JP2002330354A - 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置 - Google Patents
欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置Info
- Publication number
- JP2002330354A JP2002330354A JP2001135020A JP2001135020A JP2002330354A JP 2002330354 A JP2002330354 A JP 2002330354A JP 2001135020 A JP2001135020 A JP 2001135020A JP 2001135020 A JP2001135020 A JP 2001135020A JP 2002330354 A JP2002330354 A JP 2002330354A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel
- defective pixel
- correction
- value
- peripheral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込
む必要がなく、リアルタイムに欠損画素を検出して補正
することができる欠損画素検出補正装置・方法・プログ
ラムおよび映像信号処理装置を提供すること。 【解決手段】 補正検出エリアを生成する補正検出エリ
ア生成手段３と、前記複数の周辺画素について周辺最大
値と周辺最小値とを検出する最大値・最小値検出手段５
と、前記周辺最大値と前記周辺最小値と前記補正対象画
素の値とに基づいて、前記補正対象画素が欠損画素であ
るか否かを判定する欠損画素判定手段９と、前記補正対
象画素が欠損画素であると判定されたとき、前記補正対
象画素の値を補正した値に切り替える切替手段１３とを
備えるよう構成した。
む必要がなく、リアルタイムに欠損画素を検出して補正
することができる欠損画素検出補正装置・方法・プログ
ラムおよび映像信号処理装置を提供すること。 【解決手段】 補正検出エリアを生成する補正検出エリ
ア生成手段３と、前記複数の周辺画素について周辺最大
値と周辺最小値とを検出する最大値・最小値検出手段５
と、前記周辺最大値と前記周辺最小値と前記補正対象画
素の値とに基づいて、前記補正対象画素が欠損画素であ
るか否かを判定する欠損画素判定手段９と、前記補正対
象画素が欠損画素であると判定されたとき、前記補正対
象画素の値を補正した値に切り替える切替手段１３とを
備えるよう構成した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子の出
力から、荷電粒子や２次宇宙線や高温状態等が原因で発
生する欠損画素を検出して補正する欠損画素検出補正装
置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラ
ム、および、固体撮像素子の出力に対して信号処理を行
う映像信号処理装置に関するものである。
力から、荷電粒子や２次宇宙線や高温状態等が原因で発
生する欠損画素を検出して補正する欠損画素検出補正装
置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラ
ム、および、固体撮像素子の出力に対して信号処理を行
う映像信号処理装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、固体撮像素子の出力から欠損画素
を検出して補正する方法として、特開昭５６−４４２７
４号公報に記載された方法がある。この従来の方法は、
固体撮像素子の欠損画素の座標のアドレスをメモリに予
め書き込んでおいて、映像信号の画素座標を示す水平ア
ドレスカウンタと垂直アドレスカウンタとを監視し、こ
れらのカウンタがメモリに書き込まれた座標のアドレス
と一致したとき、補正回路を制御して欠損画素を直前の
正常な画素と置き換えるようになっていた。
を検出して補正する方法として、特開昭５６−４４２７
４号公報に記載された方法がある。この従来の方法は、
固体撮像素子の欠損画素の座標のアドレスをメモリに予
め書き込んでおいて、映像信号の画素座標を示す水平ア
ドレスカウンタと垂直アドレスカウンタとを監視し、こ
れらのカウンタがメモリに書き込まれた座標のアドレス
と一致したとき、補正回路を制御して欠損画素を直前の
正常な画素と置き換えるようになっていた。
【０００３】また、従来、メモリを使わずにリアルタイ
ムに欠損画素を検出して補正する方法として、特開平４
−３４５３８３号公報に記載された方法がある。この従
来の方法は、隣接画素出力回路によって固体撮像素子の
出力から上下左右の方向において隣接画素を取り出し、
２つの閾値合成手段によって上下方向、左右方向それぞ
れの閾値を合成する。その閾値と補正対象画素の信号レ
ベルとを比較して、補正対象画素の信号レベルが２つの
閾値よりも大きいとき、補正対象画素を欠損画素と判定
して直前の画素と置き換えるようになっていた。
ムに欠損画素を検出して補正する方法として、特開平４
−３４５３８３号公報に記載された方法がある。この従
来の方法は、隣接画素出力回路によって固体撮像素子の
出力から上下左右の方向において隣接画素を取り出し、
２つの閾値合成手段によって上下方向、左右方向それぞ
れの閾値を合成する。その閾値と補正対象画素の信号レ
ベルとを比較して、補正対象画素の信号レベルが２つの
閾値よりも大きいとき、補正対象画素を欠損画素と判定
して直前の画素と置き換えるようになっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た固体撮像素子の欠損画素の座標を予めメモリに書き込
んでおく従来の方法では、工場出荷前に欠損画素の座標
を予め調べてＲＯＭ等のメモリに書き込まなければなら
ず、手間がかかるという問題があった。また、工場に設
備が必要であるとともに部品点数が増加するという問題
があった。
た固体撮像素子の欠損画素の座標を予めメモリに書き込
んでおく従来の方法では、工場出荷前に欠損画素の座標
を予め調べてＲＯＭ等のメモリに書き込まなければなら
ず、手間がかかるという問題があった。また、工場に設
備が必要であるとともに部品点数が増加するという問題
があった。
【０００５】また、前述したリアルタイムに欠損画素を
検出して直前の画素と置き換える従来の方法では、欠損
画素の左右にまで欠損画素が広がった状態の連続欠損画
素に対して補正をすることができないという問題があっ
た。
検出して直前の画素と置き換える従来の方法では、欠損
画素の左右にまで欠損画素が広がった状態の連続欠損画
素に対して補正をすることができないという問題があっ
た。
【０００６】本発明は、このような問題を解決するため
になされたもので、欠損画素の座標を予め調べてメモリ
に書き込む必要がなく、リアルタイムに欠損画素を検出
して補正することができる欠損画素検出補正装置、欠損
画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、およ
び、映像信号処理装置を提供するものである。
になされたもので、欠損画素の座標を予め調べてメモリ
に書き込む必要がなく、リアルタイムに欠損画素を検出
して補正することができる欠損画素検出補正装置、欠損
画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、およ
び、映像信号処理装置を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の欠損画素検出補
正装置は、固体撮像素子の出力から補正対象画素とこの
補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有し
たエリアを生成する補正検出エリア生成手段と、前記複
数の周辺画素について周辺最大値と周辺最小値とを検出
する最大値・最小値検出手段と、前記周辺最大値と前記
周辺最小値と前記補正対象画素の値とに基づいて、前記
補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定する欠損画
素判定手段と、前記補正対象画素が欠損画素であると判
定されたとき、前記補正対象画素の値を補正した値に切
り替える切替手段とを備えた構成を有している。この構
成により、欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込
む必要がなく、また、リアルタイムに欠損画素を検出し
て補正することができ、出荷後に発生した欠損画素であ
っても検出して補正することができることとなる。
正装置は、固体撮像素子の出力から補正対象画素とこの
補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有し
たエリアを生成する補正検出エリア生成手段と、前記複
数の周辺画素について周辺最大値と周辺最小値とを検出
する最大値・最小値検出手段と、前記周辺最大値と前記
周辺最小値と前記補正対象画素の値とに基づいて、前記
補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定する欠損画
素判定手段と、前記補正対象画素が欠損画素であると判
定されたとき、前記補正対象画素の値を補正した値に切
り替える切替手段とを備えた構成を有している。この構
成により、欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込
む必要がなく、また、リアルタイムに欠損画素を検出し
て補正することができ、出荷後に発生した欠損画素であ
っても検出して補正することができることとなる。
【０００８】本発明の欠損画素検出補正装置は、前記最
大値・最小値検出手段が、前記エリア内において前記補
正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最小値と、前記
エリア内のその他複数の周辺画素の最大値とを比較し、
より大きい値を前記周辺最大値とする構成を有してい
る。この構成により、補正対象画素の隣の画素が信号レ
ベルの高い欠損画素（白欠損画素）であっても、周辺最
大値に欠損画素の値が選択されることを防ぐことがで
き、欠損画素を検出して補正することができることとな
る。
大値・最小値検出手段が、前記エリア内において前記補
正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最小値と、前記
エリア内のその他複数の周辺画素の最大値とを比較し、
より大きい値を前記周辺最大値とする構成を有してい
る。この構成により、補正対象画素の隣の画素が信号レ
ベルの高い欠損画素（白欠損画素）であっても、周辺最
大値に欠損画素の値が選択されることを防ぐことがで
き、欠損画素を検出して補正することができることとな
る。
【０００９】本発明の欠損画素検出補正装置は、前記最
大値・最小値検出手段が、前記エリア内において前記補
正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最大値と、前記
エリア内のその他複数の周辺画素の最小値とを比較し、
より小さい値を前記周辺最小値とする構成を有してい
る。この構成により、補正対象画素の隣の画素が信号レ
ベルの低い欠損画素（黒欠損画素）であっても、周辺最
大値に欠損画素の値が選択されることを防ぐことがで
き、欠損画素を検出して補正することができることとな
る。
大値・最小値検出手段が、前記エリア内において前記補
正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最大値と、前記
エリア内のその他複数の周辺画素の最小値とを比較し、
より小さい値を前記周辺最小値とする構成を有してい
る。この構成により、補正対象画素の隣の画素が信号レ
ベルの低い欠損画素（黒欠損画素）であっても、周辺最
大値に欠損画素の値が選択されることを防ぐことがで
き、欠損画素を検出して補正することができることとな
る。
【００１０】本発明の欠損画素検出補正装置は、前記周
辺最大値と前記周辺最小値との差分に応じて欠損画素判
定用の閾値を切り替える閾値切替手段を設けた構成を有
