CN114034886A - 一种针间距自适应调节的测试连接头 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种针间距自适应调节的测试连接头,其包括信号探针和接地探针,所述信号探针或接地探针中的其中至少一个探针通过间距调节模块活动设置,所述间距调节模块调节探针在信号探针和接地探针连接定位的直线方向左右运动。通过设置间距调节模块带动探针活动设置,使探针在信号探针和接地探针连接定位的直线方向左右运动,从而调整信号探针和接地探针之间的间距,以适配不同规格平面测试接口电信号测量工作,提升测试连接头对于不同规格尺寸的被测对象的兼容性。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术领域,特别涉及一种针间距自适应调节的测试连接头。
背景技术
在电路板测试领域,特别是集成电路测试系统计量领域,被测量电信号的接口多以平面测试接口的形式出现,一般为铜焊盘(pad)通过金属探针按压接触平面测试接口,将电信号从平面测试接口导出。不同型号的电路板或者不同型号的集成电路测试系统的平面信号接口规格也不同,主要区别在于信号接口和接地接口之间的间距不一致,焊盘大小也有所区别。为适应不同间距的平面测试接口,往往需要使用与之间距相匹配的测试探针,传统的探针间距固定,无法调整。为适配不同规格平面测试接口电信号测量,需要配置不同规格的探针,容易出现现有规格探针与被测平面测试接口尺寸不兼容的情况,因此需要设计一种针间距可调的测试连接头,解决平面测试接口测试兼容性的问题。
发明内容
本发明提供一种针间距自适应调节的测试连接头,用以解决上述提出的技术问题。
本发明提供一种针间距自适应调节的测试连接头,所述测试连接头包括信号探针和接地探针,所述信号探针或接地探针中的其中至少一个探针通过间距调节模块活动设置,所述间距调节模块调节探针在信号探针和接地探针连接定位的直线方向左右运动;
所述间距调节模块包括设置在探针一侧的驱动抵接部件以及相对设置在探针另一侧的复位抵接部件,所述驱动抵接部件与一驱动部件的动力输出轴传动连接,在驱动部件的动力作用下抵接探针沿信号探针和接地探针连接定位的直线方向左或向右运动,所述复位抵接部件根据探针两侧的受力情况抵接探针向左或向右运动。
优选的,所述间距调节模块包括:
一驱动部件;
一与所述驱动部件的动力输出轴传动连接的螺杆;
螺纹配合套装在所述螺杆上、并能够在螺杆上左右滑动的抵接滑块,所述抵接滑块与探针固定连接;
相对抵接滑块与探针另一侧抵接设置的复位抵接部件。
优选的,所述间距调节模块包括:
一动力输出轴竖直设置的驱动部件,
一与所述驱动部件的动力输出轴传动连接的螺杆;
螺纹配合套装在所述螺杆上、并能够在螺杆上左右滑动的第一梯形抵接滑块;以及
与所述第一梯形抵接滑块互补抵接设置的第二梯形抵接滑块,所述第二梯形抵接滑块与探针固定连接;
相对第二梯形抵接滑块与探针另一侧抵接设置的复位抵接部件。
优选的,所述第一梯形抵接滑块的斜面角度与第二梯形抵接滑块的斜面角度互补设置。
优选的,所述第二梯形抵接滑块的斜面行程大于第一梯形抵接滑块的斜面行程。
优选的,所述测试连接头包括一封装体,所述信号探针和接地探针的顶端均设置在所述封装体中,另一自由端竖直向下伸出封装体设置,所述封装体相对可调节的探针设有调节通槽。
优选的,所述信号探针和接地探针的顶端与封装体之间均设有弹性缓冲部件。
优选的,所述封装体内至少设有一与中空调节腔,所述螺杆、抵接滑块以及复位抵接部件均设置在所述中空调节腔中,所述驱动部件的动力输出轴伸入腔体内与螺杆同轴固定连接,且所述中空调节腔的宽度与抵接滑块的厚度配合设置。
优选的,所述封装体一侧设有连接插头,所述连接插头中对应信号探针设有一信号传输针,所述测试连接头通过连接插头与测试仪表电性连接。
优选的,所述连接插头内填充有绝缘材料。
本发明所述一种针间距自适应调节的测试连接头,其通过设置间距调节模块带动探针活动设置,使探针在信号探针和接地探针连接定位的直线方向左右运动,从而调整信号探针和接地探针之间的间距,以适配不同规格平面测试接口电信号测量工作,提升测试连接头对于不同规格尺寸的被测对象的兼容性。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明实施例所述针间距自适应调节的测试连接头与校准板的结构配合侧视图;
图2为本发明实施例所述针间距自适应调节的测试连接头与校准板的结构配合俯视图;
图3为本发明实施例所述针间距自适应调节的测试连接头的主剖视图;
