CN114236351A - 一种电路板测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种电路板测试装置，包括：机架；测试仪；传送机构，所述传送机构与所述机架连接；阻挡机构，所述阻挡机构设置于所述传送机构传送电路板的路径上，用于将未检测的电路板限制在待抓位置；及抓取机构，所述抓取机构与所述机架移动连接，所述抓取机构用于将位于所述待抓位置的电路板抓取至所述测试仪。本发明旨在解决现有技术中电路板存在被漏检的风险的技术问题。

Description

一种电路板测试装置

技术领域

本发明涉及电路板测试设备技术领域，特别涉及电路板测试装置。

背景技术

在对电路板生产制造的过程中，需要对成品进行检测，及时地将有缺陷的部件分离出来，以提高产品的质量。

目前，大多数测试依靠人工完成或者依靠自动化设备来完成。通过人工对电路板进行测试，效率偏低且存在漏检的情况发生；现有的自动化设备在对电路板进行检查时，由于是流水线作业，部分电路板存在被漏检的风险，进而形成客诉风险。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种电路板测试装置，旨在解决现有技术中电路板存在被漏检的风险的技术问题。

为此，本发明提出一种电路板测试装置，包括：

机架；

测试仪；

传送机构，所述传送机构与所述机架连接；

阻挡机构，所述阻挡机构设置于所述传送机构传送电路板的路径上，用于将未检测的电路板限制在待抓位置；及

抓取机构，所述抓取机构与所述机架移动连接，所述抓取机构用于将位于所述待抓位置的电路板抓取至所述测试仪。

一些实施例中，所述阻挡机构包括阻挡块，所述阻挡块凸出所述传送机构限定的传送平面设置。

一些实施例中，所述传送机构包括送料组件和出料组件，所述送料组件和所述出料组件间隔设置，限定出电路板中转区；所述阻挡机构包括阻挡连接板，所述阻挡连接板连接于所述送料组件面向所述出料组件的的一端；所述阻挡块连接所述阻挡连接板。

一些实施例中，所述测试仪包括壳体和与所述壳体移动连接的测试工装，所述壳体限定出测试区；所述测试工装配置为在所述电路板中转区与所述测试区之间移动，且所述测试工装的移动方向与所述送料组件的传送方向交叉；所述抓取机构配置为将未检测的电路板从所述待抓位置抓至所述电路板中转区，且所述抓取机构的移动方向与所述送料组件的传送方向平行。

一些实施例中，所述电路板测试装置还包括：抓放机构，所述抓放机构与所述机架移动连接，用于将检测后的电路板从所述电路板中转区抓至所述出料组件。

一些实施例中，所述阻挡机构包括阻挡连接架，所述阻挡连接架连接所述机架，且所述阻挡连接架位于所述传送机构的上方；

所述阻挡块连接所述阻挡连接架。一些实施例中，所述阻挡块将所述传送机构分为送料区域和出料区域；所述待抓位置位于所述送料区域。

一些实施例中，所述测试仪包括壳体和测试工装，所述壳体限定出测试区，所述测试工装设置于所述测试区内；所述抓取机构包括抓取手，所述抓取手用于将位于所述待抓位置的待检测电路板抓至所述测试工装以及将测试仪检测后的电路板从所述测试工装抓至所述送料区域。

一些实施例中，所述抓取手为至少两个，所述抓取机构还包括转动组件；至少两个所述抓取手沿所述转动组件的周向间隔设置，且与所述转动组件连接

一些实施例中，所述电路板测试装置还包括推压机构，所述推压机构连接所述机架和/或所述传送机构，用于在所述抓取机构未抓取所述待检测电路板的情况下，与所述阻挡块共同将待检测电路板在所述待抓位置保持固定。

本发明的技术方案中，通过传送机构对电路板进行投放，阻挡机构设置于所述传送机构传送电路板的路径上；当传送机构传送电路板时，阻挡机构对未检测的电路板进行阻挡，未检测的电路板无法跟随传送机构继续在传送机构上移动，进而停留在传送机构上，即未检测的电路板处于待抓位置上，等待抓取机构抓取。当未检测的电路板处于待抓位置之时，抓取机构沿着机架移动至待抓位置对应的工作位置，将未检测的电路板抓取；在抓取未检测的电路板抓取后，抓取机构沿着机架移动，将抓取的未检测的电路板放入测试仪，测试仪对该电路板进行检测。本发明有效地避免其跟随流水线流走，进而避免了电路板被漏检的情况发生，助于对电路板的全检。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为电路板测试装置的一优选结构的一视角下的示意图；

图2为电路板测试装置的一优选结构的另一视角下的示意图；

图3为电路板测试装置的另一优选结构的一视角下的示意图；

图4为电路板测试装置的抓取机构的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。.

