CN105301422A - 板级tpms发射模块批量测试系统及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种板级TPMS发射模块批量测试系统，其特征在于包括烧录器、屏蔽箱、无线信号分析器、无线触发器和微处理器，待测TPMS发射模块均位于屏蔽箱内，TPMS发射模块的对应针孔内高敏探针和电源负载针均汇聚到探针板上，探针板与屏蔽箱内的多切开关相连，烧录器和无线信号分析器位于屏蔽箱外，烧录器通过烧录顶针与TPMS发射模块的程序烧录口相连，无线信号分析器与探针板相连，无线触发器位于屏蔽箱内，且与外部的微处理器相连，TPMS发射模块通过电源负载针与外部的上电控制器相连，上电控制器与微处理器相连。

Description

板级TPMS发射模块批量测试系统及其测试方法

技术领域

本发明涉及汽车轮胎压力监测的技术领域，特别是在涉及TPMS生产过程中一种板级TPMS发射模块批量测试系统及其测试方法。

背景技术

由于人们对汽车安全越来越重视，胎压监测越来越受到人们的关注。TPMS在各种汽车上的应用也越来越多。随着TPMS产品的在实际生活中的大量使用，在生产过程中，一套完整的TPMS系统，是一个接收器配置多个发射器，发射器由目标车体所包涵的轮胎个数确定，那么生产过程中，TPMS发射器有多个敏感元器件组成，为了保证产品的良品率，节省后面工序不必要的浪费，我们就需要一套板级的TPMS发射器测试模块高效率帮我们识别出那些芯片在板级阶段就已经损坏。

由于TPMS发射器过程复杂，工艺复杂，需要大量的辅助工艺来完整一整个生产过程，其中主要包括制版-贴元器件-烧录-装壳-封装-成品测试。由于在贴元器件过程中，无可避免的可能会有次品元器件混入，制版过程中板子损坏，或者是在贴的过程中导致元器件损坏的可能，那么在封装过程中，遇到这些在前一个阶段已经损坏的产品，就会导致但前封装工序的无效和物料的浪费，人力成本的浪费和时间的浪费，增加成品测试的压力。

TPMS的生产过程其中主要包括：制板-贴元器件-烧录-板级测试-装壳-封装-成品测试。一辆车通常需要4个TPMS发射模块和一个接收器才能组成一个完整的系统，通常电子类产品，由于大批量生产，元器件较小，检测方式为抽检，TPMS属于安全类汽车电子，最佳的检测方式是全捡，这就带来了巨大的检测压力，通常一个TPMS板级模块测试，依据一个简单的出货量计算，一个月生产出10万套系统的话，那么板级测试就需要测试40万次，一个测试模块的，通常测试过程是，先在外部烧录后，放上电池，放入测试屏蔽箱中，通过外部触发器触发无线发送过程，记录测试结果，标定良品还是非良品，进入下道步骤，前后过程大致在耗时可能在30秒至5分钟不等，而真正的纯测试过程可能之后5到10秒左右，对于一个月40万的测试量来说是市场巨大的压力，一旦产量再上升，其带来的无论是人力成本压力和物力压力都是巨大的。

发明内容

本发明的目的在于克服上述不足，提供一种板级TPMS发射模块批量测试系统及其测试方法，提高TPMS发射模块的加工效率，减少封装工序的无效和物料的浪费，以及人力成本的浪费和时间的浪费，降低成品测试的压力。

本发明的目的是这样实现的：一种板级TPMS发射模块批量测试系统，包括烧录器、屏蔽箱、无线信号分析器、无线触发器和微处理器，待测TPMS发射模块均位于屏蔽箱内，TPMS发射模块的对应针孔内高敏探针和电源负载针均汇聚到探针板上，探针板与屏蔽箱内的多切开关相连，烧录器和无线信号分析器位于屏蔽箱外，烧录器通过烧录顶针与TPMS发射模块的程序烧录口相连，无线信号分析器与探针板相连，无线触发器位于屏蔽箱内，且与外部的微处理器相连，TPMS发射模块通过电源负载针与外部的上电控制器相连，上电控制器与微处理器相连。

一种板级TPMS发射模块批量测试系统的测试方法，所述方法包括以下步骤：

步骤一、烧录器通过烧录顶针对TPMS发射模块进行批量烧录，烧录全部完成后断开电源；

步骤二、微处理器通过控制多切开关来控制当前测试TPMS发射模块的上电，微处理器触发加电控制器对TPMS发射模块进行加电激活处理；

步骤三、微处理器激活无线触发器，无线触发器向TPMS发射模块发送测试报文以激活其进入测试模式，TPMS发射模块此时会发射相应的报文；

步骤四、无线信号分析器通过高敏探针接收TPMS发射模块发出的无线信号，并对信号进行解析处理；

步骤五：无线信号分析器将分析结果反馈给微处理器进行记录保存，并对测试产品进行标注；

步骤六：微处理器通过控制多切开关选择下一个TPMS发射模块测试，重复上述步骤二至步骤五，直至所有TPMS发射模块测试完毕；

步骤七：微处理器处理测试结果。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明在检测系统中加入了烧录功能，将原本检测前一道工序——烧录，合并入一个工位，减少了中间传递的时间，该系统必须配合特制的烧录器和开关控制器才能完成，并且改进后的测试系统，通过切换多切开关，选择对不同TPMS程序加电和接收无线信号，达到在不需要人工干预情况下，实行全自动化、批量化测试；将原本需要大量耗时的工序传递，环境准备的时间大量的缩短合并。

