CN109740272B - 一种pcb中感性补偿的检查方法及相关装置 - Google Patents

一种pcb中感性补偿的检查方法及相关装置 Download PDF

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本申请公开了一种PCB中感性补偿的检查方法,包括:根据输入的检查信息确定待检查信号线;将所述待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取所述待检查信号线上的弧线;将所述弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准;若是,则判定所述待检查弧线感性补偿检查通过。通过将pin与弧线进行匹配筛选,排除了无法进行检查的弧线,再对剩余的弧线进行检查判断,实现了对感性补偿的自动检查,提高了检查效率。本申请还公开了一种PCB中感性补偿的检查方法、检查系统、PCB检查设备以及计算机可读存储介质,具有以上有益效果。

Description

一种PCB中感性补偿的检查方法及相关装置
技术领域
本申请涉及PCB设计技术领域,特别涉及一种PCB中感性补偿的检查方法、检查系统、PCB检查设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
随着PCB设计技术的不断发展,为了进一步提升内存数据线中的信号速率,要求PTH连接器区域pin处的走线全部添加感性补偿,也就是围绕连接器pin增加3/4圆的圆弧。以便保证信号的完整性,以及整个系统的可靠性和稳定性。
因此,为了保证所有的理应添加的区域全部添加感性补偿,需要对PTH内存连接器pin处走线的感性补偿进行检查,筛选出有问题的走线,但是,现有技术中一般是通过人工对相应区域的走线进行检查,不仅检查效率极低,延长对应元件的开发周期,还无法避免漏检的情况。
因此,如何提高感性补偿的检查效率是本领域技术人员关注的重点问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种PCB中感性补偿的检查方法、检查系统、PCB检查设备以及计算机可读存储介质,通过将pin与弧线进行匹配筛选,排除了无法进行检查的弧线,再对剩余的弧线进行检查判断,实现了对感性补偿的自动检查,提高了检查效率。
为解决上述技术问题,本申请提供一种PCB中感性补偿的检查方法,包括:
根据输入的检查信息确定待检查信号线;
将所述待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取所述待检查信号线上的弧线;
将所述弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;
根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准;
若是,则判定所述待检查弧线感性补偿检查通过。
可选的,还包括:
当所述待检查弧线不符合感性补偿标准时,将所述待检查弧线的信息进行记录。
可选的,根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准,包括:
当获取的检查规则为弧长范围时,根据所述待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
判断所述待检查弧长是否在所述弧长范围内。
可选的,根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准,包括:
当获取的检查规则为角度范围时,根据所述待检查弧线的信息进行角度计算,得到待检查角度;
判断所述待检查角度是否在所述角度范围内。
本申请还提供一种PCB中感性补偿的检查系统,包括:
信号线确定模块,用于根据输入的检查信息确定待检查信号线;
检查信息获取模块,用于将所述待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取所述待检查信号线上的弧线;
弧线匹配模块,用于将所述弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;
标准判断模块,用于根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准;
检查判定模块,用于当所述待检查弧线符合感性补偿标准时,判定所述待检查弧线感性补偿检查通过。
可选的,还包括:
检查不通过模块,用于当所述待检查弧线不符合感性补偿标准时,将所述待检查弧线的信息进行记录。
可选的,所述标准判断模块,包括:
弧长获取单元,用于当获取的检查规则为弧长范围时,根据所述待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
弧长判断单元,用于判断所述待检查弧长是否在所述弧长范围内。
可选的,所述标准判断模块,包括:
角度获取单元,用于当获取的检查规则为角度范围时,根据所述待检查弧线的信息进行角度计算,得到待检查角度;
