CN115103289A - 耳机老化监测方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 490
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 117
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 327
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 56
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000011664 signaling Effects 0.000 claims description 62
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 26
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 13
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 82
- 230000009131 signaling function Effects 0.000 description 20
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 9
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
- H04R5/00—Stereophonic arrangements
- H04R5/033—Headphones for stereophonic communication
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
- H04R2420/00—Details of connection covered by H04R, not provided for in its groups
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- Acoustics & Sound (AREA)
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Abstract
本申请提供一种耳机老化监测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括获取耳机的老化测试监控信号；根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。在获取到老化测试监控信号后，将其与标准测试状态进行比较，以确定耳机的当前老化情况，从而确定耳机的当前老化程度，最后根据老化同步补偿量的数值大小，确定耳机当前是否通过老化测试，从而便于获取对耳机的各项老化测试数据，进而便于降低了对耳机在不同使用环境下的老化测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及耳机技术领域，特别是涉及一种耳机老化监测方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
随着移动电子设备的快速发展，TWS(TureWireless Stereo)真无线立体声耳机凭借其便捷性与其媲美有线耳机的出色性能，越来越受到消费者的喜爱。现有TWS耳机量产后，在最后的生产工序中，一般会对TWS耳机电池进行老化测试，以确保产品在进入市场后的可靠性。
然而，传统的TWS耳机无法进行不同过场景下的性能压测，且目前老化测试不能进行全自动测试，需要人工手动模拟用户实现功能的压测，测试异常复现难度大，压测过程中人员的作业强度高，投入人力成本大，从而导致耳机的生产成本过高。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种降低老化测试成本的耳机老化监测方法、装置、计算机设备和存储介质。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
一种耳机老化监测方法，所述方法包括：
获取耳机的老化测试监控信号；
根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；
将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；
根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
在其中一个实施例中，所述老化监测状态值包括射频非信令测试值、射频非信令配对测试值、存储器读写测试值以及通话通路测试值中的至少一种。
在其中一个实施例中，所述将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量，包括：求取所述射频非信令测试值与第一预设状态值的同步差分，得到第一老化补偿量；所述根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，包括：检测所述第一老化补偿量是否等于0；当所述第一老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送射频非信令老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令数据上传。
在其中一个实施例中，所述检测所述第一老化补偿量是否等于0，之后还包括：当所述第一老化补偿量等于0时，求取所述射频非信令配对测试值与第二预设状态值的同步差分，得到第二老化补偿量；检测所述第二老化补偿量是否等于0；当所述第二老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送射频非信令配对老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令配对数据上传。
在其中一个实施例中，所述检测所述第二老化补偿量是否等于0，之后还包括：当所述第二老化补偿量等于0时，求取所述存储器读写测试值与第三预设状态值的同步差分，得到第三老化补偿量；检测所述第三老化补偿量是否等于0；当所述第三老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送存储器读写老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中存储器读写数据上传。
在其中一个实施例中，所述检测所述第三老化补偿量是否等于0，之后还包括：当所述第三老化补偿量等于0时，求取所述通话通路测试值与第四预设状态值的同步差分，得到第四老化补偿量；检测所述第四老化补偿量是否等于0；当所述第四老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送通话通路老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中通话通路数据上传。
在其中一个实施例中，所述根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值，之前还包括：根据所述老化测试监控信号获取老化测试循环次数；检测所述老化测试循环次数是否大于预设循环次数；当所述老化测试循环次数大于所述预设循环次数时，向所述耳机测试系统发送过站信号。
一种耳机老化监测装置，所述装置包括：
老化采集模块，用于获取耳机的老化测试监控信号；
测试转化模块，用于根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；
老化同步模块，用于将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；
监测上传模块，用于根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
获取耳机的老化测试监控信号；
根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；
将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；
根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取耳机的老化测试监控信号；
根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；
将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；
根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
与现有技术相比，本发明至少具有以下优点：
在获取到老化测试监控信号后，将其与标准测试状态进行比较，以确定耳机的当前老化情况，从而确定耳机的当前老化程度，最后根据老化同步补偿量的数值大小，确定耳机当前是否通过老化测试，从而便于获取对耳机的各项老化测试数据，进而便于降低了对耳机在不同使用环境下的老化测试成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为一实施例中耳机老化监测方法的流程图；
图2为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
本发明涉及一种耳机老化监测方法。在其中一个实施例中，所述耳机老化监测方法包括获取耳机的老化测试监控信号；根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。在获取到老化测试监控信号后，将其与标准测试状态进行比较，以确定耳机的当前老化情况，从而确定耳机的当前老化程度，最后根据老化同步补偿量的数值大小，确定耳机当前是否通过老化测试，从而便于获取对耳机的各项老化测试数据，进而便于降低了对耳机在不同使用环境下的老化测试成本。
请参阅图1，其为本发明一实施例的耳机老化监测方法的流程图。所述耳机老化监测方法包括以下步骤的部分或全部。
S100：获取耳机的老化测试监控信号。
