CN114650104A - 电路板测试屏蔽箱系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种电路板测试屏蔽箱系统,包括屏蔽箱和安装在屏蔽箱上的测试控制系统;所述屏蔽箱内置电路板测试用的针床测试台,所述针床测试台用于承载电路板,所述针床测试台包括用于连接电路板上输入检测点的模拟输入探针以及用于连接电路板上输出检测点的信号接收探针;所述测试控制系统分别与模拟输入探针和信号接收探针连接,所述测试控制系统用于通过模拟输入探针向电路板提供输入信号,通过信号接收探针接收电路板的输出信号并进行测试判定。本发明可以排除外部电磁干扰,在电路板测试时采用模拟电路板使用中的输入信号的方式,使得测试与电路板使用方式相适应,让电路板的性能得到真实的呈现,从而使得对电路板的整体性能评价更准确。
Description
技术领域
本发明涉及电路板测试技术领域,特别涉及一种电路板测试屏蔽箱系统。
背景技术
电磁干扰(Electromagnetic Interference简称EMI),是指电磁波与电子元件作用后而产生的干扰现象。电磁干扰包括传导干扰和辐射干扰:传导干扰指通过导电介质将某一个电网络上的信号耦合(干扰)到另一个电网络;辐射干扰是指干扰源通过空间将其信号耦合(干扰)到另一个电网络。在PCB及其系统设计中,高频信号线、集成电路的引脚和各类接插件等都可能成为具有天线特性的辐射干扰源,即这些都能够发射电磁波并影响其他系统或本系统内其他子系统的正常工作。
电磁干扰(EMI)是整个电子领域目前必须面临和克服的一个问题,在无线通讯产品比如手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机和RFID等无线通讯类设备中的电路板或者无线通讯类模块,都需要进行相应的板测和/或终测过程,在板测和/或终测时需要使用屏蔽箱(RF Shield Box)来改善测试环境,排除外部电磁干扰。射频测试工艺通常是手机等无线通讯类设备产线中最为复杂、影响最大的流程,通常也是产线的瓶颈。
现有的电路板测试技术,一般是采用特定的测试方式对电路板进行测试,该特定的测试方式采用的输入信号与电路板使用中的输入信号存在差异,仅能从侧面对电路板的性能进行评价,无法反映电路板的整体性能情况。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种电路板测试屏蔽箱系统,包括屏蔽箱和安装在屏蔽箱上的测试控制系统;
所述屏蔽箱内置电路板测试用的针床测试台,所述针床测试台用于承载电路板,所述针床测试台包括用于连接电路板上输入检测点的模拟输入探针以及用于连接电路板上输出检测点的信号接收探针;
所述测试控制系统分别与模拟输入探针和信号接收探针连接,所述测试控制系统用于通过模拟输入探针向电路板提供输入信号,通过信号接收探针接收电路板的输出信号并进行测试判定。
可选的,所述模拟输入探针和信号接收探针都配有探针驱动机构及弹簧,所述探针驱动机构与测试控制系统连接;
所述探针驱动机构用于将电路板测试需要的模拟输入探针和信号接收探针伸出并分别与电路板的输入检测点和输出检测点连接;
所述弹簧用于使不需要使用的模拟输入探针和信号接收探针保持不伸出状态,并配合探针驱动机构使伸出的模拟输入探针和信号接收探针具有设定压力。
可选的,所述针床测试台包括以第一阀门控制相互连通的内腔体和活塞腔,所述活塞腔内安装有弹簧和可移动的活塞;
所述弹簧套在模拟输入探针或者信号接收探针上,所述活塞远离内腔体的表面与模拟输入探针的一端或者信号接收探针的一端固定连接,所述模拟输入探针的另一端或者信号接收探针的另一端延伸出针床测试台的上表面;
所述探针驱动机构采用气泵,所述气泵通过气管与内腔体连接,所述气管上安装有第二阀门;
所述第一阀门、第二阀门和气泵都与测试控制系统电性连接。
可选的,所述活塞腔的数量等于模拟输入探针的数量和信号接收探针的数量之和,且所述活塞腔呈阵列布置。