角度判断单元,用于判断所述待检查角度是否在所述角度范围内。
本申请还提供一种PCB检查设备,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上所述的检查方法的步骤。
本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的检查方法的步骤。
本申请所提供的一种PCB中感性补偿的检查方法,包括:根据输入的检查信息确定待检查信号线;将所述待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取所述待检查信号线上的弧线;将所述弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准;若是,则判定所述待检查弧线感性补偿检查通过。
通过获取待检查信号线上的pin和弧线,再进行两者的匹配操作,可以有效的将不符合感性补偿判断的pin和弧线进行排除,并且无需人工干预,提高了查找感性补偿的弧线的效率,进一步的再根据获取的检查规则判断该弧线是否满足对应的感性补偿的标准,以便完成对感性补偿元件的检查,同时也实现了自动对感性补偿进行检查,避免了人工检查出现的漏检以及检查不准确的情况,提高了检查过程的准确率,也提高了检查的效率。
本申请还提供一种PCB中感性补偿的检查方法、检查系统、PCB检查设备以及计算机可读存储介质,具有以上有益效果,在此不做赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种PCB中感性补偿的检查方法的流程图;
图2为本申请实施例所提供的一种PCB中感性补偿的检查系统的结构示意图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种PCB中感性补偿的检查方法、检查系统、PCB检查设备以及计算机可读存储介质,通过将pin与弧线进行匹配筛选,排除了无法进行检查的弧线,再对剩余的弧线进行检查判断,实现了对感性补偿的自动检查,提高了检查效率。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
为了保证所有的理应添加的区域全部添加感性补偿,需要对PTH内存连接器pin处走线的感性补偿进行检查,筛选出有问题的走线,但是,现有技术中一般是通过人工对相应区域的走线进行检查,不仅检查效率极低,延长对应元件的开发周期,还无法避免漏检的情况。
因此,本申请提供一种PCB中感性补偿的检查方法,通过获取待检查信号线上的pin和弧线,再进行两者的匹配操作,可以有效的将不符合感性补偿判断的pin和弧线进行排除,并且无需人工干预,提高了查找感性补偿的弧线的效率,进一步的再根据获取的检查规则判断该弧线是否满足对应的感性补偿的标准,以便完成对感性补偿元件的检查,同时也实现了自动对感性补偿进行检查,避免了人工检查出现的漏检以及检查不准确的情况,提高了检查过程的准确率,也提高了检查的效率。
请参考图1,图1为本申请实施例所提供的一种PCB中感性补偿的检查方法的流程图。
本实施例中,该方法可以包括:
S101,根据输入的检查信息确定待检查信号线;
本步骤旨在从用户输入的检查信息中确定是对PCB板中的某一条信号线进行检查,也就是确定待检查信号线。
本步骤中的检查信息是通过获取用户输入得到的,而用户所输入的检查信息的类型多种多样,可以通过不同的类型的检查信息确定待检查信号线。
例如,检查信息可以是信号线ID,那么就可以通过该信号线ID直接确定对应的待检查信号线;检查信息也可以是信号线ID中的关键词,该关键词代表了某一范围内的信号线,那么就将该范围内的所有信号线作为待检查信号线;检查信息还可以是某一PCB的名称,那么就表示需要对该PCB上的所有信号线进行相应的检查操作,则待检查信号线就是该PCB上的所有信号线。可见本步骤中确定待检查信号线的方式并不唯一,应当根据不同的检查信息的类型选择合适的确定方式,在此不做具体限定。
S102,将待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取待检查信号线上的弧线;
在S101的基础上,本步骤旨在从待检查信号线上确定需要被感性补偿的pin,即待检查pin,以及获取待检查信号线上的所有弧线。
其中,与一条信号连接的多个pin(针脚)中,pin所连接的器件有可能是内存,也有可能是CPU。而当pin连接的是CPU时,则不需要对其进行感性补偿的检查,也就是对感性补偿进行检查的对象是内存连接器中的pin,因此,本步骤中需要对待检查信号线上的pin进行筛选,将与内存连接器连接的pin作为待检查pin,以便与其他pin进行区分,后续步骤中只需要对该待检查pin进行操作即可。