附图说明

图1为本发明的系统结构示意图。

图2为本发明中单个模块的接线示意图。

具体实施方式

参见图1—图2，本发明涉及一种板级TPMS发射模块批量测试系统，包括烧录器、屏蔽箱、无线信号分析器、无线触发器和微处理器，其中烧录器主要是给TPMS发射模块提供自动烧录功能，屏蔽箱主要用于屏蔽无线信号，确保测试系统信号的准确性，无线信号分析器用来分析无线信号的强度、功率、峰值、误差和数据内容等，无线触发器用来触发TPMS发射模块发射无线信号，微处理器主要用于发出控制命令和接收测试内容，在屏蔽箱内部设置有用于固定TPMS发射模块的模具，在TPMS发射模块的无线信号输出针孔内均设置有高敏探针，所有的高敏探针汇聚到探针板上，探针板与屏蔽箱内的多切开关相连，通过多切开关达到切换电源和高敏探针的目的，可选择性的测试TPMS发射模块。

烧录器和无线信号分析器位于屏蔽箱外，烧录器通过烧录顶针与TPMS发射模块的程序烧录口相连，无线信号分析器与探针板相连，无线触发器位于屏蔽箱内，且与外部的微处理器相连，屏蔽箱内的TPMS发射模块通过设置在电源针孔内的电源负载针与外部的上电控制器相连，电源负载针也汇聚到多切开关上，上电控制器与微处理器相连，通过微处理器来触发。

首先将需要测试的TPMS发射模块逐个放入屏蔽箱内的模具凹槽中，同时将各个高敏探针与TPMS发射模块载板上的孔位对齐，同时将连接高敏探针的探针板与模具对齐，先通过微处理器触发上电控制器给所有的TPMS发射模块进行加电，烧录器同时对已经加电的TPMS发射模块进行批量程序烧录，烧录工作完成后断开全部电源；微处理器通过控制多切开关来控制当前测试TPMS发射模块的上电和接收无线信号，一旦加电完成，微处理器就激活无线触发器，无线触发器向TPMS发射模块发送测试报文以激活其进入测试模式，TPMS发射模块此时会发射相应的报文，无线信号分析器根据接收的无线信号开始分析结果，而电源负载针将此时的动态电流和静态电流波动信息通过上电控制器反馈给微处理器进行记录，微处理器处理并保存结果，记录下测试失败的产品或对应模具位置的标号。

接着微处理器控制多切开关切换到下一个TPMS发射模块的电源负载针和高敏探针上，重复以上测试过程，最后生成测试结果，挑出测试失败的TPMS发射模块，其他的归入可进入下道工序的产品，继续下面的工序。

Claims (2)

1.一种板级TPMS发射模块批量测试系统，其特征在于包括烧录器、屏蔽箱、无线信号分析器、无线触发器和微处理器，待测TPMS发射模块均位于屏蔽箱内，TPMS发射模块的对应针孔内高敏探针和电源负载针均汇聚到探针板上，探针板与屏蔽箱内的多切开关相连，烧录器和无线信号分析器位于屏蔽箱外，烧录器通过烧录顶针与TPMS发射模块的程序烧录口相连，无线信号分析器与探针板相连，无线触发器位于屏蔽箱内，且与外部的微处理器相连，TPMS发射模块通过电源负载针与外部的上电控制器相连，上电控制器与微处理器相连。

2.一种如权利要求1所述的板级TPMS发射模块批量测试系统的测试方法，其特征在于所述方法包括以下步骤：

步骤一、烧录器通过烧录顶针对TPMS发射模块进行批量烧录，烧录全部完成后断开电源；

步骤二、微处理器通过控制多切开关来控制当前测试TPMS发射模块的上电，微处理器触发加电控制器对TPMS发射模块进行加电激活处理；

步骤三、微处理器激活无线触发器，无线触发器向TPMS发射模块发送测试报文以激活其进入测试模式，TPMS发射模块此时会发射相应的报文；

步骤四、无线信号分析器通过高敏探针接收TPMS发射模块发出的无线信号，并对信号进行解析处理；

步骤五：无线信号分析器将分析结果反馈给微处理器进行记录保存，并对测试产品进行标注；

步骤六：微处理器通过控制多切开关选择下一个TPMS发射模块测试，重复上述步骤二至步骤五，直至所有TPMS发射模块测试完毕；

步骤七：微处理器处理测试结果。