可选的,所述测试控制系统包括主控芯片、存储模块、探针控制模块、信号发生模块和数据采集模块;
所述存储模块用于存储各类型电路板的测试方案,所述测试方案包括但不限于电路板测试需要的模拟输入探针、信号接收探针、模拟输入信号和合格输出信号;
所述探针控制模块与探针驱动机构连接,用于控制电路板测试需要的模拟输入探针和信号接收探针伸出并具有设定压力;
所述信号发生模块与模拟输入探针连接,所述信号发生模块用于产生相应的模拟信号并通过模拟输入探针提供给电路板形成输入信号;
所述数据采集模块与信号接收探针连接,所述数据采集模块用于通过信号接收探针接收电路板的输出信号;
所述主控芯片分别与存储模块、探针控制模块、信号发生模块和数据采集模块连接,所述主控芯片用于根据电路板的测试方案生成控制指令,控制电路板的测试过程,并将接收的电路板输出信号与合格输出信号进行比对以判定测试结果。
可选的,所述测试控制系统还包括CCD相机、图像识别模块和定位模块;所述图像识别模块和定位模块都与主控芯片连接;
所述CCD相机与图像识别模块电连接,所述CCD相机用于拍摄放置在针床测试台上的电路板图像;
所述图像识别模块用于从电路板图像中识别电路板的类型信息和定位信息;
所述定位模块根据定位信息实现电路板放置在针床测试台上的定位。
可选的,所述定位模块内置定位修正模型,所述定位修正模型包括磨损修正函数和运动修正函数;
所述磨损修正函数根据使用时长分别计算电路板输送机构的磨损修正量;
所述运动修正函数根据电路板输送机构的运动偏差计算运动修正量;
所述定位修正模型结合磨损修正量和运动修正量确定定位修正量,以定位修正量对电路板的定位进行修正。
可选的,所述针床测试台设置有可调节定位的电路板固定夹具;所述定位模块与电路板固定夹具连接,所述电路板固定夹具在定位模块的控制下对电路板进行定位和固定。
可选的,所述屏蔽箱设置有屏蔽接口,所述屏蔽接口包括屏蔽壳体和屏蔽盖;所述屏蔽壳体与屏蔽箱的屏蔽箱壳接触并固定连接;所述屏蔽盖包括多个屏蔽片,所述屏蔽片布置在屏蔽接口的外侧周边且相邻屏蔽片相互存在部分重叠,所述屏蔽片与屏蔽接口的外侧铰接。
可选的,所述测试控制系统的电源接入端配置有稳压电路。
本发明的电路板测试屏蔽箱系统,通过在屏蔽箱内设置针床测试台,针床测试台设有模拟输入探针和信号接收探针,在测试控制系统的控制下,以模拟输入探针与电路板上的输入检测点连接,模拟电路板使用中的输入信号;以信号接收探针与电路板上的输出检测点连接,接收经电路板工作处理后的输出信号;测试控制系统对输出信号进行分析处理后做出判定,得到电路板测试结果;测试过程在屏蔽箱内进行,可以排除外部电磁干扰,测试时采用模拟电路板使用中的输入信号的方式,使得测试与电路板使用方式相适应,得到的输出信号包含有反映电路板使用中自身各部件之间的相互影响情况的信号,以此输出信号进行分析,更能让电路板的性能得到真实的呈现,从而使得对电路板的整体性能评价更准确。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明实施例中一种电路板测试屏蔽箱系统立体示意图;
图2为本发明的电路板测试屏蔽箱系统实施例采用的针床测试台、模拟输入探针和信号接收探针结构示意图;
图3为本发明的电路板测试屏蔽箱系统实施例采用的测试控制系统示意图;
图4为本发明的电路板测试屏蔽箱系统实施例采用的包含图像采集与识别及定位的测试控制系统示意图;
图5为本发明的电路板测试屏蔽箱系统实施例采用的屏蔽接口示意图;
图6为本发明的电路板测试屏蔽箱系统实施例中测试控制系统采用的稳压电路示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1-5所示,本发明实施例提供了一种电路板测试屏蔽箱系统,包括屏蔽箱1和安装在屏蔽箱1上的测试控制系统2;
所述屏蔽箱1内置电路板测试用的针床测试台11,所述针床测试台11用于承载电路板,所述针床测试台11包括用于连接电路板上输入检测点的模拟输入探针13以及用于连接电路板上输出检测点的信号接收探针14;