为了降低不良品投放至市场环节，电路板(PCBA板)的各项功能指标均需要通过检测方能进入市场。现有的测试主要包括人工协助测试和流水线协助测试。人工协助测试主要是通过人工将PCBA从物料区放入测试工装进行测试，这种方式存在实施效率低以及漏检的问题。流水线协助测试主要是通过机械手将流水线上的PCBA板抓取至测试工装，这种方式主要用于小批量的产品检测过程中；一旦进行大批量的生产，由于PCBA板在流水线上移动，PCBA板存在未被抓取至测试工装，便被流水线带走，导致PCBA板存在漏检的风险。

为此，本发明提出一种电路板测试装置，该测试装置通过流水线对电路板进行投放，并且通过阻挡机构500将未检测的电路板限制在待检位置，抓取机构400在待检位置将未检测的电路板抓至测试工装上进行检测，避免其跟随流水线流走，进而避免了电路板被漏检的情况发生，助于对电路板的全检。

具体地，本发明提出一种电路板测试装置，参照图3所示，包括机架100、测试仪200、传送机构300、阻挡机构500以及抓取机构400。测试仪200是对电路板进行检查的仪器，可以为高压测试仪200或者功能测试仪200。测试仪200的测试主体一般旁设于传送机构300的一侧。

传送机构300，用于将传送电路板。传送机构300一般包括传送带和用于驱动传送带的驱动组件，如间隔且平行设置的传动辊，传送带套设于传动辊之间，传动辊旋转带动传送带移动，进而带动电路板移动。传送机构300还包括两个轨道侧板，两个轨道侧板在传送带传送方向的垂直方向上间隔设置，限定出传送带的安装空间；每个传动辊的传动轴分别可转动地连接于轨道侧板。

机架100，主要用于与抓取机构400移动连接，以将电路板从传送机构300上抓取后放置入测试仪200的测试工装上。所述传送机构300与所述机架100连接；一般情况下，机架100设置于传送机构300上，比如机架100可以焊接于轨道侧板上。机架100可以为搭设于传送机构300的上方的桁架结构，其构造用于抓取机构400移动的轨道结构，抓取机构400与轨道结构移动连接。

阻挡机构500，所述阻挡机构500设置于所述传送机构300传送电路板的路径上。当传送机构300传送电路板时，阻挡机构500与未检测的电路板接触后，阻挡机构500对未检测的电路板进行阻挡，未检测的电路板无法跟随传送机构300继续在传送机构300上移动，进而停留在传送机构300上，即未检测的电路板处于待抓位置上，等待抓取机构400抓取。

抓取机构400，所述抓取机构400与所述机架100移动连接，所述抓取机构400用于将位于所述待抓位置的电路板抓取至所述测试仪200。当未检测的电路板处于待抓位置之时，抓取机构400移动至待抓位置对应的工作位置，将未检测的电路板抓取；在抓取未检测的电路板抓取后，抓取结构移动，将抓取的未检测的电路板放入测试仪200，测试仪200对该电路板进行检测。

需要说明的是，抓取机构400可以通过液压缸、气缸、丝杠、电动推杆等获得移动的动力。抓取机构400可以包括多个真空吸嘴，以通过真空吸附的方式对电路板进行吸取或者放下。真空吸嘴可以按照电路板的形状阵列布置，一般但不限于矩形阵列。

需要进一步说明的是，本发明的测试装置通过控制端进行指令控制。控制端的指令包括但不限于：测试仪200的启动检测和停止检测指令、抓取机构400的移动命令、抓取机构400的抓取和放下命令。比如在需要对待抓位置上的未检测的电路板进行检测时，控制端输出移动指令，抓取机构400移动至待抓位置，控制端输出抓取指令，抓取机构400抓取电路板。又比如，在抓取机构400电路板之后，控制端输出放下指令，抓取机构400将电路板放入测试仪200的测试工装上。