在本实施例中，所述老化测试监控信号为对所述耳机在不同使用环境下的老化测试信号，即在不同使用环境下，对所述耳机的各种压测所产生的测试信号，所述老化测试监控信号用于体现所述耳机在长时间使用后的各项功能使用情况，也是对所述耳机在老化过程中的各项使用功能的具体运行情况的测试，便于确定所述耳机在不同使用环境下的老化程度，从而便于确定所述耳机的各项使用功能的老化状况。
S200：根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值。
在本实施例中，所述老化测试监控信号为对所述耳机在不同使用环境下的老化测试信号，即在不同使用环境下，对所述耳机的各种压测所产生的测试信号，所述老化测试监控信号用于体现所述耳机在长时间使用后的各项功能使用情况，也是对所述耳机在老化过程中的各项使用功能的具体运行情况的测试。所述老化监测状态值与所述老化测试监控信号中的功能测试对应，即所述耳机的功能老化测试与所述老化监测状态值一一对应，便于将所述老化测试监控信号中的老化测试采样信号转化为对应的老化监测状态值，从而便于对所述耳机的各种功能的老化状态进行数字化，进而便于后续对所述耳机的各种功能的老化情况进行比较。
S300：将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量。
在本实施例中，所述老化监测状态值与所述老化测试监控信号中的功能测试对应，即所述耳机的功能老化测试与所述老化监测状态值一一对应，也即所述老化监测状态值为所述耳机的当前使用功能的老化测试结果。所述预设状态值为所述耳机的标准老化测试结果，即所述耳机的各使用功能的老化测试的参考测试结果。将所述老化监测状态值与所述预设状态值进行同步处理，是对所述耳机的当前使用功能的老化情况进行信号同步测试，便于确定所述耳机的当前运行的功能是否正常运行，从而便于确定所述耳机的当前运行功能与正常运行时的差异程度，进而便于确定所述耳机的老化测试差异情况，即所述老化同步补偿量。
S400：根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
在本实施例中，所述老化同步补偿量用于体现所述耳机的当前使用功能的老化的信号同步情况，即所述老化同步补偿量确定所述耳机的当前运行的功能是否正常运行，也即所述老化同步补偿量确定所述耳机的当前运行功能与正常运行时的差异程度。在获取到所述耳机的运行功能的老化同步差异情况后，便于确定所述耳机在各种使用情况下的具体功能的老化程度，从而便于确定所述耳机的各项功能的老化情况，进而便于确定所述耳机的当前老化程度是否为正常情况，即确定所述耳机的当前老化程度是否在允许的老化范围内。这样，通过对所述老化同步补偿量的量化，使得所述耳机的老化测试难度有效降低，从而使得所述耳机的老化测试成本降低。
在上述实施例中，在获取到老化测试监控信号后，将其与标准测试状态进行比较，以确定耳机的当前老化情况，从而确定耳机的当前老化程度，最后根据老化同步补偿量的数值大小，确定耳机当前是否通过老化测试，从而便于获取对耳机的各项老化测试数据，进而便于降低了对耳机在不同使用环境下的老化测试成本。
在其中一个实施例中，所述老化监测状态值包括射频非信令测试值、射频非信令配对测试值、存储器读写测试值以及通话通路测试值中的至少一种。在本实施例中，所述射频非信令测试值对应于所述耳机的射频非信令功能的老化测试，所述射频非信令测试值用于体现所述耳机的射频非信令功能的老化程度；所述射频非信令配对测试值对应于所述耳机的射频非信令配对功能的老化测试，所述射频非信令配对测试值用于体现所述耳机的射频非信令配对功能的老化程度；所述存储器读写测试值对应于所述耳机的存储器读写功能的老化测试，所述存储器读写测试值用于体现所述耳机的存储器读写功能的老化程度；所述通话通路测试值对应于所述耳机的语音通话通路功能的老化测试，所述通话通路测试值用于体现所述耳机的语音通话通路功能的老化程度。在另一个实施例中，所述老化监测状态值属于所述老化测试监控信号中的特定位置的数值，例如，所述老化监测状态值为所述老化测试监控信号的特定标识位上的数字；又如，所述老化监测状态值为所述老化测试监控信号中信号指定对应的电压，具体地，所述射频非信令测试值为射频模块的工作电压，所述射频非信令配对测试值为射频模块的GPIO引脚电平，所述存储器读写测试值为存储器指定扇区位置24字节的产品信息对应的电平，所述通话通路测试值为耳机音频处理芯片IO引脚电平。
进一步地，所述将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量，包括：求取所述射频非信令测试值与第一预设状态值的同步差分，得到第一老化补偿量；所述根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，包括：检测所述第一老化补偿量是否等于0；当所述第一老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送射频非信令老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令数据上传。在本实施例中，所述射频非信令测试值对应于所述耳机的射频非信令功能的老化测试，所述射频非信令测试值用于体现所述耳机的射频非信令功能的老化程度。所述第一预设状态值为所述耳机在射频非信令功能下的正常老化程度，即所述第一预设状态值对应于所述耳机在射频非信令功能下的标准老化测试，也即所述第一预设状态值为所述耳机在老化过程中的标准老化情况。求取所述射频非信令测试值与所述第一预设状态值的同步差分，便于确定所述耳机的当前射频非信令功能的老化情况，从而便于确定所述耳机的射频非信令功能的当前老化与标准老化之间的差异程度，即所述第一老化补偿量。这样，在获取到所述耳机的射频非信令功能的老化差异情况后，通过检测所述第一老化补偿量是否等于0，是检测所述耳机的射频非信令功能的老化情况是否属于正常老化情况。所述第一老化补偿量不等于0，表明了所述耳机的射频非信令功能的老化性能较差，即表明了所述耳机的射频非信令功能的老化测试不合格，也即表明了所述耳机存在射频非信令功能的老化不良情况，此时向所述耳机测试系统发送射频非信令老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令数据上传，即将所述耳机的射频非信令功能的老化测试不良数据上传，以便于具体分析出所述耳机的射频非信令功能出现老化不良的原因，从而也便于对所述耳机进行压测性能检测，以确定所述耳机的合格情况。
更进一步地，所述检测所述第一老化补偿量是否等于0，之后还包括：当所述第一老化补偿量等于0时，求取所述射频非信令配对测试值与第二预设状态值的同步差分，得到第二老化补偿量；检测所述第二老化补偿量是否等于0；当所述第二老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送射频非信令配对老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令配对数据上传。在本实施例中，所述第一老化补偿量等于0，表明了所述耳机的射频非信令功能的老化性能良好，即表明了所述耳机的射频非信令功能的老化测试合格，也即表明了所述耳机存在射频非信令功能的老化优良情况。所述射频非信令配对测试值对应于所述耳机的射频非信令配对功能的老化测试，所述射频非信令配对测试值用于体现所述耳机的射频非信令配对功能的老化程度。所述第二预设状态值为所述耳机在射频非信令配对功能下的正常老化程度，即所述第二预设状态值对应于所述耳机在射频非信令配对功能下的标准老化测试，也即所述第二预设状态值为所述耳机在老化过程中的标准老化情况。求取所述射频非信令配对测试值与所述第二预设状态值的同步差分，便于确定所述耳机的当前射频非信令配对功能的老化情况，从而便于确定所述耳机的射频非信令配对功能的当前老化与标准老化之间的差异程度，即所述第二老化补偿量。这样，在获取到所述耳机的射频非信令配对功能的老化差异情况后，通过检测所述第二老化补偿量是否等于0，是检测所述耳机的射频非信令配对功能的老化情况是否属于正常老化情况。所述第二老化补偿量不等于0，表明了所述耳机的射频非信令配对功能的老化性能较差，即表明了所述耳机的射频非信令配对功能的老化测试不合格，也即表明了所述耳机存在射频非信令配对功能的老化不良情况，此时向所述耳机测试系统发送射频非信令配对老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令配对数据上传，即将所述耳机的射频非信令配对功能的老化测试不良数据上传，以便于具体分析出所述耳机的射频非信令配对功能出现老化不良的原因，从而也便于对所述耳机进行压测性能检测，以确定所述耳机的合格情况。
再进一步地，所述检测所述第二老化补偿量是否等于0，之后还包括：当所述第二老化补偿量等于0时，求取所述存储器读写测试值与第三预设状态值的同步差分，得到第三老化补偿量；检测所述第三老化补偿量是否等于0；当所述第三老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送存储器读写老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中存储器读写数据上传。在本实施例中，所述第二老化补偿量等于0，表明了所述耳机的射频非信令配对功能的老化性能良好，即表明了所述耳机的射频非信令配对功能的老化测试合格，也即表明了所述耳机存在射频非信令配对功能的老化优良情况。所述存储器读写测试值对应于所述耳机的存储器读写功能的老化测试，所述存储器读写测试值用于体现所述耳机的存储器读写功能的老化程度。所述第三预设状态值为所述耳机在存储器读写功能下的正常老化程度，即所述第三预设状态值对应于所述耳机在存储器读写功能下的标准老化测试，也即所述第三预设状态值为所述耳机在老化过程中的标准老化情况。求取所述存储器读写测试值与所述第三预设状态值的同步差分，便于确定所述耳机的当前存储器读写功能的老化情况，从而便于确定所述耳机的存储器读写功能的当前老化与标准老化之间的差异程度，即所述第三老化补偿量。这样，在获取到所述耳机的存储器读写功能的老化差异情况后，通过检测所述第三老化补偿量是否等于0，是检测所述耳机的存储器读写功能的老化情况是否属于正常老化情况。所述第三老化补偿量不等于0，表明了所述耳机的存储器读写功能的老化性能较差，即表明了所述耳机的存储器读写功能的老化测试不合格，也即表明了所述耳机存在存储器读写功能的老化不良情况，此时向所述耳机测试系统发送存储器读写老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中存储器读写数据上传，即将所述耳机的存储器读写功能的老化测试不良数据上传，以便于具体分析出所述耳机的存储器读写功能出现老化不良的原因，从而也便于对所述耳机进行压测性能检测，以确定所述耳机的合格情况。
