CN114062894A - 电路元器件检测方法、检测装置、终端设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
电路元器件检测方法、检测装置、终端设备和存储介质,电路元器件检测方法包括:采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库;根据映射数据库以递归的方式遍历检测电路图中的每个元器件的引脚连接的电路连接节点,同时读取或计算涉及到的电路连接节点的电压参数,根据电压参数建立节点电压数据库;将节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果。通过以递归的方式对电路图中的元器件进行遍历检测,可以全面、快速地实现对元器件在实际生产条件下的检测,避免因为个人的失误出现对电路连接节点的电压的错误计算和判断。
Description
技术领域
本申请属于电子电路技术领域,尤其涉及电路元器件检测方法、检测装置、终端设备和存储介质。
背景技术
目前,传统的电子产品生产过程中,会由于各种原因导致生产所使用的元器件的型号、生产厂商与原始电路图所使用的元器件不同,这会导致生产出的电子产品可能会存在元器件不匹配的情况,电子产品的电路的电压超过所使用的元器件的最高可承受电压,导致质量事故。而由于电路图中元器件众多,电路结构复杂,若通过人工检查则需要付出较高的人工成本和时间成本。
发明内容
本申请的目的在于提供一种电路元器件检测方法、检测装置、终端设备和存储介质,旨在解决传统的电子产品在实际生产过程存在的难以快速检测替换件是否匹配的问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种电路元器件检测方法,包括:采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、所述元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库;根据所述映射数据库以递归的方式遍历检测所述电路图中的每个所述元器件的引脚连接的所述电路连接节点,同时读取或计算涉及到的所述电路连接节点的电压参数,根据所述电压参数建立节点电压数据库;将所述节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果,所述器件参数包括每个所述元器件的最大可承受电压。
其中一实施例中,所述根据所述映射数据库以递归的方式遍历检测所述电路图中的每个所述元器件的引脚连接的所述电路连接节点包括:建立待检测数据表和已检测数据表,所述待检测数据表用于记录需要检测的所述元器件的位号,所述已检测数据表用于记录已经检测过的所述元器件的位号;从所述待检测数据表中的位号对应的所述元器件开始,以递归的方式根据所述映射数据库对所有所述元器件以及对应的所述电路连接节点进行遍历检测;并将检测过的所述元器件的位号录入所述已检测数据表,以用于避免重复进行遍历检测。
其中一实施例中,所述映射数据库包括第一映射表和第二映射表;所述第一映射表的每组映射的索引为所述元器件的位号和所述元器件的引脚号,存储值为所述元器件的对应的引脚所连接的所述电路连接节点的网络名,以用于通过所述第一映射表根据所述元器件的位号和引脚号检索到对应的所述元器件的引脚所连接的所述电路连接节点的网络名;所述第二映射表的每组映射的索引为所述电路连接节点的网络名和与所述电路连接节点连接的所述元器件的位号,所述存储值为对应的所述元器件的型号参数,以用于通过所述第二映射表根据所述电路连接节点的网络名检索到与所述电路连接节点相连的所有所述元器件的位号、型号参数。
其中一实施例中,所述以递归的方式根据所述映射数据库对所有所述元器件以及对应的所述电路连接节点进行遍历检测包括:在遍历检测过程中,当根据所述第一映射表判断即将进行遍历检测的目标引脚所连接的所述电路连接节点的网络名为地端或电源输入端时,即所述目标引脚为接地引脚或电源输入引脚时,将跳过所述目标引脚,继续检测所述元器件的其他引脚。
其中一实施例中,所述以递归的方式根据所述映射数据库对所有所述元器件以及对应的所述电路连接节点进行遍历检测包括:在遍历检测过程中,当根据所述第二映射表判断即将进行遍历检测的目标元器件为芯片时,将跳过所述目标元器件,继续检测与对应的所述电路连接节点连接的其他所述元器件。
其中一实施例中,所述采集电路图的数据信息包括:以电路连接节点对所述电路图进行分段,并分段采集每段的数据信息。
其中一实施例中,所述同时读取或计算涉及到的所述电路连接节点的电压参数包括:读取固定电压,所述固定电压为电压值固定的所述电路连接节点的电压;根据读取到的所述固定电压的参数以及所述元器件的参数计算运行电压,所述运行电压为电压值不固定的所述电路连接节点的电压;所述电压参数包括所述固定电压和所述运行电压。
本申请实施例的第二方面提供了一种电路图检测装置,包括:数据整理单元,用于采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、所述元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库;遍历检测单元,用于根据所述映射数据库以递归的方式遍历检测所述电路图中的每个所述元器件的引脚连接的所述电路连接节点,同时读取或计算涉及到的所述电路连接节点的电压参数,根据所述电压参数建立节点电压数据库;对比检测单元,用于将所述节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果,所述器件参数包括每个所述元器件的最大可承受电压。
本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的电路元器件检测方法的步骤。
本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的电路元器件检测方法的步骤。
本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:通过以递归的方式对电路图中的元器件进行遍历检测,可以全面、快速地实现对元器件在实际生产条件下的检测,还能够避免因为个人的失误出现对电路连接节点的电压的错误计算和判断。
附图说明
图1为本申请一实施例提供的电路元器件检测方法的流程图;
图2为图1所示的电路元器件检测方法步骤S100的具体流程图;
图3为图1所示的电路元器件检测方法步骤S200的具体流程图;
图4为图3所示的电路元器件检测方法步骤S230的具体流程图;
图5为本申请一实施例提供的电路图检测装置的原理图;
图6是本申请一实施例提供的终端设备的原理图。
具体实施方式
为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
图1示出了本申请第一实施例提供的一种电路元器件检测方法的流程图,为了便于说明,仅示出了与本实施例相关的部分,详述如下:
电路元器件检测方法包括S100~S300:
S100、采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库。
映射数据库的存储类型可以是数据库或字典,通过建立映射数据库,有利于提高后续的遍历检测速度。
进一步地,如图2所示,作为本申请的另一实施例,步骤S100具体可以包括S110~S120,具体描述如下:
S110、以电路连接节点对电路图进行分段,并分段采集每段的数据信息。
S120、建立包括每个元器件的位号、元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库。
通过将电路图进行分段并建立映射数据库能够将一个复杂的电路图简单化、数据化,以用于后续的遍历检测。
S200、根据映射数据库以递归的方式遍历检测电路图中的每个元器件的引脚连接的电路连接节点,同时读取或计算涉及到的电路连接节点的电压参数,根据电压参数建立节点电压数据库。
进一步地,如图3所示,作为本申请的另一实施例,步骤S200具体可以包括S210~S230,具体描述如下:
S210、建立待检测数据表和已检测数据表,待检测数据表用于记录需要检测的元器件的位号,已检测数据表用于记录已经检测过的元器件的位号。
S220、从待检测数据表中的位号对应的元器件开始,以递归的方式根据映射数据库对所有元器件以及对应的电路连接节点进行遍历检测;并将检测过的元器件的位号录入已检测数据表,以用于避免重复进行遍历检测。
S230、读取或计算涉及到的电路连接节点的电压参数,根据电压参数建立节点电压数据库。步骤S230与步骤S220同步运行。
其中,映射数据库包括第一映射表和第二映射表。
第一映射表的每组映射的索引为元器件的位号和元器件的引脚号,存储值为元器件的对应的引脚所连接的电路连接节点的网络名,例如:索引=[位号][引脚号],存储值=网络名。其中一组映射可以为索引=[C10][1],存储值=WL789,索引=[C10][1]即表示位号为C10的元器件的引脚号为1的引脚,存储值=WL789即表示上述引脚所连接的电路连接节点的网络名为WL789。
第二映射表的每组映射的索引为电路连接节点的网络名和与电路连接节点连接的元器件的位号,存储值为对应的元器件的型号参数。例如:索引=[网络名][位号],存储值={引脚号、型号、引脚名}。其中一组映射可以为索引=[WL789][C10],存储值={1、C、IN},索引=[WL789][C10]即表示网络名为WL789的电路连接节点连接有位号为C10的元器件,存储值={1、C、IN}即表示该元器件与该电路连接节点连接的引脚号为1且引脚名为IN,该元器件的型号为C(电容)。
通过第一映射表能够根据元器件的位号和引脚号快速检索到对应的元器件的引脚所连接的电路连接节点的网络名,通过第二映射表能够根据电路连接节点的网络名快速检索到与电路连接节点相连的所有元器件的位号、型号参数,从而得到每个元器件与电路连接节点的连接关系,并根据连接关系就可以实现从待检测数据表中的位号对应的元器件开始,以递归的方式对电路图进行遍历检测。
另一实施例的步骤S220中,在遍历检测过程中,当根据第一映射表判断即将进行遍历检测的目标引脚所连接的电路连接节点的网络名为地端或电源输入端时,即目标引脚为接地引脚或电源输入引脚时,将跳过目标引脚,继续检测元器件的其他引脚。例如,在遍历检测过程中,当对其中一个元器件的引脚进行遍历检测时,若根据第一映射表判断即将进行遍历检测的目标引脚所连接的电路连接节点的网络名为GND(地端),那么将跳过该目标引脚,从该元器件的其他引脚开始,继续进行遍历检测。
另一实施例的步骤S220中,在遍历检测过程中,当根据第二映射表判断即将进行遍历检测的目标元器件为芯片时,将跳过目标元器件,继续检测与电路连接节点连接的其他元器件。例如,在遍历检测过程中,当对其中一个电路连接节点所连接的元器件进行遍历检测时,若根据第二映射表判断即将进行遍历检测的目标元器件的型号为芯片,那么将跳过目标元器件,从与该电路连接节点连接的其他元器件开始,继续进行遍历检测。
进一步地,如图4所示,作为本申请的另一实施例,步骤S230具体可以包括S231~S233,具体描述如下:
S231、读取固定电压,固定电压为电压值固定的电路连接节点的电压。
S232、根据读取到的固定电压的参数以及元器件的参数计算运行电压。
运行电压为电压值不固定的电路连接节点的电压,运行电压无法直接提取,只能在进行遍历检测的过程中根据元器件之间的连接关系以及每个元器件的具体参数计算得到。
其中,电压参数包括固定电压和运行电压。
S233、根据电压参数和与电路连接节点对应连接的元器件的位号建立节点电压数据库。
本实施例中,节点电压数据库中对应存储了每个完成遍历检测的元器件的位号以及与该元器件连接的电路连接节点的电压,即可通过节点电压数据库得到每个完成遍历检测的元器件的实际电压。
S300、将节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果。
其中,器件参数包括每个元器件的最大可承受电压。
若元器件的实际电压超过对应器件参数中的最大可承受电压,元器件耐压检测结果将标记元器件的实际电压与对应器件参数中的最大可承受电压的差值。
另一实施例中,电路图中使用了多个位号相同的元器件,步骤S300中,只会将遍历检测到的多个位号相同的元器件的最大的实际电压与对应器件参数中的最大可承受电压进行对比,从而提高检测效率。
图5示出了本申请第二实施例提供的一种电路图检测装置的原理图,为了便于说明,仅示出了与本实施例相关的部分,详述如下:
一种电路图检测装置,包括数据整理单元410、遍历检测单元420和对比检测单元430:
数据整理单元410用于采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库;
遍历检测单元420用于根据映射数据库以递归的方式遍历检测电路图中的每个元器件的引脚连接的电路连接节点,同时读取或计算涉及到的电路连接节点的电压参数,根据电压参数建立节点电压数据库;
对比检测单元430用于将节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果,器件参数包括每个元器件的最大可承受电压。
图6示出了本申请第三实施例提供的一种终端设备的原理图,为了便于说明,仅示出了与本实施例相关的部分,详述如下:
一种终端设备,包括存储器510、处理器520以及存储在存储器510中并可在处理器520上运行的计算机程序530,处理器520执行计算机程序530时实现如上述的电路元器件检测方法的步骤。
本发明实施例公开的终端设备可以是手机、平板电脑、电子书阅读器、游戏机、可穿戴设备(例如智能手表)等终端设备,本发明实施例不限制终端设备的具体种类。
本申请第四实施例提供的一种计算机可读存储介质,为了便于说明,仅示出了与本实施例相关的部分,详述如下:
一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现如上述的电路元器件检测方法的步骤。
本发明实施例公开的计算机可读存储介质可以是半导体、磁芯、磁鼓、磁带、激光盘等存储介质,本发明实施例不限制计算机可读存储介质的具体种类。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电路元器件检测方法,其特征在于,包括:
采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、所述元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库;
根据所述映射数据库以递归的方式遍历检测所述电路图中的每个所述元器件的引脚连接的所述电路连接节点,同时读取或计算涉及到的所述电路连接节点的电压参数,根据所述电压参数建立节点电压数据库;
将所述节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果,所述器件参数包括每个所述元器件的最大可承受电压。
2.如权利要求1所述的电路元器件检测方法,其特征在于,所述根据所述映射数据库以递归的方式遍历检测所述电路图中的每个所述元器件的引脚连接的所述电路连接节点包括:
建立待检测数据表和已检测数据表,所述待检测数据表用于记录需要检测的所述元器件的位号,所述已检测数据表用于记录已经检测过的所述元器件的位号;
从所述待检测数据表中的位号对应的所述元器件开始,以递归的方式根据所述映射数据库对所有所述元器件以及对应的所述电路连接节点进行遍历检测;并将检测过的所述元器件的位号录入所述已检测数据表,以用于避免重复进行遍历检测。
3.如权利要求2所述的电路元器件检测方法,其特征在于,所述映射数据库包括第一映射表和第二映射表;
所述第一映射表的每组映射的索引为所述元器件的位号和所述元器件的引脚号,存储值为所述元器件的对应的引脚所连接的所述电路连接节点的网络名,以用于通过所述第一映射表根据所述元器件的位号和引脚号检索到对应的所述元器件的引脚所连接的所述电路连接节点的网络名;
所述第二映射表的每组映射的索引为所述电路连接节点的网络名和与所述电路连接节点连接的所述元器件的位号,所述存储值为对应的所述元器件的型号参数,以用于通过所述第二映射表根据所述电路连接节点的网络名检索到与所述电路连接节点相连的所有所述元器件的位号、型号参数。
4.如权利要求2或3所述的电路元器件检测方法,其特征在于,所述以递归的方式根据所述映射数据库对所有所述元器件以及对应的所述电路连接节点进行遍历检测包括:
在遍历检测过程中,当根据所述第一映射表判断即将进行遍历检测的目标引脚所连接的所述电路连接节点的网络名为地端或电源输入端时,即所述目标引脚为接地引脚或电源输入引脚时,将跳过所述目标引脚,继续检测所述元器件的其他引脚。
5.如权利要求2或3所述的电路元器件检测方法,其特征在于,所述以递归的方式根据所述映射数据库对所有所述元器件以及对应的所述电路连接节点进行遍历检测包括:
在遍历检测过程中,当根据所述第二映射表判断即将进行遍历检测的目标元器件为芯片时,将跳过所述目标元器件,继续检测与对应的所述电路连接节点连接的其他所述元器件。
6.如权利要求1所述的电路元器件检测方法,其特征在于,所述采集电路图的数据信息包括:
以电路连接节点对所述电路图进行分段,并分段采集每段的数据信息。
7.如权利要求1所述的电路元器件检测方法,其特征在于,所述同时读取或计算涉及到的所述电路连接节点的电压参数包括:
读取固定电压,所述固定电压为电压值固定的所述电路连接节点的电压;
根据读取到的所述固定电压的参数以及所述元器件的参数计算运行电压,所述运行电压为电压值不固定的所述电路连接节点的电压;
所述电压参数包括所述固定电压和所述运行电压。
8.一种电路图检测装置,其特征在于,包括:
数据整理单元,用于采集电路图的数据信息并建立包括每个元器件的位号、所述元器件的引脚号以及电路连接节点的网络名之间对应关系的映射数据库;
遍历检测单元,用于根据所述映射数据库以递归的方式遍历检测所述电路图中的每个所述元器件的引脚连接的所述电路连接节点,同时读取或计算涉及到的所述电路连接节点的电压参数,根据所述电压参数建立节点电压数据库;
对比检测单元,用于将所述节点电压数据库与元器件数据库中对应的器件参数进行比对,并生成元器件耐压检测结果,所述器件参数包括每个所述元器件的最大可承受电压。
9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的电路元器件检测方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的电路元器件检测方法的步骤。
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