本发明的技术方案中，通过传送机构300对电路板进行投放，阻挡机构500设置于所述传送机构300传送电路板的路径上；当传送机构300传送电路板时，阻挡机构500对未检测的电路板进行阻挡，未检测的电路板无法跟随传送机构300继续在传送机构300上移动，进而停留在传送机构300上，即未检测的电路板处于待抓位置上，等待抓取机构400抓取。当未检测的电路板处于待抓位置之时，抓取机构400沿着机架100移动至待抓位置对应的工作位置，将未检测的电路板抓取；在抓取未检测的电路板抓取后，抓取机构400沿着机架100移动，将抓取的未检测的电路板放入测试仪200，测试仪200对该电路板进行检测。本发明有效地避免其跟随流水线流走，进而避免了电路板被漏检的情况发生，助于对大批量电路板的全检。

作为上述实施例的可选实施方式，所述阻挡机构500包括阻挡块，所述阻挡块位于所述传送机构300限定的传送平面的上方。阻挡块主要用于与未检测的电路板接触，其设置在传送机构300限定的传送平面的上方。比如，传送平面为传送带的带面。阻挡块的用于接触电路板的一面最好为平面。一般而言，阻挡块为至少两个，且至少两个阻挡块在传送方向的垂直方向上间隔设置，使得阻挡块与电路板至少有两个接触点，可以避免因为位置偏差，电路板出现受到传送带的摩擦力而旋转的情况发生，而导致抓取机构400无法抓取电路板预设的位置。

具体地，阻挡块的一端可以与传送平面接触或者与传送平面保持一定的间隙，但是该间隙不得大于电路板的厚度，而阻挡块的另一端可以与机架100连接(通过阻挡连接架)。或者，阻挡块的一端的凸出传送平面设置，而位于传送平面的上方。

实施例1

参照图1和2所示，本实施例主要提供一种用于对电路板进行高压检测的测试装置。电路板的高压检测主要通过高压仪进行检测。也即，在本实施例中，测试仪200为高压仪。测试仪200主要包括了壳体200a和测试工装200b，壳体200a限定出了测试区。

作为上述实施例的可选实施方式，参照图1和2所示，所述传送机构300包括送料组件300a和出料组件300b。送料组件300a用于将未检测的电路板传送至待抓位置。出料组件300b用于将已经检测的电路板送出该测试装置。送料组件300a和出料组件300b间隔设置，两者之间的间隔为电路板的中转区。抓取机构400将送料组件300a上处于待抓位置的电路板，抓取至电路板中转区A。在该实施方式中，阻挡机构500包括阻挡块连接板500b，其连接于送料组件300a面向出料组件300b的一端，比如阻挡块连接板500b可以与出料组件300b螺纹连接、焊接、插接、铆接。阻挡块500a与阻挡块连接板500b连接，且凸出传送平面，能够对未检测的电路板进行阻挡。

具体而言，送料组件300a和出料组件300b的传送方向是一致的。送料组件300a和出料组件300b在传送方向上间隔设置。而且送料组件300a和出料组件300b均可以采用相同的结构实现对电路板的传送，比如均包括传送带、传动辊、轨道侧板以及用于驱动传动辊的驱动组件(如电机、电机+齿轮减速机构)等。电路板中转区A所占据区域的面积根据电路板的大小，其能够放置电路板即可。

进一步地，阻挡块连接板500b连接于送料组件300a的两个轨道侧板之间。阻挡块500a的一端连接于阻挡块连接板500b(比如螺纹连接、焊接、插接、铆接、卡接等)，另一端为自由端凸出传送片面。阻挡块500a为至少两个，在两个轨道侧板的间隔方向上设置，便于对电路板的阻挡，以避免电路板从送料组件300a跌落至电路板中转区A，同时起到定位作用，也便于抓取机构400对处于待抓位置的未检测的电路板抓取。

