CN114323255A - 共振测试系统及共振测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种共振测试系统及共振测试方法,共振测试系统用于测试一待测物,包括一处理电路、一麦克风阵列及一摄影机。处理电路用以产生一扫频信号,并传送扫频信号至待测物,其中待测物基于扫频信号播放声音。麦克风阵列耦接至处理电路,麦克风阵列包含多个麦克风,每一麦克风接收待测物播放的声音,麦克风阵列输出对应于麦克风的多个声源信号。摄影机耦接至处理电路,用以撷取待测物的一即时影像信号并传送至处理电路。处理电路用以根据上述声源信号计算共振位置与共振强度,并结合共振位置、共振强度及即时影像信号,产生即时共振结果。借此,测试共振系统可提供视觉化的即时共振结果,使得使用者可便利地知道共振的强度及来源。
Description
技术领域
本揭示文件是关于一种开发显示装置的系统,尤指一种用于测试显示装置共振的系统。
背景技术
在开发显示装置过程中,为了减少显示装置播放声音时所产生的共振,而在显示装置中的构造或材质进行改良。然而,在习知改良共振的方法,无法得知即时且视觉化的共振来源及强度,因此,若采用习知方法,对于开发显示装置的人员,将无法便利地得知改良后的效果。
发明内容
本揭示内容的一实施例是关于一种共振测试系统,用于测试一待测物,包含一处理电路、一麦克风阵列及一摄影机。处理电路用以产生一扫频信号,并传送扫频信号至待测物,其中待测物基于扫频信号播放声音。麦克风阵列耦接至处理电路,麦克风阵列包含多个麦克风,每一麦克风接收待测物播放的声音,麦克风阵列输出对应于上述麦克风的多个声源信号至处理电路。摄影机耦接至处理电路,用以撷取待测物的一即时影像信号,并传送即时影像信号至处理电路。其中,当待测物基于扫频信号播放声音而产生共振时,处理电路根据上述声源信号计算待测物的一共振位置与一共振强度,并结合共振位置、共振强度及即时影像信号,产生一即时共振结果。
于一实施例中,处理电路还包含一多声道音效卡。多声道音效卡包含一输出端及一输入端。输出端用以输出扫频信号。输入端用以接收来自麦克风阵列的上述声源信号。其中处理电路用以基于一起始频率、一结束频率及一测试时间产生扫频信号。
于一实施例中,当待测物基于扫频信号播放声音而产生共振时,处理电路重复产生对应于一共振频段的扫频信号,以即时判断共振是否持续存在。其中当共振持续存在,处理电路用以输出具有共振位置及共振强度的即时共振结果。
于一实施例中,麦克风阵列包含一第一麦克风、一第二麦克风及一第三麦克风。第一麦克风、第二麦克风及第三麦克风呈三角形排列,并位于一平面上,第一麦克风、第二麦克风及第三麦克风用以接收来自待测物播放的声音,并分别传送一第一声源信号、一第二声源信号及一第三声源信号至处理电路。其中处理电路用以基于第一声源信号、第二声源信号及第三声源信号分别计算一第一共振强度、一第二共振强度以及一第三共振强度。其中处理电路用以判断第一共振强度、第二共振强度以及第三共振强度是否大于一阀值。其中处理电路用以根据大于阀值的第一共振强度、第二共振强度以及第三共振强度至少一者判断待测物中共振位置。
本揭示内容的一实施例是关于一种共振测试方法,包含:产生一扫频信号至一待测物,使待测物播放声音;通过多个麦克风中的每一麦克风接收待测物播放的声音,上述麦克风输出对应于上述麦克风的多个声源信号至一处理电路;通过一摄影机撷取待测物的一即时影像信号,并传送即时影像信号至处理电路;以及当待测物基于扫频信号播放声音而产生共振时,根据上述声源信号计算待测物的一共振位置与一共振强度,并结合共振位置、共振强度及即时影像信号,产生一即时共振结果。
于一实施例中,共振测试方法还包含:基于一起始频率、一结束频率以及一测试时间产生扫频信号。
于一实施例中,共振测试方法还包含:通过上述麦克风中的一第一麦克风、一第二麦克风及一第三麦克风接收来自待测物播放的声音,并传送一第一声源信号、一第二声源信号及一第三声源信号至处理电路,其中第一麦克风、第二麦克风及第三麦克风呈三角形排列,并位于一平面上;基于第一声源信号、第二声源信号及第三声源信号计算一第一共振强度、一第二共振强度以及一第三共振强度;判断第一共振强度、第二共振强度以及第三共振强度是否大于一阀值;以及根据大于阀值的第一共振强度、第二共振强度以及第三共振强度至少一者判断待测物中共振位置。