所述测试控制系统2分别与模拟输入探针13和信号接收探针14连接,所述测试控制系统2用于通过模拟输入探针13向电路板提供输入信号,通过信号接收探针14接收电路板的输出信号并进行测试判定。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过在屏蔽箱内设置针床测试台,针床测试台设有模拟输入探针和信号接收探针,在测试控制系统的控制下,以模拟输入探针与电路板上的输入检测点连接,模拟电路板使用中的输入信号;以信号接收探针与电路板上的输出检测点连接,接收经电路板工作处理后的输出信号;测试控制系统对输出信号进行分析处理后做出判定,得到电路板测试结果;测试过程在屏蔽箱内进行,可以排除外部电磁干扰,测试时采用模拟电路板使用中的输入信号的方式,使得测试与电路板使用方式相适应,得到的输出信号包含有反映电路板使用中自身各部件之间的相互影响情况的信号,以此输出信号进行分析,更能让电路板的性能得到真实的呈现,从而使得对电路板的整体性能评价更准确。
在一个实施例中,如图2所示,所述模拟输入探针13和信号接收探针14都配有探针驱动机构18及弹簧15,所述探针驱动机构18与测试控制系统2连接;
所述探针驱动机构18用于将电路板测试需要的模拟输入探针13和信号接收探针14伸出并分别与电路板的输入检测点和输出检测点连接;
所述弹簧15用于使不需要使用的模拟输入探针13和信号接收探针14保持不伸出状态,并配合探针驱动机构18使伸出的模拟输入探针13和信号接收探针14具有设定压力。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案中弹簧可以平衡各探针的长度与电路板上输入检测点和输出检测点高度可能存在的不契合性误差,具有100-200g的压力,以保证每个检测点接触良好;通过测试控制系统确定电路板测试需要的模拟输入探针和信号接收探针,在测试控制系统下,驱动机构可以让需要的模拟输入探针和信号接收探针分别与电路板的输入检测点和输出检测点连接;在弹簧作用下,可以使不需要使用的模拟输入探针和信号接收探针保持缩进收起状态;本方案可以根据电路板的测试需要进行模拟输入探针和信号接收探针的调整,一方面不同电路板的输入检测点和输出检测点的数量与位置等设置可以存在差异不同,其需要的模拟输入探针和信号接收探针的数量与位置相应会有变化,采用本方案可以适应不同电路板的测试需求,另一方面同一电路板的不同测试项目所需求连接的输入检测点和输出检测点的数量与位置选择会有不同,采用本方案可以对同一电路板进行不同的输入信号测试,提高了电路板测试的灵活性的多样性,以保障对电路板评价的全面性。
在一个实施例中,在一个实施例中,如图2所示,所述针床测试台11包括以第一阀门控制相互连通的内腔体111和活塞腔112,所述活塞腔112内安装有弹簧15和可移动的活塞16;所述活塞腔112的数量等于模拟输入探针13和信号接收探针14的数量之和,且所述活塞腔112呈阵列布置;
所述弹簧15套在模拟输入探针13或者信号接收探针14上,所述活塞16远离内腔体111的表面与模拟输入探针13的一端或者信号接收探针14的一端固定连接,所述模拟输入探针13的另一端或者信号接收探针14的另一端延伸出针床测试台11的上表面;
所述探针驱动机构18采用气泵,所述气泵通过气管17与内腔体111连接,所述气管17上安装有第二阀门19;
所述第一阀门、第二阀门19和气泵都与测试控制系统2电性连接。