作为上述实施例的可选实施方式，所述测试仪200包括壳体200a和与所述壳体200a移动连接的测试工装200b，所述壳体200a限定出测试区。本实施例中，测试仪200的测试区限定的测试平面和传送平面可以为同一平面。一般而言，传送平面距地的距离根据测试仪200的测试区距地的距离设置。这种设置主要是能够缩小测试工装200b的空间移动范围，测试工装200b可以在平面内移动，测试工装200b配置为在所述电路板中转区A与所述测试区之间移动。所述测试工装200b的移动方向与所述送料组件300a的传送方向交叉。一般情况下，测试工装200b的移动方向与送料组件300a的传送方向是垂直的，测试工装200b将未检测的电路板从电路板中转区A带至测试区或者将检测后的电路板从测试区带至电路板中转区A。

所述抓取机构400配置为将未检测的电路板从所述待抓位置抓至所述电路板中转区A，且所述抓取机构400的移动方向与所述送料组件300a的传送方向平行。当测试工装200b位于电路板中转区A时，抓取机构400将未检测的电路板抓取至处于电路板中转区A，放置于测试工装200b。测试工装200b移动至测试区，高压测试仪200对该电路板进行高压测试。

一般而言，测试装置设置有测试工装200b的移动轨道，该移动轨道从测试区延伸至电路板轨道区。移动轨道可以与机架100相连。测试工装200b与移动轨道滑动连接。测试工装200b可以通过电动推杆、液压缸、气缸等动力机构实现移动。

一般而言，机架100可以为搭设于传送机构300的上方的桁架结构，其构造用于抓取机构400移动的轨道结构，抓取机构400与轨道结构移动连接。该轨道结构延伸方向平行于传送机构300的传送方向。在本实施例中，抓取机构400主要有两个位置状态：第一位置状态和第二位置状态。第一位置状态对应待抓位置，第二位置状态对应电路板中转区A。即：在抓取机构400处于第一位置状态时，可以抓取未检测的电路板；在抓取机构400处于第二位置状态时，可以将未检测的电路板放置于处于电路板中转区A的测试工装200b。

作为上述实施例的可选实施方式，所述电路板测试装置还包括：抓放机构700，所述抓放机构700与所述机架100移动连接，用于将检测后的电路板从所述电路板中转区A抓至所述出料组件300b。抓放机构700主要是将检测后的电路板从电路板中转区A抓至出料组件300b。当测试仪200将电路板测试完成之后，测试工装200b将检测后的电路板带至电路板中转区A，而后抓放机构700将电路板中转区A的电路板抓至送料组件300a。抓放机构700主要有两个位置状态：第三位置状态和第四位置状态。第三位置状态对应电路板中转区A；第四位置状态对应出料组件300b的上料位置。即：即：在抓放机构700处于第三位置状态时，可以从电路板中转区A抓取检测后的电路板；在抓取机构400处于第四位置状态时，可以将检测后的电路板放置于上料位置。一般而言，抓取机构400的结构可以参照抓放机构700。

同时，一般而言，抓放机构700的轨道结构与抓取机构400的轨道机构为同一条轨道结构。即：抓放机构700与抓取机构400在同一条轨道上移动。

抓取机构400主要用于将未检测的电路板抓至测试工装200b，抓放机构700主要用于将测试后的电路板抓至出料组件300b，两者协同作用。在抓取机构400将未检测的电路板放至电路板中转区A后，抓取机构400移动而处于第一位置状态，准备抓取下一未检测的电路板。此时，抓放机构700可以移动而处于第三位置状态，准备抓取测试后的电路板。进而，本实施例能够提高测试装置的测试效率。

实施例2

参照图3所示，本实施例主要提供一种用于对电路板进行功能测试的测试装置。电路板的功能检测主要通过功能测试仪200进行检测。也即，在本实施例中，测试仪200为功能测试仪200。测试仪200主要包括了壳体200a和测试工装200b，壳体200a限定出了测试区，由于与高压测试仪200的测试原理和测试结构的不同，测试工装200b安装于测试区内。

本实施例与实施例1的主要区别在于：本实施例的传送机构300是由同一套传送机构300完成对电路板的上料和出料。具体地，

所述阻挡机构500包括阻挡连接架，所述阻挡连接架连接所述机架100，且所述阻挡连接架位于所述传送机构300的上方；所述阻挡块连接所述阻挡连接架。也即：阻挡连接架悬置于传送机构300的上方。阻挡块的一端连接在阻挡连接架上，悬于传送机构300的上方，未检测的电路板运动至阻挡块时，被阻挡块阻挡，不能继续跟随传送机构300移动，而传送机构300的传送带依然可以移动，以将检测后的电路板带出该测试装置。

