CN109684770B

CN109684770B - 一种pcb中差分过孔的检查方法及相关装置

Info

Publication number: CN109684770B
Application number: CN201910019719.2A
Authority: CN
Inventors: 李艳军
Original assignee: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Current assignee: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority date: 2019-01-09
Filing date: 2019-01-09
Publication date: 2022-02-18
Anticipated expiration: 2039-01-09
Also published as: CN109684770A

Abstract

本申请公开了一种PCB中差分过孔的检查方法，包括：根据过孔的过孔ID查找得到过孔的过孔坐标以及对应的出线拐点坐标；在待检查信号线对应的差分线上查找与过孔对应的差分过孔以及对应的差分过孔坐标，根据差分过孔坐标查找对应的差分出线拐点坐标；判断过孔坐标和出线拐点坐标之间的第一线段与差分过孔坐标和差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称；若是，则判定过孔与差分过孔检查通过。通过获取过孔以及差分过孔的坐标，实现了自动对PCB中的过孔进行检查，提高了检查效率。本申请还公开了一种检查系统、PCB检查装置以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。

Description

一种PCB中差分过孔的检查方法及相关装置

技术领域

本申请涉及PCB设计技术领域，特别涉及一种PCB中差分过孔的检查方法、检查系统、PCB检查装置以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着硬件设计技术的不断发展，对PCB设计中的差分过孔设计的完整性越来越高，在PCB中需要将差分过孔设计为对称放置，否则会使得部分差模信号转换为共模信号，共模信号会有可能导致严重的电磁干扰现象。因此，在当前应用情况下为了保证高速信号线具有良好的信号完整性，以及系统稳定性，需要在PCB布线完成后对差分过孔进行严格的检查。

但是，现有技术中一般是人工对PCB中的差分过孔进行检查，不仅检查的效率极低，延长PCB的开发周期，还由于人工容易导致漏检的情况，极大的降低了PCB的设计质量，影响硬件实施后的性能。

因此，如何提高PCB中差分过孔的检查效率是本领域技术人员关注的重点问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种PCB中差分过孔的检查方法、检查系统、PCB检查装置以及计算机可读存储介质，通过获取过孔以及差分过孔的坐标，以及出线拐点的坐标，对过孔和差分过孔的对称性进行判断，实现了自动对PCB中的过孔进行检查，提高了检查效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种PCB中差分过孔的检查方法，包括：

根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线是否存在过孔；

若是，根据所述过孔的过孔ID查找得到所述过孔的过孔坐标以及对应的出线拐点坐标；

在所述待检查信号线对应的差分线上查找与所述过孔对应的差分过孔以及对应的差分过孔坐标，根据所述差分过孔坐标查找对应的差分出线拐点坐标；

判断所述过孔坐标和所述出线拐点坐标之间的第一线段与所述差分过孔坐标和所述差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称；

若是，则判定所述过孔与所述差分过孔检查通过。

可选的，还包括：

当所述第一线段与所述第二线段不对称时，判定所述过孔与所述差分过孔检查不通过；

将所述待检查信号线的检查失败信息按照预设路径进行显示。

可选的，根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线是否存在过孔，包括：

根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线的过孔的过孔ID数量是否大于0。

可选的，判断所述过孔坐标和所述出线拐点坐标之间的第一线段与所述差分过孔坐标和所述差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称，包括：

将所述过孔坐标和所述差分过孔坐标进行连接，得到第三线段；

将所述出线拐点坐标和所述差分出线拐点坐标进行连接，得到第四线段；

判断所述第三线段的垂直平分线和所述第四线段的垂直平分线是否为同一直线。

本申请还提供一种PCB中差分过孔的检查系统，包括：

过孔判断模块，用于根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线是否存在过孔；

过孔坐标获取模块，用于当所述待检查信号线存在过孔时，根据所述过孔的过孔ID查找得到所述过孔的过孔坐标以及对应的出线拐点坐标；

差分过孔坐标获取模块，用于在所述待检查信号线对应的差分线上查找与所述过孔对应的差分过孔以及对应的差分过孔坐标，根据所述差分过孔坐标查找对应的差分出线拐点坐标；

对称判断模块，用于判断所述过孔坐标和所述出线拐点坐标之间的第一线段与所述差分过孔坐标和所述差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称；