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案将模拟输入探针和信号接收探针安装在活塞腔内的活塞上,以弹簧保障模拟输入探针和信号接收探针在不需要使用时保持缩进收起状态;对于需要使用的模拟输入探针和信号接收探针,采用气泵作用驱动源,通过控制第二阀门和与需要使用的模拟输入探针和信号接收探针所在活塞腔对应的第一阀门,让气压经气管和内腔体传递至需要使用的模拟输入探针和信号接收探针所在活塞腔,推动活塞将活需要使用的模拟输入探针和信号接收探针顶出,以气压大小与活塞面积确定推动力,除去弹簧的反作用力,即能够得到合适的模拟输入探针和信号接收探针与电路板检测点的接触压力;活塞腔根据模拟输入探针和信号接收探针的设置需要呈阵列布置,第一活塞腔内的活塞设置一个模拟输入探针或者信号接收探针;不同电路板的输入检测点和输出检测点的数量与位置等设置可以存在差异不同,其需要的模拟输入探针和信号接收探针的数量与位置相应会有变化,通过电路板测试的需求确定需要的模拟输入探针和信号接收探针,通过测试控制系统对呈阵列布置的模拟输入探针和信号接收探针有选择性的伸出控制,使得可以适应不同电路板的测试需求,提高了系统的灵活性和适用性,避免出现仅可以测试一种或者有限的固定几种电路板的情况,能够适应电路板设计与需求的多样化,以同一系统实现对各种电路板的测试,扩展了测试功能,降低了投资成本。
在一个实施例中,如图3所示,所述测试控制系统2包括主控芯片21、存储模块22、探针控制模块23、信号发生模块24和数据采集模块25;
所述存储模块22用于存储各类型电路板的测试方案,所述测试方案包括但不限于电路板测试需要的模拟输入探针、信号接收探针、模拟输入信号和合格输出信号;
所述探针控制模块23与探针驱动机构18连接,用于控制电路板测试需要的模拟输入探针13和信号接收探针14伸出并具有设定压力;
所述信号发生模块24与模拟输入探针13连接,所述信号发生模块24用于产生相应的模拟信号并通过模拟输入探针13提供给电路板形成输入信号;
所述数据采集模块25与信号接收探针14连接,所述数据采集模块25用于通过信号接收探针14接收电路板的输出信号;
所述主控芯片21分别与存储模块22、探针控制模块23、信号发生模块24和数据采集模块25连接,所述主控芯片21用于根据电路板的测试方案生成控制指令,控制电路板的测试过程,并将接收的电路板输出信号与合格输出信号进行比对以判定测试结果。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案在主控芯片的控制下,通过设置存储模块存储各类型电路板的测试方案,以测试方案界定不同电路板的测试方式,实现了系统对不同电路板测试的可扩展性;主控芯片根据电路板的测试方案生成控制指令分别控制探针控制模块、信号发生模块和数据采集模块;通过探针控制模块控制探针驱动机构,根据某一电路板测试对模拟输入探针和信号接收探针的需求,实现相应的模拟输入探针和信号接收探针与电路板的对应检测点的连接,保障电路板得到测试方案界定相应测试;测试时,信号发生模块产生相应的模拟信号,并通过模拟输入探针将模拟信号提供给电路板形成输入信号,输入信号经电路板处理形成输出信号,由输出检测点通过信号接收探针传输至数据采集模块接收;然后由主控芯片将接收的电路板输出信号与相应测试方案中的合格输出信号进行比对以判定测试结果,若电路板输出信号与合格输出信号相符则表示电路板性能良好。
在一个实施例中,如图4所示,所述测试控制系统2还包括CCD相机26、图像识别模块27和定位模块28;所述图像识别模块27和定位模块28都与主控芯片21连接;
所述CCD相机26与图像识别模块27电连接,所述CCD相机26用于拍摄放置在针床测试台11上的电路板图像;
所述图像识别模块27用于从电路板图像中识别电路板的类型信息和定位信息;
所述定位模块28根据定位信息实现电路板放置在针床测试台11上的定位。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过设置CCD相机拍摄电路板图像,传输给图像识别模块进行识别,获取电路板的类型信息和定位信息,将定位信息传递给定位模块实现精确定位,另外类型信息可用于确定相应的测试方案进行测试,提高了电路板测试的智能化程度,可以适用于不同电路板的测试工艺。
在一个实施例中,所述定位模块28内置定位修正模型,所述定位修正模型包括磨损修正函数和运动修正函数;
所述磨损修正函数根据使用时长分别计算电路板输送机构的磨损修正量;
