的测试曲线结果是处于该阈值界限范围之内时，即确定执行偏移前该测试曲线结果超过该阈值界限范围是由于耳机测试工站出现误差而引起的，从而立即自动的触发针对耳机测试工站进行校准。

如此，相比于传统针对耳机测试工站进行校准的方式，本发明通过耳机测试在运行过程中针对耳机产品进行测试的测试曲线结果来进行分析判断之后，自动的触发针对该耳机测试工站的校准，如此，能够及时准确的自动触发针对耳机测试工站进行校准，从而节省了传统校准方式耗费的时间和人力资源。此外，本发明还通过测试曲线结果的偏移幅度来直接触发针对该测试曲线结果的自动校准，从而能够减少针对耳机测试工站整体的校准次数，从而有效地提升耳机产品的生产效率。

进一步地，基于上述第一实施例，提出本发明耳机测试工站的校准方法的第二实施例。

在本实施例中，在上述步骤S30：若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准之后，本发明耳机测试工站的校准方法，还可以包括：

步骤S40：获取进行校准后的耳机测试工站针对所述耳机产品进行功能测试的新的测试曲线结果，并检测所述新的测试曲线结果是否处于所述阈值界限范围；

在本实施例中，耳机测试工站在经过上述过程自动触发进行校准之后，进一步再针对当前进行功能测试的耳机产品重新进行一次相同的功能测试以得到一个新的测试曲线结果，之后，耳机测试工作即获取到该新的测试曲线结果并进一步的再次检测该新的测试曲线结果是否是处于上述的阈值界限范围。

示例性地，如图2所示的应用流程，在自动的触发针对耳机测试工站进行校准之后，进一步通过进行校准之后的耳机测试工站来重新针对当前的耳机产品的麦克风和/或者扬声器功能重新进行测试以得到新的测试曲线结果，之后，进一步检测该新的测试曲线结果是否是处于上述的阈值界限范围，即图2所示的判断测试结果是否仍超出limit范围。

步骤S50，若检测到所述新的测试曲线结果不处于所述阈值界限范围，则确定所述耳机产品为不良品并输出对应提示。

在本实施例中，若耳机测试工站进一步检测到在进行校准后重新针对耳机产品进行功能测试得到的新的曲线测试结果仍然不处于阈值界限范围，则，耳机测试工站继续按照上述步骤S30和步骤B以及步骤C所阐述的过程再自动触发针对耳机测试工站进行校准，并重复执行步骤S40的过程，直到循环检测到新的曲线测试结果不处于阈值界限范围的次数达到预设次数时，确定当前正在进行功能测试的耳机产品是不良品并相应地针对该耳机产品为不良品的测试结果，面向测试工作人员输出对应提示以警示该测试工作人员对不良品进行淘汰或者返厂等处理。

示例性地，如图2所示的应用流程，在重复使用经过校准后的耳机测试工站针对耳机产品重新进行功能测试得到的新的测试曲线结果，连续3次均不处于阈值界限范围(仍然超过了limit范围)时，即可将该耳机产品判定为不良品从而对该耳机产品为不良品进行告警。

在另一方面，若耳机测试工站进一步检测到在进行校准后重新针对耳机产品进行功能测试得到的新的曲线测试结果是处于上述的阈值界限范围时，耳机测试工站将确定经过校准后重新对耳机产品进行功能测试得到的新的测试曲线结果即为该耳机产品的最终测试结果，从而确认当前的该耳机产品通过测试并进一步开始对新的耳机产品进行功能测试。

在本实施例中，耳机测试工站在经过上述过程自动触发进行校准之后，进一步再针对当前进行功能测试的耳机产品重新进行一次相同的功能测试以得到一个新的测试曲线结果，之后，耳机测试工作即获取到该新的测试曲线结果并进一步的再次检测该新的测试曲线结果是否是处于上述的阈值界限范围。若耳机测试工站进一步检测到在进行校准后重新针对耳机产品进行功能测试得到的新的曲线测试结果仍然不处于阈值界限范围，则，耳机测试工站继续按照上述步骤S30和步骤B以及步骤C所阐述的过程再自动触发针对耳机测试工站进行校准，并重复执行步骤S40的过程，直到循环检测到新的曲线测试结果不处于阈值界限范围的次数达到预设次数时，确定当前正在进行功能测试的耳机产品是不良品并相应地针对该耳机产品为不良品的测试结果，面向测试工作人员输出对应提示以警示该测试工作人员对不良品进行淘汰或者返厂等处理。如此，能够确保针对耳机产品进行功能测试的准确性。

进一步地，基于上述第一实施例和/或者第二实施例，提出本发明耳机测试工站的校准方法的第三实施例。

在本实施例中，本发明耳机测试工站的校准方法，还可以包括：

步骤D，计算所述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积以确定所述测试曲线结果的偏移幅度。

在本实施例中，耳机测试工站在通过确定测试曲线结果的偏移幅度来触发针对该测试曲线结果自身进行校准的过程中，通过计算该测试曲线结果与上述的预设理论曲线结果之间的区域面积来确定该测试曲线结果的偏移幅度。