している。この構成により、補正検出エリア内の画素値
のばらつきが大きいとき、間違って正常画素を欠損画素
と判定しないようにすることができ、また、補正検出エ
リア内の画素値のばらつきが小さいとき、欠損画素を見
逃さないで検出するようにすることができ、欠損画素の
検出精度を向上することができることとなる。
辺最大値と前記周辺最小値との差分に応じて欠損画素判
定用の閾値を切り替える閾値切替手段を設けた構成を有
している。この構成により、補正検出エリア内の画素値
のばらつきが大きいとき、間違って正常画素を欠損画素
と判定しないようにすることができ、また、補正検出エ
リア内の画素値のばらつきが小さいとき、欠損画素を見
逃さないで検出するようにすることができ、欠損画素の
検出精度を向上することができることとなる。
【００１１】本発明の欠損画素検出補正装置は、前記複
数の周辺画素の平均値を計算する画素平均計算手段と、
前記平均値に応じて欠損画素判定用の閾値を切り替える
閾値切替手段とを設けた構成を有している。この構成に
より、周辺画素の状態に応じて欠損画素の検出精度を向
上することができることとなる。
数の周辺画素の平均値を計算する画素平均計算手段と、
前記平均値に応じて欠損画素判定用の閾値を切り替える
閾値切替手段とを設けた構成を有している。この構成に
より、周辺画素の状態に応じて欠損画素の検出精度を向
上することができることとなる。
【００１２】本発明の欠損画素検出補正装置は、同一の
被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力によって欠
損画素判定を行う欠損画素検出補正装置であって、前記
固体撮像素子毎に判定した複数の欠損画素判定結果の組
み合わせにより前記補正対象画素が欠損画素であるか否
かを判定する第２の欠損画素判定手段をさらに設けた構
成を有している。この構成により、画像の輪郭部分にあ
る正常画素を欠損画素と誤検出してしまうことを防ぐこ
とができることとなる。
被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力によって欠
損画素判定を行う欠損画素検出補正装置であって、前記
固体撮像素子毎に判定した複数の欠損画素判定結果の組
み合わせにより前記補正対象画素が欠損画素であるか否
かを判定する第２の欠損画素判定手段をさらに設けた構
成を有している。この構成により、画像の輪郭部分にあ
る正常画素を欠損画素と誤検出してしまうことを防ぐこ
とができることとなる。
【００１３】本発明の欠損画素検出補正装置は、前記複
数の欠損画素判定結果の２つ以上が前記補正対象画素は
欠損画素であるとした判定であるとき、前記第２の欠損
画素判定手段が、前記補正対象画素は欠損画素でないと
する判定に置き換える構成を有している。この構成によ
り、簡単な構成によって、画像の輪郭部分にある正常画
素を欠損画素と誤検出してしまうことを防ぐことができ
ることとなる。
数の欠損画素判定結果の２つ以上が前記補正対象画素は
欠損画素であるとした判定であるとき、前記第２の欠損
画素判定手段が、前記補正対象画素は欠損画素でないと
する判定に置き換える構成を有している。この構成によ
り、簡単な構成によって、画像の輪郭部分にある正常画
素を欠損画素と誤検出してしまうことを防ぐことができ
ることとなる。
【００１４】本発明の欠損画素検出補正装置は、同一の
被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力から補正対
象画素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺
画素とを有したエリアを生成する補正検出エリア生成手
段と、一方の前記個体撮像素子の出力と他方の前記固体
撮像素子の出力との比率を同一座標の画素毎に計算する
とともに、前記複数の周辺画素の比率平均を計算する比
率平均計算手段と、前記補正対象画素の比率と前記比率
平均とを比較し、前記補正対象画素が欠損画素であるか
否かを判定する比較手段と、前記補正対象画素が欠損画
素であると判定されたとき、前記補正対象画素を補正す
る補正手段とを備えた構成を有している。この構成によ
り、欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込む必要
がなく、また、リアルタイムに欠損画素を検出して補正
することができ、出荷後に発生した欠損画素であっても
検出して補正することができることとなる。また、欠損
画素の検出精度を向上することができることとなる。
被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力から補正対
象画素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺
画素とを有したエリアを生成する補正検出エリア生成手
段と、一方の前記個体撮像素子の出力と他方の前記固体
撮像素子の出力との比率を同一座標の画素毎に計算する
とともに、前記複数の周辺画素の比率平均を計算する比
率平均計算手段と、前記補正対象画素の比率と前記比率
平均とを比較し、前記補正対象画素が欠損画素であるか
否かを判定する比較手段と、前記補正対象画素が欠損画
素であると判定されたとき、前記補正対象画素を補正す
る補正手段とを備えた構成を有している。この構成によ
り、欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込む必要
がなく、また、リアルタイムに欠損画素を検出して補正
することができ、出荷後に発生した欠損画素であっても
検出して補正することができることとなる。また、欠損
画素の検出精度を向上することができることとなる。
【００１５】本発明の欠損画素検出補正装置は、同一の
被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力から補正対
象画素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺
画素とを有したエリアを生成するステップと、一方の前
記個体撮像素子の出力と他方の前記固体撮像素子の出力
との比率を同一座標の画素毎に計算するとともに、前記
複数の周辺画素の比率最大値と比率最小値とを求める比
率計算手段と、前記補正対象画素の比率と前記比率最大
値と前記比率最小値とを比較し、前記補正対象画素が欠
損画素であるか否かを判定する比較手段と、前記補正対
象画素が欠損画素であると判定されたとき、前記補正対
象画素を補正する補正手段とを備えた構成を有してい
る。この構成により、欠損画素の座標を予め調べてメモ
リに書き込む必要がなく、また、リアルタイムに欠損画
素を検出して補正することができ、出荷後に発生した欠
損画素であっても検出して補正することができることと
なる。また、欠損画素の検出精度を向上することができ
ることとなる。
被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力から補正対
象画素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺
画素とを有したエリアを生成するステップと、一方の前
記個体撮像素子の出力と他方の前記固体撮像素子の出力
との比率を同一座標の画素毎に計算するとともに、前記
複数の周辺画素の比率最大値と比率最小値とを求める比
率計算手段と、前記補正対象画素の比率と前記比率最大
値と前記比率最小値とを比較し、前記補正対象画素が欠
損画素であるか否かを判定する比較手段と、前記補正対
象画素が欠損画素であると判定されたとき、前記補正対
象画素を補正する補正手段とを備えた構成を有してい
る。この構成により、欠損画素の座標を予め調べてメモ
リに書き込む必要がなく、また、リアルタイムに欠損画
素を検出して補正することができ、出荷後に発生した欠
損画素であっても検出して補正することができることと
なる。また、欠損画素の検出精度を向上することができ
ることとなる。
【００１６】本発明の欠損画素補正方法は、固体撮像素
子の出力から補正対象画素とこの補正対象画素の周辺に
位置する複数の周辺画素とを有したエリアを生成するス
テップと、前記エリア内において前記補正対象画素に隣
接した複数の周辺画素の最大値と、前記エリア内のその
他複数の周辺画素の最小値とを比較し、より小さい値を
周辺最小値とするステップと、前記エリア内において前
記補正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最小値と、
前記エリア内のその他複数の周辺画素の最大値とを比較
し、より大きい値を周辺最大値とするステップと、前記
周辺最大値と前記周辺最小値と前記補正対象画素の値と
に基づいて、前記補正対象画素が欠損画素であるか否か
を判定するステップと、前記補正対象画素が欠損画素で
あると判定されたとき、前記補正対象画素を補正するス
テップとを備えた構成を有している。この構成により、
欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込む必要がな
く、また、リアルタイムに欠損画素を検出して補正する
ことができ、出荷後に発生した欠損画素であっても検出
して補正することができることとなる。また、補正対象
画素の隣の画素が信号レベルの高い欠損画素（白欠損画
素）、または、信号レベルの低い欠損画素（黒欠損画
素）であっても、周辺最大値に欠損画素の値が選択され
ることを防ぐことができ、欠損画素を検出して補正する
ことができることとなる。
子の出力から補正対象画素とこの補正対象画素の周辺に
位置する複数の周辺画素とを有したエリアを生成するス
テップと、前記エリア内において前記補正対象画素に隣
接した複数の周辺画素の最大値と、前記エリア内のその
他複数の周辺画素の最小値とを比較し、より小さい値を
周辺最小値とするステップと、前記エリア内において前
記補正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最小値と、
前記エリア内のその他複数の周辺画素の最大値とを比較
し、より大きい値を周辺最大値とするステップと、前記
周辺最大値と前記周辺最小値と前記補正対象画素の値と
に基づいて、前記補正対象画素が欠損画素であるか否か
を判定するステップと、前記補正対象画素が欠損画素で
あると判定されたとき、前記補正対象画素を補正するス
テップとを備えた構成を有している。この構成により、
欠損画素の座標を予め調べてメモリに書き込む必要がな
く、また、リアルタイムに欠損画素を検出して補正する
ことができ、出荷後に発生した欠損画素であっても検出
して補正することができることとなる。また、補正対象
画素の隣の画素が信号レベルの高い欠損画素（白欠損画
素）、または、信号レベルの低い欠損画素（黒欠損画
素）であっても、周辺最大値に欠損画素の値が選択され
ることを防ぐことができ、欠損画素を検出して補正する
ことができることとなる。
【００１７】本発明の欠損画素補正方法は、同一の被写
体を撮像した複数の固体撮像素子の出力から補正対象画
素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素
とを有したエリアを生成するステップと、一方の前記個
体撮像素子の出力と他方の前記固体撮像素子の出力との
比率を同一座標の画素毎に計算するとともに、前記複数
の周辺画素の比率平均を計算するステップと、前記補正
対象画素の比率と前記複数の周辺画素の比率平均とを比
較し、前記補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定
するステップと、前記補正対象画素が欠損画素であると
判定されたとき、前記複数の周辺画素の比率平均を用い
て前記補正対象画素を補正するステップとを備えた構成
を有している。この構成により、欠損画素の座標を予め
調べてメモリに書き込む必要がなく、また、リアルタイ
ムに欠損画素を検出して補正することができ、出荷後に
発生した欠損画素であっても検出して補正することがで
きることとなる。また、欠損画素の検出精度を向上する
ことができることとなる。
体を撮像した複数の固体撮像素子の出力から補正対象画
素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素
