CN2138303Y - 发光二极管测试仪的一种装置 - Google Patents

Abstract

测试发光二极管的装置，是发光二极管光电参数 测试仪的关键部件。它由光电探头、支架、测量台及 测量基座组成。光电探头和测量台有电缆可连接发 光二极管测试仪电气箱，分别输出光电信号和获得驱 动发光二极管的电流。只要使光电探头在弹簧作用 下升起，即可在测量台的插座内插进待测管，压下光 电探头后，即可获得发光二极管辐射的，由光电探测 器转换的光电信号，其稳定性重复性好，测试精度 高。

Description

本实用新型属于半导体发光二极管光电参数测试仪中的关键部件。

目前发光二极管光电参数测试仪的测试装置可归纳为两种类型：

1.光探测器与待测发光二极管在无杂散光屏蔽状况下进行测试。周围杂散光线和发光二极管的光辐射一起作用在光探测器上，周围杂散光产生的信号有时比待测光二极管产生的信号还要大。为消除杂散光的影响，必须设计能自动消除杂散光的系统，这使整个仪器装置设计变得复杂。从采用此类装置的测试仪来看，杂散光消除不干净，给测试结果造成一定误差。

2.待测发光二极管放置在隔绝杂散光线的可伸缩的纸质暗箱内测试。这种装置中，光探测器与纸质暗箱之间无刚性连接，光探测器中心容易偏离测试视场中心而产生测试误差。从采用这种装置的仪器来看，待测发光二极管插在一个有插座的木抽屉内，木抽屉再塞进纸质暗箱的下部。这种装置可靠性较差，更换待测管不够方便。

另一个重要的问题是：采用上述两种类型装置难以采用标准光强度灯直接对发光二极管测试仪进行光强标定。它必须采用由标准光强度灯已标定的发光二极管样管来标定仪器，发光二极管样管的不稳定性和标定误差增加了发光二极管测试误差。

本实用新型目的是提供发光二极管测试仪中的一种装置，它既可完全消除周围杂散光的影响，又能保证光探测中心不偏离测试视场中心，更换待测管也很方便；采用本装置的测试仪，可用标准光强度灯直接进行光强标定。

上述目的由以下方案加以实现：

一种发光二极管测试仪的装置，主要由光电探头、待测发光二极管插座及支架、基座等部件组成。其结构特点是光电探头由设有安装光学系统和探测器的圆筒及与其一体或连接成一体的遮光筒构成，遮光筒内设有遮光光栏和消杂散光螺纹；光电探头与装有待测发光二极管插座的测量台之间可精确定向地相对移动。在测试发光二极管时，光电探头与测量台相对移动，使插座上的待测发光二极管精确地被罩进遮光筒内。待测管在屏绝杂散光的情况下发光，通过光度探测器转换成光电流，经与本实用新型配套的测试仪中电气箱内线路处理就可显示出待测管的光学参数。

本方案优点：

1.由于待测管在屏绝杂散光情况下发光，能完全消除周围杂散光对测试精度的影响。

2.由于光度探测器与待测管的相对位置精确固定，保证光探测中心不偏离测试视场中心，提高了测试精度。

3.采用本装置，它的光电探头连同配套的测试仪电气箱，可在光轨上用标准光强度灯对测试仪光强直接进行标定，提高了整机测试精度。

4.更换待测管很方便。

附图是本实用新型装置的结构示意图。

参照附图进一步说明本方案的实施例：

例1：

如附图所示，光电探头1的上部圆筒段为放置光学系统和大面积硅光电二极管组成的光度探测器，下部（比上部圆筒段细长些）筒体为遮光筒，此筒内设有遮光光栏及消杂散光螺纹。上下两部可以制成一体，或由连接件连接成一体。在遮光筒一侧筒壁上开有一细长导槽A。遮光筒以滑动配合套入安装在基座6上的支架3的孔内。在支架3两侧装有两个对称的螺钉，其中一螺钉B对准遮光筒上细长导槽A，使光电探头1能沿导槽A作精确的上下定向移动。另一螺钉可使光电探头1固定在某所需位置，松开此螺钉，光电探头即可上下移动。在光电探头1的遮光筒外面套有弹簧（压簧）2，此弹簧位于光电探头上部圆筒段下端面与支架3的孔上端面之间。测量台5装在基座6上，测量台5上开有凹槽D，其上装有待测管插座4，按装位置要求在测试发光二极管时，手按光电探头1压缩弹簧，遮光筒下端恰好落入凹槽D内，保证光度探测器与待测管之间有精确固定的相对位置。使在测试时，待测管在屏绝杂散光条件下发光，测试不受周围杂散光的任何影响。测试完一个待测管后，只需放开光电探头，在弹簧作用下即使光电探头升起，可放便地更换待测管。

例2：

弹簧2安装在测量台5的外圆C处，位于基座6上端面与测量台5上部凸缘的下端面之间。测量台5外圆C与基座6内孔滑动配合。光电探头1用螺钉固定在支架上。其余结构与例1相同。在测试时，测量台5在弹簧作用下升起，测量台凹槽D罩进遮光筒下端，与例1一样亦使待测管在屏绝周围杂散光情况下测试。需要更换待测管时，只需用手轻轻按下测量台5，就可方便地插进或拔出待测管。

Claims (6)

1、发光二极管测试仪的一种装置，由光电探头、待测发光二极管插座、支架、及基座组成，其特征在于光电探头[1]设有安装光学系统和探测器的圆筒及与其一体的设有遮光光栏和消杂散光螺纹的遮光筒，光电探头[1]与装有待测发光二极管插座[4]的测量台[5]之间可定向相对移动，在测试发光二极管时，将插在插座[4]上的待测发光二极管罩入遮光筒内。

2、根据权利要求1所述的装置，其特征在于光电探头〔1〕内安装光学系统和探测器的圆筒与遮光筒做成两体，由联接件连接成一体。

3、根据权利要求1或2所述的装置，其特征是测量台〔5〕上有凹槽D，插座〔4〕装在其中，使用时遮光筒下端恰好进入凹槽D内。

4、根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于光电探头〔1〕的遮光筒套入安装在基座〔6〕上的支架〔3〕的孔内，在支架〔3〕两侧装有对称的两个螺钉，其中一螺钉〔B〕对准遮光筒上的细长导槽〔A〕，光电探头〔1〕可沿支架〔3〕的孔定向移动，另一个螺钉为光电探头的定位钉。

5、根据权利要求4所述的装置，其特征在于光电探头〔1〕的遮光筒外面套有弹簧〔2〕，该弹簧装在位于光电探头〔1〕上部较大圆筒与支架〔3〕之间。

6、根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于测量台〔5〕下部装入基座〔6〕可相对移动，在测量台〔5〕的外圆C处套有弹簧，位于基座〔6〕的上端面与测量台〔5〕上部凸缘下端面之间。