示例性地，如图2所示的应用流程，在耳机测试工站检测到针对当前耳机产品进行麦克风和/或者扬声器的功能测试而得到的测试曲线结果，不处于上述的阈值界限范围时，即图示的超出了limit范围，耳机测试工站进一步将该测试曲线结果与本地存储的预设理论曲线结果进行对比以计算该测试曲线结果与该预设理论曲线结果之间的区域面积，从而基于该区域面积的大小确定该测试曲线结果相对于预设理论曲线结果之间的偏移幅度。

需要说明的是，在本实施例中，耳机测试工站具体可以采用差分计算方式来计算得到上述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积，该区域面积具体可以为图4所示场景中曲线S1’与曲线S2之间的区域面积。此外，在本实施例中，耳机测试工站可预先在本地维护一张记载上述区域面积与偏移幅度之间映射关系的表格，从而，该耳机测试工站即可以通过该表格确定计算得出的测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积，所映射的该测试曲线结果相对于该预设理论曲线结果的偏移幅度。

进一步地，基于此，上述的步骤S20中，“根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准”的步骤，可以包括：

步骤S201：检测所述偏移幅度是否超过预设的偏移幅度阈值；

步骤S202：若检测到所述偏移幅度超过所述偏移幅度阈值，则触发针对所述测试曲线结果进行校准。

需要说明的是，在本实施例中，预设的偏移幅度阈值具体可以由上述耳机产品的设计开发人员来自主进行设定，并存储在耳机测试工站本地的测试曲线结果相对于该预设理论曲线结果的最大偏移幅度。应当理解的是，基于实际应用的不同设计需要，在不同可行的实施方式当中，耳机产品的设计开发人员当然可以根据实际需要来自主设定偏移幅度阈值具体为不同的大小，本发明耳机测试工站的校准方法，并不针对该偏移幅度阈值的具体大小进行限定。

在本实施例中，如图2所示的应用流程，在耳机测试工站通过将测试曲线结果与本地存储的理论曲线结果进行比对从而计算出该测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积，并确定出该区域面积所映射的测试曲线结果相对于该预设理论曲线结果的偏移幅度a之后，进一步检测该偏移幅度a是否大于或者等于本地存储的偏移幅度阈值，并在检测到该偏移幅度a是大于或者等于该偏移幅度阈值从而超过了该偏移幅度阈值时，自动触发针对该测试曲线结果进行校准。

此外，在另一种可行的实施例中，若耳机测试工站检测到上述测试曲线结果对应的偏移幅度并没有超过偏移幅度阈值，则耳机测试工站即确定该测试曲线结果无需进行偏移补偿。

进一步地，上述步骤S20和步骤50中，“触发针对所述测试曲线结果进行校准”的步骤，具体可以包括：

根据预设理论曲线结果针对所述测试曲线结果执行偏移直到所述预设理论曲线结果与执行偏移后的测试曲线结果之间的重合面积，达到预设的重合面积最小条件。

在本实施例中，如图2所示的流程和如图4所示的应用场景，耳机测试工站在触发针对测试曲线结果进行校准之后，通过调用对应软件应用来针对该测试曲线结果执行整体的偏移，即，将该测试曲线结果整体偏移到本地所存储的预设理论曲线结果所在的位置，直至该测试曲线结果与该预设理论曲线结果之间的重合面积最小从而到预设的重合面积最小条件。

在本实施例中，在耳机测试工站针对获取到的对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果是否处于阈值界限范围过程中，若耳机测试工站检测到该测试曲线结果是处于该阈值界限范围之内时，则耳机测试工站进一步确定该测试曲线结果相对于预设理论曲线结果之间的偏移幅度，并根据该偏移幅度的大小直接触发针对该测试曲线结果的自动校准，即，将该测试曲线结果整体偏移到本地所存储的预设理论曲线结果所在的位置，直至该测试曲线结果与该预设理论曲线结果之间的重合面积最小从而到预设的重合面积最小条件。

如此，相对于传统由人工基于经验判断来频繁校准工站和/或者测试曲线结果的方式，本发明能够减少针对耳机测试工站整体的校准次数，从而有效地提升耳机产品的生产效率。

此外，本发明实施例还提出一种耳机测试工站的校准装置，请参照图5，本发明耳机测试工站的校准装置包括：

检测模块10，用于获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

第一校准模块20，用于若所述检测模块检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

第二校准模块30，用于若所述检测模块检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

可选地，本发明耳机测试工站的校准装置，还包括：

确定模块，用于获取与所述测试曲线结果邻近的多组测试曲线结果，并确定所述多组测试曲线结果是否执行过偏移；

偏移模块，用于在确定所述多组测试曲线结果均执行过偏移时，执行所述针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果的步骤。

可选地，本发明耳机测试工站的校准装置的检测模块10，还用于获取进行校准后的耳机测试工站针对所述耳机产品进行功能测试的新的测试曲线结果，并检测所述新的测试曲线结果是否处于所述阈值界限范围；以及，若检测到所述新的测试曲线结果不处于所述阈值界限范围，则确定所述耳机产品为不良品并输出对应提示。

