CN102680912A - 光源检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置,包括测试台,所述测试台内装设有测试针,所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板,该电路板上设有电路结构,该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接,所述发光二极管光源装设于测试台上,所述测试台上装设有具有弹性的第一压板和第二压板,该第一压板和第二压板均具有固定端和悬臂端,该固定端固定于测试台上,该悬臂端夹持电路板,该电路板上的电路结构与测试针电性连接。对光源的尺寸和形状不产生限制性作用,故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。
Description
技术领域
本发明涉及一种光源检测装置,特别涉及一种检测发光二极管光源的光源检测装置。
背景技术
现有的发光二极管光源检测装置通常包括测试台、旋转座以及用于检测发光二极管光源的测试针。旋转座连接于测试台底面,该测试台的顶面开设有一个固定形状的凹槽,用于放置发光二极管光源。转动旋转座可将测试针从测试台上表面穿设而出并与发光二极管光源的电极接触,从而进行光源检测。
然而由于测试台上用于放置发光二极管光源的凹槽其形状及尺寸已经固定,故该检测装置只适用于检测一定形状和尺寸的发光二极管光源。此外由于发光二极管光源装设于凹槽内,如果测试台采用的材料不具备良好的热传导性,则发光二极管光源产生的热量不易快速消散,从而对测试结果产生不良影响。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种能够检测多种形状及尺寸发光二极管的光源检测装置。
一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置,包括测试台,所述测试台内装设有测试针,所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板,该电路板上设有电路结构,该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接,所述发光二极管光源装设于测试台上,所述测试台上装设有具有弹性的第一压板和第二压板,该第一压板和第二压板均具有固定端和悬臂端,该固定端固定于测试台上,该悬臂端夹持电路板,该电路板上的电路结构与测试针电性连接。
采用第一压板和第二压板将发光二极管光源压持固定于测试台上,对发光二极管的尺寸和形状不产生限制性作用,故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。
下面参照附图,结合具体实施例对本发明作进一步的描述。
附图说明
图1为本发明第一实施方式的光源检测装置的俯视示意图。
图2为图1中的光源检测装置装设有发光二极管光源的俯视示意图。
图3为图2中的光源检测装置装设有发光二极管光源的侧视示意图。
图4为本发明第二实施方式的光源检测装置的俯视示意图。
图5为图4中的光源检测装置装设有发光二极管光源的俯视示意图。
图6为图5中的光源检测装置装设有发光二极管光源的侧视示意图。
主要元件符号说明
光源检测装置 | 10、20 |
测试台 | 11、21 |
顶面 | 111、211 |
底面 | 112 |
通孔 | 113、213 |
测试针 | 114、214 |
第一压板 | 115、215 |
第二压板 | 116、216 |
定位块 | 117 |
基座 | 12、22 |
发光二极管光源 | 30 |
发光二极管 | 31 |
电路板 | 32、34 |
上表面 | 321、341 |
下表面 | 322 |
电路结构 | 323、343 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1至图3,本发明第一实施方式提供的一种光源检测装置10包括测试台11和基座12,用于对发光二极管光源30进行检测。
所述发光二极管光源30包括发光二极管31和电路板32。该发光二极管31装设于电路板32上。该电路板32具有相对的上表面321和下表面322,以及自上表面321向下延伸至下表面322的电路结构323。该发光二极管31与电路结构323形成电性连接。在本实施例中,该电路结构323分为左右两块,两者间距小于发光二极管31的尺寸,从而保证发光二极管31与电路板32的电性连接。
所述测试台11用于放置发光二极管光源30。该测试台11具有相对的顶面111和底面112,以及两个贯穿该顶面111和底面112的通孔113。该测试台11大致呈圆柱体。在本实施方式中,该通孔113的数量为两个,当然在其他实施方式中,可根据需要设置通孔113的数量。该两通孔113对称分布于该顶面111上,并与前述电路结构323的位置相对应。该通孔113用于装设测试针114。
所述测试针114穿设于该通孔113并露出于顶面111和底面112。在本实施方式中,测试针114的数量为两个,分别穿设两个通孔113。当测试台11上装设电路板32后,该测试针114通过通孔113抵靠于与电路板32的电路结构323,从而与该电路板32形成电性连接,进而可对发光二极管31进行检测。
所述测试台11的顶面111上装设有第一压板115、第二压板116和定位块117。所述测试台11的底面112与基座12的上表面贴合连接,以使所述测试台11固定于该基座12上。