具体的,本步骤进行将与内存连接器连接的pin作为待检查pin的过程,只需要获取该pin所连接的器件的pin总数是否在一定范围,例如,在0至288个范围内,就可以判断该pin连接的是内存连接器。而现有技术人工判断还需要根据pin的走线查看该器件具体是什么,而无法像本实施例中可以直接获取与pin相关的数据直接进行判断,现有技术的判断效率极低,有可能还会出现判断错误的情况。本实施例中可以根据PCB数据从所有pin中筛选出与内存连接器连接的pin,并将其作为待检查pin,提高了筛选pin的效率,进一步提高了对感性补偿进行检查的整体效率。
另一方面,本步骤中还获取了该待检查信号线上的所有弧线,用于与pin进行比较,以确定该弧线是否为待检查弧线段。
S103,将弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;
在S102的基础上,本步骤旨在将弧线与待检查pin进行匹配,得到待检查弧线。与pin类似的,在一条信号线上并非所有弧线均是感性补偿的弧线,因此,本步骤需要对其进行筛选,而当该弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标相互匹配时,也就是相等时,则该弧线为待检查弧线。
可见,现有技术中人工对感性补偿进行检查,不仅需要对pin进行筛选,还需要根据pin的筛选结果,对弧线进行筛选,不仅人工的效率极慢,在筛选时还极容易根据主观判断,出现错误筛选的情况,严重影响后续的感性补偿的检查的过程,降低检查的效度。
本实施例中通过以上的步骤不仅可以以极快的速度从待检查信号线中筛选出需要检查的弧线,还可以提高检查过程的准确率。
S104,根据获取的检查规则判断待检查弧线是否符合感性补偿标准;若是,则执行S105;若否,则执行S106;
在S105的基础上,本步骤旨在判断待检查弧线是否符合感性补偿标准。
其中,获取的检查规则可以是预设的弧线的弧长,或者是预设的弧线的角度,还可以是弧线的起始点到终止点之间的距离,可见的根据不同的检查规则可以采取不同的判断方式,在此不做具体限定。只要是在确定了待检查弧线的基础上,可以采用现有技术提供的任意一种判断方法根据检查规则对待检查弧线进行判断。
可选的,本步骤可以包括:
步骤1,当获取的检查规则为弧长范围时,根据待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
步骤2,判断待检查弧长是否在弧长范围内。
可选的,本步骤可以包括:
步骤1,当获取的检查规则为角度范围时,根据待检查弧线的信息进行角度计算,得到待检查角度;
步骤2,判断待检查角度是否在角度范围内。
S105,判定待检查弧线感性补偿检查通过;
在S104的基础上,本步骤旨在当符合标准时,判定该待检查弧线的感性补偿检查通过,进一步的,就可以对下一个待检查弧线进行检查。
S106,将待检查弧线的信息进行记录。
在S104的基础上,本步骤旨在当不符合标准时,将该待检查弧线的信息进行记录,以便进一步的,根据记录的信息对对应的弧线进行调整修改,以便提高内存连接器的信号完整性。
综上,本实施例通过获取待检查信号线上的pin和弧线,再进行两者的匹配操作,可以有效的将不符合感性补偿判断的pin和弧线进行排除,并且无需人工干预,提高了查找感性补偿的弧线的效率,进一步的再根据获取的检查规则判断该弧线是否满足对应的感性补偿的标准,以便完成对感性补偿元件的检查,同时也实现了自动对感性补偿进行检查,避免了人工检查出现的漏检以及检查不准确的情况,提高了检查过程的准确率,也提高了检查的效率。
在上一实施例的基础上,本实施例提供一种实施了上述检查方法的检查工具。该工具通过对pin和信号线上的弧线进行判断,以便得到需要感性补偿的弧线,再判断其弧线是否符合感性补偿标准,以完成感性补偿的检查。
本实施例中,该工具可以包括:
1、选择信号线单元。
1)点击选择信号线按钮,根据用户检查需求,输入要检查的DDR4数据线,可以输入关键字进行快速过滤,选中过滤出来的DDR4信号线进行后续检查。也可以输入完整的信号线名字进行后续检查。
2)全选。点击这个按钮,程序会选中所有的内存数据线(信号线名中命名为*DQ*,*DQS*,*ECC*)进行检查。
2、用户设定规则单元,用户输入圆弧周长或角度范围用于检查。
3、检查单元。
a)根据选择的信号线,程序提取其ID信息,进而查询其连接的pin的信息(pin ID,pin名,pin坐标)(2到3个,如果信号线连接的是1个内存连接器,则此信号线上有2个pin;如果信号线连接的是2个内存连接器,则此信号线上有3个pin)。根据pin信息,查询其对应的器件ID。根据此器件ID,然后查询此器件的所有pin信息,如果pin个数大于288个,说明其是CPU,则忽略该pin。如果pin的个数为288个,则说明这个器件是内存连接器,记录此pin ID;然后确定这根信号线连接的内存连接器的pin是哪一个或哪两个(pin ID,pin名,pin坐标)。
b)查询信号线每段信息(ID,首位坐标,是直线还是弧线属性),如果是直线,忽略,下一个线段检查;如果是弧线,确定其圆心、半径,然后用圆心与a)中的pin的坐标比较,如果相等,则说明此弧线是连接器pin处添加的感性补偿。如果用户输入的是弧长信息,则根据这根线上所有这样的弧线,计算弧长(角度*半径),角度用起始坐标和圆心坐标计算。然后计算弧长是否在用户规定的范围内,如果在,则满足要求,如果不在,则不满足要求,记录到数据库中。如果用户输入的是角度信息,则用角度与用户输入范围比较,如果在范围内,则满足要求,如果不在,则不满足要求,记录到数据库中。
4、结果显示单元,用于将不满足要求的走线信息显示在结果单元中。
5、检查报告生成单元,用于将检查结果存储到文本文档中,便于后续查阅。
本申请实施例提供了一种PCB中感性补偿的检查方法,可以通过获取待检查信号线上的pin和弧线,再进行两者的匹配操作,可以有效的将不符合感性补偿判断的pin和弧线进行排除,并且无需人工干预,提高了查找感性补偿的弧线的效率,进一步的再根据获取的检查规则判断该弧线是否满足对应的感性补偿的标准,以便完成对感性补偿元件的检查,同时也实现了自动对感性补偿进行检查,避免了人工检查出现的漏检以及检查不准确的情况,提高了检查过程的准确率,也提高了检查的效率。
下面对本申请实施例提供的一种PCB中感性补偿的检查系统进行介绍,下文描述的一种PCB中感性补偿的检查系统与上文描述的一种PCB中感性补偿的检查方法可相互对应参照。
请参考图2,图2为本申请实施例所提供的一种PCB中感性补偿的检查系统的结构示意图。
本实施例中,该系统可以包括:
信号线确定模块100,用于根据输入的检查信息确定待检查信号线;
检查信息获取模块200,用于将待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取待检查信号线上的弧线;
弧线匹配模块300,用于将弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;
标准判断模块400,用于根据获取的检查规则判断待检查弧线是否符合感性补偿标准;
检查判定模块500,用于当待检查弧线符合感性补偿标准时,判定待检查弧线感性补偿检查通过。
可选的,该系统还可以包括:
检查不通过模块,用于当待检查弧线不符合感性补偿标准时,将待检查弧线的信息进行记录。
可选的,该标准判断模块400,可以包括:
弧长获取单元,用于当获取的检查规则为弧长范围时,根据待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
弧长判断单元,用于判断待检查弧长是否在弧长范围内。
可选的,该标准判断模块400,可以包括:
弧长获取单元,用于当获取的检查规则为弧长范围时,根据待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
弧长判断单元,用于判断待检查弧长是否在弧长范围内。
本申请实施例还提供一种PCB检查设备,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如以上实施例所述的检查方法的步骤。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如以上实施例所述的检查方法的步骤。
该计算机可读存储介质可以包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块,或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本申请所提供的一种PCB中感性补偿的检查方法、检查系统、PCB检查设备以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种PCB中感性补偿的检查方法,其特征在于,包括:
根据输入的检查信息确定待检查信号线;
将所述待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取所述待检查信号线上的弧线;
将所述弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;
根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准;
若是,则判定所述待检查弧线感性补偿检查通过。
2.根据权利要求1所述的检查方法,其特征在于,还包括:
当所述待检查弧线不符合感性补偿标准时,将所述待检查弧线的信息进行记录。
3.根据权利要求1所述的检查方法,其特征在于,根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准,包括:
当获取的检查规则为弧长范围时,根据所述待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
判断所述待检查弧长是否在所述弧长范围内。
4.根据权利要求1所述的检查方法,其特征在于,根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准,包括:
当获取的检查规则为角度范围时,根据所述待检查弧线的信息进行角度计算,得到待检查角度;
判断所述待检查角度是否在所述角度范围内。
5.一种PCB中感性补偿的检查系统,其特征在于,包括:
信号线确定模块,用于根据输入的检查信息确定待检查信号线;
检查信息获取模块,用于将所述待检查信号线上与内存连接器连接的pin作为待检查pin,获取所述待检查信号线上的弧线;
弧线匹配模块,用于将所述弧线的圆心坐标与待检查pin的坐标进行匹配,得到待检查弧线;
标准判断模块,用于根据获取的检查规则判断所述待检查弧线是否符合感性补偿标准;
检查判定模块,用于当所述待检查弧线符合感性补偿标准时,判定所述待检查弧线感性补偿检查通过。
6.根据权利要求5所述的检查系统,其特征在于,还包括:
检查不通过模块,用于当所述待检查弧线不符合感性补偿标准时,将所述待检查弧线的信息进行记录。
7.根据权利要求5所述的检查系统,其特征在于,所述标准判断模块,包括:
弧长获取单元,用于当获取的检查规则为弧长范围时,根据所述待检查弧线的信息进行弧长计算,得到待检查弧长;
弧长判断单元,用于判断所述待检查弧长是否在所述弧长范围内。
8.根据权利要求5所述的检查系统,其特征在于,所述标准判断模块,包括:
角度获取单元,用于当获取的检查规则为角度范围时,根据所述待检查弧线的信息进行角度计算,得到待检查角度;
角度判断单元,用于判断所述待检查角度是否在所述角度范围内。
9.一种PCB检查设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的检查方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的检查方法的步骤。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116306486B (zh) * 2023-05-25 2023-08-29 芯行纪科技有限公司 芯片设计的设计规则检查方法及相关设备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105095545A (zh) * 2014-05-15 2015-11-25 济南概伦电子科技有限公司 电路仿真中基于工作区域的器件缓冲
WO2016024767A1 (ko) * 2014-08-12 2016-02-18 주식회사 오토닉스 열전대 온도보상용 단자대
CN105357872A (zh) * 2015-10-22 2016-02-24 重庆方正高密电子有限公司 一种pcb板孔壁上胶渣的检测方法
CN107220442A (zh) * 2017-05-31 2017-09-29 郑州云海信息技术有限公司 一种用于pcb的差分过孔对检测工具
CN107423491A (zh) * 2017-06-28 2017-12-01 深圳崇达多层线路板有限公司 一种跨pcb板的差分对的线长匹配的补偿计算方法
CN107831378A (zh) * 2017-09-13 2018-03-23 梅素真 一种检验消弧线圈补偿效果的装置及方法
CN108875238A (zh) * 2018-06-28 2018-11-23 郑州云海信息技术有限公司 一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置及设备

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105095545A (zh) * 2014-05-15 2015-11-25 济南概伦电子科技有限公司 电路仿真中基于工作区域的器件缓冲
WO2016024767A1 (ko) * 2014-08-12 2016-02-18 주식회사 오토닉스 열전대 온도보상용 단자대
CN105357872A (zh) * 2015-10-22 2016-02-24 重庆方正高密电子有限公司 一种pcb板孔壁上胶渣的检测方法
CN107220442A (zh) * 2017-05-31 2017-09-29 郑州云海信息技术有限公司 一种用于pcb的差分过孔对检测工具
CN107423491A (zh) * 2017-06-28 2017-12-01 深圳崇达多层线路板有限公司 一种跨pcb板的差分对的线长匹配的补偿计算方法
CN107831378A (zh) * 2017-09-13 2018-03-23 梅素真 一种检验消弧线圈补偿效果的装置及方法
CN108875238A (zh) * 2018-06-28 2018-11-23 郑州云海信息技术有限公司 一种耦合电容参考层挖空的检查方法、装置及设备

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于ADS的微带线不连续性分析与应用;吉建华 等;《电讯技术》;20131130;1527-1531 *
差分对内偏斜对25 Gbps背板信号完整性的影响分析;胡军等;《计算机工程与科学》;20141215(第12期);46-51 *

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