CN115186622B - Pcb设计中快速查找测试点的方法、装置、终端及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及PCB设计中查找测试点领域，具体公开一种PCB设计中快速查找测试点的方法、装置、终端及存储介质，在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。本发明从原理图中自动找出输入信号，并自动导出到存储文件，之后在Allegro软件中，根据存储文件中的信号，找出与信号相连的引脚和过孔，在所有引脚和过孔中根据判断条件找出符合要求的测试点。本发明实现自动从PCB中查找出测试点，效率大大提升，且不容易遗漏。
Description
技术领域
本发明涉及PCB设计中查找测试点领域，具体涉及一种PCB设计中快速查找测试点的方法、装置、终端及存储介质。
背景技术
在PCB设计完后，需要对PCB板的设计的输入信号质量进行测试（针对BGA封装输入），测试前需要在原理图中查找信号输入属性，然后从PCB设计文件中找出对应pin的坐标点。现有的方案都是工程师在设计过程中记录输入信号，然后根据输入信号，在Allegro软件中搜索该信号，记录坐标点。现有通过人工记录并操作的方式，效率低下，且容易有遗漏。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供一种PCB设计中快速查找测试点的方法、装置、终端及存储介质，实现自动从PCB中查找出测试点，效率大大提升，且不容易遗漏。
第一方面，本发明的技术方案提供一种PCB设计中快速查找测试点的方法，包括以下步骤：
在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；
在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
进一步地，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中，具体包括：
查找带有offpage属性的零件，并找出offpage属性零件的属性父系的身份标识，存放到第一列表；
查找所有零件，并找出所有零件的身份标识，存放到第二列表；
在第二列表中找出与第一列表相同的元素，存放到第三列表中，遍历第三列表，查找出版本号为1的元素，存放到第四列表中；
遍历第四列表，获取元素中的引脚，并记录引脚坐标，获取与坐标点连接的金属线，并获取金属线身份标识存放到第五列表；
获取所有带有signame属性的金属线，存放到第六列表，并找出signame属性金属线的属性父系的身份标识，存放到第七列表；
根据第五列表、第七列表从第六列表中找出输入信号名称，将找出的输入信号名称导出到存储文件中。
进一步地，存储文件为txt文件。
进一步地，读取存储文件中的输入信号名称，所筛选出的PCB中的网络，包括只包含引脚的网络，针对该类网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括：
获取网络中的所有引脚；
在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，记为第一引脚；
计算各个剩余引脚与第一引脚的距离，其中距离最近的引脚即为测试点。
进一步地，读取存储文件中的输入信号名称，所筛选出的PCB中的网络，包括既包含引脚又包含过孔的网络，针对该类网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括：
获取网络中的所有引脚和过孔；
在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，记为第二引脚；
计算各个剩余过孔和引脚与第二引脚的距离；
找出BGA封装实体大小；
根据所计算距离和BGA封装实体大小，查找离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
进一步地，根据所计算距离和BGA封装实体大小，查找离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括：
将所计算距离由近及远排序；
根据已排列顺序判断剩余过孔和引脚是否在BGA封装实体内，不在BGA封装实体内的第一个过孔或引脚为测试点。
进一步地，在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，具体包括：
获取引脚的父系身份标识；
根据父系身份标识查找父系的封装命名是否包含“BGA”；
若包含，则对应引脚为BGA封装内的引脚。
第二方面，本发明的技术方案提供一种PCB设计中快速查找测试点的装置，包括，
输入信号查找保存模块：在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；
测试点查找模块：在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
第三方面，本发明的技术方案提供一种终端，包括：
存储器，用于存储PCB设计中快速查找测试点的程序；
处理器，用于执行所述PCB设计中快速查找测试点的程序时实现如上述任一项所述PCB设计中快速查找测试点的方法的步骤。