とを有したエリアを生成するステップと、一方の前記個
体撮像素子の出力と他方の前記固体撮像素子の出力との
比率を同一座標の画素毎に計算するとともに、前記複数
の周辺画素の比率平均を計算するステップと、前記補正
対象画素の比率と前記複数の周辺画素の比率平均とを比
較し、前記補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定
するステップと、前記補正対象画素が欠損画素であると
判定されたとき、前記複数の周辺画素の比率平均を用い
て前記補正対象画素を補正するステップとを備えた構成
を有している。この構成により、欠損画素の座標を予め
調べてメモリに書き込む必要がなく、また、リアルタイ
ムに欠損画素を検出して補正することができ、出荷後に
発生した欠損画素であっても検出して補正することがで
きることとなる。また、欠損画素の検出精度を向上する
ことができることとなる。
【００１８】本発明の欠損画素検出補正プログラムは、
固体撮像素子の出力から欠損画素を検出して補正する機
能をコンピュータに実現させる欠損画素検出補正プログ
ラムであって、前記固体撮像素子の出力から補正対象画
素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素
とを有したエリアを生成する補正検出エリア生成手段
と、前記エリア内において前記補正対象画素に隣接した
複数の周辺画素の最大値と、前記エリア内のその他複数
の周辺画素の最小値とを比較し、より小さい値を周辺最
小値とするとともに、前記エリア内において前記補正対
象画素に隣接した複数の周辺画素の最小値と、前記エリ
ア内のその他複数の周辺画素の最大値とを比較し、より
大きい値を周辺最大値とする最大値・最小値検出手段
と、前記周辺最大値と前記周辺最小値と前記補正対象画
素の値とに基づいて、前記補正対象画素が欠損画素であ
るか否かを判定する欠損画素判定手段と、前記補正対象
画素が欠損画素であると判定されたとき、前記補正対象
画素を補正する補正手段として、前記コンピュータを機
能させる構成を有している。この構成により、欠損画素
の座標を予め調べてメモリに書き込む必要がなく、ま
た、リアルタイムに欠損画素を検出して補正することが
でき、出荷後に発生した欠損画素であっても検出して補
正することができることとなる。また、補正対象画素の
隣の画素が信号レベルの高い欠損画素（白欠損画素）、
または、信号レベルの低い欠損画素（黒欠損画素）であ
っても、周辺最大値に欠損画素の値が選択されることを
防ぐことができ、欠損画素を検出して補正することがで
きることとなる。
固体撮像素子の出力から欠損画素を検出して補正する機
能をコンピュータに実現させる欠損画素検出補正プログ
ラムであって、前記固体撮像素子の出力から補正対象画
素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素
とを有したエリアを生成する補正検出エリア生成手段
と、前記エリア内において前記補正対象画素に隣接した
複数の周辺画素の最大値と、前記エリア内のその他複数
の周辺画素の最小値とを比較し、より小さい値を周辺最
小値とするとともに、前記エリア内において前記補正対
象画素に隣接した複数の周辺画素の最小値と、前記エリ
ア内のその他複数の周辺画素の最大値とを比較し、より
大きい値を周辺最大値とする最大値・最小値検出手段
と、前記周辺最大値と前記周辺最小値と前記補正対象画
素の値とに基づいて、前記補正対象画素が欠損画素であ
るか否かを判定する欠損画素判定手段と、前記補正対象
画素が欠損画素であると判定されたとき、前記補正対象
画素を補正する補正手段として、前記コンピュータを機
能させる構成を有している。この構成により、欠損画素
の座標を予め調べてメモリに書き込む必要がなく、ま
た、リアルタイムに欠損画素を検出して補正することが
でき、出荷後に発生した欠損画素であっても検出して補
正することができることとなる。また、補正対象画素の
隣の画素が信号レベルの高い欠損画素（白欠損画素）、
または、信号レベルの低い欠損画素（黒欠損画素）であ
っても、周辺最大値に欠損画素の値が選択されることを
防ぐことができ、欠損画素を検出して補正することがで
きることとなる。
【００１９】本発明の欠損画素検出補正プログラムは、
同一の被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力によ
って欠損画素を検出して補正する機能をコンピュータに
実現させる欠損画素検出補正プログラムであって、前記
複数の固体撮像素子の出力から補正対象画素とこの補正
対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有したエ
リアを生成する補正検出エリア生成手段と、一方の前記
個体撮像素子の出力と他方の前記固体撮像素子の出力と
の比率を同一座標の画素毎に計算するとともに、前記複
数の周辺画素の比率平均を計算する比率平均計算手段
と、前記補正対象画素の比率と前記比率平均とを比較
し、前記補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定す
る欠損画素判定手段と、前記補正対象画素が欠損画素で
あると判定したとき、前記補正対象画素を補正する補正
手段として、前記コンピュータを機能させる構成を有し
ている。この構成により、欠損画素の座標を予め調べて
メモリに書き込む必要がなく、また、リアルタイムに欠
損画素を検出して補正することができ、出荷後に発生し
た欠損画素であっても検出して補正することができるこ
ととなる。また、欠損画素の検出精度を向上することが
できることとなる。
同一の被写体を撮像した複数の固体撮像素子の出力によ
って欠損画素を検出して補正する機能をコンピュータに
実現させる欠損画素検出補正プログラムであって、前記
複数の固体撮像素子の出力から補正対象画素とこの補正
対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有したエ
リアを生成する補正検出エリア生成手段と、一方の前記
個体撮像素子の出力と他方の前記固体撮像素子の出力と
の比率を同一座標の画素毎に計算するとともに、前記複
数の周辺画素の比率平均を計算する比率平均計算手段
と、前記補正対象画素の比率と前記比率平均とを比較
し、前記補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定す
る欠損画素判定手段と、前記補正対象画素が欠損画素で
あると判定したとき、前記補正対象画素を補正する補正
手段として、前記コンピュータを機能させる構成を有し
ている。この構成により、欠損画素の座標を予め調べて
メモリに書き込む必要がなく、また、リアルタイムに欠
損画素を検出して補正することができ、出荷後に発生し
た欠損画素であっても検出して補正することができるこ
ととなる。また、欠損画素の検出精度を向上することが
できることとなる。
【００２０】本発明の映像信号処理装置は、画素の輪郭
強調を行う輪郭強調手段を備えた映像信号処理装置であ
って、請求項１乃至請求項９のいずれかに記載の欠損画
素検出補正装置から出力された欠損画素判定結果に基づ
いて、正常画素のみ前記輪郭強調手段によって輪郭強調
を行い、欠損画素は輪郭強調を行わないように切り替え
る切替手段を設けた構成を有している。この構成によ
り、正常画素と判定された画素だけに輪郭強調が施さ
れ、輪郭がはっきりした画像が得られることとなる。
強調を行う輪郭強調手段を備えた映像信号処理装置であ
って、請求項１乃至請求項９のいずれかに記載の欠損画
素検出補正装置から出力された欠損画素判定結果に基づ
いて、正常画素のみ前記輪郭強調手段によって輪郭強調
を行い、欠損画素は輪郭強調を行わないように切り替え
る切替手段を設けた構成を有している。この構成によ
り、正常画素と判定された画素だけに輪郭強調が施さ
れ、輪郭がはっきりした画像が得られることとなる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。
て、図面を用いて説明する。
【００２２】（第１実施形態）図１は本発明の第１実施
形態における欠損画素検出補正装置を示す。図２はその
欠損画素検出補正装置の補正検出エリア生成手段によっ
て生成された補正検出エリアの例を示す。図３はその欠
損画素検出補正装置の最大値・最小値検出手段の例を示
す。
形態における欠損画素検出補正装置を示す。図２はその
欠損画素検出補正装置の補正検出エリア生成手段によっ
て生成された補正検出エリアの例を示す。図３はその欠
損画素検出補正装置の最大値・最小値検出手段の例を示
す。
【００２３】図１において、本実施形態の欠損画素検出
補正装置は、固体撮像素子１に接続した補正検出エリア
生成手段３と、最大値・最小値検出手段５と、欠損画素
判定手段９と、切替手段１３とから構成されている。
補正装置は、固体撮像素子１に接続した補正検出エリア
生成手段３と、最大値・最小値検出手段５と、欠損画素
判定手段９と、切替手段１３とから構成されている。
【００２４】補正検出エリア生成手段３は、固体撮像素
子１が出力した撮像素子出力信号２から、図２に示すよ
うな、欠損画素であるか否かを調べる補正対象画素Ｉを
中心とした、上のライン５画素（画素Ａ〜画素Ｅ）、セ
ンタライン７画素（画素Ｆ〜画素Ｌ）および下のライン
５画素（画素Ｍ〜画素Ｑ）からなる補正検出エリアを順
次選択し、この補正検出エリア内にある補正対象画素Ｉ
および周辺画素（画素Ａ〜画素Ｈ、画素Ｊ〜画素Ｑ）そ
れぞれの値（信号レベル）を、補正検出エリア信号４と
して出力する。
子１が出力した撮像素子出力信号２から、図２に示すよ
うな、欠損画素であるか否かを調べる補正対象画素Ｉを
中心とした、上のライン５画素（画素Ａ〜画素Ｅ）、セ
ンタライン７画素（画素Ｆ〜画素Ｌ）および下のライン
５画素（画素Ｍ〜画素Ｑ）からなる補正検出エリアを順
次選択し、この補正検出エリア内にある補正対象画素Ｉ
および周辺画素（画素Ａ〜画素Ｈ、画素Ｊ〜画素Ｑ）そ
れぞれの値（信号レベル）を、補正検出エリア信号４と
して出力する。
【００２５】最大値・最小値検出手段５は、図３に示す
ように、周辺最大値６を検出する周辺最大値検出ブロッ
ク５１と、周辺最小値７を検出する周辺最小値検出ブロ
ック５２とから構成されている。周辺最大値検出ブロッ
ク５１は、補正検出エリア内において補正対象画素Ｉに
隣接した周辺画素（画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、画素Ｋ）
の値（ＬＧ、ＬＨ、ＬＪ、ＬＫ）の中の最小値と、補正
検出エリア内のその他の周辺画素（画素Ａ〜画素Ｆ、画
素Ｌ〜画素Ｑ）の値（ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥ、
ＬＦ、ＬＬ、ＬＭ、ＬＮ、ＬＯ、ＬＰ、ＬＱ）の中の最
大値とを比較して、より大きい値を周辺最大値６とす
る。また、周辺最小値検出ブロック５２は、補正検出エ
リア内において補正対象画素に隣接した周辺画素（画素
Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、画素Ｋ）の値（ＬＧ、ＬＨ、Ｌ
Ｊ、ＬＫ）の中の最大値と、補正検出エリア内のその他
の周辺画素（画素Ａ〜画素Ｆ、画素Ｌ〜画素Ｑ）の値
（ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥ、ＬＦ、ＬＬ、ＬＭ、
ＬＮ、ＬＯ、ＬＰ、ＬＱ）の中の最小値とを比較して、
より小さい値を周辺最小値７とする。
ように、周辺最大値６を検出する周辺最大値検出ブロッ
ク５１と、周辺最小値７を検出する周辺最小値検出ブロ
ック５２とから構成されている。周辺最大値検出ブロッ
ク５１は、補正検出エリア内において補正対象画素Ｉに
隣接した周辺画素（画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、画素Ｋ）
の値（ＬＧ、ＬＨ、ＬＪ、ＬＫ）の中の最小値と、補正
検出エリア内のその他の周辺画素（画素Ａ〜画素Ｆ、画
素Ｌ〜画素Ｑ）の値（ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥ、
ＬＦ、ＬＬ、ＬＭ、ＬＮ、ＬＯ、ＬＰ、ＬＱ）の中の最
大値とを比較して、より大きい値を周辺最大値６とす