具体地，在功能测试仪200对应的位置处设置了阻挡连接架，阻挡连接架的两端分别连接在机架100上，且阻挡连接架位于传送机构300的上方，为一“门”型结构。在阻挡连接架的下侧设置有阻挡块，阻挡块为至少两个，在两个轨道侧板的间隔方向上设置，便于对电路板的阻挡。阻挡块面向传送机构300的端面可以与传送带接触或者与传送带保持一定的间隙。阻挡块的另一端与阻挡块连接，比如焊接、插接、铆接、卡接等。

所述阻挡块将所述传送机构300分为送料区域和出料区域；所述待抓位置位于所述送料区域。本实施例的传送机构300是由同一套传送机构300完成对电路板的上料和出料。基于阻挡块的设置位置，比如左侧为送料区域，右侧为出料区域。待抓位置位于送料区域。在需要进行检测时，将电路板放置于送料区域，传送机构300带动未检测的电路板，当未检测的电路板运动至阻挡块时，被阻挡块阻挡，不能继续跟随传送机构300移动处于待抓位置，而传送机构300的传送带依然可以移动，当将检测后的电路板放置于送料区域时，传送带可以将检测后的电路板带出该测试装置。

作为上述实施例的可选实施方式，所述测试仪200包括壳体200a和测试工装200b，所述壳体200a限定出测试区，所述测试工装200b设置于所述测试区内。本实施例的技术方案中，测试工装200b位于测试区内，此时测试工装200b被固定。为此，所述抓取机构400包括抓取手400a，抓取手400a所述抓取手400a用于将位于所述待抓位置的待检测电路板抓至所述测试工装200b以及将测试仪200检测后的电路板从所述测试工装200b抓至所述送料区域。当未检测的电路板被阻挡块遮挡处于待抓位置时，抓取机构400移动至与待抓位置对应的位置，抓取手400a抓取未检测的电路板，抓取机构400移动至与测试区对应的位置，抓取手400a将抓取的未检测的电路板放置于测试工装200b。当检测完成过后，抓取手400a抓取测试工装200b上的电路板，随后抓取机构400移动至与出料区域对应的位置，将检测后的电路板放置出料区域，由传送机构300带出测试装置。

由于，测试仪200旁设于传送机构300的一侧，且测试工装200b无法移动。图4所示，因而，抓取手400a至少需要在两个方向上移动，才能完成对电路板的检测。因此，抓取机构400包括抓取本体400c和抓取手400a，抓取本体400c沿着机架100移动(平行于传送方向)，抓取手400a沿着抓取本体400c移动(平行于取放方向，取放方向垂直于传送方向)，而且抓取手400a与抓取本体400c的相对移动方向垂直于抓取本体400c与机架100的相对移动方向。也即：抓取手400a在两个方向上相对传送机构300移动，以将电路板在传送机构300和测试仪200之间移动。抓取本体400c上可以构造轨道结构，抓取手400a与该轨道结构移动连接。抓取手400a的移动动力可以来自于气缸、液压缸或者电动推杆。

为了能够提高检测效率，作为上述实施例的可选实施方式，图4所示，所述抓取手400a为至少两个，所述抓取机构400还包括转动组件400b；至少两个所述抓取手400a沿所述转动组件400b的周向间隔设置，且与所述转动组件400b连接。转动组件400b可以与抓取本体400c移动连接。转动组件400b包括转接板、转轴和用于驱动转轴旋转的电机。电机安装于转接板上，转接板与抓取本体400c移动连接，转接板由气缸、液压缸或者电动推杆驱动，在垂直于传送方向的方向上移动。至少两个抓取手400a沿着转动轴向间隔设置，且与转动轴连接。在转动轴转动时，可以调整抓取手400a相对于测试区和传送机构300的位置关系。

