CN114063324B - 液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置。在液晶移相器的测试方法中，液晶移相器包括液晶层和多个电极组；电极组包括第一电极和多个第二电极；液晶层位于第一电极和第二电极之间；第一电极接固定电位；液晶移相器的测试方法包括：通过给第一电极和第二电极施加电压驱动液晶层；测试第一电极和第二电极之间的电容电压特性。液晶移相器的测试方法通过驱动和测试获得第一电极和第二电极之间的电容电压特性。第一电极和第二电极之间的电容电压特性反映液晶层的厚度和相对介电常数。液晶层的厚度为液晶移相器的盒厚。液晶层的相对介电常数反映液晶移相器的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶移相器的盒厚和液晶分子旋转一致性。
Description
【技术领域】
本发明涉及液晶技术领域，尤其涉及一种液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置。
【背景技术】
移相器是能够对波的相位进行调整的装置，在雷达、加速器、通信、仪器仪表甚至于音乐等领域都有着广泛的应用，目前应用较广泛的移相器为液晶移相器。
液晶移相器和液晶天线的盒厚及液晶分子介电常数一致性直接影响到射频信号传输，现有技术目前还难以测定液晶移相器中液晶分子介电常数一致性。
【发明内容】
为了解决上述技术问题，本发明提供液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置。
本发明的第一方面提供一种液晶移相器的测试方法，所述液晶移相器包括液晶层和多个电极组；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶移相器的测试方法包括：
通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性。
本发明的第二方面提供一种液晶天线的测试方法，所述液晶天线包括辐射体和液晶移相器；
所述液晶移相器包括液晶层和多个电极组；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述第一电极包括镂空部；
所述辐射体位于所述第一电极远离所述第二电极的一侧，且与所述镂空部交叠；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶天线的测试方法包括：
通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性。
本发明的第三方面提供一种液晶移相器的测试装置，所述液晶移相器包括第一基板、第二基板、液晶层和多个电极组；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述第一电极位于所述第一基板靠近所述第二基板的一侧；
所述第二电极位于所述第二基板靠近所述第一基板的一侧；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶移相器的测试装置包括驱动模块和测试模块：
所述驱动模块用于通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试模块用于测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性。
本发明的第四方面提供一种液晶天线的测试装置，所述液晶天线包括辐射体和液晶移相器；
所述液晶移相器包括第一基板、第二基板、液晶层和多个电极组；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述第一电极镂空；
所述辐射体位于所述第一电极远离所述第二电极的一侧；
所述第一电极位于所述第一基板上；
所述第二电极位于所述第二基板上；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶天线的测试装置包括驱动模块和测试模块：
所述驱动模块用于通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试模块用于测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性。
在本发明中，液晶移相器通过液晶层传播电磁波。第一电极施加固定电位。可选的，第一电极施加地电位。第二电极施加另一电位。可选的，第一电极的电位小于第二电极的电位。第一电极、液晶层和第二电极构成电容。第一电极和第二电极的电位改变第一电极和第二电极之间的电容。第一电极和第二电极之间的电容改变电磁波在液晶层中的相移量。液晶移相器改变电磁波的相移量。液晶移相器的测试方法通过驱动和测试获得第一电极和第二电极之间的电容电压特性。第一电极和第二电极之间的电容电压特性反映液晶层的厚度和相对介电常数。液晶层的厚度为液晶移相器的盒厚。液晶层的相对介电常数反映液晶移相器的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶移相器的盒厚和液晶分子旋转一致性。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例一种液晶移相器的结构示意图；
图3为本发明实施例一种液晶移相器在图2中AA’的结构示意图；
图4为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图5为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图6为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图7为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图8为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图9为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图10为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图11为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图12为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图13为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图14为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图15为本发明实施例另一种液晶移相器和测试组件的示意图；
图16为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图17为本发明实施例另一种测试组件的示意图；