る。また、周辺最小値検出ブロック５２は、補正検出エ
リア内において補正対象画素に隣接した周辺画素（画素
Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、画素Ｋ）の値（ＬＧ、ＬＨ、Ｌ
Ｊ、ＬＫ）の中の最大値と、補正検出エリア内のその他
の周辺画素（画素Ａ〜画素Ｆ、画素Ｌ〜画素Ｑ）の値
（ＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥ、ＬＦ、ＬＬ、ＬＭ、
ＬＮ、ＬＯ、ＬＰ、ＬＱ）の中の最小値とを比較して、
より小さい値を周辺最小値７とする。
【００２６】なお、周辺最大値６を検出する際、補正対
象画素に隣接した周辺画素（画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、
画素Ｋ）の値の中から最小値を求める理由は、補正対象
画素Ｉが白欠損画素であって、例えば画素Ｈおよび画素
Ｊにも欠損が広がっている場合、画素Ｈの値ＬＨや画素
Ｊの値ＬＪが大きくなっており、この値ＬＨまたは値Ｌ
Ｊを周辺最大値としてしまうと、補正対象画素が欠損画
素であるか否かを判定する際に欠損画素の検出精度が落
ちてしまうからである。本実施形態においては、仮に画
素Ｈまたは画素Ｊが白欠損画素であっても画素Ｇ、画素
Ｈ、画素Ｊ、画素Ｋの値の中から最小値を選択するよう
になっているので、画素Ｇの値または画素Ｋの値が選択
され、欠損画素の検出精度を上げることができることと
なる。また、周辺最小値７を検出する際、補正対象画素
に隣接した周辺画素（画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、画素
Ｋ）の値の中から最大値を求める理由は、補正対象画素
Ｉが黒欠損画素であって、例えば画素Ｈや画素Ｊにも欠
損が広がっている場合、画素Ｈの値ＬＨや画素Ｊの値Ｌ
Ｊが小さくなっており、この値ＬＨまたは値ＬＪを周辺
最小値としてしまうと、補正対象画素が欠損画素である
か否かを判定する際に欠損画素の検出精度が落ちてしま
うからである。本実施形態においては、仮に画素Ｈまた
は画素Ｊが黒欠損画素であっても、画素Ｇ、画素Ｈ、画
素Ｊ、画素Ｋの値の中から最大値を選択するようになっ
ているので、画素Ｇの値または画素Ｋの値が選択され、
欠損画素の検出精度を上げることができることとなる。
象画素に隣接した周辺画素（画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、
画素Ｋ）の値の中から最小値を求める理由は、補正対象
画素Ｉが白欠損画素であって、例えば画素Ｈおよび画素
Ｊにも欠損が広がっている場合、画素Ｈの値ＬＨや画素
Ｊの値ＬＪが大きくなっており、この値ＬＨまたは値Ｌ
Ｊを周辺最大値としてしまうと、補正対象画素が欠損画
素であるか否かを判定する際に欠損画素の検出精度が落
ちてしまうからである。本実施形態においては、仮に画
素Ｈまたは画素Ｊが白欠損画素であっても画素Ｇ、画素
Ｈ、画素Ｊ、画素Ｋの値の中から最小値を選択するよう
になっているので、画素Ｇの値または画素Ｋの値が選択
され、欠損画素の検出精度を上げることができることと
なる。また、周辺最小値７を検出する際、補正対象画素
に隣接した周辺画素（画素Ｇ、画素Ｈ、画素Ｊ、画素
Ｋ）の値の中から最大値を求める理由は、補正対象画素
Ｉが黒欠損画素であって、例えば画素Ｈや画素Ｊにも欠
損が広がっている場合、画素Ｈの値ＬＨや画素Ｊの値Ｌ
Ｊが小さくなっており、この値ＬＨまたは値ＬＪを周辺
最小値としてしまうと、補正対象画素が欠損画素である
か否かを判定する際に欠損画素の検出精度が落ちてしま
うからである。本実施形態においては、仮に画素Ｈまた
は画素Ｊが黒欠損画素であっても、画素Ｇ、画素Ｈ、画
素Ｊ、画素Ｋの値の中から最大値を選択するようになっ
ているので、画素Ｇの値または画素Ｋの値が選択され、
欠損画素の検出精度を上げることができることとなる。
【００２７】欠損画素判定手段９は、周辺最大値６と周
辺最小値７と補正対象画素値８とに基づいて、補正対象
画素が欠損画素であるか否かを判定する。まず、補正対
象画素値８と周辺最大値６との差分値（補正対象画素値
８−周辺最大値６）を計算し、この差分値と外部から設
定された閾値１０とを比較する。比較した結果、差分値
が閾値１０より大きいとき、補正対象画素値８が補正検
出エリア内の周辺画素の値と比べて突出して大きいこと
になり、補正対象画素Ｉは白欠損画素であると判定す
る。また、差分値が閾値１０より小さいとき、次に、周
辺最小値７と補正対象画素値８との差分値（周辺最小値
７−補正対象画素値８）を計算し、この差分値と外部か
ら設定された閾値１０とを比較する。比較した結果、差
分値が閾値１０より大きいとき、補正対象画素値８が補
正検出エリア内のその他の周辺画素の値と比べて突出し
て小さいことになり、補正対象画素Ｉは黒欠損画素であ
ると判定する。
辺最小値７と補正対象画素値８とに基づいて、補正対象
画素が欠損画素であるか否かを判定する。まず、補正対
象画素値８と周辺最大値６との差分値（補正対象画素値
８−周辺最大値６）を計算し、この差分値と外部から設
定された閾値１０とを比較する。比較した結果、差分値
が閾値１０より大きいとき、補正対象画素値８が補正検
出エリア内の周辺画素の値と比べて突出して大きいこと
になり、補正対象画素Ｉは白欠損画素であると判定す
る。また、差分値が閾値１０より小さいとき、次に、周
辺最小値７と補正対象画素値８との差分値（周辺最小値
７−補正対象画素値８）を計算し、この差分値と外部か
ら設定された閾値１０とを比較する。比較した結果、差
分値が閾値１０より大きいとき、補正対象画素値８が補
正検出エリア内のその他の周辺画素の値と比べて突出し
て小さいことになり、補正対象画素Ｉは黒欠損画素であ
ると判定する。
【００２８】欠損画素判定手段９は、補正対象画素が白
欠損画素または黒欠損画素であると判定した場合、欠損
画素判定信号１２を出力する。また、欠損画素判定手段
９は、補正対象画素が白欠損画素であると判定したと
き、周辺最大値６を補正値１１として出力し、補正対象
画素が黒欠損画素であると判定したとき、周辺最小値７
を補正値１１として出力する。
欠損画素または黒欠損画素であると判定した場合、欠損
画素判定信号１２を出力する。また、欠損画素判定手段
９は、補正対象画素が白欠損画素であると判定したと
き、周辺最大値６を補正値１１として出力し、補正対象
画素が黒欠損画素であると判定したとき、周辺最小値７
を補正値１１として出力する。
【００２９】切替手段１３は、欠損画素判定信号１２に
応じて、補正対象画素Ｉが白欠損画素であるとき、補正
対象画素値８を周辺最大値６に切り替えて欠損画素補正
出力信号１４として出力し、補正対象画素Ｉが黒欠損画
素であるとき、補正対象画素値８を周辺最小値７に切り
替えて欠損画素補正出力信号１４として出力し、補正対
象画素Ｉが欠損画素でないとき、補正対象画素値８を欠
損画素補正出力信号１４として出力する。
応じて、補正対象画素Ｉが白欠損画素であるとき、補正
対象画素値８を周辺最大値６に切り替えて欠損画素補正
出力信号１４として出力し、補正対象画素Ｉが黒欠損画
素であるとき、補正対象画素値８を周辺最小値７に切り
替えて欠損画素補正出力信号１４として出力し、補正対
象画素Ｉが欠損画素でないとき、補正対象画素値８を欠
損画素補正出力信号１４として出力する。
【００３０】前述した構成により、本実施形態の欠損画
素検出補正装置は、欠損画素の座標を予め調べてメモリ
に書き込む必要がなく、また、リアルタイムに欠損画素
を検出して補正することができ、出荷後に発生してしま
った欠損画素であっても検出して補正することができる
こととなる。
素検出補正装置は、欠損画素の座標を予め調べてメモリ
に書き込む必要がなく、また、リアルタイムに欠損画素
を検出して補正することができ、出荷後に発生してしま
った欠損画素であっても検出して補正することができる
こととなる。
【００３１】また、本実施形態の欠損画素検出補正装置
は、補正対象画素の隣の画素が信号レベルの高い欠損画
素（白欠損画素）であっても、周辺最大値に欠損画素の
値が選択されることを防ぐことができ、また、補正対象
画素の隣の画素が信号レベルの低い欠損画素（黒欠損画
素）であっても、周辺最小値に欠損画素の値が選択され
ることを防ぐことができ、欠損画素を検出して補正する
ことができることとなる。
は、補正対象画素の隣の画素が信号レベルの高い欠損画
素（白欠損画素）であっても、周辺最大値に欠損画素の
値が選択されることを防ぐことができ、また、補正対象
画素の隣の画素が信号レベルの低い欠損画素（黒欠損画
素）であっても、周辺最小値に欠損画素の値が選択され
ることを防ぐことができ、欠損画素を検出して補正する
ことができることとなる。
【００３２】（第２実施形態）図４は本発明の第２実施
形態における欠損画素検出補正装置を示す。なお、図１
に示す第１実施形態の構成要件と同じ構成要件は、同じ
符号としてある。
形態における欠損画素検出補正装置を示す。なお、図１
に示す第１実施形態の構成要件と同じ構成要件は、同じ
符号としてある。
【００３３】図４において、本実施形態の欠損画素検出
補正装置は、第１実施形態の欠損画素検出補正装置に対
して、周辺最大値と周辺最小値との差分値に応じて複数
の閾値候補の中から選択した閾値を出力する閾値切替手
段４１を追加したものである。
補正装置は、第１実施形態の欠損画素検出補正装置に対
して、周辺最大値と周辺最小値との差分値に応じて複数
の閾値候補の中から選択した閾値を出力する閾値切替手
段４１を追加したものである。
【００３４】閾値切替手段４１は、周辺最大値６と周辺
最小値７との差分値を計算し、閾値切替手段４１に複数
入力された閾値候補（閾値第１候補、閾値第２候補、
…、閾値第Ｎ候補）から差分値に応じた閾値を選択し
て、欠損画素判定手段９に出力するようになっている。
具体的には、周辺最大値６と周辺最小値７との差分値が
大きいとき、差分値に応じた大きな値の閾値候補を選択
し、また周辺最大値６と周辺最小値７との差分値が小さ
いとき、差分値に応じた小さな値の閾値候補を選択す
る。
最小値７との差分値を計算し、閾値切替手段４１に複数
入力された閾値候補（閾値第１候補、閾値第２候補、
…、閾値第Ｎ候補）から差分値に応じた閾値を選択し
て、欠損画素判定手段９に出力するようになっている。
具体的には、周辺最大値６と周辺最小値７との差分値が
大きいとき、差分値に応じた大きな値の閾値候補を選択
し、また周辺最大値６と周辺最小値７との差分値が小さ
いとき、差分値に応じた小さな値の閾値候補を選択す
る。
【００３５】したがって、本実施形態の欠損画素検出補
正装置は、補正検出エリア内の画素値のばらつきが大き
いとき、間違って正常画素を欠損画素と判定しないよう
にすることができ、また、補正検出エリア内の画素値の
ばらつきが小さいとき、欠損画素を見逃さないで検出す
るようにすることができ、欠損画素の検出精度を向上す
ることができることとなる。
正装置は、補正検出エリア内の画素値のばらつきが大き
いとき、間違って正常画素を欠損画素と判定しないよう
にすることができ、また、補正検出エリア内の画素値の
ばらつきが小さいとき、欠損画素を見逃さないで検出す
るようにすることができ、欠損画素の検出精度を向上す
ることができることとなる。
【００３６】（第３実施形態）図５は本発明の第２実施
形態における欠損画素検出補正装置を示す。なお、図１
に示す第１実施形態の構成要件と同じ構成要件は、同じ
符号としてある。
形態における欠損画素検出補正装置を示す。なお、図１
に示す第１実施形態の構成要件と同じ構成要件は、同じ
符号としてある。
【００３７】図５において、本実施形態の欠損画素検出
補正装置は、第１実施形態の欠損画素検出補正装置に対
して、周辺画素の平均値を計算する画素平均計算手段５
１と、周辺画素の平均値に応じて複数の閾値候補の中か
ら選択した閾値を出力する閾値切替手段５２とを追加し
たものである。
補正装置は、第１実施形態の欠損画素検出補正装置に対
して、周辺画素の平均値を計算する画素平均計算手段５
１と、周辺画素の平均値に応じて複数の閾値候補の中か
ら選択した閾値を出力する閾値切替手段５２とを追加し
たものである。
【００３８】明るい画像では白欠損画素の検出が難しく
黒欠損画素の検出は容易で、逆に暗い画像では白欠損画