第四方面，本发明的技术方案提供一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质上存储有PCB设计中快速查找测试点的程序，所述PCB设计中快速查找测试点的程序被处理器执行时实现如上述任一项所述PCB设计中快速查找测试点的方法的步骤。
本发明提供的一种PCB设计中快速查找测试点的方法、装置、终端及存储介质，相对于现有技术，具有以下有益效果：从原理图中自动找出输入信号，并自动导出到存储文件，之后在Allegro软件中，根据存储文件中的信号，找出与信号相连的引脚和过孔，在所有引脚和过孔中根据判断条件找出符合要求的测试点。本发明实现自动从PCB中查找出测试点，效率大大提升，且不容易遗漏。
附图说明
为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的一种PCB设计中快速查找测试点的方法流程示意图。
图2是本发明实施例二提供的一种PCB设计中快速查找测试点的方法流程示意图。
图3是本发明实施例二提供的一种PCB设计中快速查找测试点的方法中一具体实施例在PCB中查找测试点结构示意图。
图4是本发明实施例三提供的一种PCB设计中快速查找测试点的装置结构示意框图。
图5为本发明实施例四提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
以下对本发明涉及的部分英文术语进行解释。
PCB：Printed Circuit Board，印刷电路板。
Allegro：Cadence推出的先进 PCB 设计布线工具。
BGA：Ball Grid Array，球状引脚栅格阵列封装技术。
Pin：引脚。
Via：过孔。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
实施例一
图1是本发明实施例一提供的一种PCB设计中快速查找测试点的方法流程示意图，如图1所示，该方法包括以下步骤。
S1：在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中。
可以理解的是，为查找测试点，需要先找出输入信号，在输入信号网络中找出测试点。本实施例首先在原理图中，根据零件的属性自动查找出输入信号的名称，然后将查找出的输入信号保存到文件中，供后续在Allegro软件查找相应的测试点。
S2，在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
上一步已查找出所有输入信号，在Allegro软件中可根据输入信号查找到相应的网络，网络由连接线和连接线上的引脚和/或过孔组成，而BGA封装实体内的引脚或过孔因被实体覆盖，无法作为测试点，因此在所有引脚和过孔中找出不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
本发明实施例提供的一种PCB设计中快速查找测试点的方法，从原理图中自动找出输入信号，并自动导出到存储文件，之后在Allegro软件中，根据存储文件中的信号，找出与信号相连的引脚和过孔，在所有引脚和过孔中根据判断条件找出符合要求的测试点。本发明实现自动从PCB中查找出测试点，效率大大提升，且不容易遗漏。
实施例二
图2本发明实施例二提供一种PCB设计中快速查找测试点的方法流程示意图，包括以下步骤。
S1，在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中。
该步骤在原理图端执行，根据零件属性查找输入信号名称并导出到存储文件，具体包括以下步骤。
S101，查找带有offpage属性的零件，并找出offpage属性零件的属性父系的身份标识，存放到第一列表。
S102，查找所有零件，并找出所有零件的身份标识，存放到第二列表。
S103，在第二列表中找出与第一列表相同的元素，存放到第三列表中，遍历第三列表，查找出版本号为1的元素，存放到第四列表中。
S104，遍历第四列表，获取元素中的引脚，并记录引脚坐标，获取与坐标点连接的金属线，并获取金属线身份标识存放到第五列表。
S105，获取所有带有signame属性的金属线，存放到第六列表，并找出signame属性金属线的属性父系的身份标识，存放到第七列表。
S106，根据第五列表、第七列表从第六列表中找出输入信号名称，将找出的输入信号名称导出到存储文件中。
第五列表中存储的是金属线身份标识，第七列表中存储的是signame属性金属线的属性父系的身份标识，第六列表中存储的是signame属性的金属线，该S106是指从第六列表中找出第五列表和第七列表中相同的金属线，并找出这些金属线的输入信号名称。
其中，具体实施例时，存储文件可采用txt文件。
S2，在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
根据输入信号名称筛选出的网络包括两种情况的网络，一种情况是只包含引脚，另一情况为既包含引脚又包含网络。
针对只包含引脚的网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括以下步骤。
S201，获取网络中的所有引脚。
S202，在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，记为第一引脚。
具体实施时，通过引脚的父系封装命名判断是否是BGA封装内的引脚，具体包括：
获取引脚的父系身份标识；
根据父系身份标识查找父系的封装命名是否包含“BGA”；
若包含，则对应引脚为BGA封装内的引脚。
即首先获取该网络中所有引脚的父系身份标识，然后查找出父系封装命名包括“BGA”的引脚，这个引脚即为在BGA封装内的引脚，记为第一引脚。
S203，计算各个剩余引脚与第一引脚的距离，其中距离最近的引脚即为测试点。
针对既包含引脚又包含过孔的网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括以下步骤。
S211，获取网络中的所有引脚和过孔。
S212，在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，记为第二引脚。
同上述步骤S202中查找第一引脚的步骤相同，在此不再赘述。
S213，计算各个剩余过孔和引脚与第二引脚的距离。
S214，找出BGA封装实体大小。
S215，根据所计算距离和BGA封装实体大小，查找离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
其中，作为优选的实施方式，根据所计算距离和BGA封装实体大小查找测试点，可由以下步骤实现：
将所计算距离由近及远排序；
根据已排列顺序判断剩余过孔和引脚是否在BGA封装实体内，不在BGA封装实体内的第一个过孔或引脚为测试点。
先将所计算距离排序，然后根据排序，先从距离最近的一个点（可能是过孔，也可能是引脚）开始判断，如果该点不在BGA封装实体内，则该点就是测试点，如果该点在BGA封装实体内，则继续判断距离次进的点是否在BGA封装实体内，如果在，那么这第二个点是测试点，否则继续判断下一个点。
为进一步理解本方案，以下提供一具体实施例对本发明进一步说明，该具体实施例包括原理图和PCB两侧的运行过程。
原理图中：
1、在原理图工程文件中查找带有offpage属性的零件，放在数列l_prop_offpage中，并找出属性父系的身份标识（DBID），放在l_prop_DBID。
2、查找所有的零件，放在数列l_sym中，并遍历l_sym中元素，并找出身份标识（DBID）,放在l_sym_DBID中。
3、从l_sym_DBID中找出与l_prop_DBID相同的元素，放在数列l_same_sym中,遍历l_same_sym中的元素，查找出版本号为1的元素（offpage有好几个版本，只有版本号为1的为输入信号），放在l_result_sym中。
4、遍历l_result_sym元素，获取元素中的pin，并记录坐标，获取坐标点的wire，放在l_wire中，并获取身份标识放在数列l_wire_DBID中。
5、获取所有带有signame属性的wire，放在数列l_prop_signame中，并找出属性父系的身份标识（DBID），放在数列l_prop_signame_DBID中。
6、根据l_wire_DBID，l_prop_signame_DBID从l_prop_signame找出信号名字，即为输入信号名字，并记录到txt文件中。
PCB中：
利用Allegro软件执行，在PCB中根据输入信号找到相应的pin或者via，并高亮，如果找到的是bga封装的pin，需要找对应的via或者同网络的电阻电容的pin代替，选择的是与bga封装引脚相近的引脚或过孔，但是过孔不能在bga封装实体内。
图3是在PCB中查找测试点结构示意图。
1、读取txt文件中的输入信号名称，并根据输入信号名字筛选PCB中的网络，放在数列l_nets中。
2、遍历l_nets中元素，获取与之相连的过孔、引脚，并筛选出符合要求的过孔和引脚。
共有图中net1、net2、net3种情况，分别找出测试点。
第一种情况（net1），获取到的只有引脚。
A）假设获取到3个引脚（P1，P2，P3），放在数列l_pin中。
B）遍历l_pin元素筛选出BGA封装的引脚：获取引脚的父系身份，查找父系的封装命名是否包含“BGA”，若是则为BGA封装引脚，假设为P1。
C）分别判断P2，P3与P1的距离，距离最近的为最优引脚，为图中表记的引脚，即P2。
第二种情况（net2），获取到的有引脚有过孔为（P4，P5，V1）
A）与第一种情况中的B步骤一样，获取出BGA封装的引脚，即P4。
B）计算P5、V1与P4的距离，并由近及远排序，假设为顺序为V1、P5。
C）找出BGA封装的实体大小，假设为图中的AB点。
D）根据顺序判断V1、P5是否在实体内，不在实体内，则为所求点，即为P5。
第三种情况（net3）与第二种情况相同判断，既可以求出点V3为所求点。
实施例三
上文中对于一种PCB设计中快速查找测试点的方法的实施例进行了详细描述，基于上述实施例描述的PCB设计中快速查找测试点的方法，本发明实施例还提供了一种与该方法对应的PCB设计中快速查找测试点的装置。
图4是本发明实施例三提供的一种PCB设计中快速查找测试点的装置结构示意框图，包括输入信号查找保存模块101和测试点查找模块102。
输入信号查找保存模块101：在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中。
测试点查找模块102：在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
本实施例的PCB设计中快速查找测试点的装置用于实现前述的PCB设计中快速查找测试点的方法，因此该装置中的具体实施方式可见前文中的PCB设计中快速查找测试点的方法的实施例部分，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再展开介绍。
另外，由于本实施例的PCB设计中快速查找测试点的装置用于实现前述的PCB设计中快速查找测试点的方法，因此其作用与上述方法的作用相对应，这里不再赘述。
实施例四
图5为本发明实施例提供的一种终端装置500的结构示意图，包括：处理器510、存储器520及通信单元530。所述处理器510用于实现存储器520中保存的PCB设计中快速查找测试点的程序时实现以下步骤：
S1，在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；
S2，在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
本发明从原理图中自动找出输入信号，并自动导出到存储文件，之后在Allegro软件中，根据存储文件中的信号，找出与信号相连的引脚和过孔，在所有引脚和过孔中根据判断条件找出符合要求的测试点。本发明实现自动从PCB中查找出测试点，效率大大提升，且不容易遗漏。
该终端装置500包括处理器510、存储器520及通信单元530。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本发明的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
其中，该存储器520可以用于存储处理器510的执行指令，存储器520可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（SRAM），电可擦除可编程只读存储器（EEPROM），可擦除可编程只读存储器（EPROM），可编程只读存储器（PROM），只读存储器（ROM），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器520中的执行指令由处理器510执行时，使得终端500能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
处理器510为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器520内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(Integrated Circuit，简称IC) 组成，例如可以由单颗封装的IC 所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说，处理器510可以仅包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)。在本发明实施方式中，CPU可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。
通信单元530，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
实施例五
本发明还提供一种计算机存储介质，这里所说的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体（英文：read-only memory，简称：ROM）或随机存储记忆体（英文：randomaccessmemory，简称：RAM）等。
计算机存储介质存储有PCB设计中快速查找测试点的程序，所述PCB设计中快速查找测试点的程序被处理器执行时实现以下步骤：
S1，在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；
S2，在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
本发明从原理图中自动找出输入信号，并自动导出到存储文件，之后在Allegro软件中，根据存储文件中的信号，找出与信号相连的引脚和过孔，在所有引脚和过孔中根据判断条件找出符合要求的测试点。本发明实现自动从PCB中查找出测试点，效率大大提升，且不容易遗漏。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中如U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，包括若干指令用以使得一台计算机终端（可以是个人计算机，服务器，或者第二终端、网络终端等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
以上公开的仅为本发明的优选实施方式，但本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化，以及在不脱离本发明原理前提下所作的若干改进和润饰，都应落在本发明的保护范围内。
Claims (9)
1.一种PCB设计中快速查找测试点的方法，其特征在于，包括以下步骤：
在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；
在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点；
其中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中，具体包括：
查找带有offpage属性的零件，并找出offpage属性零件的属性父系的身份标识，存放到第一列表；
查找所有零件，并找出所有零件的身份标识，存放到第二列表；
在第二列表中找出与第一列表相同的元素，存放到第三列表中，遍历第三列表，查找出版本号为1的元素，存放到第四列表中；
遍历第四列表，获取元素中的引脚，并记录引脚坐标，获取与坐标点连接的金属线，并获取金属线身份标识存放到第五列表；
获取所有带有signame属性的金属线，存放到第六列表，并找出signame属性金属线的属性父系的身份标识，存放到第七列表；
根据第五列表、第七列表从第六列表中找出输入信号名称，将找出的输入信号名称导出到存储文件中。
2.根据权利要求1所述的PCB设计中快速查找测试点的方法，其特征在于，存储文件为txt文件。
3.根据权利要求1或2所述的PCB设计中快速查找测试点的方法，其特征在于，读取存储文件中的输入信号名称，所筛选出的PCB中的网络，包括只包含引脚的网络，针对该类网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括：
获取网络中的所有引脚；
在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，记为第一引脚；
计算各个剩余引脚与第一引脚的距离，其中距离最近的引脚即为测试点。
4.根据权利要求3所述的PCB设计中快速查找测试点的方法，其特征在于，读取存储文件中的输入信号名称，所筛选出的PCB中的网络，包括既包含引脚又包含过孔的网络，针对该类网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括：
获取网络中的所有引脚和过孔；
在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，记为第二引脚；
计算各个剩余过孔和引脚与第二引脚的距离；
找出BGA封装实体大小；
根据所计算距离和BGA封装实体大小，查找离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点。
5.根据权利要求4所述的PCB设计中快速查找测试点的方法，其特征在于，根据所计算距离和BGA封装实体大小，查找离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点，具体包括：
将所计算距离由近及远排序；
根据已排列顺序判断剩余过孔和引脚是否在BGA封装实体内，不在BGA封装实体内的第一个过孔或引脚为测试点。
6.根据权利要求5所述的PCB设计中快速查找测试点的方法，其特征在于，在所有引脚中，找出在BGA封装内的引脚，具体包括：
获取引脚的父系身份标识；
根据父系身份标识查找父系的封装命名是否包含“BGA”；
若包含，则对应引脚为BGA封装内的引脚。
7.一种PCB设计中快速查找测试点的装置，其特征在于，包括，
输入信号查找保存模块：在原理图工程文件中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中；
测试点查找模块：在Allegro软件中，读取存储文件中的输入信号名称，筛选出PCB中的网络，针对筛选出的每个网络，查找出其中不在BGA封装实体内但离BGA封装实体最近的引脚或过孔为测试点；
其中，根据零件属性查找输入信号名称，并将输入信号名称导出到存储文件中，具体包括：
查找带有offpage属性的零件，并找出offpage属性零件的属性父系的身份标识，存放到第一列表；
查找所有零件，并找出所有零件的身份标识，存放到第二列表；
在第二列表中找出与第一列表相同的元素，存放到第三列表中，遍历第三列表，查找出版本号为1的元素，存放到第四列表中；
遍历第四列表，获取元素中的引脚，并记录引脚坐标，获取与坐标点连接的金属线，并获取金属线身份标识存放到第五列表；
获取所有带有signame属性的金属线，存放到第六列表，并找出signame属性金属线的属性父系的身份标识，存放到第七列表；
根据第五列表、第七列表从第六列表中找出输入信号名称，将找出的输入信号名称导出到存储文件中。
8.一种终端，其特征在于，包括：
存储器，用于存储PCB设计中快速查找测试点的程序；
处理器，用于执行所述PCB设计中快速查找测试点的程序时实现如权利要求1-6任一项所述PCB设计中快速查找测试点的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有PCB设计中快速查找测试点的程序，所述PCB设计中快速查找测试点的程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述PCB设计中快速查找测试点的方法的步骤。
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Patent Citations (3)
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