CN114038366B - 一种显示模组的修复检测方法及装置、设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种显示模组的修复检测方法及装置、设备和存储介质，修复检测方法包括：获取不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，并根据第一阳极电流计算第一补偿数据；获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，并根据像素组所对应的第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据；确定各第二补偿数据与第一补偿数据的差值中的最大差值；判断最大差值是否大于或等于预设阈值；若是，则提示不良子像素修复成功；若否，则提示不良子像素修复失败。本发明的修复检测方法用于检测显示模组是否修复成功，检测方式更加智能，而且可以提高检测结果准确率。
Description
技术领域
本发明涉及显示模组修复技术领域，尤其涉及一种显示模组的修复检测方法及装置、设备和存储介质。
背景技术
在显示面板制备完成后的模组封装阶段，通常需要对显示模组进行电学测试，以判断是否存在缺陷子像素。由于人眼对亮光较为敏感，因此，尤其需要检测是否存在亮点不良(子像素始终处于发光状态，无法关闭)。
图1为现有的显示模组的结构示意图，如图1所示，显示模组10包括多个子像素101，子像素主要包括发光元件以及用于驱动发光元件发光的像素电路(未示出)，经测试，多个子像素包括存在亮点不良的不良子像素(如101-1)以及正常子像素。通常，若亮点不良较少，可以对存在亮点不良的子像素进行修复，使其成为暗点(始终不亮)，如此，由于显示设备的分辨率较高，即使显示画面中存在个别暗点，对其显示效果的影响也很小，可忽略不计，因而可以通过修复处理提高成品率，避免浪费。
修复后需要判断修复是否成功，目前，对于修复结果的判断方式为，通过修理后的图像判断是否修复成功，例如在黑屏模式下观察图像是否存在亮点。但是，此判断方式存在如下缺陷：因人为判断存在失误风险，导致检测结果准确率较低，对于未修复成功的不良产品，可能因判断失误导致其投入市场，对于已修复成功的产品，可能因判断失误导致对其二次修复，增加成本和工作量。
发明内容
本发明的目的在于：提供一种显示模组的修复检测方法及装置、设备和存储介质，以检测显示模组是否修复成功，提高检测结果准确率。
为达上述目的，本发明采用以下技术方案：
第一方面，本发明提供一种显示模组的修复检测方法，所述显示模组包括多个子像素，所述子像素包括发光元件以及用于驱动所述发光元件发光的像素电路；多个所述子像素包括不良子像素以及正常子像素，所述不良子像素经过修复处理；
所述修复检测方法包括：
获取所述不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，并根据所述第一阳极电流计算第一补偿数据；
获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，并根据所述像素组所对应的所述第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据；其中，一个所述像素组包括至少一个所述子像素；
确定各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值中的最大差值；
判断所述最大差值是否大于或等于预设阈值；
若是，则提示所述不良子像素修复成功；
若否，则提示所述不良子像素修复失败。
作为修复检测方法的一种优选方案，一个所述像素组包括多个所述子像素；
所述根据所述像素组所对应的所述第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据，包括：
根据所述像素组所对应的各个所述第二阳极电流，计算各个所述第二阳极电流所对应的第二子补偿数据；
计算各所述第二子补偿数据的平均值，确定该平均值为该像素组所对应的所述第二补偿数据。
作为修复检测方法的一种优选方案，一个所述像素组包括3个～10个所述子像素。
作为修复检测方法的一种优选方案，所述至少两个像素组包括：
沿第一方向与所述不良子像素所在坐标相邻的两个像素组，和/或，沿第二方向与所述不良子像素所在坐标相邻的两个像素组；其中，所述第一方向和所述第二方向相交。
作为修复检测方法的一种优选方案，所述确定各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值中的最大差值，包括：
分别计算各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值；
比较各所述差值，以确定所述最大差值；
或者，
比较各所述第二补偿数据，以确定最大第二补偿数据；
计算所述最大第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值，并确定该差值为所述最大差值。