图18为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图19为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图20为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图21为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；
图22为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；
图23为本发明实施例一种液晶天线的结构示意图；
图24为本发明实施例一种液晶天线的测试方法的流程示意图；
图25A为本发明实施例一种功分器网络的结构示意图；
图25B为本发明实施例一种功分器网络在图25A中AA’的结构示意图；
图25C为本发明实施例另一种功分器网络的结构示意图；
图25D为本发明实施例另一种功分器网络的结构示意图；
图26为本发明实施例一种液晶移相器的测试装置的模块示意图；
图27为本发明实施例一种液晶天线的测试装置的模块示意图。
【具体实施方式】
为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二等来描述装置，但这些装置不应限于这些术语。这些术语仅用来将装置彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一装置也可以被称为第二装置，类似地，第二装置也可以被称为第一装置。
本发明实施例提供液晶移相器的测试方法、液晶天线的测试方法、液晶移相器的测试装置和液晶天线的测试装置。
图1为本发明实施例一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；图2为本发明实施例一种液晶移相器的结构示意图；图3为本发明实施例一种液晶移相器在图2中AA’的结构示意图。
如图1至3所示，在液晶移相器的测试方法100A中，液晶移相器2A包括液晶层21和多个电极组22；电极组22包括第一电极221和多个第二电极222；液晶层21位于第一电极221和第二电极222之间；第一电极221接固定电位；液晶移相器的测试方法100A包括：
步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21；
步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，液晶移相器2A通过液晶层21传播电磁波。第一电极221施加固定电位。可选的，第一电极221施加地电位。第二电极222施加另一电位。可选的，第一电极221的电位小于第二电极222的电位。第一电极221、液晶层21和第二电极222构成电容。第一电极221和第二电极222的电位改变第一电极221和第二电极222之间的电容。第一电极221和第二电极222之间的电容改变电磁波在液晶层21中的相移量。液晶移相器2A改变电磁波的相移量。液晶移相器的测试方法100A通过驱动和测试获得第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶层21的厚度和相对介电常数。液晶层21的厚度为液晶移相器2A的盒厚。液晶层21的相对介电常数反映液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
图4为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图2至4所示，电极组22中的第二电极222阵列排布且一行第二电极222中的各个第二电极222相连；多个电极组22中的第二电极222电连接；
步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21包括：
步骤S110A，通过给第二电极222施加电压，并且分别通过给各个电极组22中的第一电极221施加电压驱动液晶层21；
步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性包括：
步骤S120A，分别测试第二电极222和各个电极组22中的第一电极221之间的电容电压特性。
在本实施例中，一个电极组22中的各个第二电极222阵列排布且一行第二电极222中的各个第二电极222相连；各个电极组22中的各行第二电极222电连接。各个电极组22中的各个第二电极222电连接。这里同时给各个电极组22中的各个第二电极222施加电压，并且分别给各个电极组22中的第一电极221施加电压驱动液晶层21。然后分别测试第二电极222和各个电极组22中的各个第一电极221之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。这里避免依次给各个电极组22中的各个第二电极222施加电压。液晶移相器的测试方法100A得到简化。
如图2所示，一个电极组22为每个移相器2A包含的第一电极221和相互连接的第二电极222的组合。多个液晶移相器2A位于一个大张基板上。任一液晶移相器2A具有框胶以便封装液晶。第一电极221和第二电极222的电压通过外部测试设备施加，以便测试多个液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。
图5为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；图6为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图5、6所示，电极组22中的第二电极222阵列排布且一行第二电极222中的各个第二电极222相连；
步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21包括：
步骤S110B，通过给一个电极组22中的第一电极221，并且分别通过给该电极组22中的第二电极222施加电压驱动液晶层21；
步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性包括：
步骤S120B，分别测试该电极组22中的第一电极221和各行第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，一个电极组22中的各个第二电极222阵列排布且一行第二电极222中的各个第二电极222相连。这里分别给一个电极组22中的各个第一电极221，并且分别给各个电极组22中的各行第二电极222施加电压驱动液晶层21。然后分别测试各个电极组22中的各个第一电极221和各行第二电极222之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。这里避免依次给各个电极组22中的各个第二电极222施加电压。液晶移相器的测试方法100A得到简化。
如图5所示，一个电极组22为每个移相器2A包含的第一电极221和第二电极222的组合，这里测试一个液晶移相器2A对应不同第二电极222区域的液晶分子旋转一致性。
图7为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；图8为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图7、8所示，电极组22中的第二电极222阵列排布且一行第二电极222中的各个第二电极222相连；多个电极组22中的第一电极221电连接；