又进一步地，所述检测所述第三老化补偿量是否等于0，之后还包括：当所述第三老化补偿量等于0时，求取所述通话通路测试值与第四预设状态值的同步差分，得到第四老化补偿量；检测所述第四老化补偿量是否等于0；当所述第四老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送通话通路老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中通话通路数据上传。在本实施例中，所述第三老化补偿量等于0，表明了所述耳机的语音通话通路功能的老化性能良好，即表明了所述耳机的语音通话通路功能的老化测试合格，也即表明了所述耳机存在语音通话通路功能的老化优良情况。所述通话通路测试值对应于所述耳机的语音通话通路功能的老化测试，所述通话通路测试值用于体现所述耳机的语音通话通路功能的老化程度。所述第四预设状态值为所述耳机在语音通话通路功能下的正常老化程度，即所述第四预设状态值对应于所述耳机在语音通话通路功能下的标准老化测试，也即所述第四预设状态值为所述耳机在老化过程中的标准老化情况。求取所述通话通路测试值与所述第四预设状态值的同步差分，便于确定所述耳机的当前语音通话通路功能的老化情况，从而便于确定所述耳机的语音通话通路功能的当前老化与标准老化之间的差异程度，即所述第四老化补偿量。这样，在获取到所述耳机的语音通话通路功能的老化差异情况后，通过检测所述第四老化补偿量是否等于0，是检测所述耳机的语音通话通路功能的老化情况是否属于正常老化情况。所述第四老化补偿量不等于0，表明了所述耳机的语音通话通路功能的老化性能较差，即表明了所述耳机的语音通话通路功能的老化测试不合格，也即表明了所述耳机存在语音通话通路功能的老化不良情况，此时向所述耳机测试系统发送通话通路老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中语音通话通路数据上传，即将所述耳机的语音通话通路功能的老化测试不良数据上传，以便于具体分析出所述耳机的语音通话通路功能出现老化不良的原因，从而也便于对所述耳机进行压测性能检测，以确定所述耳机的合格情况。
在另一个实施例中，射频非信令测试、射频非信令配对测试、存储器读写测试以及通话通路测试的先后顺序可根据实际情况调整，其中，对射频非信令功能、射频非信令配对功能、存储器读写功能以及通话通路功能的老化测试是循环式的，便于对所述耳机的老化测试更加准确。
在其中一个实施例中，所述根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值，之前还包括：根据所述老化测试监控信号获取老化测试循环次数；检测所述老化测试循环次数是否大于预设循环次数；当所述老化测试循环次数大于所述预设循环次数时，向所述耳机测试系统发送过站信号。在本实施例中，在对所述耳机的射频非信令功能、射频非信令配对功能、存储器读写功能以及通话通路功能依次进行老化测试前，需要对所述耳机的老化循环次数进行确认，以便于确定所述耳机的老化时长，避免所述耳机因老化测试时间过长而误判耳机不合格的情况。所述老化测试循环次数为所述耳机的当前老化测试的循环数，所述预设循环次数为所述耳机的老化测试所允许的测试循环次数，即所述预设循环次数为所述耳机的老化测试的最大测试循环次数。所述老化测试循环次数大于所述预设循环次数，表明了所述耳机的老化测试次数达到了标准测试循环次数，此时所述耳机无需再进行老化测试，向所述耳机测试系统发送过站信号，以便于合格的耳机经过当前站点，而不需要再继续进行老化测试。其中，在进行每一次循环老化测试前，所述耳机的各项功能的老化测试属于正常情况。
在另一个实施例中，由于老化测试对耳机的功耗较大，部分耳机即使满电也存在不能完成指定次数的老化循环，甚至一次老化循环都完成不了，为了确保耳机能完成完整的老化循环，即达到预设循环次数，需要对耳机的电量进行实时监测，以便于在电量较低时进行及时充电，确保老化测试的循环次数。而且，为了不影响对老化测试的结果影响，在充电时，耳机暂停老化测试。
可以理解的，在所述耳机在站点上进行老化测试时，通常是将所述耳机放入老化测试治具中进行老化测试，一方面提高对所述耳机的测试稳定，另一方面可以实现对批量的耳机进行老化测试。
然而，由于所述化测试治具在长期的使用过程中，经常出现异物掉入化测试治具内，容易导致耳机无法准确安装于化测试治具内，从而容易导致对耳机的老化测试精准度下降。
为了提高对耳机的老化测试的精准性，所述检测所述老化测试循环次数是否大于预设循环次数，之后还包括以下步骤：
获取所述耳机的耳机老化容治图像；
根据所述耳机老化容治图像获取耳机前具距离；
检测所述耳机前具距离与预设距离是否匹配；
当所述耳机前具距离与所述预设距离不匹配时，向所述耳机测试系统发送耳机异位报警信号。