所述第一压板115和第二压板116分别位于两通孔113的外侧,第一压板115和第二压板116两者之间的距离大于所需放入的电路板32的宽度。第一压板115和第二压板116的远离通孔113的一端固定于顶面111上形成固定端,未固定的一端形成悬臂端。该第一压板115和第二压板116可采用弹性材料,例如,具有弹性的金属材料,从而使该悬臂端可上下拨动。当向上拉动悬臂端时,可使第一压板115、第二压板116与顶面111之间的间距增大,从而从侧面将电路板32推置于第一压板115和第二压板116之下;然后松开悬臂端,使其将电路板32夹紧,由此限制电路板32沿第一压板115和第二压板116的连线方向的位移。在本实施方式中,第一压板115和第二压板116的固定方式为螺钉连接固定。在其他实施方式中,还可以采用焊接等方式将第一压板115和第二压板116的固定端固定于顶面111上。
所述定位块117装设于顶面111上,并平行于第一压板115和第二压板116的连线。在将电路板32从侧面推入第一压板115和第二压板116之下的过程中,当所述电路板32沿垂直于第一压板115和第二压板116连线的方向推动至抵靠于定位块117后即不能再向前推动,从而对电路板32进行限位。
所述基座12的上表面与测试针114接触连接并形成电性连接,并通向其他检测元件(图未示)。
采用本实施方式提供的光源检测装置10对发光二极管光源30进行检测前,首先拉开第一压板115和第二压板116,使第一压板115和第二压板116与测试台11的顶面111保持足以容纳电路板32厚度的距离;然后从侧面将电路板32推入第一压板115和第二压板116之下,并保持电路板32的电路结构323与露出于顶面111的测试针114相接触;松开第一压板115和第二压板116,将电路板32固定于测试台11上。此时测试针114与发光二极管31形成电性连接,操作电源等即可实现对发光二极管31的检测。
所述测试台11的顶面111为一个开放的空间,只对电路板32进行卡持和限位,故对装设于其上的发光二极管31的尺寸和形状均不会产生限制性影响,因此该光源检测装置10可对多种发光二极管光源30进行检测,更具通用性。此外,为了更加利于散热的需要,可采用具有高散热效率的材料制作电路板,从而避免了热量对发光二极管光源30检测的影响。
本实施方式提供的光源检测装置10直接将电路板32与测试针114接触,从而实现发光二极管31与基座12的电性连接,从而实现对发光二极管光源30的检测。
请参阅图4至图6,本发明第二实施方式提供的一种光源检测装置20包括测试台21和基座22,用于对发光二极管光源30进行检测。
所述发光二极管光源30包括发光二极管31和电路板34。该电路板34的上表面341形成有电路结构343。
所述测试台21与第一实施方式中的测试台11的区别在于,该测试台21自顶面211向下形成的两通孔213之间的距离大于所需装设的电路板34的宽度。所述测试台21上装设的第一压板215和第二压板216均采用导电材料制成,测试针214穿过顶面211抵靠于第一压板215和第二压板216的固定端并形成电性连接。该电路板32的上表面压持于第一压板215和第二压板216的悬臂端之下,并通过第一压板215和第二压板216使得电路结构343与测试针214形成电性连接。
第二实施方式提供的光源检测装置20将第一压板215和第二压板216作为导通电路板34和测试针214的中间元件,同样使得发光二极管光源30与下部基座22形成电性连接,从而实现对发光二极管光源30的检测。
可以理解的是,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形,而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种光源检测装置,用于检测发光二极管光源,包括测试台,所述测试台内装设有测试针,所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板,该电路板上设有电路结构,该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接,所述发光二极管光源装设于测试台上,其特征在于:所述测试台上装设有具有弹性的第一压板和第二压板,该第一压板和第二压板均具有固定端和悬臂端,该固定端固定于测试台上,该悬臂端夹持电路板,该电路板上的电路结构与测试针电性连接。
2.如权利要求1所述的光源检测装置,其特征在于:所述测试台具有相对设置的顶面和底面,以及贯穿该顶面和底面的通孔,每一个测试针穿设于每一个通孔内并露出于顶面和底面。
3.如权利要求2所述的光源检测装置,其特征在于:所述通孔之间的距离小于电路板的宽度。
4.如权利要求3所述的光源检测装置,其特征在于:所述电路结构自电路板装设有发光二极管的上表面延伸至远离上表面的下表面,所述测试针穿过测试台的顶面抵靠于电路板的下表面并与电路结构形成电性连接。
5.如权利要求1所述的光源检测装置,其特征在于:所述第一压板和第二压板采用金属材料制成。
6.如权利要求2所述的光源检测装置,其特征在于:所述通孔之间的距离大于电路板的宽度。
7.如权利要求6所述的光源检测装置,其特征在于:所述电路结构形成于电路板的上表面,所述测试针穿过测试台的顶面分别抵靠于第一压板和第二压板的固定端,所述第一压板和第二压板采用导电材料制成,所述该第一压板和第二压板的悬臂端压持于电路板的上表面,并将电路结构与测试针电性连接。
8.如权利要求1所述的光源检测装置,其特征在于:所述测试台上还装设有一个定位块,该定位块平行于第一压板和第二压板的连线方向,所述电路板抵靠于该定位块。
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