CN108228917A - 电路原理图检查装置及方法 - Google Patents

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Abstract

一种电路原理图检查装置及方法，所述方法包括：读取所述电路原理图；获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，所述元器件的信息包括：各元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及各元器件的引脚信息；根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查；根据检查结果输出检查报告。上述方案能够提高电路原理图检查的可靠性和效率。

Description

电路原理图检查装置及方法
技术领域
本发明涉及测试领域，尤其涉及一种电路原理图检查装置及方法。
背景技术
在产品设计的诸多设计步骤中，电路原理图的绘制是硬件设计前期中的一个重要环节。目前，工业上通常使用电子设计自动化(Electronic Design Automation，EDA)工具来完成电路原理图的设计。
为保证设计的可靠性，电路原理图的设计通常需要遵循一定的设计规范。由于受到电路规模、电路复杂度、设计人员的能力和经验等因素的影响，在电路原理图的设计过程中难免会出现一些错误。因此，在电路原理图设计完成后，需要对电路原理图进行检查。
电路原理图的检查方法主要包括绘图规范检查、器件连接检查、设计逻辑检查等。现有的电路原理图的检查通常是采用人工审图的方法，即通过硬件设计人员对电路原理图进行检查，可靠性差、效率低。
此外，也可以通过EDA内嵌的检查功能对电路原理图进行检查。但是现有EDA内嵌的检查方法只能检查出是否有短路、断路等简单的常识性的错误，同样存在可靠性差、效率低的问题。
发明内容
本发明解决的技术问题是如何提高电路原理图检查的可靠性和效率。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种电路原理图检查方法，包括：读取所述电路原理图，获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，所述元器件的信息包括：各元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及各元器件的引脚信息；根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查；根据检查结果输出检查报告。
可选的，所述预设的电路电气约束条件库包括如下至少一种电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同；当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出方向与相连的芯片引脚对应的输入输出方向相对应，且所述当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出类型与相连的芯片引脚对应的输入输出类型相同；与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片与预设的目标芯片相同；当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同；当前进行检查的芯片引脚的电压、电流范围与相连的芯片引脚的电压、电流范围存在交集；当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件；当前进行检查的芯片引脚与指定引脚连接。
可选的，所述获取所述电路原理图中元器件的信息，包括：获取所述电路原理图中第一元器件的引脚数目以及第一元器件的料号信息；从预设的元器件数据库中检索与第一元器件的引脚数目相同的元器件；在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件；在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件；获取与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息。
可选的，所述在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件，包括：在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，获取检索到的元器件各自对应的正则表达式；将所述第一元器件的料号信息与所述检索到的元器件各自对应的正则表达式逐个进行匹对，检索出与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式；获取与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件。
可选的，所述在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件，包括：获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
可选的，所述电路原理图检查方法还包括：当检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，不存在与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
可选的，所述电路原理图检查方法还包括：当在所述元器件数据库中，未检索到与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件时，接收用户输入的元器件数据，并对所述元器件数据库进行更新。
可选的，所述采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，包括：获取各元器件各自对应的引脚数目；按照引脚数目从多到少的顺序，采用预设的电路电气约束条件库，依次对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
可选的，所述对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系进行检查，包括：获取当前进行检查的芯片引脚对应的连接网络；获取所有与所述当前进行检查的芯片引脚存在连接关系的芯片引脚；依次对所述获取到的芯片引脚与所述当前进行检查的芯片引脚的连接关系进行检查。
可选的，当所述预设的电路电气约束条件库中包括当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件时，所述对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系进行检查，包括：计算所述RLC电路网络对应的电阻值、电容值以及电感值；当所述当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚均为电源引脚时，检查所述RLC电路网络的并联电容值是否处于第一电容值区间之内，所述第一电容值区间的最小电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最小取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最小取值之和，所述第一电容值区间的最大电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最大取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最大取值之和；检查所述RLC电路网络对应的电阻值是否处于预设电阻值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电容值是否处于第二电容值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电感值是否处于预设电感值区间之内，其中：所述预设电阻值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围的交集；所述预设电感值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电感值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电感值取值范围的交集；所述第二电容值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电容值取值范围的交集；对所述RLC电路网络中各类型的元器件的连接类型进行检查，判断各类型的元器件的连接类型是否为预设连接类型，以及判断各类型的元器件的电性参数是否处于预设范围之内，所述连接类型包括以下至少一种：串联、并联、上拉。
本发明实施例还提供了一种电路原理图检查装置，包括：读取单元，用于读取所述电路原理图；获取单元，用于获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，所述元器件的信息包括：各元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及各元器件的引脚信息；检查单元，用于根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查；输出单元，用于根据检查结果输出检查报告。
可选的，所述预设的电路电气约束条件库包括如下至少一种电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同；当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出方向与相连的芯片引脚对应的输入输出方向相对应，且所述当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出类型与相连的芯片引脚对应的输入输出类型相同；与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片与预设的目标芯片相同；当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同；当前进行检查的芯片引脚的电压、电流范围与相连的芯片引脚的电压、电流范围存在交集；当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件；当前进行检查的芯片引脚与指定引脚连接。