于一实施例中,共振测试方法还包含:将即时共振结果显示于一显示屏幕上,其中即时共振结果具有在待测物上的共振强度及共振位置的一标示。
于一实施例中,共振测试方法还包含:当待测物基于扫频信号播放声音而产生共振时,重复产生对应于一共振频段的扫频信号,以即时判断共振是否持续存在;以及当共振持续存在,输出即时共振结果仍具有共振位置及共振强度。
于一实施例中,共振测试方法还包含:若共振持续存在,对应待测物的结构产生一调整提示,以改善待测物播放声音产生的共振;以及重复产生对应于共振频段的扫频信号,以判断经调整后的待测物中的共振是否持续存在。
通过上述实施方式,本揭示文件的共振测试系统及共振测试方法可提供视觉化的即时共振结果,使得使用者可便利地知道共振的强度及来源。
附图说明
为让本揭示内容的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说明如下:
图1为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的示意图;
图2为根据本揭示的一些实施例绘示处理电路的部分方块图;
图3为根据本揭示的一些实施例绘示麦克风阵列的示意图;
图4A为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的共振强度相对于扫描频率的曲线图;
图4B为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的即时共振结果的示意图;
图4C为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的另一即时共振结果的示意图;
图4D为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的另一即时共振结果的示意图;
图5A为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的共振强度相对于扫描频率的曲线图;
图5B为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的即时共振结果的示意图;
图5C为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的另一即时共振结果的示意图;
图6为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统的测试流程图。
【符号说明】
100:共振测试系统
110:处理电路
120:显示屏幕
130:摄影机
140:麦克风阵列
210:多声道音效卡
220:输入端
230:输出端
302、304、306、308、310、312、314、316、318:麦克风
410:曲线
440a、440b:共振位置
510:曲线
540:共振位置
DUT:待测物
RIS:即时影像信号
SDS;声源信号
SPS;扫频信号
RNR;即时共振结果
B1、B2:选取共振频段
R1、R2、R3、R4、R5:即时共振结果
S10、S20、S30、S40、S50、S60、S70、S80、S90:步骤
具体实施方式
下文是举实施例配合所附附图作详细说明,以更好地理解本案的态样,但所提供的实施例并非用以限制本案所涵盖的范围,而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序,任何由元件重新组合的结构,所产生具有均等功效的装置,皆为本案所涵盖的范围。
请参照图1。图1为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的示意图。