可选地，本发明耳机测试工站的校准装置，还包括：

计算模块，用于计算所述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积以确定所述测试曲线结果的偏移幅度。

可选地，第一校准模块20，包括：

检测单元，用于检测所述偏移幅度是否超过预设的偏移幅度阈值；

第一校准单元，用于若检测到所述偏移幅度超过所述偏移幅度阈值，则触发针对所述测试曲线结果进行校准。

可选地，第一校准单元，还用于根据预设理论曲线结果针对所述测试曲线结果执行偏移直到所述预设理论曲线结果与执行偏移后的测试曲线结果之间的重合面积，达到预设的重合面积最小条件。

可选地，本发明耳机测试工站的校准装置，还包括：

理论曲线确定模块，用于调用所述耳机测试工站针对预设的耳机标样产品进行功能测试，并将针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果进行存储。

本发明耳机测试工站的校准装置的具体实施方式的拓展内容与上述耳机测试工站的校准方法各实施例基本相同，在此不做赘述。

此外，本发明实施例还提出一种耳机测试工站，本发明耳机测试工站包括结构壳体、通信模块、主控模块(例如微控制单元MCU)、扬声器、麦克风、存储器等。主控模块可包含微处理器、音频解码单元、电源及电源管理单元、系统所需的传感器和其他有源或无源器件等(可以根据实际功能进行更换、删减或增加)，实现无线音频的接收与播放功能。

本发明耳机测试工站的存储器中可以存储有耳机测试工站的校准程序，该耳机测试工站的校准程序可以被耳机测试工站中的微处理器调用并执行以下操作：

获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

若检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

可选地，所述方法还包括：

获取与所述测试曲线结果邻近的多组测试曲线结果，并确定所述多组测试曲线结果是否执行过偏移；

在确定所述多组测试曲线结果均执行过偏移时，执行所述针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果的步骤。

可选地，在所述触发针对所述耳机测试工站进行校准的步骤之后，所述方法还包括：

获取进行校准后的耳机测试工站针对所述耳机产品进行功能测试的新的测试曲线结果，并检测所述新的测试曲线结果是否处于所述阈值界限范围；

若检测到所述新的测试曲线结果不处于所述阈值界限范围，则确定所述耳机产品为不良品并输出对应提示。

可选地，所述方法还包括：

计算所述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积以确定所述测试曲线结果的偏移幅度。

可选地，所述根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

检测所述偏移幅度是否超过预设的偏移幅度阈值；

若检测到所述偏移幅度超过所述偏移幅度阈值，则触发针对所述测试曲线结果进行校准。

可选地，所述触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

根据预设理论曲线结果针对所述测试曲线结果执行偏移直到所述预设理论曲线结果与执行偏移后的测试曲线结果之间的重合面积，达到预设的重合面积最小条件。

可选地，所述方法还包括：

调用所述耳机测试工站针对预设的耳机标样产品进行功能测试，并将针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果进行存储。

此外，本发明还提出一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有耳机测试工站的校准程序，该耳机测试工站的校准程序被处理器执行时实现如上所述本发明耳机测试工站的校准方法的步骤。

本发明耳机测试工站和计算机可读存储介质的各实施例，均可参照本发明耳机测试工站的校准方法各个实施例，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述耳机测试工站的校准方法包括：

获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

若检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

2.如权利要求1所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取与所述测试曲线结果邻近的多组测试曲线结果，并确定所述多组测试曲线结果是否执行过偏移；

在确定所述多组测试曲线结果均执行过偏移时，执行所述针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果的步骤。

3.如权利要求1所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，在所述触发针对所述耳机测试工站进行校准的步骤之后，所述方法还包括：

获取进行校准后的耳机测试工站针对所述耳机产品进行功能测试的新的测试曲线结果，并检测所述新的测试曲线结果是否处于所述阈值界限范围；

若检测到所述新的测试曲线结果不处于所述阈值界限范围，则确定所述耳机产品为不良品并输出对应提示。

4.如权利要求1所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

计算所述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积以确定所述测试曲线结果的偏移幅度。

5.如权利要求4所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

检测所述偏移幅度是否超过预设的偏移幅度阈值；

若检测到所述偏移幅度超过所述偏移幅度阈值，则触发针对所述测试曲线结果进行校准。

6.如权利要求5所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

根据预设理论曲线结果针对所述测试曲线结果执行偏移直到所述预设理论曲线结果与执行偏移后的测试曲线结果之间的重合面积，达到预设的重合面积最小条件。

7.如权利要求1至6任一项所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

调用所述耳机测试工站针对预设的耳机标样产品进行功能测试，并将针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果进行存储。

8.一种耳机测试工站的校准装置，其特征在于，所述耳机测试工站的校准装置包括：

检测模块，用于获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

第一校准模块，用于若所述检测模块检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

第二校准模块，用于若所述检测模块检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

9.一种耳机测试工站，其特征在于，所述耳机测试工站包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的耳机测试工站的校准程序，所述耳机测试工站的校准程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有耳机测试工站的校准程序，所述耳机测试工站的校准程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。

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