在一个实施例中，当测试区在对上一个电路板检测时，抓取机构400可以移动至待抓位置对应的位置上，其中一个抓取手400a抓取待检测的电路板，随后抓取机构400移动至测试区对应的位置处；当测试区对上一个电路板检测完成之后，其中另一个抓取手400a抓取检测后的电路板；此时，抓取机构400的其中一个抓取手400a抓取着待检测的电路板，另外一个抓取手400a抓着检测后的电路板，转动组件400b启动，将抓取着待检测的电路板的抓取手400a旋转至与测试工装200b对应的位置，该抓取手400a下方待检测的电路板；下放完成之后，抓取机构400移动至出料区域对应的位置上，将检测后的电路板放至出料区域，随后，抓取机构400可以移动至待抓位置对应的位置上，如此循环，以提高电路板测试的效率。

作为上述实施例的可选实施方式，所述电路板测试装置还包括推压机构600，所述推压机构600连接所述机架100和/或所述传送机构300，用于在所述抓取机构400未抓取所述待检测电路板的情况下，与所述阻挡块共同将待检测电路板在所述待抓位置保持固定。为了能够将电路板保持在待抓位置处于相对不动的状态，在机架100和/或传送机构300对应于待抓位置处设置有推压机构600，当待测电路板运动至待抓位置时，推压机构600与电路板的侧面接触，而电路板的另一侧面(与推压机构600接触的侧面相互垂直)与阻挡机构500接触，进而将待检测电路板在所述待抓位置保持固定，等待抓取机构400的抓取。

一般情况下，推压机构600包括推压板和推压本体，推压本体固定在机架100和/或轨道侧板上。推压本体可以为气缸、液压缸电动推杆。推压板与推压本体连接，推压板基于推压本体的伸缩而移动，以接触电路板。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：

机架；

测试仪；

传送机构，所述传送机构与所述机架连接；

阻挡机构，所述阻挡机构设置于所述传送机构传送电路板的路径上，用于将未检测的电路板限制在待抓位置；及

抓取机构，所述抓取机构与所述机架移动连接，所述抓取机构用于将位于所述待抓位置的电路板抓取至所述测试仪。

2.如权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述阻挡机构包括阻挡块，所述阻挡块位于所述传送机构限定的传送平面的上方。

3.如权利要求2所述的电路板测试装置，其特征在于，所述传送机构包括送料组件和出料组件，所述送料组件和所述出料组件间隔设置，限定出电路板中转区；

所述阻挡机构包括阻挡连接板，所述阻挡连接板连接于所述送料组件面向所述出料组件的一端；所述阻挡块连接所述阻挡连接板。

4.如权利要求3所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试仪包括壳体和与所述壳体移动连接的测试工装，所述壳体限定出测试区；

所述测试工装配置为在所述电路板中转区与所述测试区之间移动，且所述测试工装的移动方向与所述送料组件的传送方向交叉；

所述抓取机构配置为将未检测的电路板从所述待抓位置抓至所述电路板中转区，且所述抓取机构的移动方向与所述送料组件的传送方向平行。

5.如权利要求4所述的电路板测试装置，其特征在于，所述电路板测试装置还包括：

抓放机构，所述抓放机构与所述机架移动连接，用于将检测后的电路板从所述电路板中转区抓至所述出料组件。

6.如权利要求2所述的电路板测试装置，其特征在于，所述阻挡机构包括阻挡连接架，所述阻挡连接架连接所述机架，且所述阻挡连接架位于所述传送机构的上方；

所述阻挡块连接所述阻挡连接架。

7.如权利要求6所述的电路板测试装置，其特征在于，所述阻挡块将所述传送机构分为送料区域和出料区域；所述待抓位置位于所述送料区域。

8.如权利要求7所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试仪包括壳体和测试工装，所述壳体限定出测试区，所述测试工装设置于所述测试区内；

所述抓取机构包括抓取手，所述抓取手用于将位于所述待抓位置的待检测电路板抓至所述测试工装以及将测试仪检测后的电路板从所述测试工装抓至所述送料区域。

9.如权利要求8所述的电路板测试装置，其特征在于，所述抓取手为至少两个，所述抓取机构还包括转动组件；

至少两个所述抓取手沿所述转动组件的周向间隔设置，且与所述转动组件连接。

10.如权利要求6至9中任一项所述的电路板测试装置，其特征在于，所述电路板测试装置还包括推压机构，所述推压机构连接所述机架和/或所述传送机构，用于在所述抓取机构未抓取所述待检测电路板的情况下，与所述阻挡块共同将待检测电路板在所述待抓位置保持固定。

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