可选的，所述获取单元，用于：获取所述电路原理图中第一元器件的引脚数目以及第一元器件的料号信息；从预设的元器件数据库中检索与第一元器件的引脚数目相同的元器件；在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件；在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件；获取与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息。
可选的，所述获取单元，用于：在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，获取检索到的元器件各自对应的正则表达式；将所述第一元器件的料号信息与所述检索到的元器件各自对应的正则表达式逐个进行匹对，检索出与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式；获取与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件。
可选的，所述获取单元，用于：获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
可选的，所述获取单元，还用于：当检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，不存在与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
可选的，所述电路原理图检查装置还包括：更新单元，用于当在所述元器件数据库中，未检索到与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件时，接收用户输入的元器件数据，并对所述元器件数据库进行更新。
可选的，所述检查单元，用于：获取各元器件各自对应的引脚数目；按照引脚数目从多到少的顺序，采用预设的电路电气约束条件库，依次对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
可选的，所述检查单元，用于：获取当前进行检查的芯片引脚对应的连接网络；获取所有与所述当前进行检查的芯片引脚存在连接关系的芯片引脚；依次对所述获取到的芯片引脚与所述当前进行检查的芯片引脚的连接关系进行检查。
可选的，所述检查单元，用于：当所述预设的电路电气约束条件库中包括当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件时，计算所述RLC电路网络对应的电阻值、电容值以及电感值；当所述当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚均为电源引脚时，检查所述RLC电路网络的并联电容值是否处于第一电容值区间之内，所述第一电容值区间的最小电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最小取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最小取值之和，所述第一电容值区间的最大电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最大取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最大取值之和；检查所述RLC电路网络对应的电阻值是否处于预设电阻值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电容值是否处于第二电容值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电感值是否处于预设电感值区间之内，其中：所述预设电阻值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围的交集；所述预设电感值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电感值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电感值取值范围的交集；所述第二电容值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电容值取值范围的交集；对所述RLC电路网络中各类型的元器件的连接类型进行检查，判断各类型的元器件的连接类型是否为预设连接类型，以及判断各类型的元器件的电性参数是否处于预设范围之内，所述连接类型包括以下至少一种：串联、并联、上拉。
与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：
在对电路原理图进行检查时，根据从电路原理图中获取元器件的信息，在预设的元器件数据库中获取元器件的信息对应的元器件，从而可以获知各元器件。采用预设的电气约束条件库，对电路原理图中所有的元器件相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，从而可以对电路原理图进行检查，而无需人工操作，从而可以提高电路原理图的检查效率。由于是对所有元器件相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，与现有的只能检查出是否有短路、断路等简单的常识性的错误的检查方法相比，能够提高电路原理图检查的可靠性以及效率。
在预设的元器件数据库中，获取电路原理图中元器件的信息，可以针对不同厂家提供的原理图进行检查，从而可以扩展电路原理图检查的兼容性。
附图说明
图1是本发明实施例中的一种电路原理图检查方法的流程图；
图2(a)～图2(c)是本发明实施例中的三种RLC电路网络连接类型的电路示意图；
图3是现有的一种芯片引脚之间的pi型电路的电路结构图；
图4(a)～图4(c)是本发明实施例中对pi型电路拆分后得到的三种电路结构图；
图5是本发明实施例中的另一种电路原理图检查方法的流程图；
图6(a)～图6(b)是本发明实施例中的又一种电路原理图检查方法的流程图；
图7是本发明实施例中的一种电路原理图检查装置的结构示意图。
具体实施方式
现有的电路原理图的检查通常是采用人工审图的方法，即通过硬件设计人员对电路原理图进行检查，可靠性差、效率低。此外，也可以通过EDA内嵌的检查功能对电路原理图进行检查。但是现有EDA内嵌的检查方法只能检查出是否有短路、断路等简单的常识性的错误，同样存在可靠性差、效率低的问题。
在本发明实施例中，在对电路原理图进行检查时，根据从电路原理图中获取元器件的信息，在预设的元器件数据库中获取元器件的信息对应的元器件，从而可以获知各元器件。采用预设的电气约束条件库，对电路原理图中所有的元器件相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，从而可以对电路原理图进行检查，而无需人工操作，从而可以提高电路原理图的检查效率。由于是对所有元器件相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，与现有的只能检查出是否有短路、断路等简单的常识性的错误的检查方法相比，能够提高电路原理图检查的可靠性以及检查效率。
为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
本发明实施例所提供的电路原理图检查方法可以适用于浏览器/服务器(BrowserServer，B/S)架构，也可以适用于客户端/服务器(Client Server，C/S)架构。
本发明实施例提供了一种电路原理图检查方法，参照图1，以下通过具体步骤进行详细说明。
步骤S101，读取所述电路原理图。
步骤S102，获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息。
在具体实施中，从电路原理图中获取到的元器件信息可以包括元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及元器件的引脚信息，其中：元器件的引脚信息可以包括元器件的引脚数目以及各引脚对应的功能。元器件的属性信息可以包括元器件的固有参数，例如，元器件为电阻，则元器件的属性信息可以包括电阻的阻值以及电阻的功率、电阻的精度、电阻的封装类型以及封装大小等信息。
在实际应用中，可以直接从电路原理图中读取元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息。例如，通过EDA工具自带的OLE接口，从电路原理图中读取元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息；也可以先将电路原理图转换成通用的格式，例如文本格式，之后再从中读取元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息。
在获取到电路原理图中所有元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息之后，可以执行步骤S103。
步骤S103，根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
在具体实施中，可以预先建立电路电气约束条件库。电路电气约束条件库中，可以预先设定电路电气约束条件，设定的电路电气约束条件可以为本领域技术人员所公认的符合电路电气基本原理的约束条件。之后，可以根据预先建立好的电路电气约束条件库，对电路原理图进行检查。
在本发明实施例中，对电路原理图进行检查时，需要对电路原理图中，芯片相连引脚之间的连接关系以及对芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，其中，芯片相连引脚是指：两个属于不同芯片的引脚连接在一起。
下面对本发明实施例中提供的电路电气约束条件库中的电路电气约束条件进行说明。
在实际应用中可知，针对一个芯片，其中的一个引脚可以包括多种不同的功能。在本发明实施例中，可以将芯片引脚的每一个功能与一种引脚类型相对应，相应的，芯片的一个引脚可以对应多种不同的引脚类型。
引脚类型可以按照总线类型来划分，例如，引脚类型为集成电路总线(Inter-Integrated Circuit，I2C)类型、串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)类型。引脚类型也可以按照功能来划分，例如，引脚类型为中断类型、通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver Transmitter，UART)类型、通用输入输出(GeneralPurpose Input Output，GPIO)类型、电源类型等。