如图1所示,在一些实施例中,共振测试系统100用以测试待测物DUT在播放声音/影片或是其他有音效的多媒体文件时所发生的共振情况。于一实施例中,待测物DUT可以是电视、计算机屏幕或是其他具有音效播放功能的电子显示装置。
共振测试系统100包括处理电路110、麦克风阵列140、摄影机130及显示屏幕120。处理电路110用以基于一使用者输入的起始频率、结束频率及测试时间产生扫频信号SPS。处理电路110根据下式来产生扫频信号SPS:
fstart为起始频率,fstop为结束频率,以及T为测试时间。待测物DUT耦接至处理电路110,并基于扫频信号SPS播放声音。播放声音的过程中,当扫频信号SPS的频率与待测物DUT的共振频率接近时,待测物DUT会产生共振。麦克风阵列140耦接至处理电路110,设置于待测物DUT前方,用以接收待测物DUT播放的声音,并将接收的声音转换声源信号SDS后输出至处理电路110。摄影机130耦接至处理电路110,且与麦克风阵列140相邻设置,并且摄影机130用以撷取待测物DUT的一即时影像信号RIS,并传送即时影像信号RIS至处理电路110。处理电路110用以根据声源信号SDS计算共振数据。处理电路110接着可以结合共振数据及即时影像信号RIS产生一即时共振结果RNR至显示屏幕120并显示即时共振结果RNR。关于如何根据声源信号SDS计算共振数据,进而与即时影像信号RIS结合产生即时共振结果RNR的详细作法,将在后续实施例当中配合实际的操作范例有进一步说明。借此使用者可以从即时共振结果RNR得知目前待测物DUT是否在起始频率及结束频率之间的频率有共振产生。
请参照图2。图2为根据本揭示的一些实施例绘示处理电路110的部分方块图。如图2所示,在一些实施例中,处理电路110包括多声道音效卡210。多声道音效卡210包括输出端230及输入端220。输出端230用以输出扫频信号SPS。输入端220用以接收来自麦克风阵列140的多个声源信号SDS。多声道音效卡210的位置仅为示例,其他的多声道音效卡210的位置在本揭示文件的思及范围内。在其他实施例中,多声道音效卡210为外接音效卡(未绘示),外接音效卡耦接处理电路110、麦克风阵列140及待测物DUT,并且输出来自处理电路110的扫频信号SPS及接收多个声源信号SDS以传输至处理电路110。
请参照图3。图3为根据本揭示的一些实施例绘示麦克风阵列140的示意图。如图3所示,在一些实施例中,麦克风阵列140包括麦克风302、304、306、308、310、312、314、316、318。麦克风阵列140的排列方式为三支麦克风(例如,麦克风302、304及306)一行,总共三行及九支麦克风。麦克风阵列140的数量及排列方式仅是示例,其他的麦克风阵列140的数量及排列方式在本揭示文件的思及范围内。
在一些实施例中,摄影机130设置于麦克风阵列140中的麦克风304、306、310、312的中间。摄影机130设置的位置仅为示例,其他的摄影机130设置的位置在本揭示文件的思及范围内。在其他实施例中,摄影机130设置相邻于麦克风314。
在一些实施例中,麦克风阵列140中的每一者用以接收来自待测物DUT播放的声音,并且麦克风阵列140中的麦克风302-318用以分别产生各别的声源信号SDS以传送多个声源信号SDS至处理电路110。处理电路110用以基于多个声源信号SDS计算共振数据。如图4B及图4C中的即时共振结果R1及R2所示,共振数据包括共振位置(例如440a及440b)及共振强度。关于共振位置及共振强度的计算方法,将在下方做论述。并且,即时共振结果R1及R2的此些共振强度的大小及分布用等值线表示,或用不同灰阶深浅或不同的颜色区分(未绘示)。共振位置用黑点做标记。即时共振结果让使用者可以明确看出共振的强度及来源。
请参照图4A。图4A为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的共振强度相对于扫描频率的曲线图。如图4A所示,在一些实施例中,处理电路110用以产生共振强度对扫描频率的曲线410。曲线410为使用者设定起始频率为20Hz且设定结束频率为450Hz所产生的。座标上的垂直轴对应共振强度,且处理电路110用以根据下式来计算共振强度(Resonance Level):