作为修复检测方法的一种优选方案，所述修复处理将所述不良子像素中的发光元件的阳极与一个所述正常子像素中的像素电路电连接，以使该阳极与该像素电路之间的电阻无穷大。
第二方面，本发明提供一种显示模组的修复检测装置，使用第一方面提供的修复检测方法，所述显示模组包括多个子像素，所述子像素包括发光元件以及用于驱动所述发光元件发光的像素电路；多个所述子像素包括不良子像素以及正常子像素；所述不良子像素经过修复处理；
所述修复检测装置包括：
阳极电流获取模块，用于获取所述不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，以及获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流；
补偿数据计算模块，用于根据所述第一阳极电流计算第一补偿数据，以及根据所述像素组所对应的所述第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据；
最大差值确定模块，用于确定各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值中的最大差值；
判断模块，用于判断所述最大差值是否大于或等于预设阈值；
提示模块，用于在所述最大差值大于或等于所述预设阈值时，提示所述不良子像素修复成功；或者在所述最大差值小于所述预设阈值时，提示所述不良子像素修复失败。
作为修复检测装置的一种优选方案，所述最大差值确定模块包括：计算单元和比较单元；
所述计算单元用于计算各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值；所述比较单元用于比较各所述差值，以确定所述最大差值；或者，
所述比较单元用于比较各所述第二补偿数据，以确定最大第二补偿数据；所述计算单元用于计算所述最大第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值，并确定该差值为所述最大差值。
第三方面，本发明提供一种设备，所述设备包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序，
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面提供的修复检测方法。
第四方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一方面提供的修复检测方法。
本发明的有益效果为：通过获取不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，以及该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，并根据第一阳极电流计算第一补偿数据，以及根据像素组所对应的第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据，进而确定各第二补偿数据与第一补偿数据的差值中的最大差值，并在最大差值大于或等于预设阈值时，判定不良子像素修复成功，否则判定不良子像素修复失败，该检测方式更加智能化，可以解决通过图像判断修复结果是否成功存在的判断失误问题，提高检测结果准确率。
附图说明
下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。
图1为现有的显示模组的结构示意图。
图2为本发明第一实施例的显示模组的修复检测方法的流程示意图。
图3为本发明第二实施例的显示模组的修复检测方法的流程示意图。
图4为本发明第二实施例的显示模组中子像素对应的补偿数据的示意图。
图5为本发明第三实施例的显示模组的修复检测装置的结构示意图。
图6为本发明第四实施例的设备的结构示意图。
图1至图6中：
10、显示模组；101、子像素；101-1、不良子像素；
310、阳极电流获取模块；320、补偿数据计算模块；330、最大差值确定模块；340、判断模块；350、提示模块；
410、处理器；420、存储器；430、输入装置；440、输出装置。
具体实施方式
参考下面结合附图详细描述的实施例，本发明的优点和特征以及实现它们的方法将变得显而易见。然而，本发明不限于以下公开的实施例，而是可以以各种不同的形式来实现，提供本实施例仅仅是为了完成本发明的公开并且使本领域技术人员充分地了解本发明的范围，并且本发明仅由权利要求的范围限定。相同的附图标记在整个说明书中表示相同的构成要素。
以下，参照附图来详细描述本发明。
本发明实施例中，对不良子像素的修复处理方式是，将不良子像素中的发光元件的阳极与一个正常子像素中的像素电路电连接，目的在于使该阳极与该像素电路之间的电阻无穷大。示例性的，上述修复处理可采用WDR(Wide Dynamic Range，宽动态范围)激光修复技术进行，具体修复过程在此不做过多说明。可以理解的，采取上述修复方式，若修复地越好，流经不良子像素中发光元件的阳极的电流则越小，甚至几乎为零，从而可使亮点成为暗点，完成修复。
适应性地，本发明实施例提供了一种显示模组的修复检测方法，用于检测上述对不良子像素的修复结果，判断是否修复成功，以提高检测结果准确率。图2为本发明第一实施例的显示模组的修复检测方法的流程示意图，如图2所示，本发明实施例提供的显示模组的修复检测方法可包括如下步骤：
S110、获取不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，并根据第一阳极电流计算第一补偿数据。
其中，不良子像素已经过修复处理，即该不良子像素中的发光元件的阳极与一个正常子像素中的像素电路电连接。其中，第一阳极电流为流经不良子像素中发光元件的阳极的电流。其中，第一补偿数据根据第一阳极电流计算得到，可以理解为电流的补偿数据，第一补偿数据与第一阳极电流的大小正相关，即第一阳极电流越大，第一补偿数据越大。
S120、获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，并根据像素组所对应的第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据。
其中，一个像素组包括至少一个子像素。参照图1，以子像素(101-1)为不良子像素为例，每个像素组中的子像素选取该不良子像素101-1以外的至少一个子像素，可随机选取。
其中，第二阳极电流为流经子像素中发光元件的阳极的电流，第二阳极电流与像素组中的子像素一一对应，像素组包括几个子像素，则获取几个第二阳极电流的数据。第二补偿数据可根据像素组对应的第二阳极电流计算得到，同样的，第二补偿数据与第二阳极电流的大小正相关，像素组对应的各第二阳极电流越大，第二补偿数据则越大。
示例性的，本实施例中，可选一个像素组包括一个子像素，根据流经子像素中的发光元件的阳极电流(第二阳极电流)，可以计算得到该像素组对应的第二补偿数据。
需要说明的是，上述“第一”、“第二”等用语并无实质含义，仅用于区分。总而言之，本实施例中，补偿数据根据流经发光元件的阳极的电流(简称阳极电流)计算得到，且补偿数据与阳极电流呈正相关。通过将阳极电流换算为补偿数据进行数据处理更加简单，具体计算过程在此不做过多说明。
S130、确定各第二补偿数据与第一补偿数据的差值中的最大差值。
S140、判断最大差值是否大于或等于预设阈值。若是，则执行S150，若否，则执行S160。
S150、提示不良子像素修复成功。
S160、提示不良子像素修复失败。
其中，预设阈值是指一个临界的电流的补偿数据，预设阈值相对更接近根据正常子像素中发光元件的阳极电流计算得到的补偿数据。示例性的，可选预设阈值T满足0.75A≤T≤A，其中，A为根据正常子像素中的发光元件的阳极电流计算得到的补偿数据。示例性的，正常子像素中的发光元件的阳极电流可以是在白屏显示下测试得到的阳极电流。
根据上文描述可知，若不良子像素修复地越好，流经其阳极的电流(即第一阳极电流)越小，因此，在同一显示亮度下，不良子像素对应的阳极电流与正常子像素对应的阳极电流的差值越大，而根据阳极电流计算得到的补偿数据与阳极电流正相关，因此，修复地越好，正常子像素对应的补偿数据与不良子像素对应的补偿数据(即第一补偿数据)的差值越大。
进一步的，在修复后，不良子像素对应的第一补偿数据是一个定值，而像素组中的子像素是随机选取的，并不能保证各个像素组中的子像素均为正常子像素，因此，本发明实施例通过选取不良子像素以外的至少两个像素组，计算各个像素组对应的第二补偿数据，并确定各个第二补偿数据与第一补偿数据的差值中的最大值，从而可以提高最大差值所对应的像素组中的子像素为正常子像素的几率，确保利用正常子像素与不良子像素进行比较，此时，若该最大差值大于预设阈值，则可以表明流经不良子像素的电流较小，修复成功，否则，表明流经不良子像素的电流较大，修复失败。相比于工作人员通过观察图像判断修复结果的方式而言，本发明的修复检测方法的检测方式更加智能，检测结果的准确性更高，还可以提高一次修复成功率，降低二次修复率，有利于产能最大化。
本发明实施例提供的修复检测方法，通过获取不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，以及该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，并根据第一阳极电流计算第一补偿数据，以及根据像素组所对应的第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据，进而确定各第二补偿数据与第一补偿数据的差值中的最大差值，并在最大差值大于或等于预设阈值时，判定不良子像素修复成功，否则判定不良子像素修复失败，该检测方式更加智能化，可以解决通过图像判断修复结果是否成功存在的判断失误问题，提高检测结果准确率。
在上述实施例的基础上，可选一个像素组包括多个子像素，适应性地，图3为本发明第二实施例的显示模组的修复检测方法的流程示意图，对一个像素组包括多个子像素时第二补偿数据的计算方式做了详细说明，如图3所示，修复检测方法可包括如下步骤：
S210、获取不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，并根据第一阳极电流计算第一补偿数据。
S220、获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，根据像素组所对应的各个第二阳极电流，计算各个第二阳极电流所对应的第二子补偿数据。
S230、计算各第二子补偿数据的平均值，确定该平均值为该像素组所对应的第二补偿数据。
具体的，当一个像素组包括多个子像素时，可以计算每个子像素中发光元件的阳极电流所对应的补偿数据，即第二子补偿数据，通过计算各第二子补偿数据的平均值，即可得到像素组对应的第二补偿数据。如此，通过计算多个第二子补偿数据的平均值的方式，确定像素组所对应的第二补偿数据，可以提升第二补偿数据的可靠性，从而可以进一步提升检测结果的准确性。
可选的，一个像素组包括3个～10个子像素。像素组中子像素的数量过少，可能会影响第二补偿数据的可靠性，过多则会加大计算量，因此，可选一个像素组包括3个～10个子像素，例如，一个像素组包括5个子像素。
可选的，至少两个像素组包括：沿第一方向与不良子像素所在坐标相邻的两个像素组，和/或，沿第二方向与不良子像素所在坐标相邻的两个像素组；其中，第一方向和第二方向相交。示例性的，第一方向可以为行方向，第二方向可以为列方向。优选沿第一方向和第二方向均选取像素组，以避免因单一方向上的子像素均为不良子像素，导致检测结果判定失误，进一步提高检测结果的准确性。
S240、分别计算各第二补偿数据与第一补偿数据的差值。
S250、比较各差值，以确定最大差值。
具体的，通过先分别计算各第二补偿数据与第一补偿数据的差值，再比较各差值，可以确定最大差值。
在其他实施例中，可选先比较各第二补偿数据，以确定最大第二补偿数据，再计算最大第二补偿数据与第一补偿数据的差值，并确定该差值为最大差值。
S260、判断最大差值是否大于或等于预设阈值。若是，则执行S270，若否，则执行S280。
S270、提示不良子像素修复成功。
S280、提示不良子像素修复失败。
本发明实施例通过选取多个子像素作为一个像素组，可以通过计算多个第二子补偿数据的平均值的方式，确定像素组所对应的第二补偿数据，从而可以提升第二补偿数据的可靠性，进一步提高检测结果的准确性，若第二补偿数据与第一补偿数据的最大差值大于预设阈值，则可以表明流经不良子像素的电流较小，修复成功，否则，表明流经不良子像素的电流较大，修复失败。相比于工作人员通过观察图像判断修复结果的方式而言，该检测方式更加智能，检测结果的准确性更高。
在一具体实施例中，可选预设阈值为315(仅为示例，并非限定)。图4为本发明第二实施例的显示模组中子像素对应的补偿数据的示意图，图4中的数据表示与子像素一一对应的补偿数据。如图4所示，第Y行第X列子像素为不良子像素，其第一补偿数据为304，图4所示方案沿行方向和列方向分别选取了与不良子像素相邻的四个像素组(①、②、③和④)，每个像素组分别包括5个子像素，像素组①中5个子像素对应的第二子补偿数据分别为404、404、406、405和403，像素组②中5个子像素对应的第二子补偿数据分别为404、404、408、406和409，像素组③中5个子像素对应的第二子补偿数据分别为404、407、402、401和405，像素组④中5个子像素对应的第二子补偿数据分别为402、402、403、398和401，经过计算，四个像素组中第二子补偿数据的平均值(即第二补偿数据)与第一补偿数据的差值依次为100、102、100和97，因此，最大差值为102。因最大差值102小于预设阈值315，因此，修复失败。若修复成功，第一子补偿数据大约应在100以下，在此不再一一列举。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示模组的修复检测装置，使用上述任一实施例提供的修复检测方法。图5为本发明第三实施例的显示模组的修复检测装置的结构示意图，如图5所示，修复检测装置包括：阳极电流获取模块310、补偿数据计算模块320、最大差值确定模块330、判断模块340和提示模块350。其中，阳极电流获取模块310用于获取不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，以及获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流；补偿数据计算模块320用于根据第一阳极电流计算第一补偿数据，以及根据像素组所对应的第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据；最大差值确定模块330用于确定各第二补偿数据与第一补偿数据的差值中的最大差值；判断模块340用于判断最大差值是否大于或等于预设阈值；提示模块350用于在最大差值大于或等于预设阈值时，提示不良子像素修复成功；或者在最大差值小于预设阈值时，提示不良子像素修复失败。
本发明实施例所提供的修复检测装置可执行本发明任意实施例所提供的修复检测方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
进一步地，可选最大差值确定模块330包括计算单元和比较单元；计算单元用于计算各第二补偿数据与第一补偿数据的差值；比较单元用于比较各差值，以确定最大差值；或者，比较单元用于比较各第二补偿数据，以确定最大第二补偿数据；计算单元用于计算最大第二补偿数据与第一补偿数据的差值，并确定该差值为最大差值。
进一步地，可选一个像素组包括多个子像素，补偿数据计算模块320具体用于根据第一阳极电流计算第一补偿数据，以及根据像素组所对应的各个第二阳极电流，计算各个第二阳极电流所对应的第二子补偿数据，并计算各第二子补偿数据的平均值，确定该平均值为该像素组所对应的第二补偿数据。
可选的，一个像素组包括3个～10个子像素。
可选的，不良子像素以外的至少两个像素组包括：沿第一方向与不良子像素所在坐标相邻的两个像素组，和/或，沿第二方向与不良子像素所在坐标相邻的两个像素组；其中，第一方向和第二方向相交。
本发明实施例还提供了一种设备，图6为本发明第四实施例的设备的结构示意图，如图6所示，该设备包括处理器410、存储器420、输入装置430和输出装置440；设备中处理器410的数量可以是一个或多个，图6中以一个处理器410为例；设备中的处理器410、存储器420、输入装置430和输出装置440可以通过总线或其他方式连接，图6中以通过总线连接为例。此外，可选设备与电流检测装置电连接，或者，可选设备中集成有电流检测装置，以通过电流检测装置获取发光元件的阳极电流。
存储器420作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的修复检测方法对应的程序指令/模块(例如，修复检测装置中的阳极电流获取模块310、补偿数据计算模块320、最大差值确定模块330、判断模块340和提示模块350)。处理器410通过运行存储在存储器420中的软件程序、指令以及模块，从而执行设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的修复检测方法。
存储器420可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器420可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器420可进一步包括相对于处理器410远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置430可用于接收输入的数字或字符信息，以产生与设备的用户设置以及功能控制有关的信号输入。输出装置440可包括显示屏等显示设备。
本发明第五实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时可实现如上述任一实施例提供的修复检测方法，在此不再赘述。
通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例的方法。
值得注意的是，上述修复检测装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
尽管上面已经参考附图描述了本发明的实施例，但是本发明不限于以上实施例，而是可以以各种形式制造，并且本领域技术人员将理解，在不改变本发明的技术精神或基本特征的情况下，可以以其他特定形式来实施本发明。因此，应该理解，上述实施例在所有方面都是示例性的而不是限制性的。
Claims (10)
1.一种显示模组的修复检测方法，所述显示模组包括多个子像素，所述子像素包括发光元件以及用于驱动所述发光元件发光的像素电路；多个所述子像素包括不良子像素以及正常子像素，所述不良子像素经过修复处理；
其特征在于，所述修复检测方法包括：
获取所述不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，并根据所述第一阳极电流计算第一补偿数据；
获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流，并根据所述像素组所对应的所述第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据；其中，一个所述像素组包括至少一个所述子像素；
确定各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值中的最大差值；
判断所述最大差值是否大于或等于预设阈值；
若是，则提示所述不良子像素修复成功；
若否，则提示所述不良子像素修复失败。
2.根据权利要求1所述的修复检测方法，其特征在于，一个所述像素组包括多个所述子像素；
所述根据所述像素组所对应的所述第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据，包括：
根据所述像素组所对应的各个所述第二阳极电流，计算各个所述第二阳极电流所对应的第二子补偿数据；
计算各所述第二子补偿数据的平均值，确定该平均值为该像素组所对应的所述第二补偿数据。
3.根据权利要求2所述的修复检测方法，其特征在于，一个所述像素组包括3个～10个所述子像素。
4.根据权利要求1所述的修复检测方法，其特征在于，所述至少两个像素组包括：
沿第一方向与所述不良子像素所在坐标相邻的两个像素组，和/或，沿第二方向与所述不良子像素所在坐标相邻的两个像素组；其中，所述第一方向和所述第二方向相交。
5.根据权利要求1所述的修复检测方法，其特征在于，所述确定各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值中的最大差值，包括：
分别计算各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值；
比较各所述差值，以确定所述最大差值；
或者，
比较各所述第二补偿数据，以确定最大第二补偿数据；
计算所述最大第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值，并确定该差值为所述最大差值。
6.根据权利要求1所述的修复检测方法，其特征在于，所述修复处理将所述不良子像素中的发光元件的阳极与一个所述正常子像素中的像素电路电连接，以使该阳极与该像素电路之间的电阻无穷大。
7.一种显示模组的修复检测装置，使用权利要求1-6任一项所述的修复检测方法，所述显示模组包括多个子像素，所述子像素包括发光元件以及用于驱动所述发光元件发光的像素电路；多个所述子像素包括不良子像素以及正常子像素；所述不良子像素经过修复处理；
其特征在于，所述修复检测装置包括：
阳极电流获取模块，用于获取所述不良子像素中的发光元件的第一阳极电流，以及获取该不良子像素以外的至少两个像素组中的发光元件所对应的第二阳极电流；
补偿数据计算模块，用于根据所述第一阳极电流计算第一补偿数据，以及根据所述像素组所对应的所述第二阳极电流计算该像素组所对应的第二补偿数据；
最大差值确定模块，用于确定各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值中的最大差值；
判断模块，用于判断所述最大差值是否大于或等于预设阈值；
提示模块，用于在所述最大差值大于或等于所述预设阈值时，提示所述不良子像素修复成功；或者在所述最大差值小于所述预设阈值时，提示所述不良子像素修复失败。
8.根据权利要求7所述的修复检测装置，其特征在于，所述最大差值确定模块包括：计算单元和比较单元；
所述计算单元用于计算各所述第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值；所述比较单元用于比较各所述差值，以确定所述最大差值；或者，
所述比较单元用于比较各所述第二补偿数据，以确定最大第二补偿数据；所述计算单元用于计算所述最大第二补偿数据与所述第一补偿数据的差值，并确定该差值为所述最大差值。
9.一种设备，其特征在于，所述设备包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序，
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的修复检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的修复检测方法。
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Citations (4)
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|---|---|---|---|---|
| JP2009266687A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Panasonic Corp | 表示パネルの検査方法及びその装置 |
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| KR101147083B1 (ko) * | 2006-03-29 | 2012-05-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 화질제어 방법 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2009266687A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Panasonic Corp | 表示パネルの検査方法及びその装置 |
| KR20160082768A (ko) * | 2014-12-29 | 2016-07-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 리페어 구조를 갖는 유기발광표시장치 |
| KR20180014379A (ko) * | 2016-07-29 | 2018-02-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광 표시장치와 그의 암점 처리방법 |
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