检查判定模块，用于当所述第一线段与所述第二线段对称时，判定所述过孔与所述差分过孔检查通过。

可选的，还包括：

检查不同判定模块，用于当所述第一线段与所述第二线段不对称时，判定所述过孔与所述差分过孔检查不通过；

失败信息显示模块，用于将所述待检查信号线的检查失败信息按照预设路径进行显示。

可选的，所述过孔判断模块，具体用于根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线的过孔的过孔ID数量是否大于0。

可选的，所述对称判断模块，包括：

第三线段连接单元，用于将所述过孔坐标和所述差分过孔坐标进行连接，得到第三线段；

第四线段连接单元，用于将所述出线拐点坐标和所述差分出线拐点坐标进行连接，得到第四线段；

垂直平分线判断单元，用于判断所述第三线段的垂直平分线和所述第四线段的垂直平分线是否为同一直线。

本申请还提供一种PCB检查装置，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述的检查方法的步骤。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的检查方法的步骤。

本申请所提供的一种PCB中差分过孔的检查方法，包括：根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线是否存在过孔；若是，根据所述过孔的过孔ID查找得到所述过孔的过孔坐标以及对应的出线拐点坐标；在所述待检查信号线对应的差分线上查找与所述过孔对应的差分过孔以及对应的差分过孔坐标，根据所述差分过孔坐标查找对应的差分出线拐点坐标；判断所述过孔坐标和所述出线拐点坐标之间的第一线段与所述差分过孔坐标和所述差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称；若是，则判定所述过孔与所述差分过孔检查通过。

通过对待检查信号线判断是否存在过孔，进而确定是否继续对差分过孔进行检查，当该待检查信号线存在过孔时，就对过孔的对称性进行检查，也就是检查差分过孔是否对称主要是检查过孔的出线与差分过孔的出线是否对称，本申请中分别获取到每个出线的起始坐标和终止坐标，即过孔坐标和出线拐点坐标，根据每个出线的坐标就可以判断该过孔和差分过孔是否符合对称要求，实现了对差分过孔进行自动检查，提高了差分过孔检查的准确率以及效率。

本申请还提供一种PCB中差分过孔的检查系统、PCB检查装置以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果，在此不做赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例所提供的一种PCB中差分过孔的检查方法的流程图；

图2为本申请实施例所提供的一种PCB中差分过孔的检查系统的结构示意图。

具体实施方式

本申请的核心是提供一种PCB中差分过孔的检查方法、检查系统、PCB检查装置以及计算机可读存储介质，通过获取过孔以及差分过孔的坐标，以及出线拐点的坐标，对过孔和差分过孔的对称性进行判断，实现了自动对PCB中的过孔进行检查，提高了检查效率。

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在PCB设计过程中，需要注意PCB中差分过孔的设计，当差分过孔不对放置时，会影响PCB中信号传输的完整性。随着板卡设计的信号完整性不断的提高，需要对板卡进行差分过孔的对称性的检查。而现有技术中一般是人工对PCB中的差分过孔进行检查，不仅检查的效率极低，延长PCB的开发周期，还由于人工容易导致漏检的情况，极大的降低了PCB的设计质量，影响硬件实施后的性能。

因此，本申请提供一种PCB中差分过孔的检查方法，通过对待检查信号线判断是否存在过孔，进而确定是否继续对差分过孔进行检查，当该待检查信号线存在过孔时，就对过孔的对称性进行检查，也就是检查差分过孔是否对称主要是检查过孔的出线与差分过孔的出线是否对称，本申请中分别获取到每个出线的起始坐标和终止坐标，即过孔坐标和出线拐点坐标，根据每个出线的坐标就可以判断该过孔和差分过孔是否符合对称要求，实现了对差分过孔进行自动检查，提高了差分过孔检查的准确率以及效率。

请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种PCB中差分过孔的检查方法的流程图。

本实施例中，该方法可以包括：

S101，根据获取的待检查信号线的信号线ID判断待检查信号线是否存在过孔；若是，则执行S102；

本步骤旨在确定待检查信号线上是否存在过孔，若是，则继续对该待检查信号线进行进一步的检查，若否，则可以切换其他的待检查信号线进行检查。主要是在PCB板卡中并不是每一条信号线均需要进行换层，也就是并不是每一条信号线存在差分过孔。而当进行人工检查时，则需要对每一条信号线从头到尾进行检查，才能确定该待检查信号线是否存在差分过孔，效率较低。本步骤通过信号线ID在PCB数据中就可以直接判断出待检查信号线是否存在差分过孔，避免了人工检查效率较低的问题，从信号线检查操作开始就快速排除了没有过孔的信号线，提高了检查效率。

其中，本步骤具体的就是在根据信号线ID在PCB数据中查找与其对应的过孔ID，如果存在那么表示该待检查信号线上有过孔，如果不存在过孔ID那么表示该待检查信号线上不存在过孔。

可选的，本步骤可以包括：

根据获取的待检查信号线的信号线ID判断待检查信号线的过孔的过孔ID数量是否大于0；

本可选方案就是判断与该信号线ID对应的过孔ID的数量是否大于0，实现对待检查信号线的过孔存在状态进行判断，提高了待检查信号线的检查效率。

S102，根据过孔的过孔ID查找得到过孔的过孔坐标以及对应的出线拐点坐标；

在S101的基础上，本步骤旨在当该待检查信号线存在过孔时，获取该过孔坐标以及出现拐点坐标。在对差分过孔进行检查的规则中主要就是检查过孔和差分过孔之间的出线是否对称。其中，过孔坐标就是在PCB中表示该过孔位置的坐标，通过该坐标就可以获取到过孔的位置。进一步再获取出线拐点的坐标，就可以确定过孔到出线拐点之间的线段。将过孔作为起点，拐点作为终点，就可以通过过孔坐标和出线拐点坐标确定该过孔对应的出线的位置。

S103，在待检查信号线对应的差分线上查找与过孔对应的差分过孔以及对应的差分过孔坐标，根据差分过孔坐标查找对应的差分出线拐点坐标；

在S102的基础上，本步骤旨在获取差分线中的差分过孔坐标和差分出线拐点坐标，也就是确定与该待检查信号线相对应的差分线上的过孔坐标以及差分出线拐点坐标。

通过本步骤获取的过孔坐标以及差分出线拐点坐标就可以确定差分过孔的出线的位置。

S104，判断过孔坐标和出线拐点坐标之间的第一线段与差分过孔坐标和差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称；若是，则执行S105；若否，则执行S106；

在S102和S103的基础上，本步骤旨在根据上述获取的四个坐标确定过孔的出线与差分过孔的出线是否对称，也就是判断第一线段与第二线段之间是否对称。

本步骤由于已经获取到第一线段起始点坐标以及第二线段的起始点坐标，可以采用现有技术提供任意一种对称判断方法，以确定第一线段与第二线段之间是否对称。可以判断第一线段与第二线段的起点之间的对称线与终点之间的对称线是否相同，还可以采用以下可选方案。

可选的，本步骤可以包括：

步骤1，将过孔坐标和差分过孔坐标进行连接，得到第三线段；

步骤2，将出线拐点坐标和差分出线拐点坐标进行连接，得到第四线段；

步骤3，判断第三线段的垂直平分线和第四线段的垂直平分线是否为同一直线。

本可选方案主要是判断第一线段与第二线段的起点之间的线段与终点之间的线段的垂直平分线是否为同一直线，如果是则第一线段与第二线段之间相互对称。

需要说明的是，本实施例中所说明的出线是指从过孔出来的倾斜的走线，当从过孔出来的出线并不是倾斜的走线时，就判断下一条走线是否为倾斜的走线。如果是，则就判断在待检查信号线与对应的差分线上的倾斜的出线是否相互对称。

在更具体的应用环境中，过孔与差分过孔之间可以垂直摆放，也有可能是水平摆放，还可以可能是倾斜摆放。但无论如何摆放这两个过孔，获取到出现的头尾坐标的情况下，均可以采用以上方法进行对称判断，在此不做具体限定。

S105，判定过孔与差分过孔检查通过。

在S104的基础上，本步骤旨在当第一线段与第二线段对称时，判定过孔与差分过孔的检查通过。

S106，判定过孔与差分过孔检查不通过；将待检查信号线的检查失败信息按照预设路径进行显示。

S1014的基础上，本步骤旨在当第一线段与第二线段之间不对称时，就判定该过孔与差分过孔检查不通过，并且将该待检查信号线的检查失败信息进行显示，进一步的还可以记录该待检查信号线的信息，以及该过孔和该差分过孔的信息。以便后续可以根据记录的信息对PCB板卡进行修改。

综上，本实施例通过对待检查信号线判断是否存在过孔，进而确定是否继续对差分过孔进行检查，当该待检查信号线存在过孔时，就对过孔的对称性进行检查，也就是检查差分过孔是否对称主要是检查过孔的出线与差分过孔的出线是否对称，本申请中分别获取到每个出线的起始坐标和终止坐标，即过孔坐标和出线拐点坐标，根据每个出线的坐标就可以判断该过孔和差分过孔是否符合对称要求，实现了对差分过孔进行自动检查，提高了差分过孔检查的准确率以及效率。

在上一实施例的基础上，本实施例提供一种更加具体的检查方法。通过获取到差分孔的坐标以及差分孔的出线拐点坐标，进行差分过孔的对称性判断，实现了一种对差分过孔的自动化检查操作。

1、选择信号线单元。

1)点击选择信号线按钮，根据用户检查需求，输入要检查的高速信号线，可以输入关键字进行快速过滤，选中过滤出来的高速信号线进行后续检查。也可以输入完整的信号线名字进行后续检查。

2)全选。点击这个按钮，则会选中所有的高速线(信号线名中命名为^*_DN，^*DP)进行检查。

2、检查单元，用于根据选择的高速信号线，程序提取其ID信息，进而提取其过孔信息。

如果过孔数量为0，说明此信号线没有换层，直接忽略，进行下一个信号线检查；

如果过孔数量不为0，提取此过孔信息，包括过孔的ID，过孔的坐标Via1(x1，y1)，过孔连接的两层信号线的ID以及其连接的线段的ID、起始坐标、层面、线宽等信息。然后查找与此信号线形成差分线的另一根线的ID，其过孔的ID，过孔的坐标Via2(x2，y2)，过孔连接的两层信号线的ID以及其连接的线段的ID、起始坐标、层面、线宽等信息。

在上述信息的基础上，比较这两个差分线的过孔的坐标。

如果x1与x2相等，说明差分过孔垂直摆放。然后比较同层的两根线段seg1和seg2，以与过孔坐标相等的线段一端为起点，线段另一端为终点，即seg1起始点坐标为((x1，y1)，(a1，b1))，seg2起始点坐标为((x2，y2)，(a2，b2))。取两个过孔的中点为M(c1，d1)，两个线段中点为N(e1，f1)，然后比较这两个中点。

如果中点不相等，则对d1＝f1进行判断；如果d1＝f1，则说明此层面过孔的出线是对称的；如果d1不等于f1，则说明此层面过孔的出线是不对称的，记录数据库。

如果中点相等，则继续以seg1和seg2的终点为起点，查找下一线段，继续按上述方法判断。此过孔连接的另一层面的走线检查同上。

如果y1与y2相等，说明差分过孔水平摆放。接下来比较同层的两根线段seg1和seg2，以与过孔坐标相等的线段一端为起点，线段另一端为终点，即seg1起始点坐标为((x1，y1)，(a1，b1))，seg2起始点坐标为((x2，y2)，(a2，b2))。取两个过孔的中点为M(c1，d1)，两个线段中点为N(e1，f1)，然后比较这两个中点。

如果中点不相等，则对d1＝f1进行判断；如果c1＝e1，则说明此层面过孔的出线是对称的；如果c1不等于c1，则说明此层面过孔的出线是不对称的，记录数据库。

如果中点相等，则继续以seg1和seg2的终点为起点，查找下一线段，继续判断。此过孔连接的另一层面的走线检查同上。

如果x1不等于x2，y1也不等于y2，说明差分过孔是斜着摆放。接下来比较同层的两根线段seg1和seg2，以与过孔坐标相等的线段一端为起点，线段另一端为终点，即seg1起始点坐标为((x1，y1)，(a1，b1))，seg2起始点坐标为((x2，y2)，(a2，b2))。取两个过孔的中点为M(c1，d1)，两个线段中点为N(e1，f1)，然后比较这两个中点。

如果中点不相等，则判断MN组成向量与Via1和Via2坐标组成的向量是否成90度，并且判断MN组成向量与Seg1和Seg2终点坐标组成的向量是否成90度，如果是，则走线是对称的；如果不是，则走线是不对称的，记录数据库。

3、结果显示单元，用于将不满足要求的信号线信息显示在结果单元中。

4、检查报告生成单元，用于将检查结果存储到文本文档中，便于后续查阅。

本申请实施例提供了一种PCB中差分过孔的检查方法方法，可以通过对待检查信号线判断是否存在过孔，进而确定是否继续对差分过孔进行检查，当该待检查信号线存在过孔时，就对过孔的对称性进行检查，也就是检查差分过孔是否对称主要是检查过孔的出线与差分过孔的出线是否对称，本申请中分别获取到每个出线的起始坐标和终止坐标，即过孔坐标和出线拐点坐标，根据每个出线的坐标就可以判断该过孔和差分过孔是否符合对称要求，实现了对差分过孔进行自动检查，提高了差分过孔检查的准确率以及效率。

下面对本申请实施例提供的一种PCB中差分过孔的检查系统进行介绍，下文描述的一种PCB中差分过孔的检查系统与上文描述的一种PCB中差分过孔的检查方法可相互对应参照。

请参考图2，图2为本申请实施例所提供的一种PCB中差分过孔的检查系统的结构示意图。

本实施例中，该系统可以包括：

过孔判断模块100，用于根据获取的待检查信号线的信号线ID判断待检查信号线是否存在过孔；

过孔坐标获取模块200，用于当待检查信号线存在过孔时，根据过孔的过孔ID查找得到过孔的过孔坐标以及对应的出线拐点坐标；

差分过孔坐标获取模块300，用于在待检查信号线对应的差分线上查找与过孔对应的差分过孔以及对应的差分过孔坐标，根据差分过孔坐标查找对应的差分出线拐点坐标；

对称判断模块400，用于判断过孔坐标和出线拐点坐标之间的第一线段与差分过孔坐标和差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称；

检查判定模块500，用于当第一线段与第二线段对称时，判定过孔与差分过孔检查通过。

可选的，该系统还可以包括：

检查不同判定模块，用于当第一线段与第二线段不对称时，判定过孔与差分过孔检查不通过；

失败信息显示模块，用于将待检查信号线的检查失败信息按照预设路径进行显示。

可选的，该过孔判断模块100，具体可以用于根据获取的待检查信号线的信号线ID判断待检查信号线的过孔的过孔ID数量是否大于0。

可选的，该对称判断模块400，可以包括：

第三线段连接单元，用于将过孔坐标和差分过孔坐标进行连接，得到第三线段；

第四线段连接单元，用于将出线拐点坐标和差分出线拐点坐标进行连接，得到第四线段；

垂直平分线判断单元，用于判断第三线段的垂直平分线和第四线段的垂直平分线是否为同一直线。

本申请实施例还可以提供一种PCB检查装置，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如以上实施例所述的检查方法的步骤。

本申请实施例还可以提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如以上实施例所述的检查方法的步骤。

该计算机可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本申请所提供的一种PCB中差分过孔的检查方法、检查系统、PCB检查装置以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims

1.一种PCB中差分过孔的检查方法，其特征在于，包括：

若是，则判定所述过孔与所述差分过孔检查通过。

2.根据权利要求1所述的检查方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的检查方法，其特征在于，根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线是否存在过孔，包括：

4.根据权利要求1所述的检查方法，其特征在于，判断所述过孔坐标和所述出线拐点坐标之间的第一线段与所述差分过孔坐标和所述差分出线拐点坐标之间的第二线段是否对称，包括：

5.一种PCB中差分过孔的检查系统，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的检查系统，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求5所述的检查系统，其特征在于，所述过孔判断模块，具体用于根据获取的待检查信号线的信号线ID判断所述待检查信号线的过孔的过孔ID数量是否大于0。

8.根据权利要求5所述的检查系统，其特征在于，所述对称判断模块，包括：

9.一种PCB检查装置，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的检查方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的检查方法的步骤。