素の検出は容易で黒欠損画素の検出は難しい。また、同
一の画像でも明るい画像のところと暗い画像のところが
ある。しかしながら、本実施形態の欠損画素検出補正装
置は、それぞれの補正検出エリアにおいて、画素平均計
算手段５１が、周辺画素の値の平均値を計算し、閾値切
替手段５２が、閾値切替手段５２に複数入力された閾値
候補（閾値第１候補、閾値第２候補、…、閾値第Ｎ候
補）から平均値に応じた閾値を選択して、欠損画素判定
手段９に出力するようになっている。具体的には、明る
い部分、すなわち平均値の大きいところは平均値に応じ
て小さな値の閾値候補を選択し、暗い部分、すなわち平
均値の小さいところは平均値に応じた大きな値の閾値候
補を選択する。
黒欠損画素の検出は容易で、逆に暗い画像では白欠損画
素の検出は容易で黒欠損画素の検出は難しい。また、同
一の画像でも明るい画像のところと暗い画像のところが
ある。しかしながら、本実施形態の欠損画素検出補正装
置は、それぞれの補正検出エリアにおいて、画素平均計
算手段５１が、周辺画素の値の平均値を計算し、閾値切
替手段５２が、閾値切替手段５２に複数入力された閾値
候補（閾値第１候補、閾値第２候補、…、閾値第Ｎ候
補）から平均値に応じた閾値を選択して、欠損画素判定
手段９に出力するようになっている。具体的には、明る
い部分、すなわち平均値の大きいところは平均値に応じ
て小さな値の閾値候補を選択し、暗い部分、すなわち平
均値の小さいところは平均値に応じた大きな値の閾値候
補を選択する。
【００３９】したがって、本実施形態の欠損画素検出補
正装置は、欠損画素の検出精度を向上することができる
こととなる。
正装置は、欠損画素の検出精度を向上することができる
こととなる。
【００４０】（第４実施形態）図６は本発明の第４実施
形態における欠損画素検出補正装置を示す。なお、図１
に示す第１実施形態の構成要件と同じ構成要件は、同じ
符号としてある。
形態における欠損画素検出補正装置を示す。なお、図１
に示す第１実施形態の構成要件と同じ構成要件は、同じ
符号としてある。
【００４１】図６において、本実施形態の欠損画素検出
補正装置は、同一の被写体を撮像した複数の固体撮像素
子１からの撮像素子出力信号２によって欠損画素判定を
行うようになっている。また、本実施形態の欠損画素検
出補正装置は、補正検出エリア生成手段３と、最大値・
最小値検出手段５と、欠損画素判定手段９と、切替手段
１３とをそれぞれ２つ備える。また、本実施形態の欠損
画素検出補正装置は、固体撮像素子１毎に補正対象画素
が欠損画素であるか否かを判定した複数の欠陥画素判定
信号１２の組み合わせによって、補正対象画素が欠損画
素であるか否かを最終的に判定する欠損画素相互判定手
段６１（第２の欠損画素判定手段）を備える。
補正装置は、同一の被写体を撮像した複数の固体撮像素
子１からの撮像素子出力信号２によって欠損画素判定を
行うようになっている。また、本実施形態の欠損画素検
出補正装置は、補正検出エリア生成手段３と、最大値・
最小値検出手段５と、欠損画素判定手段９と、切替手段
１３とをそれぞれ２つ備える。また、本実施形態の欠損
画素検出補正装置は、固体撮像素子１毎に補正対象画素
が欠損画素であるか否かを判定した複数の欠陥画素判定
信号１２の組み合わせによって、補正対象画素が欠損画
素であるか否かを最終的に判定する欠損画素相互判定手
段６１（第２の欠損画素判定手段）を備える。
【００４２】欠損画素相互判定手段６１は、欠損画素判
定信号１２を同じ座標の補正対象画素ごとに比較して、
２つ以上の欠損画素判定信号１２が共に欠損画素である
とした判定であるとき、座標に対してランダムに発生す
る欠損画素が同じ座標にあることは確率的に非常に低い
ため、補正対象画素は欠損画素でないとする判定に置き
換えて、欠損画素判定信号１２を切替手段１３に対して
出力しないようになっている。
定信号１２を同じ座標の補正対象画素ごとに比較して、
２つ以上の欠損画素判定信号１２が共に欠損画素である
とした判定であるとき、座標に対してランダムに発生す
る欠損画素が同じ座標にあることは確率的に非常に低い
ため、補正対象画素は欠損画素でないとする判定に置き
換えて、欠損画素判定信号１２を切替手段１３に対して
出力しないようになっている。
【００４３】したがって、本実施形態の欠陥画素補正装
置は、画像の輪郭部分にある正常画素を欠損画素と誤検
出してしまうことを防ぐことができることとなる。
置は、画像の輪郭部分にある正常画素を欠損画素と誤検
出してしまうことを防ぐことができることとなる。
【００４４】（第５実施形態）図７は本発明の第５実施
形態における欠損画素検出補正装置を示す。図８はその
欠損画素検出補正装置の比率平均計算手段および比較手
段の動作を説明するための図である。
形態における欠損画素検出補正装置を示す。図８はその
欠損画素検出補正装置の比率平均計算手段および比較手
段の動作を説明するための図である。
【００４５】図７において、本実施形態の欠損画素検出
補正装置は、固体撮像素子１に接続した補正検出エリア
生成手段３と、比率平均計算手段７１と、比較手段７３
と、補正手段７４とから構成されている。
補正装置は、固体撮像素子１に接続した補正検出エリア
生成手段３と、比率平均計算手段７１と、比較手段７３
と、補正手段７４とから構成されている。
【００４６】本実施形態は、同一の被写体を複数の固体
撮像素子１で撮像して得られた撮像素子出力信号２によ
って欠損画素判定を行う。まず、一方の固体撮像素子１
の撮像素子出力信号２について、補正検出エリア生成手
段３によって、図８の（ａ）に示すような補正検出エリ
アを生成し、この補正検出エリア内の画素（画素Ａ１〜
画素Ｑ１）の値（ＬＡ１〜ＬＱ１）を補正検出エリア信
号４として出力する。他方の固体撮像素子の撮像素子出
力信号についても、図８の（ｂ）に示すように、同一座
標の補正検出エリアを生成し、この補正検出エリア内の
画素（画素Ａ２〜画素Ｑ２）の値（ＬＡ２〜ＬＱ２）を
補正検出エリア信号７２として出力する。次に、比率平
均計算手段７１によって、図８の（ｃ）に示すように、
一方の固体撮像素子の撮像素子出力信号２についての補
正検出エリア信号４と他方の固体撮像素子の撮像素子出
力信号についての補正検出エリア信号７２とにおいて、
同一座標の画素毎に比率を計算し、その平均ＡＶＥ（比
率平均）を求める。次に、比較手段７３によって、補正
対象画素Ｉの比率、および、補正対象画素Ｉの左右に隣
接する画素Ｈおよび画素Ｊそれぞれの比率が、比率平均
ＡＶＥに比べて極端に大きいかどうか比較し、画素Ｈ、
画素Ｉ、画素Ｊのなかで比率平均ＡＶＥに比べて極端に
比率が大きい画素があったとき、その画素は欠損画素で
あると判定する。ここで、画素Ｈおよび画素Ｊについて
も比較を行うのは、連続欠損を調べるためである。次
に、補正手段７４によって、欠損画素と判定された画素
のみ、比率平均ＡＶＥと他方の固体撮像素子における同
一座標の画素の値との積に値を置き換えることによっ
て、欠損画素を補正する。
撮像素子１で撮像して得られた撮像素子出力信号２によ
って欠損画素判定を行う。まず、一方の固体撮像素子１
の撮像素子出力信号２について、補正検出エリア生成手
段３によって、図８の（ａ）に示すような補正検出エリ
アを生成し、この補正検出エリア内の画素（画素Ａ１〜
画素Ｑ１）の値（ＬＡ１〜ＬＱ１）を補正検出エリア信
号４として出力する。他方の固体撮像素子の撮像素子出
力信号についても、図８の（ｂ）に示すように、同一座
標の補正検出エリアを生成し、この補正検出エリア内の
画素（画素Ａ２〜画素Ｑ２）の値（ＬＡ２〜ＬＱ２）を
補正検出エリア信号７２として出力する。次に、比率平
均計算手段７１によって、図８の（ｃ）に示すように、
一方の固体撮像素子の撮像素子出力信号２についての補
正検出エリア信号４と他方の固体撮像素子の撮像素子出
力信号についての補正検出エリア信号７２とにおいて、
同一座標の画素毎に比率を計算し、その平均ＡＶＥ（比
率平均）を求める。次に、比較手段７３によって、補正
対象画素Ｉの比率、および、補正対象画素Ｉの左右に隣
接する画素Ｈおよび画素Ｊそれぞれの比率が、比率平均
ＡＶＥに比べて極端に大きいかどうか比較し、画素Ｈ、
画素Ｉ、画素Ｊのなかで比率平均ＡＶＥに比べて極端に
比率が大きい画素があったとき、その画素は欠損画素で
あると判定する。ここで、画素Ｈおよび画素Ｊについて
も比較を行うのは、連続欠損を調べるためである。次
に、補正手段７４によって、欠損画素と判定された画素
のみ、比率平均ＡＶＥと他方の固体撮像素子における同
一座標の画素の値との積に値を置き換えることによっ
て、欠損画素を補正する。
【００４７】したがって、本実施形態の欠陥画素補正装
置は、欠損画素の検出精度を向上することができること
となる。
置は、欠損画素の検出精度を向上することができること
となる。
【００４８】（第６実施形態）図９は本発明の第６実施
形態における欠損画素検出補正装置を示す。
形態における欠損画素検出補正装置を示す。
【００４９】図９において、本実施形態の欠損画素検出
補正装置は、固体撮像素子１に接続した補正検出エリア
生成手段３と、比率計算手段９１と、比較手段９３と、
補正手段９４とから構成されている。
補正装置は、固体撮像素子１に接続した補正検出エリア
生成手段３と、比率計算手段９１と、比較手段９３と、
補正手段９４とから構成されている。
【００５０】本実施形態は、同一の被写体を複数の固体
撮像素子１で撮像して得られた撮像素子出力信号２によ
って欠損画素判定を行う。まず、一方の固体撮像素子１
の撮像素子出力信号２について、補正検出エリア生成手
段３によって、補正対象画素とこの補正対象画素の周辺
に位置する複数の周辺画素とを有した補正検出エリアを
生成し、この補正検出エリア内の画素の値を補正検出エ
リア信号４として出力する。次に、比率計算手段９１に
よって、他の固定撮像素子の補正検出エリア信号９２も
用いて、一方の前記個体撮像素子の出力と他方の前記固
体撮像素子の出力との比率を同一座標の画素毎に計算
し、補正対象画素比率９６、周辺画素の比率最大値９
７、周辺画素の比率最小値９８を求める。次に、比較手
段９３によって、補正対象画素画素比率９６が周辺画素
の比率最大値９７と周辺画素の比率最小値９８との範囲
内に入っているか否かを判定し、補正対象画素比率９６
が範囲外の値であったとき、補正対象画素は欠損画素と
判定し、判定結果９９を出力する。次に、補正手段９４
によって、欠損画素と判定された補正対象画素の値を、
比率最大値９７と比率最小値９８との平均値に置き換え
る。
撮像素子１で撮像して得られた撮像素子出力信号２によ
って欠損画素判定を行う。まず、一方の固体撮像素子１
の撮像素子出力信号２について、補正検出エリア生成手
段３によって、補正対象画素とこの補正対象画素の周辺
に位置する複数の周辺画素とを有した補正検出エリアを
生成し、この補正検出エリア内の画素の値を補正検出エ
リア信号４として出力する。次に、比率計算手段９１に
よって、他の固定撮像素子の補正検出エリア信号９２も
用いて、一方の前記個体撮像素子の出力と他方の前記固
体撮像素子の出力との比率を同一座標の画素毎に計算
し、補正対象画素比率９６、周辺画素の比率最大値９
７、周辺画素の比率最小値９８を求める。次に、比較手
段９３によって、補正対象画素画素比率９６が周辺画素
の比率最大値９７と周辺画素の比率最小値９８との範囲
内に入っているか否かを判定し、補正対象画素比率９６
が範囲外の値であったとき、補正対象画素は欠損画素と
判定し、判定結果９９を出力する。次に、補正手段９４
によって、欠損画素と判定された補正対象画素の値を、
比率最大値９７と比率最小値９８との平均値に置き換え
る。
【００５１】したがって、本実施形態の欠陥画素補正装
置は、画像の輪郭部分にある正常画素を欠損画素と誤検
出してしまうことを防ぐことができることとなる。
置は、画像の輪郭部分にある正常画素を欠損画素と誤検
出してしまうことを防ぐことができることとなる。
【００５２】（第７実施形態）図１０は本発明の第７実
施形態における欠損画素補正方法を示す。以下、図１０
を用いて本発明の第７実施形態における欠損画素補正方
法を説明する。
施形態における欠損画素補正方法を示す。以下、図１０
を用いて本発明の第７実施形態における欠損画素補正方
法を説明する。
【００５３】なお、本実施形態の欠損画素補正方法は、
固体撮像素子の出力において補正対象画素とこの補正対
象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有したエリ
アを選択する補正検出エリア生成手段と、周辺画素につ
いて最大値および最小値を検出する最大値・最小値検出
手段と、値の比較を行う比較手段と、補正対象画素の値
を補正する補正手段とを備えた装置を用いて行う。
固体撮像素子の出力において補正対象画素とこの補正対
象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有したエリ
アを選択する補正検出エリア生成手段と、周辺画素につ
いて最大値および最小値を検出する最大値・最小値検出
手段と、値の比較を行う比較手段と、補正対象画素の値
を補正する補正手段とを備えた装置を用いて行う。
【００５４】まず、補正検出エリア生成手段によって、
図２に示すような、補正対象画素Ｉとこの補正対象画素
Ｉの周辺に位置する複数の周辺画素とを有した補正検出
エリアを生成する（Ｓ１１）。次に、最大値・最小値検
出手段によって、図１０のＳ１２のステップに示した式
を用いて、補正検出エリア内の周辺最大値と周辺最小値
とを求める（Ｓ１２）。なお、図１０のＳ１２のステッ
プに示したＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥ、ＬＦ、Ｌ
Ｇ、ＬＨ、ＬＪ、ＬＫ、ＬＬ、ＬＭ、ＬＮ、ＬＯ、Ｌ
Ｐ、ＬＱは、図２に示す補正検出エリアの周辺画素Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｊ、Ｋ、Ｌ、Ｍ、Ｎ、
Ｏ、Ｐ、Ｑそれぞれの値（信号レベル）を示す。また、
補正対象画素Ｉは値がＬＩである。次に、比較手段によ
って、白欠損画素検出を行う（Ｓ１３）。具体的には、
補正対象画素の値と周辺最大値との差分を取り、あらか
じめ設定されている閾値と比較する。Ｓ１３のステップ
において、差分が閾値よりも小さい値でなかったとき、
補正対象画素は補正検出エリアの中で突出して大きい値
であり、すなわち補正対象画素は白欠損画素であると判
定する。次に、比較手段によって、黒欠損画素検出を行
う（Ｓ１４）。具体的には、補正対象画素の値と周辺最
小値との差分を取り、あらかじめ設定されている閾値と
比較する。Ｓ１４のステップにおいて、差分が閾値より
も小さい値でなかったとき、補正対象画素は補正検出エ
リアの中で突出して小さい値であり、すなわち補正対象
画素は黒欠損画素であると判定する。補正対象画素が白
欠損画素であると判定したとき、補正手段によって、補
正対象画素の値を周辺最大値に置き換えることにより、
白欠損画素を補正する（Ｓ１６）。また、補正対象画素
が黒欠損画素であると判定したとき、補正手段によっ
て、補正対象画素の値を周辺最小値に置き換えることに
より、黒欠損画素を補正する。
図２に示すような、補正対象画素Ｉとこの補正対象画素
Ｉの周辺に位置する複数の周辺画素とを有した補正検出
エリアを生成する（Ｓ１１）。次に、最大値・最小値検
出手段によって、図１０のＳ１２のステップに示した式
を用いて、補正検出エリア内の周辺最大値と周辺最小値
とを求める（Ｓ１２）。なお、図１０のＳ１２のステッ
プに示したＬＡ、ＬＢ、ＬＣ、ＬＤ、ＬＥ、ＬＦ、Ｌ
Ｇ、ＬＨ、ＬＪ、ＬＫ、ＬＬ、ＬＭ、ＬＮ、ＬＯ、Ｌ
Ｐ、ＬＱは、図２に示す補正検出エリアの周辺画素Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｊ、Ｋ、Ｌ、Ｍ、Ｎ、
Ｏ、Ｐ、Ｑそれぞれの値（信号レベル）を示す。また、
補正対象画素Ｉは値がＬＩである。次に、比較手段によ
って、白欠損画素検出を行う（Ｓ１３）。具体的には、
補正対象画素の値と周辺最大値との差分を取り、あらか
じめ設定されている閾値と比較する。Ｓ１３のステップ
において、差分が閾値よりも小さい値でなかったとき、
補正対象画素は補正検出エリアの中で突出して大きい値
であり、すなわち補正対象画素は白欠損画素であると判
定する。次に、比較手段によって、黒欠損画素検出を行
う（Ｓ１４）。具体的には、補正対象画素の値と周辺最
小値との差分を取り、あらかじめ設定されている閾値と
比較する。Ｓ１４のステップにおいて、差分が閾値より
も小さい値でなかったとき、補正対象画素は補正検出エ
リアの中で突出して小さい値であり、すなわち補正対象
画素は黒欠損画素であると判定する。補正対象画素が白
欠損画素であると判定したとき、補正手段によって、補
正対象画素の値を周辺最大値に置き換えることにより、
白欠損画素を補正する（Ｓ１６）。また、補正対象画素
が黒欠損画素であると判定したとき、補正手段によっ
て、補正対象画素の値を周辺最小値に置き換えることに
より、黒欠損画素を補正する。
【００５５】なお、前述した図１０に示す欠損画素補正
方法は、コンピュータを前記補正検出エリア生成手段
と、前記最大値・最小値検出手段と、前記比較手段と、
前記補正手段として機能させるプログラムによって実現
するようにしてもよい。
方法は、コンピュータを前記補正検出エリア生成手段
と、前記最大値・最小値検出手段と、前記比較手段と、
前記補正手段として機能させるプログラムによって実現
するようにしてもよい。
【００５６】（第８実施形態）図１１は本発明の第８実
施形態における欠損画素補正方法を示す。以下、図１１
を用いて本発明の第８実施形態における欠損画素補正方
法を説明する。
施形態における欠損画素補正方法を示す。以下、図１１
を用いて本発明の第８実施形態における欠損画素補正方
法を説明する。
【００５７】なお、本実施形態の欠損画素補正方法は、
固体撮像素子の出力において補正対象画素とこの補正対
象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有したエリ
アを選択する補正検出エリア生成手段と、比率および比
率の平均を計算する平均計算手段と、値の比較を行う比
較手段と、補正対象画素の値を補正する補正手段とを備
えた装置を用いて行う。
固体撮像素子の出力において補正対象画素とこの補正対
象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを有したエリ
アを選択する補正検出エリア生成手段と、比率および比
率の平均を計算する平均計算手段と、値の比較を行う比
較手段と、補正対象画素の値を補正する補正手段とを備
えた装置を用いて行う。
【００５８】本実施形態は、同一の被写体を複数の固体
撮像素子を用いて撮像して得られた撮像素子出力信号よ
って欠損画素判定を行う。まず、一方の固体撮像素子の
撮像素子出力信号について、補正検出エリア生成手段に
よって、図２に示すような、補正対象画素Ｉとこの補正
対象画素Ｉの周辺に位置する複数の周辺画素とを有した
補正検出エリアを生成する（Ｓ２１）。他方の固体撮像
素子の撮像素子出力信号についても、同様に、同一座標
の補正検出エリアを生成する。次に、比率平均計算手段
によって、図８に示すように、一方の固体撮像素子の撮
像素子出力信号についての補正検出エリアと他方の固体
撮像素子の撮像素子出力信号についての補正検出エリア
とにおいて、同一座標の画素毎に値の比率を計算し、そ
の平均ＡＶＥ（比率平均）を求める（Ｓ２２）。なお、
図１１に示したＬＡ１〜ＬＱ１、ＬＡ２〜ＬＱ２は、図
８の（ａ）に示す一方の固体撮像素子で撮像した画像に
おける補正検出エリア内の画素Ａ１〜Ｑ１または図８の
（ｂ）に示す他方の固体撮像素子で撮像した画像におけ
る補正検出エリア内の画素Ａ２〜Ｑ２それぞれの値を示
す。次に、比較手段によって、補正対象画素の比率ＬＩ
１／ＬＩ２、および、補正対象画素の左右に隣接する画
素のそれぞれの比率ＬＨ１／ＬＨ２、ＬＪ１／ＬＪ２
が、Ｓ２２のステップで求めた比率平均ＡＶＥと比べて
極端に大きいかどうか比較し、比率平均ＡＶＥに比べて
極端に比率が大きい画素があったとき、その画素は欠損
画素であると判定する（Ｓ２３）。ここで、補正対象画
素の左右に隣接する画素についても比較を行うのは、連
続欠損を調べるためである。次に、補正手段によって、
欠損画素と判定された画素のみ比率平均ＡＶＥと他方の
固体撮像素子における同一座標の画素の値との積に値を
置き換えることによって、欠損画素を補正する（Ｓ２
４）。
撮像素子を用いて撮像して得られた撮像素子出力信号よ
って欠損画素判定を行う。まず、一方の固体撮像素子の
撮像素子出力信号について、補正検出エリア生成手段に
よって、図２に示すような、補正対象画素Ｉとこの補正
対象画素Ｉの周辺に位置する複数の周辺画素とを有した
補正検出エリアを生成する（Ｓ２１）。他方の固体撮像
素子の撮像素子出力信号についても、同様に、同一座標
の補正検出エリアを生成する。次に、比率平均計算手段
によって、図８に示すように、一方の固体撮像素子の撮
像素子出力信号についての補正検出エリアと他方の固体
撮像素子の撮像素子出力信号についての補正検出エリア
とにおいて、同一座標の画素毎に値の比率を計算し、そ
の平均ＡＶＥ（比率平均）を求める（Ｓ２２）。なお、
図１１に示したＬＡ１〜ＬＱ１、ＬＡ２〜ＬＱ２は、図
８の（ａ）に示す一方の固体撮像素子で撮像した画像に
おける補正検出エリア内の画素Ａ１〜Ｑ１または図８の
（ｂ）に示す他方の固体撮像素子で撮像した画像におけ
る補正検出エリア内の画素Ａ２〜Ｑ２それぞれの値を示
す。次に、比較手段によって、補正対象画素の比率ＬＩ
１／ＬＩ２、および、補正対象画素の左右に隣接する画
素のそれぞれの比率ＬＨ１／ＬＨ２、ＬＪ１／ＬＪ２
が、Ｓ２２のステップで求めた比率平均ＡＶＥと比べて
極端に大きいかどうか比較し、比率平均ＡＶＥに比べて
極端に比率が大きい画素があったとき、その画素は欠損
画素であると判定する（Ｓ２３）。ここで、補正対象画
素の左右に隣接する画素についても比較を行うのは、連
続欠損を調べるためである。次に、補正手段によって、
欠損画素と判定された画素のみ比率平均ＡＶＥと他方の
固体撮像素子における同一座標の画素の値との積に値を
置き換えることによって、欠損画素を補正する（Ｓ２
４）。
【００５９】なお、前述した図１１に示す欠損画素補正
方法は、コンピュータを前記補正検出エリア生成手段
と、前記比率平均計算手段と、前記比較手段と、前記補
正手段として機能させるプログラムによって実現するよ
うにしてもよい。
方法は、コンピュータを前記補正検出エリア生成手段
と、前記比率平均計算手段と、前記比較手段と、前記補
正手段として機能させるプログラムによって実現するよ
うにしてもよい。
【００６０】（第９実施形態）図１２は本発明の一実施
形態の映像信号処理装置を示す。
形態の映像信号処理装置を示す。
【００６１】本実施形態の映像信号処理装置は、固体撮
像素子１と、欠損画素検出補正装置１２１と、輪郭強調
装置１２２とから構成されている。また、輪郭強調装置
１２２は、輪郭強調画素選択手段１２３と輪郭強調手段
１２４と切替手段１２５とを有している。
像素子１と、欠損画素検出補正装置１２１と、輪郭強調
装置１２２とから構成されている。また、輪郭強調装置
１２２は、輪郭強調画素選択手段１２３と輪郭強調手段
１２４と切替手段１２５とを有している。
【００６２】図１２において、欠損画素検出補正装置１
２１は、前述した第１実施形態〜第８実施形態のいずれ
かにおいて説明した欠損画素検出補正装置である。この
欠損画素検出補正装置１２１は、補正対象画素が欠損画
素であると判定したとき、補正対象画素が欠損画素であ
ることを示す欠損画素判定信号１２を、輪郭強調装置１
２２の輪郭強調画素選択手段１２３に対して出力すると
ともに、補正対象画素の値を補正した欠損画素補正出力
信号１４を、輪郭強調装置１２２の輪郭強調手段１２３
に対して出力する。
２１は、前述した第１実施形態〜第８実施形態のいずれ
かにおいて説明した欠損画素検出補正装置である。この
欠損画素検出補正装置１２１は、補正対象画素が欠損画
素であると判定したとき、補正対象画素が欠損画素であ
ることを示す欠損画素判定信号１２を、輪郭強調装置１
２２の輪郭強調画素選択手段１２３に対して出力すると
ともに、補正対象画素の値を補正した欠損画素補正出力
信号１４を、輪郭強調装置１２２の輪郭強調手段１２３
に対して出力する。
【００６３】輪郭強調装置１２２の輪郭強調画素選択手
段１２３は、欠損画素補正出力信号１４との遅延量の調
整などを行った切替信号１２６を、輪郭強調装置１２２
の輪郭強調装置１２２の切替手段１２５に対して出力す