在本实施例中，所述耳机老化容治图像为所述耳机在所述老化测试治具上的摆放图像，即所述耳机老化容治图像为所述耳机放入所述老化测试治具的位置图像，具体地，所述耳机老化容治图像为所述耳机的听筒杆插在所述老化测试治具上的图像。所述耳机前具距离为所述耳机的前出声口与所述老化测试治具的顶部之间的间距，所述耳机前具距离用于确定所述耳机的听筒杆是否摆放正确。所述预设距离为所述耳机正确摆放于所述老化测试治具上时前出声口相对于所述老化测试治具的顶部位置，即所述预设距离对应于所述耳机放置于所述老化测试治具上测试时前出声口与所述老化测试治具的顶部的标准间距。所述耳机前具距离与所述预设距离不匹配，具体地，所述耳机前具距离大于所述预设距离，表明了所述耳机的前出声口与所述老化测试治具的顶部间距过大，即表明了所述耳机未正确摆放于所述老化测试治具内，也即所述老化测试治具内存在异物而将所述耳机顶起，此时所述耳机无法稳定放置于所述老化测试治具内，导致无法对所述耳机进行老化测试。向所述耳机测试系统发送耳机异位报警信号，以便于测试人员及时发现当前耳机的老化测试摆放情况，从而便于及时调整所述耳机的摆放位置，以提高所述耳机的老化测试的精准度。在另一个实施例中，所述耳机可以倾斜放置于所述老化测试治具内的，还可以是至少部分收容于所述老化测试治具内。
进一步地，所述检测所述耳机前具距离与预设距离是否匹配，之后还包括以下步骤：
当所述耳机前具距离与所述预设距离匹配时，获取所述耳机的弹针挤压力；
对所述弹针挤压力与预设挤压力进行压差处理，得到针压差分值；
检测所述针压差分值是否小于预设压差值；
当所述针压差分值小于所述预设压差值时，向所述耳机测试系统发送机治污附报警信号。
在本实施例中，所述耳机前具距离与所述预设距离匹配，表明了所述耳机的前出声口与所述老化测试治具的顶部间距正常，即表明了所述耳机正确摆放于所述老化测试治具内，也即所述老化测试治具内异物将所述耳机顶起的程度较低。由于存在部分厚度较薄的异物附着于所述化测试治具的老化测试弹针上，使得所述化测试治具的老化测试弹针的直径过大，容易导致老化测试弹针无法与耳机的电极柱接触，从而容易导致老化测试弹针的下压幅度减弱。此时获取所述耳机的弹针挤压力，便于获取所述老化测试弹针所受到的实时挤压力，所述预设挤压力为所述耳机正确放置于所述老化测试治具，且所述老化测试弹针无污染的情况下所受到的挤压力，即所述预设挤压力为所述耳机在进行老化测试时的标准挤压力。所述针压差分值小于所述预设压差值，表明了所述耳机正确放置于所述老化测试治具内，但所述老化测试弹针未与所述耳机的电极柱稳定接触，即表明了所述老化测试治具的老化测试弹针存在受到污染的情况，也即表明了所述老化测试治具的老化测试弹针因有污物而直径增大。这样，此时向所述耳机测试系统发送机治污附报警信号，以便于确定所述老化测试治具内的异物对老化测试弹针用影响，从而便于及时对所述老化测试治具进行清理，进而便于提高对所述耳机的老化测试的准确度。
上述各种预设变量均设置于数据库内，便于及时提取，且不同的预设变量放置于不同的存储单元内，即在不同的存储堆栈内。
在其中一个实施例中，本申请还提供一种耳机老化监测装置，其采用上述任一实施例中所述的耳机老化监测方法实现。在其中一个实施例中，所述耳机老化监测装置具有用于实现所述耳机老化监测方法各步骤对应的功能模块。所述耳机老化监测装置包括老化采集模块、测试转化模块、老化同步模块以及监测上传模块；所述老化采集模块用于获取耳机的老化测试监控信号；所述测试转化模块用于根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；所述老化同步模块用于将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；所述监测上传模块用于根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
在本实施例中，在老化采集模块获取到老化测试监控信号后，老化同步模块将其与标准测试状态进行比较，以确定耳机的当前老化情况，从而确定耳机的当前老化程度，最后监测上传模块根据老化同步补偿量的数值大小，确定耳机当前是否通过老化测试，从而便于获取对耳机的各项老化测试数据，进而便于降低了对耳机在不同使用环境下的老化测试成本。
关于耳机老化监测装置的具体限定可以参见上文中对于耳机老化监测装置的限定，在此不再赘述。上述耳机老化监测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图2所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于老化监测状态值以及老化同步补偿量等数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种耳机老化监测方法。
本领域技术人员可以理解，图2中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在其中一个实施例中，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
在其中一个实施例中，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种耳机老化监测方法，其特征在于，包括：
获取耳机的老化测试监控信号；