式子右侧的分母(Energy_reference)为参考能量,分子(Energy_harmonic_band)为谐波频带能量。在待测物DUT基于扫频信号SPS播放声音之前,处理电路110对麦克风阵列140中的每一者接收到的背景声音分别进行高通滤波处理,以过滤不需要的信号。接着处理电路110根据高通滤波后的背景声音分别计算麦克风阵列140中的每一者对应的参考能量。当待测物DUT基于扫频信号SPS开始持续播放声音时,麦克风阵列140中的每一者接收对待测物DUT播放的声音,麦克风阵列140中的每一者根据接收到的声音对应产生多个声源信号SDS。接着处理电路110可根据多个声源信号SDS分别计算多个谐波频带能量,以产生曲线410。如图4A所示,曲线410即为不同麦克风302-318在不同扫描频率的扫频信号SPS下的共振强度。
应注意的是,上述曲线410的扫描频率仅作为示例,并不以此为限。在其他实施例中,扫描频率的范围可以是20Hz至5000Hz。
在一些实施例中,使用者可自行设定一阀值,大于此阀值的共振强度的位置才被考虑为发生共振。因此,处理电路110用以判断此些共振强度的每一者是否大于一阀值。处理电路110用以根据大于阀值的此些共振强度的每一者判断待测物DUT中的共振位置。
请参照图4B。图4B为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的即时共振结果R1的示意图。如图4B所示,在一些实施例中,处理电路110用以计算在扫频信号SPS的频率为100Hz来自麦克风阵列140中的每一者的声源信号SDS的共振强度。并且,处理电路110利用内插法得到来自九支麦克风302-318的声源信号SDS所产生的共振强度以外的周围的共振强度。由于麦克风302-318的位置已经预先设置完成,处理电路110可根据麦克风302-318的位置以及各自对应的共振强度计算出在待测物DUT上共振强度的分布。
在一实施例中,扫频信号SPS的频率是由20Hz逐步增加至450Hz。当待测物DUT扫频信号SPS的频率大致为100Hz时,由麦克风302-318侦测到的声源信号可以发现在待测物DUT上发生不同程度的共振。如图4B所示,麦克风302、304及306侦测的声源信号具有相对较高的共振强度,另一方面,麦克风308、310及312侦测的声源信号具有次高的共振强度,另外麦克风314、316及318侦测的声源信号具有较低的共振强度。因此,处理电路110基于图3当中麦克风302-318彼此的相对位置以及上述声源信号的结果判断100Hz的频率上共振强度最高的共振位置440a较为接近在待测物DUT左侧。处理电路110根据得到的共振位置440a把不同程度的共振强度结合至摄影机130拍摄的即时影像信号RIS,形成即时共振结果R1并显示于显示屏幕120上。如图4B所示,显示屏幕120上显示的即时共振结果R1可以展示待测物DUT的外型,并将强度最高的共振位置440a以及周遭的共振强度一并标示在画面当中。借此,使用者可以在即时共振结果R1直接看到待测物DUT的外型以及图像化的即时共振结果R1(对应100Hz),方便后续进行待测物DUT的调整。
请参照图4C。图4C为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的另一即时共振结果R2的示意图。相较于与前述扫频信号SPS的频率为100Hz的实施例,不同之处在于当待测物DUT播放频率为200Hz的扫频信号SPS时,麦克风308、310及312得到较高的共振强度,其他麦克风302~306以及314~318得到相对较低的共振强度。相应地,处理电路110可以由上述共振强度的分布以及图3当中麦克风302-318彼此的相对位置判断最高共振强度的共振位置440b。于此例子中由于得到高强度的麦克风308、310及312相对应侦测到大致上待测物DUT水平中段的位置,因此可以判断共振位置440b大致上落在待测物DUT水平中段。于一实施例中,当待测物DUT播放音频的时候可能在不同频段上在不同的位置发生共振。处理电路110根据得到的共振位置440b把不同程度的共振强度结合至摄影机130拍摄的即时影像信号RIS,形成即时共振结果R2并显示于显示屏幕120上,产生即时共振结果R2与产生即时共振结果R1的方式相同,在此不再赘述。借此,使用者可以在即时共振结果R2直接看到待测物DUT的外型以及图像化的即时共振结果R2(对应200Hz),方便后续进行待测物DUT的调整。
请参照图4D。图4D为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的另一即时共振结果R3的示意图。如图4D所示,在一些实施例中,当扫频信号SPS的频率为300Hz时,麦克风阵列140未量测到待测物DUT播放的声音有共振产生。显示屏幕120用以显示即时共振结果R3中待测物DUT上无共振。在一些实施例中,麦克风阵列140在扫频信号SPS的某部分频段(例如,300Hz及400Hz)未量测到待测物DUT发生共振。于一些实施例中,显示屏幕120仍然可以显示即时共振结果R3(其中可以看出未发生共振)。于另一些实施例中,显示屏幕120直接跳过此部分频段(例如300Hz及400Hz)也就是不显示图4D中的即时共振结果R3,仅交替(或分割)显示图4B及图4C中的即时共振结果R1及R2。
在一些实施例中,即时共振结果R1、R2及R3指出共振发生的频率在选取共振频段B1(例如,图4A所示仅在20Hz至220Hz)的范围内。处理电路110用以重复量测一选取共振频段B1,以确认选取共振频段B1上是否有共振存在。相较于量测从原先起始频率至结束频率(例如,20Hz至450Hz),处理电路110针对选取共振频段B1(例如仅在20Hz至220Hz)进行量测,以减少每次量测的时间。在一些实施例中,处理电路110用以重复量测选取共振频段B1,以确认待测物DUT经过改善后,共振是否持续存在。相较于每次都扫描完整的原始频段(例如20Hz至450Hz),针对选取共振频段B1进行重复扫描,可以提高扫描频率、减少总扫描时间或提高扫描效率。
在一些实施例中,处理电路110用以产生调整提示,以建议使用者针对待测物DUT的左侧及中间中的结构、材质或重量的其中至少一者进行调整。
请参照图5A,图5A为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的共振强度相对于扫描频率的曲线图。如图5A所示,在一些实施例中,待测物DUT经使用者调整后,处理电路110用以产生共振强度对扫描频率的曲线510。曲线510为使用者设定起始频率为20Hz且设定结束频率为450Hz所产生的,以测试共振是否持续存在。
请参照图5B。图5B为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的即时共振结果R4的示意图。如图5B所示,在一些实施例中,扫频信号SPS的频率是由20Hz逐步增加至450Hz,当待测物DUT播放扫频信号SPS的频率大致为100Hz时,麦克风302、304及306得到较高的共振强度。因此,处理电路110用以产生共振位置540在待测物DUT左侧的即时共振结果R4。然而,在共振位置540上的共振强度2dB比调整前的共振位置440a上的共振强度3dB小,使得待测物DUT上的共振得到改善。产生即时共振结果R4与产生即时共振结果R1的方式相同,在此不再赘述。
请参照图5C。图5C为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的另一即时共振结果R5的示意图。处理电路110用以计算在扫频信号SPS的频率为200Hz的即时共振结果R5。产生即时共振结果R5与产生即时共振结果R1的方式相同,在此不再赘述。当扫频信号SPS的频率为200Hz时,经调整的即时共振结果R5未出现共振,使得待测物DUT上的共振得到改善。此外,麦克风阵列140仍未量测到待测物DUT播放扫频信号SPS的频率为300Hz及400Hz的共振强度,显示屏幕120不显示扫频信号SPS的频率为300Hz及400Hz的结果。
