CN114895745A - 一种基于ate校准mcu内部时钟源的方法 - Google Patents
一种基于ate校准mcu内部时钟源的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114895745A CN114895745A CN202210502514.1A CN202210502514A CN114895745A CN 114895745 A CN114895745 A CN 114895745A CN 202210502514 A CN202210502514 A CN 202210502514A CN 114895745 A CN114895745 A CN 114895745A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mcu
- ate
- clock source
- excitation signal
- internal clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/12—Synchronisation of different clock signals provided by a plurality of clock generators
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/08—Clock generators with changeable or programmable clock frequency
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明揭示了一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，待测的MCU连接载入ATE，包括步骤：S1、由ATE生成、输出激励信号pattern01，并通过SWD协议写入MCU的内部时钟源中；S2、启动MCU运行，通过ATE的频率测量单元检测MCU内部时钟源的实际频率Ft；S3、由ATE根据预设的标准频率Fs计得差值，并修改对应位置的参数，得到新的激励信号pattern02；S4、将激励信号pattern02写入MCU的内部校准寄存器。应用本发明该方法，根据芯片设计之初的预设表格，通过查表并修正激励信号、加密烧录至MCU的校准寄存器，可以让MCU的频率误差校准到标准值的±1%范围内，避免了用户在使用时需要通过示波器来手动校准内部RC频率参数，也有效防止了因误操作而导致的校准值发生改变。
Description
技术领域
本发明涉及时钟校准系统，尤其涉及一种基于ATE的技改实现便捷地校准MCU内部时钟源的方法。
背景技术
目前，通常采用MCU（Micro Control Unit，微控制单元）内部集成一个固定的RC振荡作为设计方案为MCU提供内部时钟，即内部时钟源。但芯片在制作过程中由工艺等因素，导致每颗芯片的内部时钟源本身或多或少地产生一些偏差，影响芯片正常运行的效率。
如果增加外置陶瓷振荡器或晶体振荡器，虽然也可以提高时钟精度，但不符合芯片微型化的设计需求，且成本和故障点也相应增加。
为此，需要在芯片出厂时对内部时钟源进行测量并校准，以使批量成品芯片的时钟精度满足组装应用之需。
发明内容
本发明的目的旨在提出一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，解决MCU工频优化的问题。
本发明实现上述目的的技术解决方案是，一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，待测的MCU连接载入ATE，其特征在于包括步骤：
S1、由ATE生成、输出激励信号pattern01，并通过SWD协议写入MCU的内部时钟源中；
S2、启动MCU运行，通过ATE的频率测量单元检测MCU内部时钟源的实际频率Ft；
S3、由ATE根据预设的标准频率Fs计得差值，并修改对应位置的校准参数，得到新的激励信号pattern02；
S4、将激励信号pattern02写入MCU的内部校准寄存器。
应用本发明校准MCU内部时钟源的方法，与现有技术相比，具备如下进步性：根据芯片设计之初的预设表格，通过查表并修正激励信号、加密烧录至MCU的校准寄存器，可以让MCU的频率误差校准到标准值的±1%范围内，避免了用户在使用时需要通过示波器来手动校准内部RC频率参数，也有效防止了因误操作而导致的校准值发生改变。
附图说明
图1是本发明实现MCU内部时钟源频率校准的原理框图。
具体实施方式
以下便结合实施例附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详述，以使本发明技术方案更易于理解、掌握，从而对本发明的保护范围做出更为清晰的界定。
本发明设计者针对现有技术进行MCU内部时钟源工作频率校准需要借助过多外部设备且费工耗时等诸多不足，创新提出了一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，可广泛用于各种MCU芯片的品检和装配应用领域，实现快速而高精度的校准结果。这里，ATE是Automatic Test Equipment的缩写，在半导体产业及本领域意指集成电路（包括各类CPU/MCU的IC芯片）的自动测试机，用于检测集成电路功能的完整性及其它品捡项目。本发明中ATE泛指各种基础版和功能完善后的自动测试机，不予特殊限定。
如图1所示的本发明MCU内部时钟源频率校准的原理框图可见，从技术概述来看，该方法在实施时，只需将待测的MCU连接载入ATE，而MCU通过外部引脚向ATE输出内部时钟源供测量，而校准过程包括步骤：
S1、由ATE生成、输出激励信号pattern01，并通过SWD协议写入MCU的内部时钟源中。通常在芯片成品后，通过仿真软件能得到一个芯片输出内部时钟源的程序波形文件，通过文件转换可获得ATE能识别的激励信号，即业内称之为的pattern文件。
S2、启动MCU运行，通过ATE的频率测量单元检测MCU内部时钟源的实际频率Ft；
S3、由ATE根据预设的标准频率Fs计得差值，并修改对应位置的校准参数，得到新的激励信号pattern02；
S4、将激励信号pattern02写入MCU的内部校准寄存器。
结合图示可见进一步的细节实施，S1中程序波形文件通过Linux命令和时间单位转换为ATE可识别的激励信号pattern01。通常仿真软件所得的为fsdb格式的文件，且波形的时间单位为ns；而ATE系统需要的是vcd格式的波形文件，且时间单位大于50ns。因此需要先在仿真环境下通过Linux命令将fsdb文件转换为vcd文件，并对时间单位进行换算，由ns级转换为50ns级。
S3中，激励信号pattern02的生成方法为由计算所得的差值ΔF=Fs-Ft，根据预设表格查找所对应的不仅参数Fstep后计算出校准实际频率所需步进的值D=ΔF/Fstep，将D写入激励信号pattern02对应的校准参数位置。
例如，当测得Ft=7.75MHz、Fs=8.00MHz；ΔF=Fs-Ft=0.25MHz，预设表格中，0.25MHz所对应的步进范围值Fstep=20KHz，所以D=ΔF/Fstep=0.25MHz/20KHz=12.5，最后，ATE进行PAT修改，在pattern02中的校准参数位置写入12.5。
以此为基础，所生成的新的激励信号pattern02再通过加密烧录的方式写入MCU，以防用户误操作修改而无法恢复接近标准值。
综上关于本发明基于ATE校准MCU内部时钟源的方法介绍及实施例详述可见，本方案具备突出的实质性特点和显著的进步性：利用现有ATE系统的硬件基础优化运行，根据芯片设计之初的预设表格，通过查表并修正激励信号、加密烧录至MCU的校准寄存器，可以让MCU的频率误差校准到标准值的±1%范围内，避免了用户在使用时需要通过示波器来手动校准内部RC频率参数，提升校准效率且优化成本，同时也有效防止了用户因误操作而导致的校准值发生改变。
除上述实施例外，本发明还可以有其它实施方式，凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本发明所要求保护的范围之内。
Claims (6)
1.一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，待测的MCU连接载入ATE，其特征在于包括步骤：
S1、由ATE生成、输出激励信号pattern01，并通过SWD协议写入MCU的内部时钟源中；
S2、启动MCU运行，通过ATE的频率测量单元检测MCU内部时钟源的实际频率Ft；
S3、由ATE根据预设的标准频率Fs计得差值，并修改对应位置的校准参数，得到新的激励信号pattern02；
S4、将激励信号pattern02写入MCU的内部校准寄存器。
2.根据权利要求1所述基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，其特征在于：S1中所述激励信号pattern01为ATE运行仿真软件所得到的一个使芯片输出内部时钟源的程序波形文件。
3.根据权利要求2所述基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，其特征在于：所述程序波形文件通过Linux命令和时间单位转换为ATE可识别的激励信号。
4.根据权利要求1所述基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，其特征在于：S2中MCU通过外部引脚向频率测量单元输出内部时钟源供测量。
5.根据权利要求1所述基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，其特征在于：S3中所述激励信号pattern02的生成方法为由计算所得的差值ΔF=Fs-Ft，根据预设表格查找所对应的不仅参数Fstep后计算出校准实际频率所需步进的值D=ΔF/Fstep，将D写入激励信号pattern02对应的校准参数位置。
6.根据权利要求1所述基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，其特征在于：S3中所述激励信号pattern02通过加密烧录的方式写入MCU。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210502514.1A CN114895745A (zh) | 2022-05-10 | 2022-05-10 | 一种基于ate校准mcu内部时钟源的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210502514.1A CN114895745A (zh) | 2022-05-10 | 2022-05-10 | 一种基于ate校准mcu内部时钟源的方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114895745A true CN114895745A (zh) | 2022-08-12 |
Family
ID=82722126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210502514.1A Pending CN114895745A (zh) | 2022-05-10 | 2022-05-10 | 一种基于ate校准mcu内部时钟源的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114895745A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116722872A (zh) * | 2023-05-29 | 2023-09-08 | 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 | 一种基于高精度adc的时钟校准装置及方法 |
-
2022
- 2022-05-10 CN CN202210502514.1A patent/CN114895745A/zh active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116722872A (zh) * | 2023-05-29 | 2023-09-08 | 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 | 一种基于高精度adc的时钟校准装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104035021B (zh) | 时钟芯片的测试方法和系统 | |
| CN106324479A (zh) | 一种芯片校准方法、电路及芯片 | |
| TWI591362B (zh) | 自動調校半導體元件測試機台之方法 | |
| CN114895745A (zh) | 一种基于ate校准mcu内部时钟源的方法 | |
| CN112557876A (zh) | 一种用于芯片模拟参数校准的装置及其测试方法 | |
| KR20180137945A (ko) | 피시험 디바이스를 테스트하기 위한 프로세서 기반의 계측 방법 및 이를 이용한 계측 장치 | |
| TW202219532A (zh) | 一種用於晶片測試機的自動校準方法及測試元件 | |
| CN104422801A (zh) | 负载板、自动测试设备和ic测试方法 | |
| TWI420825B (zh) | 校準電路 | |
| JP2020030073A (ja) | 電子製品の評価方法および評価装置 | |
| CN112651210B (zh) | 芯片老化性能建模方法、装置、设备及存储介质 | |
| TWI693410B (zh) | 晶片測試系統及方法 | |
| US9645195B2 (en) | System for testing integrated circuit | |
| US20020158625A1 (en) | Test apparatus for parallel testing a number of electronic components and a method for calibrating the test apparatus | |
| JP4826951B2 (ja) | Ｉｃテスタ校正方法 | |
| US5398197A (en) | Method of creating debug specification and test program creating specification | |
| CN113504457B (zh) | 提升检测精度的电路测试装置和方法 | |
| KR20010081625A (ko) | 테스트 중인 반도체 디바이스를 이용한 반도체 테스트장치의 타이밍 파라메터 점검 및 보정 방법 | |
| WO2022213877A1 (zh) | 循环迭代校准方法及使用其的测试设备 | |
| JP2002174661A (ja) | 集積回路テスト制御装置 | |
| JP3858729B2 (ja) | 信号測定回路及び信号表示装置及び信号変化遅延時間測定回路及び画像形成装置 | |
| KR100517604B1 (ko) | 피시비에 장착된 메모리 소자에 대한 프로그래밍 장치 및방법 | |
| JPH01195381A (ja) | 測定プログラム作成装置 | |
| de la Rama et al. | Single board re-spin for testing bridge transducer products | |
| JP2002031668A (ja) | 半導体集積回路の検査方法および装置、並びに半導体集積回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |