CN101852674A - 发光模块的检测设备及检测方法 - Google Patents

Abstract

一种发光模块及其组件的检测设备及方法，发光模块布设有发光二极管，检测设备包括积分检测器、箱体、承放板、传动机构及电性导接机构，积分检测器对应于发光模块配置，箱体形成有容置室，承放板盖合容置室且其设有通孔，发光模块置放于承放板，传动机构可驱动承放板作位移，电性导接机构包含相互电连接的导电端子及信号连接器，导电端子穿设于通孔，信号连接器控制导电端子电气信号的通、断路；使二极管与导电端子导接，利用信号连接器的通、断路变换使二极管产生明、灭，而从积分检测器予以检出。本发明还提供发光模块的检测方法，包括步骤：提供发光模块；提供积分检测器设于发光模块上方；提供电性导接机构；导接；发光二极管依序发亮；检测。

Description

发光模块的检测设备及检测方法

技术领域

本发明涉及一种检测设备，尤其涉及一种发光模块及其组件的检测设备及检测方法。

背景技术

近年来，利用发光二极管来照明已相当地普遍，例如：手电筒、汽机车的尾灯以及方向灯或是红绿灯。上述的灯具通常利用多个的发光二极管排列而成。若是此等发光二极管的其中之一损坏而无法发亮，则会使灯具整体照明的效果打折扣。因此，在制作发光二极管时，确保其良率为一相当重要的课题。

因此，发光二极管在制作完成后，出厂之前都必须经过检测，确保其可正常使用。现有的发光二极管检测设备，通常为一积分球检测器。然而在利用积分球检测器对发光二极管作检测时，必须移动积分球检测器使其对准发光二极管才能进行检测。或是固定积分球检测器的位置，移动发光二极管的位置使待检测的发光二极管位于积分球检测器的正下方，再进行检测。

然而，此种检测方式在实际执行时仍具有缺失，在检测过程时由于必须移动每个发光二极管或是移动积分球检测器。如此一来，当待检测发光二极管的数量增加后，便耗费许多时间在移动发光二极管或是移动积分球检测器上，无法有效提高检测效率。

发明内容

本发明的一目的，在于提供一种发光模块及其组件的检测设备及检测方法，由电子信号连接器的控制使发光模块上的多个发光二极管依序发亮来让积分检测器检测，而节省移动该些发光二极管的时间，提高检测效率。

为了达到上述的目的，本发明提供一种发光模块的检测设备，该发光模块上布设有多个发光二极管，该检测设备包括一积分检测器、一箱体、一承放板、一传动机构以及一电性导接机构；该积分检测器对应于所述发光模块配置，该箱体内部形成有一容置室，该容置室的一侧形成有一开口，该承放板对应该开口并盖合该容置室，该承放板设有多个通孔，所述发光模块置放于该承放板上，该传动机构固定于该箱体并可驱动该承放板相对该箱体作位移，该电性导接机构设于该容置室内，该电性导接机构包含多个导电端子以及一电子信号连接器，该些导电端子的一端分别穿设于该些通孔内，该电子信号连接器与该些导电端子电连接，并用以控制该些导电端子的电气信号的通路或断路；其中，该传动机构驱动该承放板移动，以使该些发光二极管与该些导电端子相互导接，利用该电子信号连接器的通路或断路变换使该些发光二极管产生明、灭，而从该积分检测器予以检出。

为了达到上述的目的，本发明提供一种发光模块的检测设备，该发光模块上布设有多个发光二极管，该检测设备包括一积分检测器、一箱体、一承放板以及一电性导接机构，该积分检测器对应于所述发光模块配置，该箱体内部形成有一容置室，该容置室的一侧形成有一开口，该承放板对应该开口并盖合该容置室，该承放板设有多个通孔，所述发光模块置放于该承放板上，该电性导接机构设于该容置室内，该电性导接机构包含多个导电端予以及一电子信号连接器，该些导电端子的一端分别穿设于该些通孔内，该电子信号连接器与该些导电端子电连接，并用以控制该些导电端子的电气信号的通路或断路；其中，该些发光二极管与该些导电端子相互导接，利用该电子信号连接器的通路或断路变换使该些发光二极管产生明、灭，而从该积分检测器予以检出。

为了达到上述的目的，本发明提供一种发光模块的检测方法，其步骤包括：a)提供布设有多个发光二极管的一发光模块；b)提供一积分检测器，将其装设于该发光模块上方；c)提供具有多个导电端子以及与该些导电端子电连接的一电子信号连接器的一电性导接机构；d)将该些发光二极管分别与该些导电端子相互导接；e)利用该电子信号连接器依序变换该些发光二极管与该些导电端子的电气信号的通路或断路；以及f)从该积分检测器上检视出各该发光二极管的光电特性。

本发明相较于现有技术所达到的功效在于，解决现有发光二极管在进行检测时，必须将发光二极管设置于一维或二维移动机构再依序移动各发光二极管使其对准积分检测器来进行检测的缺点。本发明的积分检测器罩盖于发光模块上，利用电子信号连接器来控制各个发光二极管的明、灭，以使积分检测器予以检出，节省移动各个发光二极管所耗费的时间，以提高检测效率。以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明检测设备的立体截面图；

图2为本发明检测设备的使用状态截面图(一)；

图3为本发明检测设备的使用状态截面图(二)；

图4为发光二极管的立体外观图；

图5为图4沿5-5剖面线的剖视图；

图6为本发明检测设备另一实施例的立体截面图；

图7为本发明检测设备又一实施例的立体截面图；

图8为本发明发光模块的检测方法的流程图。

其中，附图标记

1    检测设备

10   积分检测器

20   箱体

21   容置室            211开口

30   承放板

31   通孔              32    定位销

40   传动机构          40’传动机构

41   抽气管            42    弹性组件

43   气密墙            44    马达

45   螺杆

50   电性导接机构

51   导电端子          52    电子信号连接器

53   框架              54    导线

55   电路板            56    排线

80   发光模块

81   发光二极管

811  散热块            812   芯片

813     导电层                    814金线

101、102、103、104、105、106  步骤

具体实施方式

有关本发明的详细说明及技术内容，配合图式说明如下，然而所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

请参阅图1至图3，分别为本发明检测设备的立体截面图、本发明检测设备的使用状态截面图(一)以及本发明检测设备的使用状态截面图(二)，本发明提供一种用于发光模块80的检测设备1，该发光模块80上布设有多个发光二极管81，该检测设备1包括一积分检测器10、一箱体20、一承放板30、一传动机构40以及一电性导接机构50，其中：

积分检测器10对应于所述发光模块80配置而位于发光模块80的上方。

箱体20内部形成有一容置室21，容置室21的一侧形成有一开口211；本实施例中，开口211形成于箱体20顶端面，但不以此型态为限。

承放板30对应开口211并盖合容置室21，而承放板30可相对于箱体20作上下移动。承放板30设有多个通孔31并于该些通孔31的外侧延伸有多个定位销32，所述发光模块80置放于承放板30上；而发光模块80设有供定位销32穿设的多个贯孔82，以使发光模块80定位于承放板30上。

传动机构40固定于箱体20并可驱动承放板30相对箱体20作位移；进一步说明，本实施例中，传动机构40包含一抽气管41、多个弹性组件42以及一气密墙43，但不以此型态为限。抽气管41连接于箱体20并使容置室21与外部连通，弹性组件42为一压缩弹簧且其两端与承放板30底端面以及容置室21的底端面相互抵接。而气密墙43围设于承放板30以及容置室21底端面之间，而气密墙43为软性材质，可被压缩。气密墙43的作用在于使容置室21内部与外部隔绝，通过抽气管41的抽气，可使容置室21内部形成负压，而使承放板30受压力影响而下降。

电性导接机构50设于容置室21内，电性导接机构50包含多个导电端子51、一电子信号连接器52、一框架53以及多个导线54。

框架53设置于容置室21端面上，该些导电端子51一端连接于框架53，导电端子51的另一端则对应穿设于通孔31内，而导电端子51通过导线54而与电子信号连接器52电连接。电子信号连接器52用以控制该些导电端子的电性的通路或断路；其中，传动机构40驱动承放板30移动，以使该些发光二极管81与该些导电端子51相互导接，利用该电子信号连接器52的通路或断路变换使该些发光二极管81产生明、灭，而从积分检测器10予以检出。详细的作动状态将在下段陈述。

请详视图4及图5，分别为发光二极管的立体外观图以及图4沿5-5剖面线的剖视图，另外请再一并参阅图2及图3，抽气管41对容置室21抽气，使承放板30受一压力而往下移动，承放板30将会向下移动直到导电端子51与发光模块80的底部接触。

发光二极管81包括一散热块811、一芯片812、多个导电层813以及多个金线814，芯片812贴接于散热块811的顶端面，导电层813设于散热块811的两侧并外露于散热块811的上下端面及侧面，金线814则连接芯片812以及导电层813。

当导电端子51与发光模块80底部接触时，导电端子51将会抵接于发光二极管81的导电层813的底部。由于发光模块80具有多个发光二极管81，因此，导电端子51同时接触该些发光二极管81的导电层813。

接着，由电子信号连接器52可控制该些导电端子51的通电，因此可使发光二极管81依序发亮，而积分检测器10则可一一予以检测。因此，发光模块80仅需固定于承放板30上，而不需要相对积分检测器10作位移，可大幅节省检测时间。

请参照图6，为本发明检测设备另一实施例的立体截面图，本实施例中，电性导接机构50还包含一电路板55以及一排线56，电路板55叠接于框架53上，该些导电端子51连接于电路板55上，而排线56则插接于电路板55的一端，此种连接方式可使电性导接机构50的线路较为简洁。

请参照图7，为本发明检测设备又一实施例的立体截面图，本实施例中，传动机构40’可为另一种型态，传动机构40’包含一马达44以及螺接于承放板30的多个螺杆45，而螺杆45与马达44相互啮合并受驱动，由此种方式同样可使承放板30相对于箱体20作上下位移。

请参照图8，为本发明发光模块的检测方法的流程图，本发明还提供一种发光模块80的检测方法，其步骤包括：

步骤101：提供布设有多个发光二极管81的一发光模块80。

步骤102：提供一积分检测器10，将其装设于该发光模块80上方并罩盖该发光模块80。

步骤103：提供具有多个导电端子51以及与该些导电端子电51连接的一电子信号连接器52的一电性导接机构50。

步骤104：将该些发光二极管81分别与该些导电端子51相互导接。

步骤105：利用该电子信号连接器52依序变换该些发光二极管81与该些导电端子51的电气信号的通路或断路。以及

步骤106：从该积分检测器10上依序检视出该些发光二极管81的光电特性。

其中，积分检测器10可用以量测发光二极管81的光源特性，例如光谱、色坐标、色温、主波长、峰波长、演色性、流明值、饱和度或光通量等特性。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种发光模块的检测设备，该发光模块上布设有多个发光二极管，其特征在于，该检测设备包括：

一积分检测器，对应于所述发光模块配置；

一箱体，内部形成有一容置室，该容置室的一侧形成有一开口；

一承放板，对应该开口并盖合该容置室，该承放板设有多个通孔，所述发光模块置放于该承放板上；

一传动机构，固定于该箱体并可驱动该承放板相对该箱体作位移；以及

一电性导接机构，设于该容置室内，该电性导接机构包含多个导电端子以及一电子信号连接器，该些导电端子的一端分别穿设于该些通孔内，该电子信号连接器与该些导电端子电连接，并用以控制该些导电端子的电气信号的通路或断路；

其中，该传动机构驱动该承放板移动，以使该些发光二极管与该些导电端子相互导接，利用该电子信号连接器的通路或断路变换使该些发光二极管产生明、灭，而从该积分检测器予以检出。

2.根据权利要求1所述发光模块的检测设备，其特征在于，该传动机构包含一抽气管、多个弹性组件以及一气密墙，该抽气管连接于该箱体并使该容置室与外部连通，该弹性组件两端分别与该承放板底端面以及该容置室的底端面相互抵接，该气密墙围设于该承放板以及该容置室底端面之间，由该抽气管向该容置室内抽气，以使该承放板受压而向下移动。

3.根据权利要求1所述发光模块的检测设备，其特征在于，该电性导接机构还包含一框架以及多个导线，该框架设置于该容置室端面上，该些导电端子连接于该框架，该导电端子通过该导线与该电子信号连接器电连接。

4.根据权利要求1所述发光模块的检测设备，其特征在于，该电性导接机构还包含一框架、一电路板以及一排线，该框架设置于该容置室端面上，该电路板叠接于该框架上，该些导电端子连接于该电路板上，该排线则插接于该电路板的一端。

5.根据权利要求1所述发光模块的检测设备，其特征在于，该传动机构包含一马达以及螺接于该承放板的多个螺杆，该些螺杆与该马达相互啮合并受驱动，以使该承放板相对于该箱体作上下位移。

6.一种发光模块的检测设备，该发光模块上布设有多个发光二极管，其特征在于，该检测设备包括：

一积分检测器，对应于所述发光模块配置；

一箱体，内部形成有一容置室，该容置室的一侧形成有一开口；

一承放板，对应该开口并盖合该容置室，该承放板设有多个通孔，所述发光模块置放于该承放板上；以及

一电性导接机构，设于该容置室内，该电性导接机构包含多个导电端子以及一电子信号连接器，该些导电端子的一端分别穿设于该些通孔内，该电子信号连接器与该些导电端子电连接，并用以控制该些导电端子的电气信号的通路或断路；

其中，该些发光二极管与该些导电端子相互导接，利用该电子信号连接器的通路或断路变换使该些发光二极管产生明、灭，而从该积分检测器予以检出。

7.根据权利要求6所述发光模块的检测设备，其特征在于，该电性导接机构还包含一框架以及多个导线，该框架设置于该容置室端面上，该些导电端子连接于该框架，该导电端子通过该导线与该电子信号连接器电连接。

8.根据权利要求6所述发光模块的检测设备，其特征在于，该电性导接机构还包含一框架、一电路板以及一排线，该框架设置于该容置室端面上，该电路板叠接于该框架上，该些导电端子连接于该电路板上，该排线则插接于该电路板的一端。

9.一种发光模块的检测方法，其特征在于，步骤包括：

a)提供布设有多个发光二极管的一发光模块；

b)提供一积分检测器，将其装设于该发光模块上方；

c)提供具有多个导电端子以及与该些导电端子电连接的一电子信号连接器的一电性导接机构；

d)将该些发光二极管分别与该些导电端子相互导接；

e)利用该电子信号连接器依序变换该些发光二极管与该些导电端子的电气信号的通路或断路；以及

f)从该积分检测器上检视出各该发光二极管的光电特性。

10.根据权利要求9所述发光模块的检测方法，其特征在于，步骤f)的该积分检测器为依序检视各该发光二极管。

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