根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；
将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；
根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
2.根据权利要求1所述的耳机老化监测方法，其特征在于，所述老化监测状态值包括射频非信令测试值、射频非信令配对测试值、存储器读写测试值以及通话通路测试值中的至少一种。
3.根据权利要求2所述的耳机老化监测方法，其特征在于，所述将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量，包括：
求取所述射频非信令测试值与第一预设状态值的同步差分，得到第一老化补偿量；
所述根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，包括：
检测所述第一老化补偿量是否等于0；
当所述第一老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送射频非信令老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令数据上传。
4.根据权利要求3所述的耳机老化监测方法，其特征在于，所述检测所述第一老化补偿量是否等于0，之后还包括：
当所述第一老化补偿量等于0时，求取所述射频非信令配对测试值与第二预设状态值的同步差分，得到第二老化补偿量；
检测所述第二老化补偿量是否等于0；
当所述第二老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送射频非信令配对老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中射频非信令配对数据上传。
5.根据权利要求4所述的耳机老化监测方法，其特征在于，所述检测所述第二老化补偿量是否等于0，之后还包括：
当所述第二老化补偿量等于0时，求取所述存储器读写测试值与第三预设状态值的同步差分，得到第三老化补偿量；
检测所述第三老化补偿量是否等于0；
当所述第三老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送存储器读写老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中存储器读写数据上传。
6.根据权利要求5所述的耳机老化监测方法，其特征在于，所述检测所述第三老化补偿量是否等于0，之后还包括：
当所述第三老化补偿量等于0时，求取所述通话通路测试值与第四预设状态值的同步差分，得到第四老化补偿量；
检测所述第四老化补偿量是否等于0；
当所述第四老化补偿量不等于0时，向所述耳机测试系统发送通话通路老化不良信号，以将所述老化测试监控信号中通话通路数据上传。
7.根据权利要求1所述的耳机老化监测方法，其特征在于，所述根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值，之前还包括：
根据所述老化测试监控信号获取老化测试循环次数；
检测所述老化测试循环次数是否大于预设循环次数；
当所述老化测试循环次数大于所述预设循环次数时，向所述耳机测试系统发送过站信号。
8.一种耳机老化监测装置，其特征在于，所述装置包括：
老化采集模块，用于获取耳机的老化测试监控信号；
测试转化模块，用于根据所述老化测试监控信号获取老化监测状态值；
老化同步模块，用于将所述老化监测状态值与预设状态值进行同步处理，得到老化同步补偿量；
监测上传模块，用于根据所述老化同步补偿量向耳机测试系统发送压测通禁信号，以上传所述耳机对应的老化状态数据。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202210790601.1A CN115103289A (zh) | 2022-07-06 | 2022-07-06 | 耳机老化监测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115103289A true CN115103289A (zh) | 2022-09-23 |
Family
ID=83296182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210790601.1A Pending CN115103289A (zh) | 2022-07-06 | 2022-07-06 | 耳机老化监测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN115103289A (zh) |
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- 2022-07-06 CN CN202210790601.1A patent/CN115103289A/zh active Pending
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