CN114355140A - 一种拼接型贴片发光二极管的测试装置及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，包括与拼接型贴片发光二极管相匹配的夹持组件以及用于检测的测试组件，测试组件包括与对拼接型贴片发光二极管的各个引脚相对应匹配的多个匹配插件以及用于拼接型贴片发光二极管的识别相机；还包括多个固定组件，一个固定组件上滑动设置有两个相反驱动的匹配插件，以实现对拼接型贴片发光二极管的固定与对应测试。本发明能够通过夹持组件实现对拼接型贴片发光二极管的夹持与所处位置检测，并根据距离传感器的数据信号，实现对拼接型贴片发光二极管的所处角度进行调整，使得拼接型贴片发光二极管的所处角度与测试组件的测试方向相匹配，增加了测试组件与拼接型贴片发光二极管的匹配精准度。

Description

一种拼接型贴片发光二极管的测试装置及其测试方法

技术领域

本发明涉及针对拼接型贴片发光二极管的测试装置技术领域，具体涉及一种拼接型贴片发光二极管的测试装置及其测试方法。

背景技术

现有技术中，针对拼接型贴片发光二极管的测试方式普遍需要人工对各个拼接型贴片发光二极管进行逐一与测试设备进行组装，使得对拼接型贴片发光二极管的测试效率很低，并且测试成本较高，检测结果无法数据化呈现。

发明内容

有鉴于此，本发明要解决的问题是提供一种可以自动调整待测发光二极管的测试角度并在检测完成后能直观看出检测结果的拼接型贴片发光二极管的测试装置。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，包括包括与拼接型贴片发光二极管相匹配的夹持组件以及用于检测的测试组件，所述测试组件包括与对拼接型贴片发光二极管的各个引脚相对应匹配的多个匹配插件以及用于拼接型贴片发光二极管的识别相机；

还包括多个固定组件，所述固定组件滑动均设置于测试平台上，所述匹配插件滑动设置于固定组件一侧，所述一个固定组件上滑动设置有两个相反驱动的匹配插件，以实现对拼接型贴片发光二极管的固定与对应测试。

优选的，所述拼接型贴片发光二极管包括

所述固定组件包括滑动设置于测试平台的滑动板以及固定于滑动板上的定位触发块与定位触发凹槽，所述定位触发块与定位触发凹槽的位置分别与拼接型贴片发光二极管的接触凹槽和接触块一一对应。

所述夹持组件滑动设置于机架上，所述测试装置还包括滑动安装于机架上的标记组件，所述标记组件包括分别与拼接型贴片发光二极管上的发光二极管相匹配的多个标记电机，所述标记电机的输出端设置有吸盘结构，所述吸盘结构吸附有粘贴标签，以实现对损坏发光二极管的标记。

优选的，所述标记电机的顶部均设置于标记移动架上，所述标记移动架的顶部可拆卸设置有标记滑块，所述标记滑块的一端固定连接有标记平移电机，所述标记平移电机固定安装于机架内部，所述机架内还设置有与标记滑块相匹配的标记滑槽，以实现标记组件的平移。

所述夹持组件包括调整转盘以及均匀分布于调整转盘底部的多个升降夹持电机，多个升降夹持电机分别与拼接型贴片发光二极管一一对应匹配。

所述升降夹持电机的底部均设置有平移夹持电机，所述平移夹持电机的输出端均设置有夹持块，所述夹持块底部还设置有距离传感器，以实现对拼接型贴片发光二极管的接触块的距离的检测，进而实现对拼接型贴片发光二极管的角度的识别。

所述调整转盘的顶部固定安装于调整电机的输出端，所述调整电机控制调整转盘的转动角度，所述调整电机固定安装于夹持滑块的底部，所述夹持滑块滑动设置于机架内部，所述夹持滑块套设于夹持螺杆上，所述夹持螺杆的一端转动安装于机架内部，所述夹持螺杆的另一端固定连接有夹持旋转电机，以实现对夹持组件水平位置的调整。

优选的，所述测试装置还包括传送带，所述传送带设置于测试平台的一侧，所述测试平台的高度高于所述传送带的高度，所述机架跨设于测试平台上方。

优选的，所述机架内部设置有与夹持滑块相匹配的夹持滑槽，所述夹持滑槽的一端的位置处于传送带的夹持区域的正上方，所述夹持滑槽的另一端的位置处于固定组件的正上方。

所述滑动板的底部设置有测试滑块，所述测试滑块滑动设置于测试平台内部，所述测试滑块套设于测试螺杆上，所述测试螺杆的一端转动安装于测试平台内部，所述测试螺杆的另一端固定连接有测试旋转电机，以实现对滑动板水平位置的调整。

优选的，所述测试平台内部设置有与测试滑块相匹配的测试滑槽，所述测试滑槽的长度决定了可测试的拼接型贴片发光二极管的大小，增加了适用范围。

所述识别相机通过连接架固定安装于机架上，所述识别相机处于固定组件的中心位置，以实现对拼接型贴片发光二极管的各个发光二极管的识别。

所述匹配插件分别为两种结构，同一滑动板上的两个匹配插件分别为两不同的结构，该两种结构分别与拼接型贴片发光二极管的输入引脚和输出引脚的结构相同。

优选的，所述测试装置还包括各个组件均连接的处理器，以实现对各个组件的控制与数据分析。

多个固定组件的数量为六个，多个固定组件相互滑动组成与拼接型贴片发光二极管相匹配的六边形结构，所述匹配插件的位置与拼接型贴片发光二极管的输入引脚或输出引脚的位置一一对应，以实现对拼接型贴片发光二极管各个引脚的一一对应。

本发明具有的优点和积极效果是：

(1)本发明通过夹持组件实现对拼接型贴片发光二极管的夹持与所处位置检测，并根据距离传感器的数据信号，实现对拼接型贴片发光二极管的所处角度进行调整，使得拼接型贴片发光二极管的所处角度与测试组件的测试方向相匹配，增加了测试组件与拼接型贴片发光二极管的匹配精准度。

(2)本发明通过固定组件、固定安装于固定组件上的测试组件以及标记组件，实现了对拼接型贴片发光二极管的匹配、固定、检测以及标记，使得对待测发光二极管的检测结果的直接标记，提高了检测效率和检测结果直观性。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发

明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置的整体结构图；

图2是待测的拼接型贴片发光二极管的图；

图3是本发明的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置与待测的拼接型贴片发光二极管的部分剖视图；

图中：

1、拼接型贴片发光二极管；11、接触凹槽；12、接触块；13、输入引脚；14、输出引脚；

2、夹持组件；21、调整转盘；22、升降夹持电机；23、平移夹持电机；24、夹持块；25、距离传感器；26、调整电机；27、夹持滑块；28、夹持螺杆；

3、测试组件；31、匹配插件；32、识别相机；33、测试螺杆；34、测试旋转电机；

4、固定组件；41、滑动板；42、定位触发块；43、定位触发凹槽；

5、测试平台； 51、测试滑块； 52、测试滑槽；

6、机架； 61、标记滑槽； 62、夹持滑槽；

7、标记组件；71、标记电机；72、吸盘结构；73、标记移动架；74、标记滑块；75、标记平移电机；

8、传送带。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1至图3所示，本发明提供一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，包括包括与拼接型贴片发光二极管1相匹配的夹持组件2以及用于检测的测试组件3，所述测试组件3包括与对拼接型贴片发光二极管1的各个引脚相对应匹配的多个匹配插件31以及用于拼接型贴片发光二极管1的识别相机32；

还包括多个固定组件4，所述固定组件4滑动均设置于测试平台5上，所述匹配插件31滑动设置于固定组件4一侧，所述一个固定组件4上滑动设置有两个相反驱动的匹配插件31，以实现对拼接型贴片发光二极管1的固定与对应测试。

所述固定组件4包括滑动设置于测试平台5的滑动板41以及固定于滑动板41上的定位触发块42与定位触发凹槽43，所述定位触发块42与定位触发凹槽43的位置分别与拼接型贴片发光二极管1的接触凹槽11和接触块12一一对应。

所述夹持组件2滑动设置于机架6上，所述测试装置还包括滑动安装于机架6上的标记组件7，所述标记组件7包括分别与拼接型贴片发光二极管1上的发光二极管相匹配的多个标记电机71，所述标记电机71的输出端设置有吸盘结构72，所述吸盘结构72吸附有粘贴标签，以实现对损坏发光二极管的标记。

优选的，所述标记电机71的顶部均设置于标记移动架73上，所述标记移动架73的顶部可拆卸设置有标记滑块74，所述标记滑块74的一端固定连接有标记平移电机75，所述标记平移电机75固定安装于机架6内部，所述机架6内还设置有与标记滑块74相匹配的标记滑槽61，以实现标记组件7的平移。

所述夹持组件2包括调整转盘21以及均匀分布于调整转盘21底部的多个升降夹持电机22，多个升降夹持电机22分别与拼接型贴片发光二极管1一一对应匹配。

所述升降夹持电机22的底部均设置有平移夹持电机23，所述平移夹持电机23的输出端均设置有夹持块24，所述夹持块24底部还设置有距离传感器25，以实现对拼接型贴片发光二极管1的接触块12的距离的检测，进而实现对拼接型贴片发光二极管1的角度的识别。

所述调整转盘21的顶部固定安装于调整电机26的输出端，所述调整电机26控制调整转盘21的转动角度，所述调整电机26固定安装于夹持滑块27的底部，所述夹持滑块27滑动设置于机架6内部，所述夹持滑块27套设于夹持螺杆28上，所述夹持螺杆28的一端转动安装于机架6内部，所述夹持螺杆28的另一端固定连接有夹持旋转电机，以实现对夹持组件2水平位置的调整。

优选的，所述测试装置还包括传送带8，所述传送带8设置于测试平台5的一侧，所述测试平台5的高度高于所述传送带8的高度，所述机架6跨设于测试平台5上方。

优选的，所述机架6内部设置有与夹持滑块27相匹配的夹持滑槽62，所述夹持滑槽62的一端的位置处于传送带8的夹持区域的正上方，所述夹持滑槽62的另一端的位置处于固定组件4的正上方。

所述滑动板41的底部设置有测试滑块51，所述测试滑块51滑动设置于测试平台5内部，所述测试滑块51套设于测试螺杆33上，所述测试螺杆33的一端转动安装于测试平台5内部，所述测试螺杆33的另一端固定连接有测试旋转电机34，以实现对滑动板41水平位置的调整。

优选的，所述测试平台5内部设置有与测试滑块51相匹配的测试滑槽52，所述测试滑槽52的长度决定了可测试的拼接型贴片发光二极管1的大小，增加了适用范围。

所述识别相机32通过连接架固定安装于机架6上，所述识别相机32处于固定组件4的中心位置，以实现对拼接型贴片发光二极管1的各个发光二极管的识别。

所述匹配插件31分别为两种结构，同一滑动板41上的两个匹配插件31分别为两不同的结构，该两种结构分别与拼接型贴片发光二极管1的输入引脚13和输出引脚14的结构相同。

优选的，所述测试装置还包括各个组件均连接的处理器，以实现对各个组件的控制与数据分析。

多个固定组件4的数量为六个，多个固定组件4相互滑动组成与拼接型贴片发光二极管1相匹配的六边形结构，所述匹配插件31的位置与拼接型贴片发光二极管1的输入引脚13或输出引脚14的位置一一对应，以实现对拼接型贴片发光二极管1各个引脚的一一对应。

在实际的工作过程中，所述拼接型贴片发光二极管1包括安装有多个贴片发光二极管的连接架，所述连接架的侧面的结构均相互对应设置，所述连接架的侧面设置有相互匹配的接触块与接触凹槽，所述连接架的侧面还设置有两个连通槽，所述连通槽内设置有相对应的连通组件，所述连通组件分别与贴片发光二极管的输入极和输出极连通，所述连通组件的外侧均设置有密封装置，所述密封装置固定设置于连接架内部，以实现对连通组件的密封，避免出现连通组件受潮损坏等问题。

优选的，连接架的一侧设置有一个接触块和一个接触凹槽，其中接触块与接触凹槽的位置分别处于所述连接架侧面的中部的上侧和下侧。

所述密封装置包括两个相对设置的密封伸缩电机，所述密封伸缩电机的输出端为密封板，两个密封板与连通槽相匹配，实现对连通槽的密封。

所述连通组件包括多组固定安装于连接架内部的输入极板和输出极板，所述输入极板分别与贴片发光二极管的输入极连通，所述输出极板分别与贴片发光二极管的输出极连通，实现分别对各个贴片二极管的正输出极的连通。

与贴片二极管的输入极连接的所述连通组件包括固定安装于连接架内部的输入极伸缩电机以及输入极连接块，所述输入极连接块固定安装于输入极伸缩机的输出端，实现对输入极连接块的移动。

所述输入极连接块的底部设置有与输入极板相匹配的输入极导电块，所述输入极连接块与连通槽相匹配，以实现输入极连接块在连通槽内的移动。

优选的，当输入极连接块伸出时，输入极导电块与输入极板相连通。

与贴片二极管的输出极连接的所述连通组件包括固定安装于连接架内部的输出极伸缩电机以及输出极连接块，所述输出极连接块固定安装于输出极伸缩机的输出端，所述输出极连接块的底部设置有与输出极板相匹配的输出极导电块，所述输出极连接块与连通槽相匹配，以实现输出极连接块在连通槽内的移动。

优选的，当输出极连接块伸出时，输出极导电块与输出极板相连通。

所述输入极连接块的横截面为“凸”型结构，所述输出极连接块的横截面为“凹”型结构，所述输入极连接块与输出极连接块相匹配，实现两个贴片发光二极管之间的连通。

所述密封伸缩电机的一侧固定安装有限位板，所述限位板内部设置有接触板，所述输入极连接块以及输出极连接块的两端均设置有与接触板相匹配的触发板，实现对输入极连接块、输出极连接块伸出位置的限位，进而实现了对贴片发光二极管的自动导通。

多个发光二极管的输入极通过导线与输入极接点连通，多个发光二极管的输出极通过导线与输出极接点连通，所述输入极接点与输出极接点相互绝缘设置。

所述连接架有6个侧面，所述连接架的相对的侧面的结构相反设置，所述连接架的侧面的结构间隔相同，即所述连接架的三个相互不相邻的侧面的结构相同。

优选的，所述输入极连接块与输出极连接块的前端部分为导电结构，所述前端部分为输入极导电板至输入极连接块的外侧部分以及输出极导电板至输出极连接块的外侧部分，实现两个拼接型贴片发光二极管的输入极连接块与输出极连接块的相互连通。

本发明的工作原理和工作过程如下：

将待测的拼接型贴片发光二极管1通过传送带8传送至夹持组件2下方，处理器控制传送带8停止，处理器控制夹持旋转电机转动，带动夹持螺杆28转动，夹持滑块27随夹持螺杆28的转动沿夹持滑槽62平移直至与夹持滑槽62的一端相抵，处理器控制升降夹持电机22的输出端伸出，直至升降夹持电机22的输出端处于最低位置，处理器控制平移夹持电机23的输出端伸出，多个夹持块24分别对待测的拼接型贴片发光二极管1的各个面的实现夹持，各个夹持块24的距离传感器25对接触块12的距离进行检测，各个距离传感器25分别将数据信号传输给处理器，处理器对数据信号进行分析，得出待测的拼接型贴片发光二极管1目前所处的角度并计算出与测试角度的差值，处理器控制调整电机26转动，带动调整转盘21转动，进而带动待测的拼接型贴片发光二极管1进行转动，直至待测的拼接型贴片发光二极管1的所处角度处于测试角度，处理器控制升降夹持电机22的输出端收回，直至升降夹持电机22的输出端处于最高位置，处理器控制夹持旋转电机反向转动，带动夹持螺杆28反向转动，夹持滑块27随夹持螺杆28的转动沿夹持滑槽62平移直至与夹持滑槽62的另一端相抵，此时，夹持组件2处于测试组件3的正上方，处理器控制升降夹持电机22的输出端伸出，直至将夹持组件2将待测的拼接型贴片发光二极管1放置于测试平台5上，处理器控制测试旋转电机34转动，带动测试螺杆33转动，测试滑块51随测试螺杆33的转动沿测试滑槽52平移，测试滑块51带动滑动块向待测的拼接型贴片发光二极管1方向移动，直至待测的拼接型贴片发光二极管1与滑动块相抵，与此同时，滑动块上的定位触发块42与待测的拼接型贴片发光二极管1的接触凹槽11相匹配，滑动块上的定位触发凹槽43与待测的拼接型贴片发光二极管1的接触块12相匹配，定位触发块42与定位触发凹槽43将接触信号传输给处理器，与此同时，待测的拼接型贴片发光二极管1的接触凹槽11和接触块12触发接触信号，待测的拼接型贴片发光二极管1的密封装置开启，匹配插件31分别与对应的输入引脚13或输出引脚14相对应，处理器控制匹配插件31通电，待测的拼接型贴片发光二极管1上的六个发光二极管得电：

六个发光二极管通电应亮起，识别相机32对待测的拼接型贴片发光二极管1是否亮起进行拍照并将图片信息传输给处理器，处理器判断是否通电正常：

若六个发光二极管均亮起，则判断该待测的拼接型贴片发光二极管1通电正常，处理器控制匹配插件31断电，处理器控制测试旋转电机34反向转动，带动测试螺杆33反向转动，测试滑块51随测试螺杆33的转动沿测试滑槽52反向平移，测试滑块51带动滑动块向远离待测的拼接型贴片发光二极管1方向移动，直至滑动块上的定位触发块42与待测的拼接型贴片发光二极管1的接触凹槽11完全脱离，滑动块上的定位触发凹槽43与待测的拼接型贴片发光二极管1的接触块12完全脱离，夹持组件2将通电正常的拼接型贴片发光二极管1移动至传送带8上，传送带8继续传送；

若六个发光二极管中有一个或多个未亮起，则判断该待测的拼接型贴片发光二极管1的未亮起的发光二极管通电异常，处理器控制标记平移电机75的输出端伸出，标记滑块74沿标记滑槽61平移，直至标记滑块74与标记滑槽61的一端相抵，此时，标记组件7处于测试组件3的正上方，处理器控制一个或多个与未亮起的发光二极管相对应的标记电机71的输出端伸出，使得粘贴标签粘贴于未亮起的发光二极管上，实现对通电异常的发光二极管的标记，处理器控制匹配插件31断电，处理器控制测试旋转电机34反向转动，带动测试螺杆33反向转动，测试滑块51随测试螺杆33的转动沿测试滑槽52反向平移，测试滑块51带动滑动块向远离待测的拼接型贴片发光二极管1方向移动，直至滑动块上的定位触发块42与待测的拼接型贴片发光二极管1的接触凹槽11完全脱离，滑动块上的定位触发凹槽43与待测的拼接型贴片发光二极管1的接触块12完全脱离，夹持组件2将通电正常的拼接型贴片发光二极管1移动至传送带8上，传送带8继续传送。

本发明的特点在于：通过夹持组件2实现对拼接型贴片发光二极管1的夹持与所处位置检测，并根据距离传感器25的数据信号，实现对拼接型贴片发光二极管1的所处角度进行调整，使得拼接型贴片发光二极管1的所处角度与测试组件3的测试方向相匹配，增加了测试组件3与拼接型贴片发光二极管1的匹配精准度；通过固定组件4、固定安装于固定组件4上的测试组件3以及标记组件7，实现了对拼接型贴片发光二极管1的匹配、固定、检测以及标记，使得对待测发光二极管的检测结果的直接标记，提高了检测效率和检测结果直观性。

以上对本发明的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利涵盖范围之内。

Claims (10)

1.一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，包括与拼接型贴片发光二极管(1)相匹配的夹持组件(2)以及用于检测的测试组件(3)，所述测试组件(3)包括与对拼接型贴片发光二极管(1)的各个引脚相对应匹配的多个匹配插件(31)以及用于拼接型贴片发光二极管(1)的识别相机(32)；

还包括多个固定组件(4)，所述固定组件(4)滑动均设置于测试平台(5)上，所述匹配插件(31)滑动设置于固定组件(4)一侧，所述一个固定组件(4)上滑动设置有两个相反驱动的匹配插件(31)，以实现对拼接型贴片发光二极管(1)的固定与对应测试。

2.根据权利要求1所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述固定组件(4)包括滑动设置于测试平台(5)的滑动板(41)以及固定于滑动板(41)上的定位触发块(42)与定位触发凹槽(43)，所述定位触发块(42)与定位触发凹槽(43)的位置分别与拼接型贴片发光二极管(1)的接触凹槽(11)和接触块(12)一一对应。

3.根据权利要求2所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述夹持组件(2)滑动设置于机架(6)上，所述测试装置还包括滑动安装于机架(6)上的标记组件(7)，所述标记组件(7)包括分别与拼接型贴片发光二极管(1)上的发光二极管相匹配的多个标记电机(71)，所述标记电机(71)的输出端设置有吸盘结构(72)，所述吸盘结构(72)吸附有粘贴标签，以实现对损坏发光二极管的标记。

4.根据权利要求3所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述夹持组件(2)包括调整转盘(21)以及均匀分布于调整转盘(21)底部的多个升降夹持电机(22)，多个升降夹持电机(22)分别与拼接型贴片发光二极管(1)一一对应匹配。

5.根据权利要求4所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述升降夹持电机(22)的底部均设置有平移夹持电机(23)，所述平移夹持电机(23)的输出端均设置有夹持块(24)，所述夹持块(24)底部还设置有距离传感器(25)，以实现对拼接型贴片发光二极管(1)的接触块(12)的距离的检测，进而实现对拼接型贴片发光二极管(1)的角度的识别。

6.根据权利要求5所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述调整转盘(21)的顶部固定安装于调整电机(26)的输出端，所述调整电机(26)固定安装于夹持滑块(27)的底部，所述夹持滑块(27)滑动设置于机架(6)内部，所述夹持滑块(27)套设于夹持螺杆(28)上，所述夹持螺杆(28)的一端转动安装于机架(6)内部，所述夹持螺杆(28)的另一端固定连接有夹持旋转电机，以实现对夹持组件(2)水平位置的调整。

7.根据权利要求6所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述滑动板(41)的底部设置有测试滑块(51)，所述测试滑块(51)滑动设置于测试平台(5)内部，所述测试滑块(51)套设于测试螺杆(33)上，所述测试螺杆(33)的一端转动安装于测试平台(5)内部，所述测试螺杆(33)的另一端固定连接有测试旋转电机(34)，以实现对滑动板(41)水平位置的调整。

8.根据权利要求7所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述识别相机(32)通过连接架固定安装于机架(6)上，所述识别相机(32)处于固定组件(4)的中心位置，以实现对拼接型贴片发光二极管(1)的各个发光二极管的识别。

9.根据权利要求8所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，所述匹配插件(31)分别为两种结构，同一滑动板(41)上的两个匹配插件(31)分别为两不同的结构，该两种结构分别与拼接型贴片发光二极管(1)的输入引脚(13)和输出引脚(14)的结构相同。

10.根据权利要求9所述的一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，其特征在于，多个固定组件(4)的数量为六个，多个固定组件(4)相互滑动组成与拼接型贴片发光二极管(1)相匹配的六边形结构，所述匹配插件(31)的位置与拼接型贴片发光二极管(1)的输入引脚(13)或输出引脚(14)的位置一一对应，以实现对拼接型贴片发光二极管(1)各个引脚的一一对应。

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