在对芯片引脚的引脚类型进行划分时，还可以对其中的某一种功能进行进一步的划分。例如，将芯片引脚的引脚类型为电源类型时，可以进一步将芯片引脚的引脚类型划分为ARM供电类型、内存供电类型等。
在具体实施中，预设的电路电气约束条件库中包括如下电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同。也就是说，可以预先设定只有具有相同功能的芯片引脚才能够连接在一起。若当前进行检查的芯片引脚的功能与相连的芯片引脚的功能不同，则可以判定当前进行检查的芯片引脚的连接关系出错；若当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同，则判定当前进行检查的芯片引脚的连接关系正确。
例如，当前进行检查的芯片引脚PIN1对应的引脚类型为电源类型，而与PIN1相连的芯片引脚PIN1’的引脚为SPI类型，则可以判定PIN1的连接关系出错。
在本发明实施例中，可以针对芯片引脚的引脚类型设定功能索引，用来区分相同的引脚类型。
例如，对于CPU芯片，存在n组UART总线，每一组UART总线的引脚对应一个功能索引，多组UART总线依次为UART0、UART1、……、UARTn-1等。设定存在一个外接芯片，存在2组UART总线的引脚与CPU芯片上的UART总线的引脚连接，外接芯片的2组UART总线的引脚对应的功能索引分别为SLAVE_UART0以及SLAVE_UART1，则功能索引为SLAVE_UART0的引脚可以与功能索引为UART0、UART1、……、UARTn-1中的任一个对应的引脚连接，功能索引为SLAVE_UART1的引脚可以与功能索引为UART0、UART1、……、UARTn-1中的任一个对应的引脚连接。
需要注意的是，外接芯片的一组UART总线的引脚仅能与CPU芯片中的一组UART总线的引脚对应连接，外接芯片的一组UART总线的引脚不能同时与CPU芯片中的两组UART总线的引脚连接。
例如，外接芯片的功能索引为SLAVE_UART0的TXD引脚与CPU芯片的功能索引为UART0的TXD引脚连接，则外接芯片的功能索引为SLAVE_UART0的RXD引脚应与CPU芯片的功能索引为UART0的RXD引脚连接。若外接芯片的功能索引为SLAVE_UART0的RXD引脚与CPU芯片的功能索引为UART1的RXD引脚连接，则可以判定功能索引为SLAVE_UART0的RXD引脚连接关系出错。
在具体实施中，预设的电路电气约束条件库中包括如下电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出方向与相连的芯片引脚对应的输入输出方向相对应，且当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出类型与相连的芯片引脚对应的输入输出类型相同。
在具体实施中，芯片引脚的输入输出方向可以包括输入方向、输出方向、输入输出方向以及悬空、接地等。芯片引脚的输入输出类型可以针对不同的信号类型来划分，比如芯片引脚的输入输出类型包括数字信号类型、射频信号类型、模拟信号类型、电源信号类型等。
例如，对于通用数字信号，其输入输出方向和类型可以分为通用数字输入(GPI)、通用数字输出(GPO)、通用数字输入输出(GPIO)。对于电源信号，其输入输出方向和类型可以分为电源输入(POWERI)、电源输出(POWERO)两种。对于射频信号，其输入输出方向和类型可以分为射频输入(RFI)、射频输出(RFO)、射频输入输出(RFIO)。对于模拟信号，其输入输出方向和类型可以分为模拟输入(AI)、模拟输出(AO)、模拟输入输出(AIO)。
在具体实施中，当芯片引脚为悬空类型时，芯片引脚不能与任何类型的引脚相连。当芯片引脚为GND类型时，芯片引脚只能接地。
在本发明实施例中，芯片引脚对应的输入输出方向相对应是指：输入方向对应输出方向或输入输出方向，输出方向对应输入方向或输入输出方向，输入输出方向对应输入输出方向。芯片引脚对应的输入输出类型相同是指：两个芯片引脚对应的信号类型相同。例如，PIN1的类型为数字信号类型，与PIN1相连的PIN1’的类型也为数字信号类型。例如，当前进行检查的芯片引脚PIN1的输入输出方向和类型为GPO，则与其相连接的芯片引脚PIN1’的输入输出方向和类型应为GPI或GPIO。若PIN1’的输入输出方向和类型为GPO，则可以判定PIN1的连接关系出错。
在具体实施中，预设的电路电气约束条件库中包括如下电气约束条件：与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片为预设的目标芯片。也就是说，可以预先设定与当前进行检查的芯片引脚相连的目标芯片。在对当前进行检查的芯片引脚的连接关系进行检查时，若与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片并不是预设的目标芯片，则可以判定当前进行检查的芯片引脚的连接关系出错。
例如，预先设定与CPU芯片中内存总线功能引脚连接的目标芯片为内存芯片，则当检查到CPU芯片中内存总线功能引脚连接内存芯片时，则判定内存总线功能引脚连接正常。否则，判定CPU芯片中内存总线功能引脚连接关系出错。
在具体实施中，预设的电路电气约束条件库中包括如下电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同。芯片引脚的连接字符串可以是预先设定的，并可以设定只有相同的连接字符串的芯片引脚才可以相连。芯片引脚的连接字符串并不一定是芯片引脚的名称，可以是用户自己进行定义的。
例如，设定当前进行检查的芯片引脚的连接字符串为VDDARM，但在实际应用中，当前进行检查的芯片引脚的真实名称为VDD_ARM。
当芯片引脚PIN1与芯片引脚PIN1’相连时，则可以判断芯片引脚PIN1对应的连接字符串与PIN1’对应的连接字符串是否相同。若芯片引脚PIN1的连接字符串为VDDARM，芯片引脚PIN1’的连接字符串为VDDARM，则判定芯片引脚PIN1与芯片引脚PIN1’的连接关系正常。否则，若芯片引脚PIN1的连接字符串与芯片引脚PIN1’的连接字符串不同，则判定芯片引脚PIN1与芯片引脚PIN1’的连接关系出错。
需要说明的是，在当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间存在RLC电路网络时，可以先假定RLC电路网络不存在，也即假设当前进行检查的芯片引脚与相连的引脚为直连，之后，判断当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串是否相同。若当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同，则可以继续判断两个引脚之间的RLC电路网络是否满足预设的电路电气约束条件库中的电气约束条件。
在本发明一实施例中，当芯片引脚为电源类型的引脚时，例如，芯片引脚为电源输入引脚或电源输出引脚时，预设的电路电气约束条件库中包括如下电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚的电压、电流范围与相连的芯片引脚的电压、电流范围存在交集。
例如，当前进行检查的芯片引脚PIN1的电压输出范围为3V～3.5V，电流输出范围为0mA～200mA，与PIN1相连的芯片引脚PIN1’的电压输入范围为3.6V～5V，电流输入范围为0mA～50mA。由于PIN1的电压输出范围与PIN1’的电压输入范围没有交集，因此，可以判定PIN1’不应该与PIN1相连，因此，判定PIN1的连接关系出错。若PIN1’的电压输入范围为3V～3.6V，电流输入范围为0mA～200mA，由于PIN1’的电压输入范围与PIN1的电压输出范围存在交集，且PIN1’的电流输入范围与PIN1的电流输出范围存在交集，则可以判定PIN1’与PIN1可以相连。
在本发明一实施例中，预设的电路电气约束条件库中包括如下电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件。
需要说明的是，在具体实施中，RLC电路网络中包括的元器件可以包括电阻、电感、电容等元器件，还可以包括静电释放(Electronic Static Discharge，ESD)器件以及其他的二端口的器件等。
在实际应用中，电路原理图中相连的两个芯片引脚可以直连，也可以存在RLC电路网络。当相连的两个芯片引脚之间存在RLC电路网络时，需要检查RLC电路网络是否满足预设条件。
在实际应用中，可以将相连的两个芯片引脚之间的RLC电路网络进行拆分，将RLC电路网络拆分成单个独立的、设置在两个芯片引脚之间的RLC元器件。单个独立的RLC元器件在两个芯片引脚之间的连接关系可以包括以下三种基本类型：串联、并联以及上拉。参照图2(a)～图2(c)，给出了本发明实施例中的三种RLC元器件的连接类型。
参照图2(a)，芯片A的引脚与芯片B的引脚之间串联有RLC元器件。参照图2(b)，芯片A的引脚与芯片B的引脚并联有RLC元器件。参照图2(c)，芯片A的引脚与芯片B的引脚存在上拉RLC元器件。
下面对本发明实施例中的RLC电路网络的拆分方法进行说明。
参照图3，给出了现有技术中的一种pi型电路的电路结构图。对图3中的pi型电路进行拆分，得到图4(a)～4(c)。
图3中，pi型电路设置在芯片A的引脚与芯片B的引脚之间，包括电阻R、电感L以及电容C。在图4(a)中，将图3中提供的pi型电路拆分成电容C串联在芯片A的引脚与芯片B的引脚之间；在图4(b)中，将图3中提供的pi型电路拆分成电阻R并联在芯片A的引脚上；在图4(c)中，将图3中提供的pi型电路拆分成电感L并联在芯片B的引脚上。
通过上述拆分方法，即可将芯片A的引脚与芯片B的引脚之间的RLC电路网络拆分成多个RLC元器件设置在芯片A的引脚与芯片B的引脚之间。在具体实施中，可以预先设定相连的两个芯片引脚之间的RLC电路网络的检查规则，RLC电路网络的检查规则隶属于预设的电路电气约束条件库。
在本发明一实施例中，RLC电路网络的检查规则包括如下：
1)是否允许存在RLC电路网络。
也就是说，相连的两个芯片引脚之间是否允许设置RLC电路网络，允许设置RLC电路网络意味着可以设置RLC电路网络，也可以没有设置RLC电路网络。在实际应用中，当相连的两个芯片引脚之间不能设置RLC电路网络时，表示两个芯片引脚之间强制直连。
当两个芯片引脚之间允许设置有RLC电路网络时，将RLC电路网络拆分成多个独立的RLC元器件。针对拆分出的RLC元器件与芯片A的引脚以及芯片B的引脚之间的连接关系，来判断RLC元器件是否允许设置在芯片A的引脚以及芯片B的引脚之间，以及RLC元器件在芯片A的引脚与芯片B的引脚之间的连接关系是否为预设的。
例如，当检测到芯片A的引脚与芯片B的引脚之间串联有电阻R时，判断RLC电路网络的检查规则中是否允许电阻R串联在芯片A的引脚以及芯片B的引脚之间。当检测到芯片A的引脚或芯片B的引脚并联有电阻时，判断芯片A的引脚或芯片B的引脚是否允许电阻R并联；当检测到在芯片A的引脚或芯片B的引脚存在上拉电阻R时，判断在芯片A的引脚或芯片B的引脚是否允许上拉电阻R的存在。
2)是否强制存在RLC电路网络。
当相连的两个芯片引脚之间设置有RLC电路网络时，判断相连的两个芯片引脚之间是否允许设置RLC电路网络。若都不允许设置有RLC电路网络，则判定两个芯片引脚的连接关系出错。
相应地，当相连的两个芯片引脚直连时，判断相连的两个芯片引脚之间是否强制设置RLC电路网络。若相连的两个芯片引脚之间强制设置RLC电路网络，则判定相连的两个芯片引脚的连接关系出错。
例如，检测到芯片A的引脚与芯片B的引脚直连。若RLC电路网络的检查规则中，设定芯片A的引脚与芯片B的引脚强制串联电阻，则判定芯片A的引脚与芯片B的引脚的连接关系出错。
若RLC电路网络的检查规则中，还存在其他的强制规则，例如，强制芯片A的引脚与芯片B的引脚之间存在串联电阻时，由于只检测到芯片A的引脚与芯片B的引脚之间串联有电容，而没有检测到芯片A的引脚与芯片B的引脚之间串联有电阻，则可以判定芯片A的引脚与芯片B的引脚之间的连接关系出错。
又如，RLC电路网络的检查规则中，强制芯片A的引脚并联电容C。若检测到芯片A的引脚没有并联电容，则可以判定芯片A的引脚与芯片B的引脚之间的连接关系出错。
3)RLC电路网络中所要包括的RLC元器件类型。若相连的两个芯片引脚之间应该设置有RLC电路网络，则设定RLC电路网络中所要包含的RLC元器件的类型。
4)在设定RLC电路网络中的RLC元器件的类型之后，还设定RLC电路网络的电阻值的范围、电感值的范围、电容值的范围。
在对芯片引脚进行检查时，可以根据预设的RLC电路网络所需具备的条件，对当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络进行检查。
例如，检测到芯片引脚PIN1与芯片引脚PIN1’之间存在RLC电路网络，RLC电路网络中仅包括串联电阻R，串联电阻R的阻值为10kΩ。判断串联电阻R的阻值是否处于预设的RLC电路网络的检查规则中的电阻取值范围。
若RLC电路网络的检查规则中，设定PIN1与PIN1’之间电阻串联的电阻值的取值范围为10kΩ～100kΩ，则判定PIN1与PIN1’之间的连接关系正常。
若RLC电路网络的检查规则中还包括PIN1与PIN1’之间强制电阻上拉、强制电容并联，由于检测到PIN1与PIN1之间仅存在串联电阻R，则判定PIN1与PIN1’之间的连接关系出错。
又如，检测到PIN1与PIN1’之间的RLC电路网络中包括上拉电阻R1、并联电容C1，电阻R1的阻值为10kΩ，电容C1的电容值为4μF。获取到RLC电路网络的检查规则中，仅包括：PIN1与PIN1’电阻上拉、电容并联，且上拉的电阻阻值范围为10kΩ～100kΩ，并联的电容的容值范围为1μF～5μF，则判定PIN1与PIN1’之间的连接关系正常。
又如，检测到PIN1与PIN1’之间的RLC电路网络中包括串联电阻，且RLC电路网络的检查规则中，强制PIN1与PIN1’之间禁止存在串联电阻，则判定PIN1与PIN1’之间的连接关系出错。
在本发明一实施例中，预设的电路电气约束条件库中还包括如下电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚与指定引脚连接。
在实际应用中，对于有些芯片，可能已经限定某一个引脚只能与某一个芯片的指定引脚连接。例如，对于芯片的I2C引脚，预先设定只能与PMU的指定引脚连接。则在对芯片的I2C引脚进行检查时，若I2C引脚没有与PMU的指定引脚连接，则可以判定I2C引脚的连接关系出错。
需要说明的是，在具体实施中，预设的电路电气约束条件库可以包括本发明上述实施例中提供的任一种电气约束条件，也可以包括本发明上述实施例中提供的多种电气约束条件。例如，在具体实施中，预设的电路电气约束条件库包括本发明上述实施例中提供的所有电气约束条件。
预设的电路电气约束条件库中所包括的电气约束条件越多，则在对电路原理图进行检查时，得到的检查结果的可靠性越高，随之而来的是检查时间较长。相应地，预设的电路电气约束条件库中所包括的电气约束条件越少，则在电路原理图进行检查时，得到的检查结果的可靠性越差，检查时间较短。因此，在实际应用中，可以在检查时间与检查结果的可靠性之间进行折中，选择相应的电气约束条件对电路原理图进行检查。
可以理解的是，在本发明实施例中，预设的电路电气约束条件库中还可以包括其他的电气约束条件。电路电气约束条件库中的电气约束条件可以由检查人员根据电路原理图进行设置，此处不做赘述。
在采用预设的电路电气约束条件库，对电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查后，可以执行步骤S103。
步骤S104，根据检查结果输出检查报告。
在具体实施中，在对电路原理图进行检查时，若检查到电路原理图中某一处芯片相连引脚之间的连接关系出错，则可以生成检查报告并输出，在输出的检查报告中，标识连接关系出错的芯片引脚，以便检查人员进行纠正。
在实际应用中，若检查到电路原理图中某一处芯片相连引脚之间的连接关系出错，也可以在电路原理图中相应的芯片引脚处进行标识。例如，检查到引脚PIN1的连接关系出错，则可以在电路原理图中的PIN1位置，以红色字体标识PIN1的连接关系出错。
由此可见，在对电路原理图进行检查时，根据从电路原理图中获取元器件的信息，在预设的元器件数据库中获取元器件的信息对应的元器件，从而可以获知各元器件。采用预设的电气约束条件库，对电路原理图中所有的元器件相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，从而可以对电路原理图进行检查，而无需人工操作，从而可以提高电路原理图的检查效率。由于是对所有元器件相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，与现有的只能检查出是否有短路、断路等简单的常识性的错误的检查方法相比，能够提高电路原理图检查的可靠性。
下面对本发明实施例中提供的电路原理图检查方法进行详细说明。
参照图5，给出了本发明实施例中的另一种电路原理图检查方法的流程图，以下通过具体步骤进行详细说明。
步骤S51，读取电路原理图。
步骤S52，将电路原理图转换成通用格式。
在本发明实施例中，在读取到电路原理图之后，检查程序可能无法识别电路原理图的格式，检查程序可以设置在CS架构的客户端，或者设置在BS架构的服务器端。此时，可以根据客户端所能够识别的格式，将电路原理图转换成通用格式或者文本格式，以使得客户端能够识别电路原理图。
可以理解的是，若检查程序能够识别电路原理图的格式，则步骤S52为可以省略，在步骤S51执行完成之后，直接执行步骤S53。
步骤S53，获取电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息。
在本发明实施例中，可以直接从电路原理图中，获取所有元器件的料号信息、所有元器件的属性信息、所有元器件的引脚信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息。
在具体实施中，元器件的属性信息可以包括元器件的固有参数，例如，元器件为电阻，则元器件的属性信息可以包括电阻的阻值以及电阻的功率、电阻的精度、电阻的封装类型以及封装大小等信息。
步骤S54，将获取到的元器件的信息与预设的元器件数据库进行比对，获取精确的元器件的信息。
在获取到电路原理图中所有元器件的信息后，通常将获取到的元器件的料号信息与预设的元器件数据库进行比对，从元器件数据库中查找与元器件的料号信息相同的元器件，进而可以获知该元器件的精确的引脚信息。
例如，芯片A的料号信息为“SA9830A”，从预设的元器件数据库中查找到料号为SA9830A芯片，并从元器件数据库中获取SA9830A芯片的精确的引脚信息。
在具体实施中，预设的元器件数据库可以是预先建立的，其中存储有多种元器件对应的封装，以及每一种元器件的各个引脚的功能。
之所以要获知元器件的精确的引脚信息，是因为在预先设定电路电气约束条件库中的电气约束条件时，涉及到精确的引脚信息。因此，电路电气约束条件库中芯片的引脚信息应与元器件数据库中芯片的引脚信息相一致。
在实际应用中，对于某一个厂家而言，电路原理图中所有元器件的封装通常是预先设定的，元器件的封装通常存储在预设的元器件数据库中。在对电路原理图进行检查时，可以直接将从电路原理图中获取到的元器件与元器件数据库中的元器件进行对比，从而可以获知精确的元器件信息。
然而，对于不同的厂家，每一个厂家可能都会按照自己的习惯或标准生成元器件数据库。在不同的元器件数据库中，不同的厂家对相同的元器件的命名可能不同，对相同元器件的相同引脚的命名也不相同。在对不同厂家的电路原理图进行检查时，由于命名规范不同，从厂家提供的电路原理图中提取出的元器件的名称可能在预设的元器件数据库中并不存在，或者从厂家提供的原理图中获取到的元器件的引脚信息与预设的元器件数据库中的引脚信息并不完全一致。此时，无法精确的获知元器件的信息，也就无法对不同厂家提供的电路原理图进行检查。
为解决上述问题，在本发明实施例中，在从电路原理图中提取出各元器件的料号信息以及各元器件各自对应的引脚信息之后，可以在预设的元器件数据库中查找与原理图中各元器件对应的元器件，从而可以获知电路原理图中各元器件的引脚对应的功能。
在实际应用中可知，针对同一款元器件，即便各个厂家的命名不同，其对应的各个引脚的功能以及引脚的总数目是固定的。
下面对从元器件数据库中查找元器件的过程进行说明。
在具体实施中，从电路原理图中获取第一元器件的引脚数目，根据第一元器件的引脚数目，从预设的元器件数据库中检索出引脚数目相同的元器件。在检索出与第一元器件的引脚数目相同的元器件之后，从所有检索出的元器件中，检索与第一元器件的料号信息相匹配的元器件。之后，再从检索到的与第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。在检索出与第一元器件的引脚信息相匹配的元器件之后，获取与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息。此时，获取到的与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息，即可看作是第一元器件对应的元器件的信息。
在本发明实施例中，在从与第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，可以在检索到的与第一元器件的引脚数目相同的元器件中，获取各元器件对应的正则表达式。之后，将第一元器件的料号信息与检索到的元器件各自对应的正则表达式逐个进行匹对，从而可以检索出与第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式。在检索出与第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式之后，可以获取与第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件。