所述运动修正函数根据电路板输送机构的运动偏差计算运动修正量;
所述定位修正模型结合磨损修正量和运动修正量确定定位修正量,以定位修正量对电路板的定位进行修正。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过在定位模块设置包含磨损修正函数和运动修正函数的定位修正模型,以运动修正函数计算运动修正量,以磨损修正函数计算磨损修正量,结合磨损修正量和运动修正量确定定位修正量,对电路板的定位进行修正,可以进一步提高电路板在针床测试台上的定位精度,使得其定位不会受到工艺设备中的电路板输送机构长期使用磨损的影响,也不会受到电路板输送机构的运动误差影响。
在一个实施例中,所述针床测试台11设置有可调节定位的电路板固定夹具;所述定位模块28与电路板固定夹具连接,所述电路板固定夹具在定位模块28的控制下对电路板进行定位和固定。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过在针床测试台设置可调节定位的电路板固定夹具,以定位模块对电路板固定夹具进行控制调节,实现电路板的精确定位,以便测试时可以让模拟输入探针和信号接收探针与电路板上的对应检测点(输入检测点和输出检测点)的准确可靠连接,不会连接错误导致模拟输入探针、信号接收探针或者电路板受损;其中,电路板固定夹具可以包括在多个不同方向设置的配有驱动装置的滑动卡块,在针床测试台设置安装滑动卡块的滑动导向槽,由驱动装置让选定方向的滑动卡块在滑动导向槽内移动以调节电路板在该方向的定位。
在一个实施例中,如图1和图5所示,所述屏蔽箱1设置有屏蔽接口12,所述屏蔽接口12包括屏蔽壳体121和屏蔽盖;所述屏蔽壳体121与屏蔽箱1的屏蔽箱壳接触并固定连接;所述屏蔽盖包括多个屏蔽片122,所述屏蔽片122布置在屏蔽接口12的外侧周边且相邻屏蔽片122相互存在部分重叠,所述屏蔽片122与屏蔽接口12的外侧铰接。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过设置屏蔽接口,使得屏蔽箱可以与外部设备连接,实现信号或者数据的传输,使得测试可以远程监视;采用屏蔽接口保障屏蔽箱不会因连接外部设备影响其排除外部电磁干扰的效果;多个两两部分重叠的屏蔽片形成的屏蔽盖,在不连接外部设备时,所有屏蔽片对屏蔽接口形成全覆盖避免屏蔽接口成为屏蔽漏洞,在连接外部设备时,只需要将相应的插接头插入屏蔽接口,将屏蔽片向内顶开,实现可靠连接,多个两两部分重叠的屏蔽片远离铰接端可以围绕插接头并贴合避免出现屏蔽漏洞;其中,屏蔽壳体、屏蔽片和铰接都采用导体材料以保障其屏蔽效果,屏蔽壳的形状与屏蔽接口的接口形式相适应。
在一个实施例中,所述测试控制系统的电源接入端配置有稳压电路;
如图6所示,所述稳压电路可以包括电阻R1、三极管Q1、发光二极管D1和电容C1;
所述三极管Q1的集电极与电源连接,所述电阻R1的两端分别与三极管Q1的集电极和基极连接,所述三极管Q1的基极与发光二极管D1的阳极连接,所述三极管Q1的发射极与电容C1的正极连接,所述发光二极管D1的阴极和电容C1的负极接地,所述三极管Q1的发射极为测试控制系统的电源接入端。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过设置稳压电路,使得屏蔽箱在进行电路板测试时,得到的电压稳定,可以保证给予模拟输入探针的模拟信号与测试方案要求的输入信号一致,保障测试时可以切实反映电路板工作中处理信号的性能及可能存在的相互影响更真实,以提高电路板测试的精度和可靠性;其中稳压电路可以采用上述示例提供的稳压电路,该稳压电路结构简单,器件数量少,故障风险低,成本低,容易实现,而且其稳压效果可靠。
在一个实施例中,所述数据采集模块连接有温度传感器和压力传感器,所述温度传感器用于检测环境温度,所述压力传感器用于检测气泵的输气压力;
所述主控芯片采用以下公式计算需要的气泵输气时长:
上式中,t表示需要的气泵输气时长;V表示腔体容积,包括内腔体容积以及需要使用的模拟输入探针和信号接收探针伸出后所在活塞腔与内腔体连通部分的容积;T0表示设计的标准工作温度;T1表示当前的环境温度;A表示气管的最小截面积;P1表示气泵的输气压力;P0表示输气前内腔体的气体压力,一般采用一个标准大气压;
所述主控芯片根据计算结果,对气泵运行输气进行控制。
上述技术方案的工作原理和有益效果为:本方案通过设置压力传感器检测气泵的输气压力来确定气泵的输气时长,对输气进行控制,防止输入气体过多需要的放气量增加,浪费气泵能耗;通过设置温度传感器检测环境温度,考量环境温度不同对输气的影响,在计算气泵输气时长时参考设计的标准工作温度,引入环境温度对气泵输气时长进行修正,可以使得计算结果更精确,进一步提高了气泵控制精度;上述公式采用无量纲数值拟合计算得到,各参数选取公制标准单位下的数值为计算数值,例如压力取以Pa为单位时的压力数值,温度取开尔文为单位的温度数值,面积取平方米为单位时的面积数值,体积取立方米为单位时的体积数值,气泵输气时长的计算结果单位为秒;本方案可以避免电路板测试前为了调整模拟输入探针和信号接收探针的气压进行反复的充放气,可以缩短测试准备时间,提高测试效率,还可以节省气泵能耗。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,包括屏蔽箱和安装在屏蔽箱上的测试控制系统;
所述屏蔽箱内置电路板测试用的针床测试台,所述针床测试台用于承载电路板,所述针床测试台包括用于连接电路板上输入检测点的模拟输入探针以及用于连接电路板上输出检测点的信号接收探针;
所述测试控制系统分别与模拟输入探针和信号接收探针连接,所述测试控制系统用于通过模拟输入探针向电路板提供输入信号,通过信号接收探针接收电路板的输出信号并进行测试判定。
2.根据权利要求1所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述模拟输入探针和信号接收探针都配有探针驱动机构及弹簧,所述探针驱动机构与测试控制系统连接;
所述探针驱动机构用于将电路板测试需要的模拟输入探针和信号接收探针伸出并分别与电路板的输入检测点和输出检测点连接;
所述弹簧用于使不需要使用的模拟输入探针和信号接收探针保持不伸出状态,并配合探针驱动机构使伸出的模拟输入探针和信号接收探针具有设定压力。
3.根据权利要求2所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述针床测试台包括以第一阀门控制相互连通的内腔体和活塞腔,所述活塞腔内安装有弹簧和可移动的活塞;
所述弹簧套在模拟输入探针或者信号接收探针上,所述活塞远离内腔体的表面与模拟输入探针的一端或者信号接收探针的一端固定连接,所述模拟输入探针的另一端或者信号接收探针的另一端延伸出针床测试台的上表面;
所述探针驱动机构采用气泵,所述气泵通过气管与内腔体连接,所述气管上安装有第二阀门;
所述第一阀门、第二阀门和气泵都与测试控制系统电性连接。
4.根据权利要求3所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述活塞腔的数量等于模拟输入探针的数量和信号接收探针的数量之和,且所述活塞腔呈阵列布置。
5.根据权利要求2所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述测试控制系统包括主控芯片、存储模块、探针控制模块、信号发生模块和数据采集模块;
所述存储模块用于存储各类型电路板的测试方案,所述测试方案包括但不限于电路板测试需要的模拟输入探针、信号接收探针、模拟输入信号和合格输出信号;
所述探针控制模块与探针驱动机构连接,用于控制电路板测试需要的模拟输入探针和信号接收探针伸出并具有设定压力;
所述信号发生模块与模拟输入探针连接,所述信号发生模块用于产生相应的模拟信号并通过模拟输入探针提供给电路板形成输入信号;
所述数据采集模块与信号接收探针连接,所述数据采集模块用于通过信号接收探针接收电路板的输出信号;