在一些实施例中,即时共振结果R4及R5指出共振发生的频率在选取共振频段B2(例如,如图5A所示20Hz至150Hz的范围)的范围内。处理电路110用以重复量测选取共振频段B2,以确认待测物DUT经过改善后,共振是否持续存在。相较于量测从原先起始频率(例如,20Hz)至结束频率(例如,450Hz),处理电路110针对选取共振频段B2进行量测,以减少每次量测的时间。若在选取共振频段B2上待测物DUT播放的声音仍会导致共振,处理电路110用以持续产生调整提示,建议改善待测物DUT中的结构、材质或重量的其中至少一者,并且处理电路110用以重复量测选取共振频段B2,直到待测物DUT上的共振获得改善。
为了更加清楚说明共振测试系统100的运作方式,请参照图6。图6为根据本揭示的一些实施例绘示共振测试系统100的测试流程图。应了解到,在图6中所提及的步骤,除特别叙明其顺序者外,均可依实际需要调整其前后顺序,亦可同时或部分同时执行,甚至可以增加额外步骤或省略部分步骤。图6的测试共振方法可应用于图1所示的示意图,但不以此为限。为了清楚说明起见,下述图6的测试共振方法系搭配图1所示的示意图来做说明。
首先,在步骤S10,使用者输入起始频率、结束频率以及测试时间,处理电路110基于起始频率、结束频率以及测试时间产生扫频信号SPS。产生扫频信号SPS的方式如上方图1所论述,在此不再赘述。
其次,在步骤S20,传送扫频信号SPS至待测物DUT,使待测物DUT播放声音。
接着,在步骤S30,通过麦克风阵列140中的每一个麦克风302-318接收待测物DUT播放的声音,麦克风阵列140输出对应于麦克风302-318的声源信号SDS至处理电路110。麦克风阵列140的排列方式如图3所论述,在此不再赘述。
接着,在步骤S40,通过一摄影机130撷取待测物DUT的即时影像信号RIS,并传送即时影像信号RIS至处理电路110。
接着,在步骤S50,当待测物DUT基于扫频信号SPS播放声音而产生共振时,根据声源信号SDS通过处理电路110计算共振位置与共振强度,并结合共振位置、共振强度及即时影像信号RIS,以产生即时共振结果。共振位置及共振强度计算方式如上方图4A及图4B所论述,在此不在赘述。
接着,在步骤S60,处理电路110判断共振是否存在。若共振存在,流程往步骤S80。若共振不存在,流程往步骤S70。
在这样的情形下,在步骤S70,处理电路110产生一测试通过的提示及即时共振结果(例如,图4D),以显示于显示屏幕120上,测试结束。
另一方面,在步骤S80,处理电路110产生调整提示及即时共振结果显示于显示屏幕120上,建议使用者对待测物DUT进行调整。
接着,在步骤S90,使用者选定共振频段,重复确认是否共振仍存在于选定共振频段上及产生即时共振结果(例如,图5B及图5C),直到测试结果通过。
综合上述,本揭示的测试共振系统让使用者及开发显示装置人员可以在改善显示装置上的构造或材料后,即时了解显示装置的共振是否得到改善。此外,本揭示的测试共振系统更提供视觉化的即时共振结果,使得使用者可便利地知道共振的强度及来源。
虽然本案已以实施例揭露如上,然其并非用以限定本案,任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本案的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,故本案的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种共振测试系统,用于测试一待测物,其特征在于,该共振测试系统包含:
一处理电路,用以产生一扫频信号,并传送该扫频信号至该待测物,其中该待测物基于该扫频信号播放声音;
一麦克风阵列,耦接至该处理电路,该麦克风阵列包含多个麦克风,每一麦克风接收该待测物播放的声音,该麦克风阵列输出对应于所述多个麦克风的多个声源信号至该处理电路;以及