例如，第一元器件的引脚数目为100，则从预设的元器件数据库中检索出所有引脚数目为100的元器件，共检索出10个引脚数目为100的元器件。第一元器件的料号信息为第一元器件的型号，第一元器件的型号为SC9830A。将第一元器件的型号依次与10个引脚数目均为100的元器件进行匹配。在10个引脚数目为100的元器件中，其中元器件A对应的正则表达式为(.*SC9830A.*)。在将第一元器件的料号信息与10个引脚数目均为100的元器件进行匹配时，获知第一元器件的料号信息与元器件A的正则表达式相匹配，此时，将元器件A作为检索出的元器件数据库中与第一元器件相匹配的元器件。
在获取到与第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件之后，可以将第一元器件的引脚信息与获取到的元器件的引脚信息进行匹对，来判断获取到的元器件的引脚信息是否与第一元器件的引脚信息相同。
在本发明实施例中，可以先获取第一元器件中所有引脚的标识。在预设的元器件数据库中，每一个元器件都存在与其所有引脚所一一对应的正则表达式。将第一元器件中所有引脚的标识，与检索到的与第一元器件的料号信息相匹配的元器件的所有引脚对应的正则表达式进行匹对，检索与第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
例如，从元器件数据库中，检索出与第一元器件的料号信息相匹配的元器件A。之后，获取元器件A的所有引脚一一对应的正则表达式。获取第一元器件的所有引脚的标识，按照引脚序列号，从最小的引脚标号开始，依次将第一元器件的引脚的标识与元器件A的引脚的正则表达式进行匹对，最终获知芯片A的所有引脚与第一元器件的所有引脚均匹配。此时，芯片A的所有引脚的标识即为第一元器件的所有引脚的标识。
可以理解的是，在获取到第一元器件的精确的引脚信息后，可以采用相同的方法，在元器件数据库中查找与电路原理图中各元器件所对应的元器件，从而可以获知电路原理图中所有元器件的精确的引脚信息。
在本发明实施例中，在元器件数据库中检索与第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，还有可能存在没有检索结果的可能。然而，元器件数据库中可能会存在可以与第一元器件替换的元器件。
当在元器件数据库中未检索到与第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，可以根据第一元器件的引脚数目，在元器件数据库中检索与第一元器件的引脚数目相同的元器件。之后，将第一元器件的引脚信息与获取到的元器件的引脚信息进行匹对，来判断获取到的元器件的引脚信息是否与第一元器件的引脚信息相同。
在本发明实施例中，可以先获取第一元器件中所有引脚的标识。在预设的元器件数据库中，每一个元器件都存在与其所有引脚所一一对应的正则表达式。将第一元器件中所有引脚的标识，与检索到的与第一元器件的引脚数目相同的元器件的所有引脚对应的正则表达式进行匹对，检索与第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
例如，从元器件数据库中，检索出与第一元器件的引脚数目相同的元器件A。之后，获取元器件A的所有引脚一一对应的正则表达式。获取第一元器件的所有引脚的标识，按照引脚序列号，从最小的引脚标号开始，依次将第一元器件的引脚的标识与元器件A的引脚的正则表达式进行匹对，最终获知芯片A的所有引脚与第一元器件的所有引脚均匹配。此时，芯片A的所有引脚的标识即为第一元器件的所有引脚的标识，可以将芯片A视为可以替换第一元器件的芯片。
需要说明的是，若采用上述方法，在元器件数据库中仍无法检索到与第一元器件相匹配的元器件时，检查人员可以根据第一元器件生成对应的封装，生成的第一元器件的封装包括第一元器件的料号信息、第一元器件的引脚数目及各个引脚的标识等信息，之后将第一元器件对应的封装添加到元器件数据库中。在将第一元器件对应的封装添加到元器件数据库中之后，还可以针对第一元器件，设置第一元器件的各个引脚对应的约束条件，并将第一元器件的各个引脚对应的约束条件添加到预设的电路电气约束条件库中。
步骤S55，根据精确的元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，获取电气约束条件。
在本发明实施例中，在通过元器件数据库获取到精确的元器件的信息后，可以获取对应的电气约束条件。
步骤S56，对电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
在本发明实施例中，可以先获知电路原理图中各元器件的引脚数目。在对电路原理图进行检查时，可以按照引脚数目从多到少的顺序，依次对电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
在本发明一实施例中，先对引脚数目最多的元器件的引脚进行检查。通常情况下，在一个电路中，CPU芯片的引脚数目最多，因此，先检查CPU芯片各引脚与相连的芯片引脚之间的连接关系，以及CPU芯片各引脚与相连的芯片引脚之间的电气网络进行检查。按照芯片引脚的编号，在检查完CPU芯片的一个引脚之后，再对CPU芯片的下一个标号的引脚进行检查。
步骤S57，根据检查结果生成检查报告并输出。
采用步骤S51～步骤S57，即可完成对电路原理图的检查。
在具体实施中，可能会存在多个与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片引脚，多个与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片引脚所组成的连接网络可以是网状网络，也可以是树状网络。也即当前进行检查的芯片引脚对应的连接网络可以为网状网络，也可以是树状网络。
在当前进行检查的芯片引脚进行检查时，可以根据获取到的电气约束条件，依次对连接网络中的连接关系进行检查。
例如，当前进行检查的芯片引脚为PIN1，与PIN1存在连接关系的芯片引脚包括PIN2，PIN3以及PIN4，PIN1与PIN2、PIN3以及PIN4组成网状网络。则在对网状网络中的连接关系进行检查时，先检查PIN1与PIN2之间的连接关系是否符合预设的电气约束条件，再检查PIN1与PIN3之间的连接关系是否符合预设的电气约束条件，最后再检查PIN1与PIN4之间的连接关系是否符合预设的电气约束条件。
又如，当前进行检查的芯片引脚为PIN1，与PIN1存在连接关系的芯片引脚包括PIN2、PIN3以及PIN4，PIN1与PIN2、PIN3以及PIN4组成树状网络。在对树状网络中的连接关系进行检查时，检查过程可以与网状网络的检查流程相同，此处不做赘述。
下面对步骤S56中，对芯片相连引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查的过程进行详细说明。
在本发明实施例中，按照引脚数目从多到少的顺序，采用预设的电气约束条件对芯片引脚的连接关系进行检查，优先对引脚数目最多的芯片进行检查。
在实际应用中可知，当前进行检查的芯片引脚可能是悬空或者接地的，也可能是与另一个芯片中的某一个引脚相连的。因此，可以先对当前进行检查的芯片引脚悬空或接地是否符合预设的电气约束条件进行判断，再对当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
参照图6(a)～图6(b)，给出了本发明实施例中的另一种电路原理图检查方法的流程图。
首先，参照图6(a)，对判断当前进行检查的芯片引脚的悬空或接地是否符合预设的电气约束条件进行说明。为便于说明，当前进行检查的芯片引脚设定为PIN1，与PIN相连的芯片引脚设定为PIN1’。
步骤S601，芯片检查开始。
步骤S602，判断当前是否存在未检查的芯片引脚。
当不存在尚未进行检查的芯片引脚时，可以对下一个芯片进行检查，重新执行步骤S601；当存在尚未进行检查的芯片引脚时，执行步骤S603。
步骤S603，判断PIN1是否悬空。
当PIN1悬空时，执行步骤S604；当PIN1未悬空时，执行步骤S606。
步骤S604，判断是否允许PIN1悬空。
在本发明实施例中，可以根据预设的电气约束条件，判定PIN1是否允许悬空。
若预设的电气约束条件允许PIN1悬空，则可以判定PIN1的连接关系正常，可以重新执行步骤S602，以对下一个芯片引脚进行检查。
若预设的电气约束条件不允许PIN1悬空，则执行步骤S605。
步骤S605，报错。
在本发明实施例中，当预设的电气约束条件不允许PIN1悬空，但PIN1悬空时，即可判定PIN1的连接关系出错。此时，可以执行报错处理，报错原因为：预设的电气约束条件不允许芯片引脚悬空。
步骤S606，判断PIN1是否接地。
在本发明实施例中，在PIN1接地时，执行步骤S607；在PIN1不接地时，执行步骤S609。
步骤S607，判断是否允许PIN1接地。
在本发明实施例中，可以根据预设的电气约束条件，判定PIN1是否允许接地。若预设的电气约束条件允许PIN1接地，则可以判定PIN1的连接关系正常，可以重新执行步骤S602，以对下一个芯片引脚进行检查。
若预设的电气约束条件不允许PIN1悬空，则执行步骤S608。
步骤S608，报错。
在本发明实施例中，当预设的电气约束条件不允许PIN1接地，但PIN1接地时，即可判定PIN1的连接关系出错，此时，可以执行报错处理，报错原因为：预设的电气约束条件不允许芯片引脚接地。
步骤S609，获取PIN1’的信息。
在步骤S609执行完成后，执行图6(b)对应的操作6(b)。
经过步骤S601～步骤S609，可以判断当前进行检查的芯片引脚的悬空或接地是否符合预设的电气约束条件。
参照图6(b)，下面结合图6(a)对判断当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的连接关系以及芯片相连引脚之间的电气网络进行检查进行说明。
在本发明实施例中，与PIN1存在连接关系的芯片引脚包括PIN1’以及PIN2’。可以先对PIN1与PIN1’的连接关系进行检查。在对PIN1与PIN1’的连接关系检查完成之后，再对PIN1与PIN2’之间的连接关系进行检查。
步骤S610，判断引脚类型是否相同。
在本发明实施例中，步骤S610承接图6(a)中的6(b)。
在本发明实施例中，可以判断PIN1的引脚类型与PIN1’的引脚类型是否相同。当PIN1的引脚类型与PIN1’的引脚类型相同时，执行步骤S611；否则，执行步骤S620。
步骤S611，判断IO类型是否相同且方向是否相对应。
当PIN1的IO类型与PIN1’的IO类型相同，且PIN1的输入输出方向与PIN1’的输入输出方向相对应时，执行步骤S612；否则，执行步骤S621。
步骤S612，判断连接引脚所属芯片是否为目标芯片。