步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21包括：
步骤S110C，通过给第一电极221施加电压，并且分别通过给各个电极组22中的第二电极222施加电压驱动液晶层21；
步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性包括：
步骤S120C，分别测试第一电极221和各个电极组22中的各行第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，一个电极组22中的各个第二电极222阵列排布且一行第二电极222中的各个第二电极222相连；各个电极组22中的各个第一电极221电连接。这里同时给各个第一电极221施加电压，并且分别给各个电极组22中的各行第二电极222施加电压驱动液晶层21。然后分别测试第一电极221和各个电极组22中的各行第二电极222之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。这里避免依次给各个电极组22中的各个第一电极221施加电压。液晶移相器的测试方法100A得到简化。
参见图7，一个电极组22为多个连接在一起的第一电极221和第二电极222的组合，这里在一个大张基板上形成多个液晶移相器2A，各个液晶移相器2A的第一电极221连在一起。此时可以测试各个液晶移相器2A中各行第二电极222与第一电极221之间的电容电压特性。
图9为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图9所示，液晶移相器的测试方法100A还包括：
在步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21前，
步骤S102A，确定液晶层21的厚度；
在步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性后，
步骤S122A，确定液晶层21的相对介电常数。
在本实施例中，首先测试确定液晶层21的厚度。液晶层21的厚度为液晶移相器2A的盒厚。然后通过驱动和测试获得第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。然后根据第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性以及液晶层21的厚度计算确定液晶层21的相对介电常数。其中，第一电极221和第二电极222之间的电容C＝εδS/d，ε为相对介电常数，δ为真空中的绝对介电常数8.86×F/m，S为两极板正对面积，d为两极板间垂直距离。这里根据上述公式液晶层21的相对介电常数，从而判定液晶分子旋转一致性。液晶层21的相对介电常数反映液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。这里可以测试多个液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性，也可以测试一个液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。
图10为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图10所示，液晶移相器的测试方法100A还包括：
在步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21前，
步骤S102B，确定液晶层21的相对介电常数，
在步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性后，
步骤S122B，确定液晶层21的厚度。
在本实施例中，首先测试确定液晶层21的相对介电常数。液晶层21的相对介电常数反映液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。然后通过驱动和测试获得第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。然后根据第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性以及液晶层21的相对介电常数计算确定液晶层21的厚度。其中，第一电极221和第二电极222之间的电容C＝εδS/d，ε为相对介电常数，δ为真空中的绝对介电常数8.86×F/m，S为两极板正对面积，d为两极板间垂直距离。这里根据上述公式液晶层21的相对介电常数，从而判定液晶分子旋转一致性。液晶层21的厚度为液晶移相器2A的盒厚。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚。这里可以测试多个液晶移相器2A的盒厚，也可以测试一个液晶移相器2A的盒厚。
图11为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；图12为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图11、12所示，液晶移相器2A还包括第一基板231、第二基板232、第一焊盘241和第二焊盘242；第一基板231和第二基板232相对设置；第一电极221位于第一基板231靠近第二基板232一侧；第二电极222、第一焊盘241和第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；
液晶移相器的测试方法100A还包括：
在步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21前，
步骤S104，切割第一基板231在第二基板232上形成台阶区24以暴露第一焊盘241和第二焊盘242。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第二基板232的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。封框胶27设置于第一基板231和第二基板232之间。导电金球28设置于封框胶27中。当第一电极221位于第一基板231上且第一焊盘241位于第二基板232上时，第一基板231的第一电极221和第二基板232的第一焊盘241可通过导电金球28电连接。这里切割第一基板231在第二基板232上形成台阶区24以暴露第一焊盘241和第二焊盘242。然后通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
这里暴露第一焊盘241和第二焊盘242以便第一焊盘241和第二焊盘242电连接外部测试设备。
图13为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图。
如图13所示，液晶移相器2A还包括第一基板231、第二基板232、第一焊盘241和第二焊盘242；第一基板231和第二基板232相对设置；第一电极221位于第一基板231靠近第二基板232一侧；第二电极222、第一焊盘241和第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；第二基板232具有台阶区24；第一焊盘241和第二焊盘242位于台阶区24。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第二基板232的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。第一焊盘241和第二焊盘242在第二基板232的台阶区24中暴露。首先通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
这里的台阶区24预先存在无需通过切割第一基板231形成。
图14为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图。
如图14所示，液晶移相器2A还包括第一基板231、第二基板232、第一焊盘241和第二焊盘242；第一基板231和第二基板232相对设置；第一电极221和第一焊盘241位于第一基板231靠近第二基板232一侧；第二电极222和第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；第一基板231具有第一台阶区24A；第二基板232具有第二台阶区24B；第一焊盘241位于第一台阶区24A；第二焊盘242位于第二台阶区24B。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第一基板231的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。第一台阶区24A位于第一基板231的左端。第二台阶区24B位于第二基板232的右端。第一焊盘241在第一基板231的第一台阶区24A中暴露。第二焊盘242在第二基板232的第二台阶区24B中暴露。首先通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
这里的第一基板231和第二基板232错位贴合形成第一台阶区24A和第二台阶区24B。第一焊盘241和第二焊盘242无需通过切割第一基板231和第二基板232暴露。这样的工艺简单。
图15为本发明实施例另一种液晶移相器和测试组件的示意图；图16为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图15、16所示，液晶移相器2A还包括第一焊盘241和第二焊盘242；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；
液晶移相器的测试方法100A还包括：
在步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21前，
步骤S106，提供测试组件26；
步骤S108，将测试组件26的驱动测试端子261电连接第一焊盘241和第二焊盘242。
在本实施例中，测试组件26的驱动测试端子261电连接第一焊盘241和第二焊盘242。第一电极221电连接第一焊盘241。第二电极222电连接第二焊盘242。测试组件26通过第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过第二焊盘242给第二电极222施加电压。测试组件26通过第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
这里的测试组件26具有显示屏幕以便显示电容电压特性曲线，还能存储电容电压特性曲线的数据。可选的，测试组件26还包括测试线和探针，探针连接第一焊盘241和第二焊盘242以便进行测试。
图17为本发明实施例另一种测试组件的示意图。
如图17所示，步骤S110，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21包括：
设置材料驱动信号负电压最大值、材料驱动信号正电压最大值、液晶驱动电压调节精度、液晶恢复时间、液晶响应时间驱动信号。
在本实施例中，测试组件26可以设置材料驱动信号负电压最大值、材料驱动信号正电压最大值、液晶驱动电压调节精度、液晶恢复时间、液晶响应时间驱动信号。这样，测试组件26给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21。
图18为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图18所示，步骤S110，通过第一电极221和第二电极222驱动液晶层21包括：
步骤S110D，依次通过各个电极组22中的第一电极221和第二电极222驱动液晶层21；
步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性包括：
步骤S120D，依次测试各个电极组22中的第一电极221和各行第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，首先依次通过各个电极组22中的第一电极221和第二电极222驱动液晶层21。然后依次测试各个电极组22中的第一电极221和各行第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里可以获得各个电极组22中的各个第一电极221和各行第二电极222之间的电容电压特性。
图19为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图；图20为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图；图21为本发明实施例另一种液晶移相器的结构示意图。
如图19、20、21所示，液晶移相器2A还包括第一基板231、第二基板232、第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252；第一基板231和第二基板232相对设置；第一电极221位于第一基板231靠近第二基板232的一侧；第二电极222、第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；多个第一电极221通过第一连接线251电连接；多个第二电极222通过第二连接线252电连接；
液晶移相器的测试方法100A还包括：
在步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性后，
步骤S124，切割第二基板232以去除第二基板232的台阶区24、第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252。
在本实施例中，第二基板232在测试后切割。第二基板232的台阶区24、第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252去除。于是，液晶移相器2A避免第一电极221和第二电极222因第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252而短路。
这里避免各个液晶移相器2A的第一电极221通过连接线连在一起而在使用移相功能时发生短路，以使各个第一电极221可输入不同的的信号。同时避免各行第二电极222通过连接线连在一起而在使用移相功能时发生短路，以使各行第二电极222可输入不同的信号。
图22为本发明实施例另一种液晶移相器的测试方法的流程示意图。
如图21、22所示，液晶移相器2A还包括第一基板231、第二基板232、第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252；第一基板231和第二基板232相对设置；第一电极221、第一焊盘241和第一连接线251位于第一基板231靠近第二基板232的一侧；第二电极222、第二焊盘242和第二连接线252位于第二基板232靠近第一基板231的一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；多个第一电极221通过第一连接线251电连接；多个第二电极222通过第二连接线252电连接；
液晶移相器的测试方法100A还包括：
在步骤S120，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性后，
步骤S126，切断第一连接线251以分开多个第一电极221；
步骤S128，切断第二连接线252以分开多个第二电极222。
在本实施例中，第一连接线251和第二连接线252在测试后切断。例如，第一连接线251和第二连接线252通过激光或刀子切断。多个第一电极221和第二电极222分开。于是，液晶移相器2A避免第一电极221和第二电极222因第一焊盘241、第二焊盘242、第一连接线251和第二连接线252而短路。
其中，激光或刀子的切断方式不同。激光的熔断方式可以保留第一基板231、第二基板232、第一焊盘241、第二焊盘242，也可以切除第一基板231、第二基板232、第一焊盘241、第二焊盘242。这样的工艺简单。刀子的切断方式需要切除第一基板231、第二基板232、第一焊盘241、第二焊盘242。这里避免各个液晶移相器2A的第一电极221通过连接线连在一起短路，以使各个第一电极221的信号正确。同时避免各行第二电极222通过连接线连在一起短路，以使各行第二电极222的信号正确。
图23为本发明实施例一种液晶天线的结构示意图；图24为本发明实施例一种液晶天线的测试方法的流程示意图。
如图23、24所示，在液晶天线的测试方法120中，液晶天线2包括辐射体2B和液晶移相器2A；液晶移相器2A包括液晶层21和多个电极组22；电极组22包括第一电极221和多个第二电极222；第一电极221包括镂空部；辐射体2B位于第一电极221远离第二电极222的一侧，且与镂空部交叠；液晶层21位于第一电极221和第二电极222之间；第一电极221接固定电位；
液晶天线的测试方法100B包括：
步骤S130，通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21；
步骤S140，测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，液晶移相器2A通过液晶层21传播电磁波。第一电极221施加固定电位。可选的，第一电极221施加地电位。第二电极222施加另一电位。可选的，第一电极221的电位小于第二电极222的电位。第一电极221、液晶层21和第二电极222构成电容。第一电极221和第二电极222的电位改变第一电极221和第二电极222之间的电容。第一电极221和第二电极222之间的电容改变电磁波在液晶层21中的相移量。液晶移相器2A改变电磁波的相移量。液晶移相器2A的电磁波传到辐射体2B上发射。液晶天线的测试方法120通过驱动和测试获得第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶层21的厚度和相对介电常数。液晶层21的厚度为液晶天线2的盒厚。液晶层21的相对介电常数反映液晶天线2的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶天线2的盒厚和液晶分子旋转一致性。
图25A为本发明实施例一种功分器网络的结构示意图；图25B为本发明实施例一种功分器网络在图25A中AA’的结构示意图；图25C为本发明实施例另一种功分器网络的结构示意图；图25D为本发明实施例另一种功分器网络的结构示意图。
如图25A、25B所示是一种功分器网络示意图，可选的，功分器网络可以设置第一基板背离第二基板的一侧，也可以设置在第二基板背离第一基板的一侧，还可以设置在盒内，在此不做限定。
可选的，在衬底上，第二电极222可以分别通过连接线L1电连接驱动焊盘PAD1，再电连接驱动芯片或柔性电路板；第二电极222可以单独设置连接线L2电连接测试焊盘PAD2，以便单独测试每一个移相器单元的液晶参数。为了布线空间足够，这里可以在左边设置或者驱动芯片或柔性电路板的驱动焊盘PAD1，在右边设置测试焊盘PAD2，也可以在同侧设置，在此不做限定；可选的，测试焊盘PAD2和柔性电路板的焊盘及走线复用。
可选的，如图25C所示，一行第二电极222连接到同一驱动焊盘PAD1，一行第二电极222可以电连接同一测试焊盘PAD2。如图25D所示，各行第二电极222连接到不同驱动焊盘PAD1，各行第二电极222可以电连接同一测试焊盘PAD2，各行第二电极222在测试后断开以免短路。
图26为本发明实施例一种液晶移相器的测试装置的模块示意图。
如图2、3、13、26所示，在液晶移相器的测试装置3中，液晶移相器2A包括第一基板231、第二基板232、液晶层21和多个电极组22；第一基板231和第二基板232相对设置；电极组22包括第一电极221和多个第二电极222；第一电极221位于第一基板231靠近第二基板232的一侧；第二电极222位于第二基板232靠近第一基板231的一侧；液晶层21位于第一电极221和第二电极222之间；第一电极221接固定电位；液晶移相器的测试装置3包括驱动模块31和测试模块32：驱动模块31用于通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21；测试模块32用于测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，液晶移相器2A通过液晶层21传播电磁波。第一电极221施加固定电位。可选的，第一电极221施加地电位。第二电极222施加另一电位。可选的，第一电极221的电位小于第二电极222的电位。第一电极221、液晶层21和第二电极222构成电容。第一电极221和第二电极222的电位改变第一电极221和第二电极222之间的电容。第一电极221和第二电极222之间的电容改变电磁波在液晶层21中的相移量。液晶移相器2A改变电磁波的相移量。液晶移相器的测试装置3通过驱动模块31和测试模块32获得第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶层21的厚度和相对介电常数。液晶层21的厚度为液晶移相器2A的盒厚。液晶层21的相对介电常数反映液晶移相器2A的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
如图2、3、13、26所示，在液晶移相器的测试装置3中，液晶移相器2A还包括第一焊盘241和第二焊盘242；第一焊盘241和第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；第二基板232具有台阶区24；第一焊盘241和第二焊盘242位于台阶区24。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第二基板232的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。封框胶27设置于第一基板231和第二基板232之间。导电金球28设置于封框胶27中。第一基板231的第一电极221和第二基板232的第一焊盘241通过导电金球28电连接。第一焊盘241和第二焊盘242在第二基板232的台阶区24中暴露。首先通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
如图2、3、14、26所示，在液晶移相器的测试装置3中，液晶移相器2A还包括第一焊盘241和第二焊盘242；第一焊盘241位于第一基板231靠近第二基板232一侧；第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；第一基板231具有第一台阶区24A；第二基板232具有第二台阶区24B；第一焊盘241位于第一台阶区24A；第二焊盘242位于第二台阶区24B。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第一基板231的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。第一台阶区24A位于第一基板231的左端。第二台阶区24B位于第二基板232的右端。第一焊盘241在第一基板231的第一台阶区24A中暴露。第二焊盘242在第二基板232的第二台阶区24B中暴露。首先通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
图27为本发明实施例一种液晶天线的测试装置的模块示意图。
如图2、13、23、27所示，在液晶天线的测试装置4中，液晶天线2包括辐射体2B和液晶移相器2A；液晶移相器2A包括第一基板231、第二基板232、液晶层21和多个电极组22；电极组22包括第一电极221和多个第二电极222；第一电极221镂空；辐射体2B位于第一电极221远离第二电极222的一侧；第一电极221位于第一基板231上；第二电极222位于第二基板232上；液晶层21位于第一电极221和第二电极222之间；第一电极221接固定电位；液晶天线的测试装置4包括驱动模块41和测试模块42：驱动模块41用于通过给第一电极221和第二电极222施加电压驱动液晶层21；测试模块42用于测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。
在本实施例中，液晶移相器2A通过液晶层21传播电磁波。第一电极221施加固定电位。可选的，第一电极221施加地电位。第二电极222施加另一电位。可选的，第一电极221的电位小于第二电极222的电位。第一电极221、液晶层21和第二电极222构成电容。第一电极221和第二电极222的电位改变第一电极221和第二电极222之间的电容。第一电极221和第二电极222之间的电容改变电磁波在液晶层21中的相移量。液晶移相器2A改变电磁波的相移量。液晶移相器2A的电磁波传到辐射体2B上发射。液晶天线的测试装置4通过驱动模块41和测试模块42获得第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性反映液晶层21的厚度和相对介电常数。液晶层21的厚度为液晶天线2的盒厚。液晶层21的相对介电常数反映液晶天线2的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶天线2的盒厚和液晶分子旋转一致性。
如图2、13、23、27所示，在液晶天线的测试装置4中，液晶移相器2A还包括第一焊盘241和第二焊盘242；第一焊盘241和第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；第二基板232具有台阶区24；第一焊盘241和第二焊盘242位于台阶区24。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第二基板232的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。封框胶27设置于第一基板231和第二基板232之间。导电金球28设置于封框胶27中。第一基板231的第一电极221和第二基板232的第一焊盘241通过导电金球28电连接。第一焊盘241和第二焊盘242在第二基板232的台阶区24中暴露。首先通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
如图2、14、23、27所示，在液晶天线的测试装置4中，液晶移相器2A还包括第一焊盘241和第二焊盘242；第一焊盘241位于第一基板231靠近第二基板232一侧；第二焊盘242位于第二基板232靠近第一基板231一侧；第一电极221电连接第一焊盘241；第二电极222电连接第二焊盘242；第一基板231具有第一台阶区24A；第二基板232具有第二台阶区24B；第一焊盘241位于第一台阶区24A；第二焊盘242位于第二台阶区24B。
在本实施例中，第一基板231的第一电极221电连接第一基板231的第一焊盘241。第二基板232的第二电极222电连接第二基板232的第二焊盘242。第一台阶区24A位于第一基板231的左端。第二台阶区24B位于第二基板232的右端。第一焊盘241在第一基板231的第一台阶区24A中暴露。第二焊盘242在第二基板232的第二台阶区24B中暴露。首先通过暴露的第一焊盘241给第一电极221施加电压并且通过暴露的第二焊盘242给第二电极222施加电压。然后通过暴露的第一焊盘241和第二焊盘242测试第一电极221和第二电极222之间的电容电压特性。于是，这里获得液晶移相器2A的盒厚和液晶分子旋转一致性。
总而言之，本发明提供液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置。在液晶移相器的测试方法中，液晶移相器包括液晶层和多个电极组；电极组包括第一电极和多个第二电极；液晶层位于第一电极和第二电极之间；第一电极接固定电位；液晶移相器的测试方法包括：通过给第一电极和第二电极施加电压驱动液晶层；测试第一电极和第二电极之间的电容电压特性。液晶移相器的测试方法通过驱动和测试获得第一电极和第二电极之间的电容电压特性。第一电极和第二电极之间的电容电压特性反映液晶层的厚度和相对介电常数。液晶层的厚度为液晶移相器的盒厚。液晶层的相对介电常数反映液晶移相器的液晶分子旋转一致性。于是，这里获得液晶移相器的盒厚和液晶分子旋转一致性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
Claims (17)
1.一种液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器包括液晶层和多个电极组；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶移相器的测试方法包括：
通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性；
根据所述第一电极和所述第二电极之间的电容 C=εδS/d 来获取反映所述液晶移相器的液晶分子旋转一致性的所述液晶层的相对介电常数，其中，ε为相对介电常数，δ为真空中的绝对介电常数，S为两极板正对面积，d为两极板间垂直距离；
其中，
所述电极组中的所述第二电极阵列排布且一行所述第二电极中的各个所述第二电极相连；
多个所述电极组中的所述第二电极电连接；
所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
通过给所述第二电极施加电压，并且分别通过给各个所述电极组中的所述第一电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
分别测试所述第二电极和各个所述电极组中的所述第一电极之间的电容电压特性；
或者，
所述电极组中的所述第二电极阵列排布且一行所述第二电极中的各个所述第二电极相连；
所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
通过给一个所述电极组中的所述第一电极，并且分别通过给该所述电极组中的所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
分别测试该所述电极组中的所述第一电极和各行所述二电极之间的电容电压特性；
或者，
所述电极组中的所述第二电极阵列排布且一行所述第二电极中的各个所述第二电极相连；
多个所述电极组中的所述第一电极电连接；
所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
通过给所述第一电极施加电压，并且分别通过给各个所述电极组中的所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
分别测试所述第一电极和各个所述电极组中的各行所述第二电极之间的电容电压特性。
2.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，还包括：
在所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层前，
确定所述液晶层的厚度；
在所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性后，
确定所述液晶层的相对介电常数。
3.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一基板、第二基板、第一焊盘和第二焊盘；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述第一电极位于所述第一基板靠近所述第二基板一侧；
所述第二电极、所述第一焊盘和所述第二焊盘位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述液晶移相器的测试方法还包括：
在所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层前，
切割所述第一基板在所述第二基板上形成台阶区以暴露所述第一焊盘和所述第二焊盘。
4.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一基板、第二基板、第一焊盘和第二焊盘；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述第一电极位于所述第一基板靠近所述第二基板一侧；
所述第二电极、所述第一焊盘和所述第二焊盘 位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述第二基板具有台阶区；
所述第一焊盘和所述第二焊盘位于所述台阶区。
5.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一基板、第二基板、第一焊盘和第二焊盘；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述第一电极和所述第一焊盘位于所述第一基板靠近所述第二基板一侧；
所述第二电极和所述第二焊盘位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述第一基板具有第一台阶区；
所述第二基板具有第二台阶区；
所述第一焊盘位于所述第一台阶区；
所述第二焊盘位于所述第二台阶区。
6.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一焊盘和第二焊盘；所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述液晶移相器的测试方法还包括：
在所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层前，
提供测试组件；
将所述测试组件的驱动测试端子电连接所述第一焊盘和所述第二焊盘。
7.根据权利要求6所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
设置材料驱动信号负电压最大值、材料驱动信号正电压最大值、液晶驱动电压调节精度、液晶恢复时间、液晶响应时间驱动信号。
8.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述通过所述第一电极和所述第二电极驱动所述液晶层包括：
依次通过各个所述电极组中的所述第一电极和第二电极驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
依次测试各个所述电极组中的所述第一电极和各行第二电极之间的电容电压特性。
9.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一基板、第二基板、第一焊盘、第二焊盘、第一连接线和第二连接线；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述第一电极位于所述第一基板靠近所述第二基板的一侧；
所述第二电极、所述第一焊盘、所述第二焊盘、所述第一连接线和所述第二连接线位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
多个所述第一电极通过所述第一连接线电连接；
多个所述第二电极通过所述第二连接线电连接；
所述液晶移相器的测试方法还包括：
在所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性后，
切割所述第二基板以去除所述第二基板的台阶区、所述第一焊盘、所述第二焊盘、所述第一连接线和所述第二连接线。
10.根据权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一基板、第二基板、第一焊盘、第二焊盘、第一连接线和第二连接线；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述第一电极、所述第一焊盘和所述第一连接线位于所述第一基板靠近所述第二基板的一侧；
所述第二电极、所述第二焊盘和所述第二连接线位于所述第二基板靠近所述第一基板的一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
多个所述第一电极通过所述第一连接线电连接；
多个所述第二电极通过所述第二连接线电连接；
所述液晶移相器的测试方法还包括：
在所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性后，
切断所述第一连接线以分开多个所述第一电极；
切断所述第二连接线以分开多个所述第二电极。
11.一种液晶天线的测试方法，其特征在于，所述液晶天线包括辐射体和液晶移相器；
所述液晶移相器包括液晶层和多个电极组；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述第一电极包括镂空部；
所述辐射体位于所述第一电极远离所述第二电极的一侧，且与所述镂空部交叠；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶天线的测试方法包括：
通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性；
根据所述第一电极和所述第二电极之间的电容 C=εδS/d 来获取反映所述液晶移相器的液晶分子旋转一致性的所述液晶层的相对介电常数，其中，ε为相对介电常数，δ为真空中的绝对介电常数，S为两极板正对面积，d为两极板间垂直距离；
其中，
所述电极组中的所述第二电极阵列排布且一行所述第二电极中的各个所述第二电极相连；
多个所述电极组中的所述第二电极电连接；
所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
通过给所述第二电极施加电压，并且分别通过给各个所述电极组中的所述第一电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
分别测试所述第二电极和各个所述电极组中的所述第一电极之间的电容电压特性；
或者，
所述电极组中的所述第二电极阵列排布且一行所述第二电极中的各个所述第二电极相连；
所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
通过给一个所述电极组中的所述第一电极，并且分别通过给该所述电极组中的所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
分别测试该所述电极组中的所述第一电极和各行所述二电极之间的电容电压特性；
或者，
所述电极组中的所述第二电极阵列排布且一行所述第二电极中的各个所述第二电极相连；
多个所述电极组中的所述第一电极电连接；
所述通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层包括：
通过给所述第一电极施加电压，并且分别通过给各个所述电极组中的所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性包括：
分别测试所述第一电极和各个所述电极组中的各行所述第二电极之间的电容电压特性。
12.一种液晶移相器的测试装置，应用了如权利要求1所述的液晶移相器的测试方法，其特征在于，所述液晶移相器包括第一基板、第二基板、液晶层和多个电极组；
所述第一基板和所述第二基板相对设置；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述第一电极位于所述第一基板靠近所述第二基板的一侧；
所述第二电极位于所述第二基板靠近所述第一基板的一侧；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶移相器的测试装置包括驱动模块和测试模块：
所述驱动模块用于通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试模块用于测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性。
13.根据权利要求12所述的液晶移相器的测试装置，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一焊盘和第二焊盘；
所述第一焊盘和所述第二焊盘位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述第二基板具有台阶区；
所述第一焊盘和所述第二焊盘位于所述台阶区。
14.根据权利要求12所述的液晶移相器的测试装置，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一焊盘和第二焊盘；
所述第一焊盘位于所述第一基板靠近所述第二基板一侧；
所述第二焊盘位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述第一基板具有第一台阶区；
所述第二基板具有第二台阶区；
所述第一焊盘位于所述第一台阶区；
所述第二焊盘位于所述第二台阶区。
15.一种液晶天线的测试装置，应用了如权利要求11所述的液晶天线的测试方法，其特征在于，所述液晶天线包括辐射体和液晶移相器；
所述液晶移相器包括第一基板、第二基板、液晶层和多个电极组；
所述电极组包括第一电极和第二电极；
所述第一电极镂空；
所述辐射体位于所述第一电极远离所述第二电极的一侧；
所述第一电极位于所述第一基板上；
所述第二电极位于所述第二基板上；
所述液晶层位于所述第一电极和所述第二电极之间；
所述第一电极接固定电位；
所述液晶天线的测试装置包括驱动模块和测试模块：
所述驱动模块用于通过给所述第一电极和所述第二电极施加电压驱动所述液晶层；
所述测试模块用于测试所述第一电极和所述第二电极之间的电容电压特性。
16.根据权利要求15所述的液晶天线的测试装置，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一焊盘和第二焊盘；
所述第一焊盘和所述第二焊盘位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述第二基板具有台阶区；
所述第一焊盘和所述第二焊盘位于所述台阶区。
17.根据权利要求15所述的液晶天线的测试装置，其特征在于，所述液晶移相器还包括第一焊盘和第二焊盘；
所述第一焊盘位于所述第一基板靠近所述第二基板一侧；
所述第二焊盘位于所述第二基板靠近所述第一基板一侧；
所述第一电极电连接所述第一焊盘；
所述第二电极电连接所述第二焊盘；
所述第一基板具有第一台阶区；
所述第二基板具有第二台阶区；
所述第一焊盘位于所述第一台阶区；
所述第二焊盘位于所述第二台阶区。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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