图4为本发明实施例所述针间距自适应调节的测试连接头的侧剖视图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明提供一种针间距自适应调节的测试连接头,所述测试连接头1包括信号探针101和接地探针102,所述信号探针101或接地探针102中的其中至少一个探针通过间距调节模块3活动设置,所述间距调节模块3调节探针在信号探针101和接地探针102连接定位的直线方向左右运动;通过设置间距调节模块3,从而能够方便调整信号探针101和接地探针102之间的间距,以适配不同规格平面测试接口电信号测量工作,提升测试连接头1对于不同规格尺寸的被测对象的兼容性。
所述间距调节模块3包括设置在探针一侧的驱动抵接部件以及相对设置在探针另一侧的复位抵接部件35,所述驱动抵接部件与一驱动部件31的动力输出轴传动连接,在驱动部件31的动力作用下抵接探针沿信号探针101和接地探针102连接定位的直线方向左或向右运动,所述复位抵接部件35根据探针两侧的受力情况抵接探针向左或向右运动。
具体如图1至图4所示,所述测试连接头1包括一封装体11,所述信号探针101和接地探针102的顶端均设置在所述封装体11中,另一自由端竖直向下伸出封装体11设置,且所述信号探针101和接地探针102之间绝缘设置。为避免探针与信号接口对接时刚性接触对探针产生损坏,因此,在所述信号探针101和接地探针102的顶端与封装体11之间均设有弹性缓冲部件12,所述弹性缓冲部件12竖直设置,为信号探针101和接地探针102提供缓冲空间。优选的,所述弹性缓冲部件12为弹簧。
如图3所示,所述封装体11内相对信号探针101的一侧设有一中空调节腔103,所述中空调节腔103的上端通过一竖直通道104与封装体11上端连通设置,中空调节腔103的下端通过一调节通槽105与封装体11狭下端连通设置,所述调节通槽105的宽度大于信号探针101的直径宽度。
所述间距调节模块3包括驱动部件31、螺杆32、第一梯形抵接滑块33、第二梯形抵接滑块34以及复位抵接部件35,如图3和图4所示,所述驱动部件31设置在所述封装体11上端,并与封装体11之间通过绝缘垫13进行隔离,避免驱动部件31的感应电压对信号探针101所测量的电信号产生共模干扰。所述螺杆32、抵接滑块以及复位抵接部件35均设置在所述中空调节腔103中,所述驱动部件31的动力输出轴通过竖直通道104竖直伸入腔体内与螺杆32同轴固定连接,所述第一梯形抵接滑块33螺纹配合套装在所述螺杆32上。如图4所示,所述调节通槽105的宽度大于信号探针101的直径宽度,小于第二梯形抵接滑块34的宽度,所述中空调节腔103的宽度与第一梯形抵接滑块33的厚度配合设置。由于所述中空调节腔103的宽度与第一梯形抵接滑块33的厚度配合设置,因此限制第一梯形抵接滑块33无法与螺杆32一起发生转动,从而在螺杆32的带动下只进行上下运动。所述第二梯形抵接滑块34与所述第一梯形抵接滑块33互补抵接设置。如图3所示,所述第一梯形抵接滑块33的斜面角度与第二梯形抵接滑块34的斜面角度互补设置,且所述第二梯形抵接滑块34的斜面行程大于第一梯形抵接滑块33的斜面行程,所述第一梯形抵接滑块33和第二梯形抵接滑块34的厚度一致。所述信号探针101的顶端设置在所述第二梯形抵接滑块34中,如图3所示,所述第二梯形抵接滑块34内设有一容置腔304,所述信号探针101的顶端配合设置在所述容置腔304内,且与容置腔304的顶端之间设有弹性缓冲部件12,即弹簧。所述复位抵接部件35弹性抵接第二梯形抵接滑块34的另一侧直角边,所述复位抵接部件35抵接于第二梯形抵接滑块34的一侧与所述第一梯形抵接滑块33互补抵接第二梯形抵接滑块34的一侧相对设置,所述复位抵接部件35优选为弹簧;为保证探针另一侧受力均匀,如图3所示,所述探针的另一侧沿探针本体长度方向设置有两根弹簧。
如图4所示,所述封装体11一侧设有连接插头14,所述测试连接头1通过连接插头14与测试仪表电性连接。所述连接插头14中设有一信号传输针141,所述信号传输针141分别与信号探针101电性连接,同时,所述连接插头14内填充有绝缘材料。
优选的,本发明所述封装体11采用金属材质制作,所述接地探针102通过金属封装体11与连接插头14的接地端电性导通。为保证所述信号探针101和接地探针102之间绝缘设置,所述第二梯形抵接滑块34采用绝缘树脂材料制作,且由于所述金属封装体11相对信号探针101开设的调节通槽105宽度直径大于信号探针101的直径,因此,所述信号探针101与金属封装体11之间不接触,从而与接地探针102之间形成绝缘设置。
在集成电路测试系统校准工作中,当需要从一种规格的校准板2跟换适配另一种规格的校准板2时,需要调整信号探针101与接地探针102之间的间距,以适应另一种规格校准板2上信号接口与接地接口之间的间距。具体操作如下:
驱动部件31顺时针驱动动力输出轴,带动螺杆32转动,所述第一梯形抵接滑块33在螺杆32的带动下向下运动,在第一梯形抵接滑块33与第二梯形抵接滑块34的互补抵接配合下,第一梯形抵接滑块33抵接第二梯形抵接滑块34向右滑动,从而抵接信号探针101向右滑动,增大信号探针101与接地探针102之间的间距,同时,复位抵接部件35被第二梯形抵接滑块34抵接收缩;
驱动部件31逆时针驱动动力输出轴,带动螺杆32转动,所述第一梯形抵接滑块33在螺杆32的带动下向上运动,第二梯形抵接滑块34的左侧受力减小,其右侧的复位抵接部件35在回复弹力的作用下向左扩展,抵接第二梯形抵接滑块34向左运动,从而抵接信号探针101向左滑动,减小信号探针101与接地探针102之间的间距。
本发明所述一种针间距自适应调节的测试连接头,其通过设置间距调节模块3带动探针活动设置,使探针在信号探针101和接地探针102连接定位的直线方向左右运动,从而调整信号探针101和接地探针102之间的间距,以适配不同规格平面测试接口电信号测量工作,提升测试连接头1对于不同规格尺寸的被测对象的兼容性。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述测试连接头包括信号探针和接地探针,所述信号探针或接地探针中的其中至少一个探针通过间距调节模块活动设置,所述间距调节模块调节探针在信号探针和接地探针连接定位的直线方向左右运动;
所述间距调节模块包括设置在探针一侧的驱动抵接部件以及相对设置在探针另一侧的复位抵接部件,所述驱动抵接部件与一驱动部件的动力输出轴传动连接,在驱动部件的动力作用下抵接探针沿信号探针和接地探针连接定位的直线方向左或向右运动,所述复位抵接部件根据探针两侧的受力情况抵接探针向左或向右运动。
2.根据权利要求1所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述间距调节模块包括:
一驱动部件;
一与所述驱动部件的动力输出轴传动连接的螺杆;
螺纹配合套装在所述螺杆上、并能够在螺杆上左右滑动的抵接滑块,所述抵接滑块与探针固定连接;
相对抵接滑块与探针另一侧抵接设置的复位抵接部件。
3.根据权利要求1所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述间距调节模块包括:
一动力输出轴竖直设置的驱动部件,
一与所述驱动部件的动力输出轴传动连接的螺杆;
螺纹配合套装在所述螺杆上、并能够在螺杆上左右滑动的第一梯形抵接滑块;以及
与所述第一梯形抵接滑块互补抵接设置的第二梯形抵接滑块,所述第二梯形抵接滑块与探针固定连接;
相对第二梯形抵接滑块与探针另一侧抵接设置的复位抵接部件。
4.根据权利要求3所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述第一梯形抵接滑块的斜面角度与第二梯形抵接滑块的斜面角度互补设置。
5.根据权利要求3所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述第二梯形抵接滑块的斜面行程大于第一梯形抵接滑块的斜面行程。
6.根据权利要求2所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述测试连接头包括一封装体,所述信号探针和接地探针的顶端均设置在所述封装体中,另一自由端竖直向下伸出封装体设置,所述封装体相对可调节的探针设有调节通槽。
7.根据权利要求6所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述信号探针和接地探针的顶端与封装体之间均设有弹性缓冲部件。
8.根据权利要求6所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述封装体内至少设有一与中空调节腔,所述螺杆、抵接滑块以及复位抵接部件均设置在所述中空调节腔中,所述驱动部件的动力输出轴伸入腔体内与螺杆同轴固定连接,且所述中空调节腔的宽度与抵接滑块的厚度配合设置。
9.根据权利要求6所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述封装体一侧设有连接插头,所述连接插头中对应信号探针设有一信号传输针,所述测试连接头通过连接插头与测试仪表电性连接。
10.根据权利要求9所述针间距自适应调节的测试连接头,其特征在于,所述连接插头内填充有绝缘材料。
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---|---|
CN (1) | CN114034886A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115015603A (zh) * | 2022-05-20 | 2022-09-06 | 迪赛康科技(深圳)有限公司 | 一种带宽40g间距可调差分探针 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102538839A (zh) * | 2010-12-15 | 2012-07-04 | 西安金和光学科技有限公司 | 一种新型现场可调节光纤传感装置 |
CN103235163A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-08-07 | 顺德中山大学太阳能研究院 | 一种探针间距可调测试太阳能电池接触电阻用测试探头 |
CN204564917U (zh) * | 2015-04-24 | 2015-08-19 | 浙江黎明发动机零部件有限公司 | 一种模具位置调节及辅助测量装置 |
CN110320461A (zh) * | 2019-06-15 | 2019-10-11 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种电路板测试装置 |
CN210243801U (zh) * | 2019-07-03 | 2020-04-03 | 中国民用航空飞行学院 | 一种用于电池的等效阻抗测量装置 |
CN210412884U (zh) * | 2019-05-21 | 2020-04-28 | 台州格凌机械有限公司 | 一种滚齿机 |
CN111157880A (zh) * | 2020-01-06 | 2020-05-15 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种pcb板卡信号线loss测试装置 |
CN111239444A (zh) * | 2020-03-17 | 2020-06-05 | 山东省科学院激光研究所 | 一种基于板簧微调的定位检测装置 |
-
2021
- 2021-09-23 CN CN202111114250.4A patent/CN114034886A/zh active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102538839A (zh) * | 2010-12-15 | 2012-07-04 | 西安金和光学科技有限公司 | 一种新型现场可调节光纤传感装置 |
CN103235163A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-08-07 | 顺德中山大学太阳能研究院 | 一种探针间距可调测试太阳能电池接触电阻用测试探头 |
CN204564917U (zh) * | 2015-04-24 | 2015-08-19 | 浙江黎明发动机零部件有限公司 | 一种模具位置调节及辅助测量装置 |
CN210412884U (zh) * | 2019-05-21 | 2020-04-28 | 台州格凌机械有限公司 | 一种滚齿机 |
CN110320461A (zh) * | 2019-06-15 | 2019-10-11 | 泰州市旺灵绝缘材料厂 | 一种电路板测试装置 |
CN210243801U (zh) * | 2019-07-03 | 2020-04-03 | 中国民用航空飞行学院 | 一种用于电池的等效阻抗测量装置 |
CN111157880A (zh) * | 2020-01-06 | 2020-05-15 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种pcb板卡信号线loss测试装置 |
CN111239444A (zh) * | 2020-03-17 | 2020-06-05 | 山东省科学院激光研究所 | 一种基于板簧微调的定位检测装置 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
《常见机构的原理及应用》编写组: "《常见机构的原理及应用》", vol. 1978, 31 October 1978, 机械工业出版社, pages: 47 - 51 * |
周德俭 等: "《SMT组装质量检测与控制》", vol. 2007, 31 January 2007, 国防工业出版社, pages: 122 * |
手机电脑看过来: "搞机械怎么能不懂楔形机构,36幅动态图强力科普你", pages 26, Retrieved from the Internet <URL:http://www.sohu.com/a/479961265_121124361> * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115015603A (zh) * | 2022-05-20 | 2022-09-06 | 迪赛康科技(深圳)有限公司 | 一种带宽40g间距可调差分探针 |
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