在本发明实施例中，可以判断PIN1’所属芯片是否为PIN1所属芯片对应的预先设定的目标芯片。若PIN1’所属芯片为PIN1所属芯片对应的目标芯片，执行步骤S613；否则，执行步骤S622。
例如，PIN1所属芯片为芯片1，PIN1’所述芯片为芯片2，芯片1对应的目标芯片为芯片3，则可以判定PIN1’所属芯片不是目标芯片。若芯片1对应的目标芯片为芯片2，则可以判定PIN1’所属芯片为目标芯片。
步骤S613，引脚的连接字符串是否相同。
在本发明实施例中，可以判断预先设定的PIN1的引脚对应的连接字符串是否与PIN1’的预先设定的连接字符串相同。若PIN1的引脚对应的连接字符串与PIN1’的引脚对应的连接字符串相同，则执行步骤S614；若PIN1的引脚对应的连接字符串与PIN1’的引脚对应的连接字符串不同，则执行步骤S615。
步骤S614，判断RLC电路网络满足预设条件。
在具体实施中，无论预设的电路电气约束条件库中，是否设置允许PIN1与PIN1’直连，均需要对RLC电路网络进行判断，以判断RLC电路网络是否满足预设条件。
在本发明一实施例中，当RLC电路网络满足预设条件时，执行步骤S624；反之，当RLC电路网络不满足预设条件时，执行步骤S623。
在本发明实施例中，可以先根据PIN1与PIN1’之间的RLC电路网络中的元器件类型，计算PIN1与PIN1’之间的RLC电路网络对应的电阻值、电容值以及电感值。
在实际应用中，PIN1与PIN1’之间的RLC电路网络可能只包括电阻，或者只包括电容、只包括电感，也可以包括电阻、电容、电感等至少两种元器件。
在本发明实施例中，可以先根据RLC电路网络的类型，来计算RLC电路网络对应的电阻值、电感值以及电容值。需要说明的是，本发明实施例中计算得到的电阻值、电感值以及电容值都是等效的。
例如，RLC电路网络为并联电阻网络，则计算得到的RLC电路网络的电阻为并联电阻网络的等效电阻值。又如，RLC电路网络为并联电容网络，则计算得到的RLC电路网络的电容为并联电容网络的等效电容值。
在计算得到RLC电路网络的电阻值、电容值以及电感值之后，可以判断RLC电路网络的电阻值、电容值以及电感值是否满足预设条件。
当PIN1与PIN1’均为电源引脚时，检查RLC电路网络的并联电容值是否处于第一电容值区间之内，其中：第一电容值区间的最小电容值为PIN1的预设电容取值范围的最小值与PIN1’的预设电容取值范围的最小值之和，第一电容值区间的最大电容值为PIN1的预设电容取值范围的最大值与PIN1’的预设电容取值范围的最大值之和。
例如，PIN1与PIN1’均为电源引脚，且在元器件数据库中，PIN1的预设电容取值范围为0.1μF～1μF，PIN1’的预设电容取值范围为0.47μF～4μF，则第一电容值区间为0.57μF～5μF。在判断RLC电路网络是否满足预设条件时，判断PIN1与PIN1’之间的并联电容的电容值是否处于0.57μF～5μF之间。
检查RLC电路网络的电阻值是否处于预设电阻值区间之内，其中，预设电阻值区间为PIN1的预设电阻值取值范围与PIN1’的预设电阻值取值范围的交集。检查RLC电路网络的电感值是否处于预设电感值区间之内，预设电感值区间为PIN1对应的预设电感值取值范围与PIN1’对应的预设电感值取值范围的交集。
例如，元器件数据库中，PIN1的预设串联电阻的取值范围为10kΩ～100kΩ，PIN1’的预设串联电阻的取值范围为5kΩ～47kΩ，则预设电阻值区间为10kΩ～47kΩ。在判断RLC电路网络是否满足预设条件时，判断PIN1与PIN1’之间的串联电阻的电阻值是否处于10kΩ～47kΩ之间。
相类似地，当PIN1与PIN1’均不是电源引脚时，检查RLC电路网络的电容值是否处于第二电容值区间之内，第二电容值区间为PIN1对应的预设电容值取值范围与PIN1’对应的预设电容值取值范围的交集。
例如，PIN1与PIN1’均不是电源引脚，且在元器件数据库中，PIN1的预设电容取值范围为0.1μF～1μF，PIN1’的预设电容取值范围为0.47μF～4μF，则第二电容值区间为0.47μF～1μF。在判断RLC电路网络是否满足预设条件时，判断PIN1与PIN1’之间的RLC电路网络的电容值是否处于0.47μF～1μF之间。
在本发明实施例中，在获知RLC电路网络中各类型的RLC器件的连接类型之后，对RLC电路网络中各类型RLC元器件的连接类型进行判断，判断各类型的RLC元器件的连接类型是否为RLC电路网络的检查规则中的预设连接类型。当RLC元器件的连接类型为RLC电路网络的检查规则中的预设连接类型时，判断各类型的元器件的电性参数是否处于预设范围之内。
例如，检测到PIN1与PIN1’之间仅存在有串联电阻R1。获取RLC电路网络的检查规则中，预先设定的PIN1与PIN1’之间的串联电阻的取值范围为10kΩ～100kΩ判断串联电阻R1的阻值是否处于10kΩ～100kΩ之内。当电阻R1的阻值为150kΩ时，判定PIN1与PIN1’之间的连接关系出错。
又如，检测到芯片A的引脚与芯片B的引脚直连。若RLC电路网络的检查规则中，设定芯片A的引脚与芯片B的引脚强制串联电阻，则判定芯片A的引脚与芯片B的引脚的连接关系出错。
相应地，检测到芯片A的引脚与芯片B的引脚没有上拉电阻。若RLC电路网络的检查规则中，设定芯片A的引脚与芯片B的引脚强制设置上拉电阻，则判定芯片A的引脚与芯片B的引脚的连接关系出错。
又如，检测到PIN1与PIN1’并联电容C1以及串联电阻R1。则获取RLC电路网络的检查规则中，串联电阻的取值范围为10kΩ～100kΩ，并联电容的取值范围为1μF～4μF。当串联电阻R1的阻值为50kΩ，且并联电容C1的电容值为4μF时，判定PIN1与PIN1’之间的连接关系正常。
在本发明实施例中，当PIN1与PIN1’之间串联一个RLC电路网络时，例如，PIN1与PIN1’之间串联一个电阻，则可以先检查PIN1与PIN1’之间的连接关系是否正常。例如，判断预先设定的PIN1的引脚对应的连接字符串是否与PIN1’的预先设定的连接字符串相同。如果连接字符串相同，则说明PIN1与PIN1’之间的连接关系正常。当PIN1与PIN1’之间的连接关系正常时，再判断PIN1与电阻之间的连接关系、PIN1’与电阻之间的连接关系均是否正常。
步骤S615，判断是否需要检查电压、电流范围。
在本发明实施例中，当PIN1与PIN1’均为电源对应的引脚时，判定需要检查电压、电流范围存在交集，执行步骤S616；当PIN1与PIN1’均为非电源引脚时，则执行步骤S614。
步骤S616，判断电压、电流范围是否存在交集。
在本发明实施例中，可以判断预设的PIN1的电压范围、电流范围是否与预设的PIN1’的电压范围、电流范围存在交集。当PIN1的电压范围与PIN1’的电压范围存在交集，且PIN1的电流范围与PIN1’的电流范围存在交集时，执行步骤S614。当PIN1的电压范围与PIN1’的电压范围不存在交集，或PIN1的电流范围与PIN1’的电流范围不存在交集时，执行步骤S617。
步骤S617，判断是否需要特殊规则检查。
在本发明实施例中，特殊规则，是指预先设定好的PIN1’的类型。也就是说，预设设定好PIN1只能与特定的PIN1’连接，而不能与其他的芯片引脚连接。例如，限定芯片A的引脚0只能与芯片B的引脚0连接。
当需要特殊规则检查时，执行步骤S618；当不需要特殊规则检查时，执行步骤S619。
步骤S618，判断PIN1的连接引脚是否满足特殊规则。
当PIN1’满足特殊规则时，执行步骤S614；当PIN1’不满足特殊规则时，执行步骤S619。
步骤S619，报错。
在发明实施例中，在步骤S614中，当RLC电路网络满足预设条件时，还可以执行判断是否还存在与PIN1连接的芯片引脚。当仍存在与PIN1连接的芯片引脚PIN2’时，若PIN1与PIN2’为直连，则可以执行步骤S609；若PIN1与PIN2’之间存在RLC电路网络，则可以先保存RLC电路网络信息，并获取PIN2’的信息，之后执行步骤S609。
步骤S624，判断PIN1是否存在分叉网络。
在本发明实施例中，在完成PIN1与PIN1’之间的连接关系的检查后，还可以判断PIN1是否存在分叉网络。例如，与当前PIN1存在连接关系的芯片引脚除了PIN1’之外，还包括与PIN1以及PIN1’均存在连接关系的PIN2’，此时，判定PIN1存在分叉网络。
当PIN1存在分叉网络时，执行步骤S625；反之，当PIN1不存在分叉网络时，执行图6(a)中的6(a)，也即图6(a)中的步骤S602。
步骤S625，判断PIN1’与PIN2’是否直连。
在对PIN1’与PIN2’之间的连接关系进行检查时，可以先判断PIN1’与PIN2’之间是否为直连。
当PIN1’与PIN2’直连时，执行步骤S610。此时，步骤S610～步骤S623中，连接引脚从PIN1’替换为PIN2’，也即步骤S610～步骤S623是对PIN1’与PIN2’的连接关系进行检查，而不是对PIN1与PIN1’之间的连接关系进行检查。例如，在步骤S612中，检查PIN2’是否为PIN1’目标引脚。
当PIN1’与PIN2’之间存在RLC电路网络时，执行步骤S626。
步骤S626，保存RLC电路网络的信息。
在保存PIN1’与PIN2’之间的RLC电路网络的信息后，执行步骤S610。此时，步骤S610～步骤S623中，是对PIN1’与PIN2’之间的连接关系进行检查，而不是对PIN1与PIN1’之间的连接关系进行检查。例如，在步骤S612中，检查PIN2’是否为PIN1’的目标引脚。
参照图7，本发明实施例提供了一种电路原理图检查装置70，包括：读取单元701、获取单元702、检查单元703以及输出单元704，其中：
读取单元701，用于读取所述电路原理图；
获取单元702，用于获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，所述元器件的信息包括：各元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及各元器件的引脚信息；
检查单元703，用于根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查；
输出单元704，用于根据检查结果输出检查报告。
在本发明实施例中，所述预设的电路电气约束条件库可以包括如下至少一种电气约束条件：当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同；当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出方向与相连的芯片引脚对应的输入输出方向相对应，且所述当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出类型与相连的芯片引脚对应输入输出类型相同；与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片与预设的目标芯片相同；当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同；当前进行检查的芯片引脚的电压、电流范围与相连的芯片引脚的电压、电流范围存在交集；当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件；当前进行检查的芯片引脚与指定引脚连接。
在本发明实施例中，所述获取单元702，可以用于：获取所述电路原理图中第一元器件的引脚数目以及第一元器件的料号信息；从预设的元器件数据库中检索与第一元器件的引脚数目相同的元器件；在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件；在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件；获取与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息。
在本发明实施例中，所述获取单元702，可以用于：在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，获取检索到的元器件各自对应的正则表达式；将所述第一元器件的料号信息与所述检索到的元器件各自对应的正则表达式逐个进行匹对，检索出与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式；获取与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件。
在本发明实施例中，所述获取单元702，可以用于：获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
在本发明实施例中，所述获取单元702，还可以用于：当检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，不存在与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
在本发明实施例中，所述电路原理图检查装置70还可以包括：更新单元(图5中未示出)，用于当在所述元器件数据库中，未检索到与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件时，接收用户输入的元器件数据，并对所述元器件数据库进行更新。
在本发明实施例中，所述检查单元703，可以用于：获取各元器件各自对应的引脚数目；按照引脚数目从多到少的顺序，采用预设的电路电气约束条件库，依次对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
在本发明实施例中，所述检查单元703，可以用于：获取当前进行检查的芯片引脚对应的连接网络；获取所有与所述当前进行检查的芯片引脚存在连接关系的芯片引脚；依次对所述获取到的芯片引脚与所述当前进行检查的芯片引脚的连接关系进行检查。
在本发明实施例中，所述检查单元703，可以用于：
当所述预设的电路电气约束条件库中包括当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件时，计算所述RLC电路网络对应的电阻值、电容值以及电感值；当所述当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚均为电源引脚时，检查所述RLC电路网络的并联电容值是否处于第一电容值区间之内，所述第一电容值区间的最小电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最小取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最小取值之和，所述第一电容值区间的最大电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最大取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最大取值之和；
检查所述RLC电路网络对应的电阻值是否处于预设电阻值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电容值是否处于第二电容值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电感值是否处于预设电感值区间之内，其中：所述预设电阻值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围的交集；所述预设电感值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电感值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电感值取值范围的交集；所述第二电容值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电容值取值范围的交集；
对所述RLC电路网络中各类型的元器件的连接类型进行检查，判断各类型的元器件的连接类型是否为预设连接类型，以及判断各类型的元器件的电性参数是否处于预设范围之内，所述连接类型包括以下至少一种：串联、并联、上拉。
在具体实施中，输出单元704在输出检查报告时，可以在输出的检查报告中，标识连接关系出错的芯片引脚，以便检查人员进行纠正。输出单元704输出的检查报告中，也可以在电路原理图中相应的芯片引脚处进行标识。例如，检查到引脚PIN1的连接关系出错，则可以在电路原理图中的PIN1位置，以红色字体标识PIN1的连接关系出错。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指示相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：ROM、RAM、磁盘或光盘等。
虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (20)

1.一种电路原理图检查方法，其特征在于，包括：
读取所述电路原理图；
获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，所述元器件的信息包括：各元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及各元器件的引脚信息；
根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查；
根据检查结果输出检查报告。
2.如权利要求1所述的电路原理图检查方法，其特征在于，所述预设的电路电气约束条件库包括如下至少一种电气约束条件：
当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同；
当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出方向与相连的芯片引脚对应的输入输出方向相对应，且所述当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出类型与相连的芯片引脚对应的输入输出类型相同；
与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片与预设的目标芯片相同；
当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同；
当前进行检查的芯片引脚的电压、电流范围与相连的芯片引脚的电压、电流范围存在交集；
当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件；
当前进行检查的芯片引脚与指定引脚连接。
3.如权利要求2所述的电路原理图检查方法，其特征在于，所述获取所述电路原理图中元器件的信息，包括：
获取所述电路原理图中第一元器件的引脚数目以及第一元器件的料号信息；从预设的元器件数据库中检索与第一元器件的引脚数目相同的元器件；
在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件；
在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件；
获取与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息。
4.如权利要求3所述的电路原理图检查方法，其特征在于，所述在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件，包括：
在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，获取检索到的元器件各自对应的正则表达式；
将所述第一元器件的料号信息与所述检索到的元器件各自对应的正则表达式逐个进行匹对，检索出与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式；获取与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件。
5.如权利要求4所述的电路原理图检查方法，其特征在于，所述在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件，包括：
获取所述第一元器件中所有引脚的标识；
获取检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；
将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
6.如权利要求3所述的电路原理图检查方法，其特征在于，还包括：
当检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，不存在与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，获取所述第一元器件中所有引脚的标识；
获取检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；
将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
7.如权利要求6所述的电路原理图检查方法，其特征在于，还包括：当在所述元器件数据库中，未检索到与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件时，接收用户输入的元器件数据，并对所述元器件数据库进行更新。
8.如权利要求2所述的电路原理图检查方法，其特征在于，所述采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查，包括：
获取各元器件各自对应的引脚数目；
按照引脚数目从多到少的顺序，采用预设的电路电气约束条件库，依次对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
9.如权利要求8所述的电路原理图检查方法，其特征在于，所述对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系进行检查，包括：
获取当前进行检查的芯片引脚对应的连接网络；
获取所有与所述当前进行检查的芯片引脚存在连接关系的芯片引脚；
依次对所述获取到的芯片引脚与所述当前进行检查的芯片引脚的连接关系进行检查。
10.如权利要求8所述的电路原理图检查方法，其特征在于，当所述预设的电路电气约束条件库中包括当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件时，所述对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系进行检查，包括：
计算所述RLC电路网络对应的电阻值、电容值以及电感值；
当所述当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚均为电源引脚时，检查所述RLC电路网络的并联电容值是否处于第一电容值区间之内，所述第一电容值区间的最小电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最小取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最小取值之和，所述第一电容值区间的最大电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最大取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最大取值之和；
检查所述RLC电路网络对应的电阻值是否处于预设电阻值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电容值是否处于第二电容值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电感值是否处于预设电感值区间之内，其中：所述预设电阻值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围的交集；所述预设电感值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电感值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电感值取值范围的交集；所述第二电容值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电容值取值范围的交集；
对所述RLC电路网络中各类型的元器件的连接类型进行检查，判断各类型的元器件的连接类型是否为预设连接类型，以及判断各类型的元器件的电性参数是否处于预设范围之内，所述连接类型包括以下至少一种：串联、并联、上拉。
11.一种电路原理图检查装置，其特征在于，包括：
读取单元，用于读取所述电路原理图；
获取单元，用于获取所述电路原理图中元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，所述元器件的信息包括：各元器件的料号信息、各元器件的属性信息以及各元器件的引脚信息；
检查单元，用于根据所述元器件的信息以及元器件中芯片相连引脚之间的电气网络信息，采用预设的电路电气约束条件库，对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查；
输出单元，用于根据检查结果输出检查报告。
12.如权利要求11所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述预设的电路电气约束条件库包括如下至少一种电气约束条件：
当前进行检查的芯片引脚对应的功能与相连的芯片引脚对应的功能相同；
当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出方向与相连的芯片引脚对应的输入输出方向相对应，且所述当前进行检查的芯片引脚对应的输入输出类型与相连的芯片引脚对应的输入输出类型相同；
与当前进行检查的芯片引脚相连的芯片与预设的目标芯片相同；
当前进行检查的芯片引脚所定义的连接字符串与相连的芯片引脚的连接字符串相同；
当前进行检查的芯片引脚的电压、电流范围与相连的芯片引脚的电压、电流范围存在交集；
当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件；
当前进行检查的芯片引脚与指定引脚连接。
13.如权利要求12所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述获取单元，用于：获取所述电路原理图中第一元器件的引脚数目以及第一元器件的料号信息；从预设的元器件数据库中检索与第一元器件的引脚数目相同的元器件；在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，检索与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件；在检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件；获取与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件的信息。
14.如权利要求13所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述获取单元，用于：在检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，获取检索到的元器件各自对应的正则表达式；将所述第一元器件的料号信息与所述检索到的元器件各自对应的正则表达式逐个进行匹对，检索出与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式；获取与所述第一元器件的料号信息相匹配的正则表达式对应的元器件。
15.如权利要求14所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述获取单元，用于：获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
16.如权利要求13所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述获取单元，还用于：当检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，不存在与所述第一元器件的料号信息相匹配的元器件时，获取所述第一元器件中所有引脚的标识；获取检索到的与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件中，各个引脚对应的正则表达式；将所述第一元器件中所有引脚的标识，与所述第一元器件的引脚数目相同的元器件的各个引脚对应的正则表达式进行逐个匹对，检索与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件。
17.如权利要求16所述的电路原理图检查装置，其特征在于，还包括：更新单元，用于当在所述元器件数据库中，未检索到与所述第一元器件的引脚信息相匹配的元器件时，接收用户输入的元器件数据，并对所述元器件数据库进行更新。
18.如权利要求12所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述检查单元，用于：获取各元器件各自对应的引脚数目；按照引脚数目从多到少的顺序，采用预设的电路电气约束条件库，依次对所述电路原理图中芯片相连引脚之间的连接关系及所述芯片相连引脚之间的电气网络进行检查。
19.如权利要求18所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述检查单元，用于：获取当前进行检查的芯片引脚对应的连接网络；获取所有与所述当前进行检查的芯片引脚存在连接关系的芯片引脚；依次对所述获取到的芯片引脚与所述当前进行检查的芯片引脚的连接关系进行检查。
20.如权利要求18所述的电路原理图检查装置，其特征在于，所述检查单元，用于：当所述预设的电路电气约束条件库中包括当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚之间的RLC电路网络满足预设条件时，计算所述RLC电路网络对应的电阻值、电容值以及电感值；
当所述当前进行检查的芯片引脚与相连的芯片引脚均为电源引脚时，检查所述RLC电路网络的并联电容值是否处于第一电容值区间之内，所述第一电容值区间的最小电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最小取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最小取值之和，所述第一电容值区间的最大电容值为：所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容最大取值与所述相连的芯片引脚对应的预设电容最大取值之和；
检查所述RLC电路网络对应的电阻值是否处于预设电阻值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电容值是否处于第二电容值区间之内、检查所述RLC电路网络对应的电感值是否处于预设电感值区间之内，其中：所述预设电阻值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电阻值取值范围的交集；所述预设电感值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电感值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电感值取值范围的交集；所述第二电容值区间为所述当前进行检查的芯片引脚对应的预设电容值取值范围以及所述相连的芯片引脚对应的预设电容值取值范围的交集；
对所述RLC电路网络中各类型的元器件的连接类型进行检查，判断各类型的元器件的连接类型是否为预设连接类型，以及判断各类型的元器件的电性参数是否处于预设范围之内，所述连接类型包括以下至少一种：串联、并联、上拉。
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