一摄影机,耦接至该处理电路,用以撷取该待测物的一即时影像信号,并传送该即时影像信号至该处理电路;
其中,当该待测物基于该扫频信号播放声音而产生共振时,该处理电路根据所述多个声源信号计算该待测物的一共振位置与一共振强度,并结合该共振位置、该共振强度及该即时影像信号,产生一即时共振结果。
2.如权利要求1所述的共振测试系统,其特征在于,其中该处理电路还包含:
一多声道音效卡,包含:
一输出端,用以输出该扫频信号;以及
一输入端,用以接收来自该麦克风阵列的所述多个声源信号;
其中该处理电路用以基于一起始频率、一结束频率及一测试时间产生该扫频信号。
3.如权利要求2所述的共振测试系统,其特征在于,其中
当该待测物基于该扫频信号播放声音而产生共振时,该处理电路重复产生对应于一共振频段的该扫频信号,以即时判断共振是否持续存在;
其中当共振持续存在,该处理电路用以输出具有该共振位置及该共振强度的该即时共振结果。
4.如权利要求1所述的共振测试系统,其特征在于,其中该麦克风阵列包含:
一第一麦克风、一第二麦克风及一第三麦克风,该第一麦克风、该第二麦克风及该第三麦克风呈三角形排列,并位于一平面上,
该第一麦克风、该第二麦克风及该第三麦克风用以接收来自该待测物播放的声音,并分别传送一第一声源信号、一第二声源信号及一第三声源信号至该处理电路;
其中该处理电路用以基于该第一声源信号、该第二声源信号及该第三声源信号分别计算一第一共振强度、一第二共振强度以及一第三共振强度;
其中该处理电路用以判断该第一共振强度、该第二共振强度以及该第三共振强度是否大于一阀值;
其中该处理电路用以根据大于该阀值的该第一共振强度、该第二共振强度以及该第三共振强度至少一者判断该待测物中该共振位置。
5.一种共振测试方法,其特征在于,该共振测试方法包含:
产生一扫频信号至一待测物,使该待测物播放声音;
通过多个麦克风中的每一麦克风接收该待测物播放的声音,所述多个麦克风输出对应于所述多个麦克风的多个声源信号至一处理电路;
通过一摄影机撷取该待测物的一即时影像信号,并传送该即时影像信号至该处理电路;以及
当该待测物基于该扫频信号播放声音而产生共振时,根据所述多个声源信号计算该待测物的一共振位置与一共振强度,并结合该共振位置、该共振强度及该即时影像信号,产生一即时共振结果。
6.如权利要求5所述的共振测试方法,其特征在于,还包含:
基于一起始频率、一结束频率以及一测试时间产生该扫频信号。
7.如权利要求5所述的共振测试方法,其特征在于,还包含:
通过所述多个麦克风中的一第一麦克风、一第二麦克风及一第三麦克风接收来自该待测物播放的声音,并传送一第一声源信号、一第二声源信号及一第三声源信号至该处理电路,其中该第一麦克风、该第二麦克风及该第三麦克风呈三角形排列,并位于一平面上;
基于该第一声源信号、该第二声源信号及该第三声源信号计算一第一共振强度、一第二共振强度以及一第三共振强度;
判断该第一共振强度、该第二共振强度以及该第三共振强度是否大于一阀值;以及
根据大于该阀值的该第一共振强度、该第二共振强度以及该第三共振强度至少一者判断该待测物中该共振位置。
8.如权利要求7所述的共振测试方法,其特征在于,还包含:
将该即时共振结果显示于一显示屏幕上,其中该即时共振结果具有在该待测物上的该共振强度及该共振位置的一标示。
9.如权利要求5所述的共振测试方法,其特征在于,还包含:
当该待测物基于该扫频信号播放声音而产生共振时,重复产生对应于一共振频段的该扫频信号,以即时判断共振是否持续存在;以及
当共振持续存在,输出该即时共振结果仍具有该共振位置及该共振强度。
10.如权利要求9所述的共振测试方法,其特征在于,还包含:
若共振持续存在,对应该待测物的结构产生一调整提示,以改善该待测物播放声音产生的共振;以及
重复产生对应于该共振频段的该扫频信号,以判断经调整后的该待测物中的共振是否持续存在。
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