所述主控芯片分别与存储模块、探针控制模块、信号发生模块和数据采集模块连接,所述主控芯片用于根据电路板的测试方案生成控制指令,控制电路板的测试过程,并将接收的电路板输出信号与合格输出信号进行比对以判定测试结果。
6.根据权利要求5所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述测试控制系统还包括CCD相机、图像识别模块和定位模块;所述图像识别模块和定位模块都与主控芯片连接;
所述CCD相机与图像识别模块电连接,所述CCD相机用于拍摄放置在针床测试台上的电路板图像;
所述图像识别模块用于从电路板图像中识别电路板的类型信息和定位信息;
所述定位模块根据定位信息实现电路板放置在针床测试台上的定位。
7.根据权利要求6所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述定位模块内置定位修正模型,所述定位修正模型包括磨损修正函数和运动修正函数;
所述磨损修正函数根据使用时长分别计算电路板输送机构的磨损修正量;
所述运动修正函数根据电路板输送机构的运动偏差计算运动修正量;
所述定位修正模型结合磨损修正量和运动修正量确定定位修正量,以定位修正量对电路板的定位进行修正。
8.根据权利要求5所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述针床测试台设置有可调节定位的电路板固定夹具;所述定位模块与电路板固定夹具连接,所述电路板固定夹具在定位模块的控制下对电路板进行定位和固定。
9.根据权利要求1所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述屏蔽箱设置有屏蔽接口,所述屏蔽接口包括屏蔽壳体和屏蔽盖;所述屏蔽壳体与屏蔽箱的屏蔽箱壳接触并固定连接;所述屏蔽盖包括多个屏蔽片,所述屏蔽片布置在屏蔽接口的外侧周边且相邻屏蔽片相互存在部分重叠,所述屏蔽片与屏蔽接口的外侧铰接。
10.根据权利要求1所述的电路板测试屏蔽箱系统,其特征在于,所述测试控制系统的电源接入端配置有稳压电路。
Priority Applications (1)
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CN202210206725.0A CN114650104B (zh) | 2022-03-04 | 2022-03-04 | 电路板测试屏蔽箱系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202210206725.0A CN114650104B (zh) | 2022-03-04 | 2022-03-04 | 电路板测试屏蔽箱系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN114650104A true CN114650104A (zh) | 2022-06-21 |
CN114650104B CN114650104B (zh) | 2023-05-30 |
Family
ID=81992984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210206725.0A Active CN114650104B (zh) | 2022-03-04 | 2022-03-04 | 电路板测试屏蔽箱系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN114650104B (zh) |
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PB01 | Publication | ||
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