る。輪郭強調装置１２２の輪郭強調手段１２４は、欠損
画素補正出力信号１４に対して輪郭強調を行う。輪郭強
調装置１２２の切替手段１２５は、切替信号１２６に基
づいて、輪郭強調されていない欠損画素補正出力信号１
４、または、輪郭強調装置１２２の輪郭強調手段１２４
よって輪郭強調された欠損画素補正出力信号１４を輪郭
強調画素出力信号１２７として出力する。切替手段１２
５は、具体的には、欠損画素検出補正装置１２１によっ
て補正対象画素が欠損画素でないと判定されたとき、輪
郭強調手段１２４よって輪郭強調された欠損画素補正出
力信号１４を出力し、欠損画素検出補正装置１２１によ
って補正対象画素が欠損画素であると判定されたとき、
輪郭強調手段１２４よって輪郭強調された欠損画素補正
出力信号１４は出力せず、欠損画素検出補正装置１２１
からの欠損画素補正出力信号１４をそのまま出力する。
段１２３は、欠損画素補正出力信号１４との遅延量の調
整などを行った切替信号１２６を、輪郭強調装置１２２
の輪郭強調装置１２２の切替手段１２５に対して出力す
る。輪郭強調装置１２２の輪郭強調手段１２４は、欠損
画素補正出力信号１４に対して輪郭強調を行う。輪郭強
調装置１２２の切替手段１２５は、切替信号１２６に基
づいて、輪郭強調されていない欠損画素補正出力信号１
４、または、輪郭強調装置１２２の輪郭強調手段１２４
よって輪郭強調された欠損画素補正出力信号１４を輪郭
強調画素出力信号１２７として出力する。切替手段１２
５は、具体的には、欠損画素検出補正装置１２１によっ
て補正対象画素が欠損画素でないと判定されたとき、輪
郭強調手段１２４よって輪郭強調された欠損画素補正出
力信号１４を出力し、欠損画素検出補正装置１２１によ
って補正対象画素が欠損画素であると判定されたとき、
輪郭強調手段１２４よって輪郭強調された欠損画素補正
出力信号１４は出力せず、欠損画素検出補正装置１２１
からの欠損画素補正出力信号１４をそのまま出力する。
【００６４】したがって、本実施形態の映像信号処理装
置は、正常画素と判定された画素だけに輪郭強調が施さ
れ、輪郭がはっきりした画像が得られることとなる。
置は、正常画素と判定された画素だけに輪郭強調が施さ
れ、輪郭がはっきりした画像が得られることとなる。
【００６５】
【発明の効果】本発明は、欠損画素の座標を予め調べて
メモリに書き込む必要がなく、リアルタイムに欠損画素
を検出して補正することができるという優れた効果を有
する欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠
損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置
を提供することができるものである。
メモリに書き込む必要がなく、リアルタイムに欠損画素
を検出して補正することができるという優れた効果を有
する欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠
損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置
を提供することができるものである。
【図１】本発明の第１実施形態の欠損画素検出補正装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図２】補正検出エリアの例を示す図
【図３】欠損画素検出補正装置の最大値・最小値検出手
段の例を示す図
段の例を示す図
【図４】本発明の第２実施形態の欠損画素検出補正装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図５】本発明の第３実施形態の欠損画素検出補正装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図６】本発明の第４実施形態の欠損画素検出補正装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図７】本発明の第５実施形態の欠損画素検出補正装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図８】本発明の第５実施形態の欠損画素検出補正装置
の比率平均計算手段および比較手段の動作を説明するた
めの図
の比率平均計算手段および比較手段の動作を説明するた
めの図
【図９】本発明の第６実施形態の欠損画素検出補正装置
を示すブロック図
を示すブロック図
【図１０】本発明の第７実施形態の欠損画素検出補正方
法を示すブロック図
法を示すブロック図
【図１１】本発明の第８実施形態の欠損画素検出補正方
法を示すブロック図
法を示すブロック図
【図１２】本発明の一実施形態の映像信号処理装置を示
すブロック図
すブロック図
１ 固体撮像素子 ３ 補正検出エリア生成手段 ５ 最大値・最小値検出手段 ９ 欠損画素判定手段 １３ 切替手段 ４１、５２ 閾値切替手段 ５１ 画素平均計算手段 ６１ 欠損画素相互判定手段（第２の欠損画素判定手
段） ７１ 比率平均計算手段 ７３、９３ 比較手段 ７４、９４ 補正手段 ９１ 比率計算手段 １２１ 欠損画素検出補正装置 １２２ 輪郭強調装置 １２３ 輪郭強調装置の輪郭強調画素選択手段 １２４ 輪郭強調装置の輪郭強調手段 １２５ 輪郭強調装置の切替手段
段） ７１ 比率平均計算手段 ７３、９３ 比較手段 ７４、９４ 補正手段 ９１ 比率計算手段 １２１ 欠損画素検出補正装置 １２２ 輪郭強調装置 １２３ 輪郭強調装置の輪郭強調画素選択手段 １２４ 輪郭強調装置の輪郭強調手段 １２５ 輪郭強調装置の切替手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 須部 信 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番１ 号 松下通信工業株式会社内 Ｆターム(参考） 5C021 PA53 PA56 PA58 PA62 PA76 RB08 XB03 YA06 5C024 CX21 HX14 HX20 HX21 HX29 HX50
Claims (14)
- 【請求項１】 固体撮像素子の出力から補正対象画素と
この補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素とを
有したエリアを生成する補正検出エリア生成手段と、前
記複数の周辺画素について周辺最大値と周辺最小値とを
検出する最大値・最小値検出手段と、前記周辺最大値と
前記周辺最小値と前記補正対象画素の値とに基づいて、
前記補正対象画素が欠損画素であるか否かを判定する欠
損画素判定手段と、前記補正対象画素が欠損画素である
と判定されたとき、前記補正対象画素の値を補正した値
に切り替える切替手段とを備えたことを特徴とする欠損
画素検出補正装置。 - 【請求項２】 前記最大値・最小値検出手段が、前記エ
リア内において前記補正対象画素に隣接した複数の周辺
画素の最小値と、前記エリア内のその他複数の周辺画素
の最大値とを比較し、より大きい値を前記周辺最大値と
することを特徴とする請求項１に記載の欠損画素検出補
正装置。 - 【請求項３】 前記最大値・最小値検出手段が、前記エ
リア内において前記補正対象画素に隣接した複数の周辺
画素の最大値と、前記エリア内のその他複数の周辺画素
の最小値とを比較し、より小さい値を前記周辺最小値と
することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の
欠損画素検出補正装置。 - 【請求項４】 前記周辺最大値と前記周辺最小値との差
分に応じて欠損画素判定用の閾値を切り替える閾値切替
手段を設けたことを特徴とする請求項１乃至請求項３の
いずれかに記載の欠損画素検出補正装置。 - 【請求項５】 前記複数の周辺画素の平均値を計算する
画素平均計算手段と、前記平均値に応じて欠損画素判定
用の閾値を切り替える閾値切替手段とを設けたことを特
徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の欠損
画素検出補正装置。 - 【請求項６】 同一の被写体を撮像した複数の固体撮像
素子の出力によって欠損画素判定を行う欠損画素検出補
正装置であって、前記固体撮像素子毎に判定した複数の
欠損画素判定結果の組み合わせにより前記補正対象画素
が欠損画素であるか否かを判定する第２の欠損画素判定
手段をさらに設けたことを特徴とする請求項１乃至請求
項３のいずれかに記載の欠損画素検出補正装置。 - 【請求項７】 前記複数の欠損画素判定結果の２つ以上
が前記補正対象画素は欠損画素であるとした判定である
とき、前記第２の欠損画素判定手段が、前記補正対象画
素は欠損画素でないとする判定に置き換えることを特徴
とする請求項６に記載の欠損画素検出補正装置。 - 【請求項８】 同一の被写体を撮像した複数の固体撮像
素子の出力から補正対象画素とこの補正対象画素の周辺
に位置する複数の周辺画素とを有したエリアを生成する
補正検出エリア生成手段と、一方の前記個体撮像素子の
出力と他方の前記固体撮像素子の出力との比率を同一座
標の画素毎に計算するとともに、前記複数の周辺画素の
比率平均を計算する比率平均計算手段と、前記補正対象
画素の比率と前記比率平均とを比較し、前記補正対象画
素が欠損画素であるか否かを判定する比較手段と、前記
補正対象画素が欠損画素であると判定されたとき、前記
補正対象画素を補正する補正手段とを備えたことを特徴
とする欠損画素検出補正装置。 - 【請求項９】 同一の被写体を撮像した複数の固体撮像
素子の出力から補正対象画素とこの補正対象画素の周辺
に位置する複数の周辺画素とを有したエリアを生成する
補正検出エリア生成手段と、一方の前記個体撮像素子の
出力と他方の前記固体撮像素子の出力との比率を同一座
標の画素毎に計算するとともに、前記複数の周辺画素の
比率最大値と比率最小値とを求める比率計算手段と、前
記補正対象画素の比率と前記比率最大値と前記比率最小
値とを比較し、前記補正対象画素が欠損画素であるか否
かを判定する比較手段と、前記補正対象画素が欠損画素
であると判定されたとき、前記補正対象画素を補正する
補正手段とを備えたことを特徴とする欠損画素検出補正
装置。 - 【請求項１０】 固体撮像素子の出力から補正対象画素
とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素と
を有したエリアを生成するステップと、前記エリア内に
おいて前記補正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最
大値と、前記エリア内のその他複数の周辺画素の最小値
とを比較し、より小さい値を周辺最小値とするステップ
と、前記エリア内において前記補正対象画素に隣接した
複数の周辺画素の最小値と、前記エリア内のその他複数
の周辺画素の最大値とを比較し、より大きい値を周辺最
大値とするステップと、前記周辺最大値と前記周辺最小
値と前記補正対象画素の値とに基づいて、前記補正対象
画素が欠損画素であるか否かを判定するステップと、前
記補正対象画素が欠損画素であると判定されたとき、前
記補正対象画素を補正するステップとを備えたことを特
徴とする欠損画素検出補正方法。 - 【請求項１１】 同一の被写体を撮像した複数の固体撮
像素子の出力から補正対象画素とこの補正対象画素の周
辺に位置する複数の周辺画素とを有したエリアを生成す
るステップと、一方の前記個体撮像素子の出力と他方の
前記固体撮像素子の出力との比率を同一座標の画素毎に
計算するとともに、前記複数の周辺画素の比率平均を計
算するステップと、前記補正対象画素の比率と前記複数
の周辺画素の比率平均とを比較し、前記補正対象画素が
欠損画素であるか否かを判定するステップと、前記補正
対象画素が欠損画素であると判定されたとき、前記複数
の周辺画素の比率平均を用いて前記補正対象画素を補正
するステップとを備えたことを特徴とする欠損画素補正
方法。 - 【請求項１２】 固体撮像素子の出力から欠損画素を検
出して補正する機能をコンピュータに実現させる欠損画
素検出補正プログラムであって、前記固体撮像素子の出
力から補正対象画素とこの補正対象画素の周辺に位置す
る複数の周辺画素とを有したエリアを生成する補正検出
エリア生成手段と、前記エリア内において前記補正対象
画素に隣接した複数の周辺画素の最大値と、前記エリア
内のその他複数の周辺画素の最小値とを比較し、より小
さい値を周辺最小値とするとともに、前記エリア内にお
いて前記補正対象画素に隣接した複数の周辺画素の最小
値と、前記エリア内のその他複数の周辺画素の最大値と
を比較し、より大きい値を周辺最大値とする最大値・最
小値検出手段と、前記周辺最大値と前記周辺最小値と前
記補正対象画素の値とに基づいて、前記補正対象画素が
欠損画素であるか否かを判定する欠損画素判定手段と、
前記補正対象画素が欠損画素であると判定されたとき、
前記補正対象画素を補正する補正手段として、前記コン
ピュータを機能させることを特徴とする欠損画素検出補
正プログラム。 - 【請求項１３】 同一の被写体を撮像した複数の固体撮
像素子の出力によって欠損画素を検出して補正する機能
をコンピュータに実現させる欠損画素検出補正プログラ
ムであって、前記複数の固体撮像素子の出力から補正対
象画素とこの補正対象画素の周辺に位置する複数の周辺
画素とを有したエリアを生成する補正検出エリア生成手
段と、一方の前記個体撮像素子の出力と他方の前記固体
撮像素子の出力との比率を同一座標の画素毎に計算する
とともに、前記複数の周辺画素の比率平均を計算する比
率平均計算手段と、前記補正対象画素の比率と前記比率
平均とを比較し、前記補正対象画素が欠損画素であるか
否かを判定する欠損画素判定手段と、前記補正対象画素
が欠損画素であると判定したとき、前記補正対象画素を
補正する補正手段として、前記コンピュータを機能させ
ることを特徴とする欠損画素補正プログラム。 - 【請求項１４】 画素の輪郭強調を行う輪郭強調手段を
備えた映像信号処理装置であって、請求項１乃至請求項
９のいずれかに記載の欠損画素検出補正装置から出力さ
れた欠損画素判定結果に基づいて、正常画素のみ前記輪
郭強調手段によって輪郭強調を行い、欠損画素は輪郭強
調を行わないように切り替える切替手段を設けたことを
特徴とする映像信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001135020A JP3662514B2 (ja) | 2001-05-02 | 2001-05-02 | 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001135020A JP3662514B2 (ja) | 2001-05-02 | 2001-05-02 | 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002330354A true JP2002330354A (ja) | 2002-11-15 |
| JP3662514B2 JP3662514B2 (ja) | 2005-06-22 |
Family
ID=18982575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001135020A Expired - Fee Related JP3662514B2 (ja) | 2001-05-02 | 2001-05-02 | 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3662514B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009017475A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Elmo Co Ltd | 欠陥画素検出装置、撮像装置、および、欠陥画素の検出方法 |
| US7777791B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-08-17 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| JP2012028987A (ja) * | 2010-07-22 | 2012-02-09 | Toshiba Corp | 画像処理装置 |
| JP2014049780A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-03-17 | Samsung Techwin Co Ltd | 欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法 |
| JP2014194440A (ja) * | 2013-02-27 | 2014-10-09 | Canon Inc | 撮像装置 |
-
2001
- 2001-05-02 JP JP2001135020A patent/JP3662514B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7777791B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-08-17 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US7812866B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-10-12 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US7911514B2 (en) | 2003-04-11 | 2011-03-22 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US8023010B2 (en) | 2003-04-11 | 2011-09-20 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| JP2009017475A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Elmo Co Ltd | 欠陥画素検出装置、撮像装置、および、欠陥画素の検出方法 |
| JP2012028987A (ja) * | 2010-07-22 | 2012-02-09 | Toshiba Corp | 画像処理装置 |
| US8576310B2 (en) | 2010-07-22 | 2013-11-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image processing apparatus, camera module, and image processing method |
| JP2014049780A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-03-17 | Samsung Techwin Co Ltd | 欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法 |
| JP2014194440A (ja) * | 2013-02-27 | 2014-10-09 | Canon Inc | 撮像装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3662514B2 (ja) | 2005-06-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8571346B2 (en) | Methods and devices for defective pixel detection | |
| JP2003092707A (ja) | 不良ピクセルを検出し補正するセンサ装置 | |
| JP2004157979A (ja) | 画像の動き検出装置及びコンピュータプログラム | |
| JP2003057019A (ja) | パターン検査装置および方法 | |
| JP2003052023A5 (ja) | ||
| US20050163380A1 (en) | Method and apparatus for detecting the location and luminance transition range of slant image edges | |
| JP2008017259A (ja) | 画像認識カメラ | |
| JP2008085648A (ja) | 映像信号処理装置 | |
| CN114245043A (zh) | 图像坏点动态校正及其asic实现方法及系统 | |
| JP2002330354A (ja) | 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置 | |
| TW201715472A (zh) | 影像分區門檻值決定方法、手勢判斷方法、影像感測系統以及手勢判斷系統 | |
| JP2000137877A (ja) | 火災検出装置 | |
| US9122935B2 (en) | Object detection method, storage medium, integrated circuit, and object detection apparatus | |
| WO2018198916A1 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法及び記憶媒体 | |
| JP2000101924A (ja) | 画像入力装置における欠陥検出補正装置 | |
| JP2903956B2 (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| JP5188272B2 (ja) | 映像処理装置及び映像表示装置 | |
| JP3304162B2 (ja) | 傷補正回路 | |
| KR100860307B1 (ko) | 불량화소 보정장치 및 그 방법 | |
| JP2005184307A (ja) | 傷画素補正回路及び傷画素補正方法 | |
| JP3185402B2 (ja) | 画像処理侵入者検知装置 | |
| CN106650557B (zh) | 影像分区门坎值决定方法及系统、手势判断方法及系统 | |
| CN109788217B (zh) | 不良像素补偿方法与装置 | |
| JP2001054004A (ja) | 動き検出装置 | |
| JPH03269384A (ja) | 赤外線撮像装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041220 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041228 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050228 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050322 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050323 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080401 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090401 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100401 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110401 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120401 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130401 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130401 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140401 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |