CN114002464B - 一种用于芯片检测烧录座的测试探针 - Google Patents

Abstract

本发明涉及程序烧录技术领域，且公开了一种用于芯片检测烧录座的测试探针，通过连接装置的底部固定安装有探针装置，包括动力仓，动力仓顶部靠近两侧的位置上固定安装有伸缩机，伸缩机输出轴贯穿动力仓并延伸至动力仓的内部，伸缩机输出轴的一端固定安装有行程板且行程板活动安装在动力仓的内部，使得该装置可按照具体需求来决定连接装置的底部和顶部是否需要安装探针装置和提示装置并对芯片的针脚进行烧录，而传统的烧录座中的测试探针均已固定的方式安装在内部，导致芯片种类进行更换时烧录座的种类也需要进行更换，使得设备的使用成本提高，而该装置只需要对提示装置和探针装置进行拆装便可以对新的芯片进行烧录，降低了该装置的使用成本。

Description

一种用于芯片检测烧录座的测试探针

技术领域

本发明涉及程序烧录技术领域，具体为一种用于芯片检测烧录座的测试探针。

背景技术

在单片机中会采用大量的芯片，为了保证单片机能够具备需要的功能，需要将程序烧录至芯片的内部，烧录的过程中烧录座中的测试探针会与芯片的针脚进行接触，从而将程序输入芯片的内部，并且随着工业化的进行，如今的芯片烧录以及完全依靠自动化设备进行，大大降低了生产成本，从而快速的对大数量的芯片进行烧录，现有的烧录设备采用固定式的测试探针，通过伸缩机来控制烧录座进行运动，从而使测试探针不断的与针脚进行接触和脱离，具有结构简单，成本低廉制造方便等优点。

虽然现有的烧录座的测试探针具有上述的优点，但是在实际的使用过程中依然存在一定的局限性，由于在测试的过程中需要对大量不同规格的芯片进行烧录程序，但是传统的烧录座内的测试探针采取固定的方式安装，从而无法进行调节对不同规格的芯片进行使用，需要购买不同规格的烧录座，导致该装置的使用成本过高，对此，本申请文件提出一种用于芯片检测烧录座的测试探针，旨在解决上述所提出的问题。

发明内容

针对背景技术中提出的现有用于芯片检测烧录座的测试探针在使用过程中存在的不足，本发明提供了一种用于芯片检测烧录座的测试探针，具备对不同规格的芯片均可适用的优点，解决了传统烧录座内的测试探针由于固定安装无法适用于不同规格芯片的问题。

本发明提供如下技术方案：一种用于芯片检测烧录座的测试探针，包括动力仓，所述动力仓顶部靠近两侧的位置上固定安装有伸缩机，所述伸缩机输出轴贯穿动力仓并延伸至动力仓的内部，所述伸缩机输出轴的一端固定安装有行程板且行程板活动安装在动力仓的内部，所述行程板顶部位于中心的位置上固定安装有动力机，所述动力机输出轴的一端固定安装有丝杆，所述丝杆通过外表面的螺纹活动套接有行程座且行程座活动安装在动力仓的内部并位于行程板的下方，所述行程座内腔靠近底部的位置上固定安装有旋转座Ⅰ，所述旋转座Ⅰ的外表面互动套接有传动杆，所述行程座的底部固定安装有烧录仓，所述烧录仓顶部位于行程座两侧的位置上开设有圆形通孔且该圆形通孔的内部固定套接有连接装置，所述连接装置的顶部固定安装有提示装置，所述连接装置的底部固定安装有探针装置，所述传动杆的一端与探针装置活动套接。

优选的，所述连接装置包括连接座，所述连接座的底部固定安装有螺纹连接套筒，所述螺纹连接套筒的内部通过螺纹固定套接有探针装置，所述连接座顶部靠近外侧的位置上固定安装有定位环，所述连接座顶部且位于中心的位置上固定安装有连接柱，所述连接座顶部且位于定位环外侧的位置上固定安装有触发杆。

优选的，所述连接座顶部通过定位环和触发杆的限位作用固定安装有提示装置，所述连接装置起到信号连接的作用将探针装置的输出端与提示装置的输入端相连接。

优选的，所述提示装置包括触发座，所述触发座的顶部固定安装有数据线，所述触发座的外表面固定安装有基座，所述基座的顶部固定安装有提示灯，所述触发杆的输出端通过信号连接的方式与提示灯的输入端相连接，所述触发座的底部开设有定位槽且定位槽与定位环和连接柱相对应。

优选的，所述探针装置包括螺纹管，所述螺纹管通过螺纹与螺纹连接套筒固定连接，所述螺纹管的底部活动套接有行程套筒，所述行程套筒的外表面开设有行程孔，所述行程套筒的内部活动套接有测试探针，所述测试探针的外表面固定安装有旋转座Ⅱ且旋转座Ⅱ从行程孔的内部伸出，所述旋转座Ⅱ与传动杆活动套接，所述行程套筒底部的两侧固定安装有接触头。

优选的，所述接触头的输出端通过信号连接的方式与伸缩机和动力机的输入端相连接，所述接触头的输出端通过信号连接的方式与触发杆的输入端相连接。

本发明具备以下有益效果：

1、本发明通过连接装置的底部固定安装有探针装置，使得该装置可按照具体需求来决定连接装置的底部和顶部是否需要安装探针装置和提示装置并对芯片的针脚进行烧录，而传统的烧录座中的测试探针均已固定的方式安装在内部，导致芯片种类进行更换时烧录座的种类也需要进行更换，使得设备的使用成本提高，而该装置只需要对提示装置和探针装置进行拆装便可以对新的芯片进行烧录，降低了该装置的使用成本。

2、本发明通过螺纹管的底部活动套接有行程套筒，使得行程套筒的轴线与螺纹管的轴线之间可呈一定的角度，从而对位于动力仓两侧探针装置底部的接触头之间的间距，使得该装置可对不同宽度的芯片进行烧录，提高了该装置的实用性，并且行程套筒可以以倾斜的方式与芯片的针脚相接触，避免了芯片封片高度过高使得直径过大的行程套筒无法正常与芯片的针脚接触的问题，进一步提高了该装置的实用性。

3、本发明通过旋转座Ⅱ与传动杆活动套接，动力机带动丝杆转动的过程中可带动行程座沿竖直方向上移动，此时通过旋转座Ⅱ与传动杆活动套接，从而可带动探针装置进行转动，从而调节螺纹管轴线与行程套筒轴线之间的角度，直至接触头与芯片的针脚接触，此时通过接触头的输出端通过信号连接的方式与触发杆的输入端相连接，同时通过触发杆的输出端通过信号连接的方式与提示灯的输入端相连接，使得接触头与芯片的针脚接触时会使提示灯发光，从而提示行程孔以及正常对准芯片针脚，保证测试探针伸出后能够与芯片针脚接触，提高了该装置运行过程中的稳定性，同时，提示灯的发光能够让操作人员直观的了解到探针装置是否正确与芯片针脚对齐，若出现未对齐的情况，可通过接触头的输出端通过信号连接的方式与伸缩机和动力机的输入端相连接，从而控制动力机停止运转，避免探针装置未正确与芯片阵脚对齐时依然自动进行烧录导致出现芯片损坏的问题，提高了该装置烧录的成功率。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明结构俯视示意图；

图3为本发明结构图2中A方向剖面示意图；

图4为本发明结构图2中B方向剖面示意图；

图5为本发明结构图2中C方向剖面示意图；

图6为本发明结构图5中D处放大示意图；

图7为本发明结构提示装置示意图；

图8为本发明结构提示装置剖面示意图；

图9为本发明结构探针装置示意图；

图10为本发明结构探针装置剖面示意图。

图中：1、动力仓；2、伸缩机；3、行程板；4、动力机；5、丝杆；6、行程座；7、旋转座Ⅰ；8、传动杆；9、烧录仓；10、连接装置；101、连接座；102、螺纹连接套筒；103、定位环；104、连接柱；105、触发杆；11、提示装置；111、触发座；112、数据线；113、基座；114、提示灯；115、定位槽；12、探针装置；121、螺纹管；122、行程套筒；123、行程孔；124、测试探针；125、旋转座Ⅱ；126、接触头。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-图5，一种用于芯片检测烧录座的测试探针，包括动力仓1，动力仓1顶部靠近两侧的位置上固定安装有伸缩机2，伸缩机2输出轴贯穿动力仓1并延伸至动力仓1的内部，伸缩机2输出轴的一端固定安装有行程板3且行程板3活动安装在动力仓1的内部，行程板3顶部位于中心的位置上固定安装有动力机4，动力机4输出轴的一端固定安装有丝杆5，丝杆5通过外表面的螺纹活动套接有行程座6且行程座6活动安装在动力仓1的内部并位于行程板3的下方，行程座6内腔靠近底部的位置上固定安装有旋转座Ⅰ7，旋转座Ⅰ7的外表面互动套接有传动杆8，行程座6的底部固定安装有烧录仓9，烧录仓9顶部位于行程座6两侧的位置上开设有圆形通孔且该圆形通孔的内部固定套接有连接装置10，连接装置10的顶部固定安装有提示装置11，连接装置10的底部固定安装有探针装置12，使得该装置可按照具体需求来决定连接装置10的底部和顶部是否需要安装探针装置12和提示装置11并对芯片的针脚进行烧录，而传统的烧录座中的测试探针均已固定的方式安装在内部，导致芯片种类进行更换时烧录座的种类也需要进行更换，使得设备的使用成本提高，而该装置只需要对提示装置11和探针装置12进行拆装便可以对新的芯片进行烧录，降低了该装置的使用成本，传动杆8的一端与探针装置12活动套接。

请参阅图6，连接装置10包括连接座101，连接座101的底部固定安装有螺纹连接套筒102，螺纹连接套筒102的内部通过螺纹固定套接有探针装置12，连接座101顶部靠近外侧的位置上固定安装有定位环103，连接座101顶部且位于中心的位置上固定安装有连接柱104，连接座101顶部且位于定位环103外侧的位置上固定安装有触发杆105。

请参阅图6，连接座101顶部通过定位环103和触发杆105的限位作用固定安装有提示装置11，连接装置10起到信号连接的作用将探针装置12的输出端与提示装置11的输入端相连接。

请参阅图7-图8，提示装置11包括触发座111，触发座111的顶部固定安装有数据线112，触发座111的外表面固定安装有基座113，基座113的顶部固定安装有提示灯114，触发杆105的输出端通过信号连接的方式与提示灯114的输入端相连接，触发座111的底部开设有定位槽115且定位槽115与定位环103和连接柱104相对应。

请参阅图9-图10，探针装置12包括螺纹管121，螺纹管121通过螺纹与螺纹连接套筒102固定连接，螺纹管121的底部活动套接有行程套筒122，使得行程套筒122的轴线与螺纹管121的轴线之间可呈一定的角度，从而对位于动力仓1两侧探针装置12底部的接触头126之间的间距，使得该装置可对不同宽度的芯片进行烧录，提高了该装置的实用性，并且行程套筒122可以以倾斜的方式与芯片的针脚相接触，避免了芯片封片高度过高使得直径过大的行程套筒122无法正常与芯片的针脚接触的问题，进一步提高了该装置的实用性，行程套筒122的外表面开设有行程孔123，行程套筒122的内部活动套接有测试探针124，测试探针124的外表面固定安装有旋转座Ⅱ125且旋转座Ⅱ125从行程孔123的内部伸出，旋转座Ⅱ125与传动杆8活动套接，动力机4带动丝杆5转动的过程中可带动行程座6沿竖直方向上移动，此时通过旋转座Ⅱ125与传动杆8活动套接，从而可带动探针装置12进行转动，从而调节螺纹管121轴线与行程套筒122轴线之间的角度，直至接触头126与芯片的针脚接触，此时通过接触头126的输出端通过信号连接的方式与触发杆105的输入端相连接，同时通过触发杆105的输出端通过信号连接的方式与提示灯114的输入端相连接，使得接触头126与芯片的针脚接触时会使提示灯114发光，从而提示行程孔123以及正常对准芯片针脚，保证测试探针124伸出后能够与芯片针脚接触，提高了该装置运行过程中的稳定性，同时，提示灯114的发光能够让操作人员直观的了解到探针装置12是否正确与芯片针脚对齐，若出现未对齐的情况，可通过接触头126的输出端通过信号连接的方式与伸缩机2和动力机4的输入端相连接，从而控制动力机4停止运转，避免探针装置12未正确与芯片阵脚对齐时依然自动进行烧录导致出现芯片损坏的问题，提高了该装置烧录的成功率，行程套筒122底部的两侧固定安装有接触头126。

请参阅图9-图10，接触头126的输出端通过信号连接的方式与伸缩机2和动力机4的输入端相连接，接触头126的输出端通过信号连接的方式与触发杆105的输入端相连接。

本发明的使用方法如下：

使用过程中，该装置可按照具体需求来决定连接装置10的底部和顶部是否需要安装探针装置12和提示装置11并对芯片的针脚进行烧录，动力机4带动丝杆5转动的过程中可带动行程座6沿竖直方向上移动，行程套筒122的轴线与螺纹管121的轴线之间可呈一定的角度，从而对位于动力仓1两侧探针装置12底部的接触头126之间的间距，使得该装置可对不同宽度的芯片进行烧录，并且行程套筒122可以以倾斜的方式与芯片的针脚相接触，探针装置12在进行转动时，调节螺纹管121轴线与行程套筒122轴线之间的角度，直至接触头126与芯片的针脚接触，接触头126与芯片的针脚接触时会使提示灯114发光，从而提示行程孔123以及正常对准芯片针脚，保证测试探针124伸出后能够与芯片针脚接触，提示灯114的发光能够让操作人员直观的了解到探针装置12是否正确与芯片针脚对齐，若出现未对齐的情况，可通过接触头126的输出端通过信号连接的方式与伸缩机2和动力机4的输入端相连接，从而控制动力机4停止运转，

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种用于芯片检测烧录座的测试探针，包括动力仓（1），其特征在于：所述动力仓（1）顶部靠近两侧的位置上固定安装有伸缩机（2），所述伸缩机（2）输出轴贯穿动力仓（1）并延伸至动力仓（1）的内部，所述伸缩机（2）输出轴的一端固定安装有行程板（3）且行程板（3）活动安装在动力仓（1）的内部，所述行程板（3）顶部位于中心的位置上固定安装有动力机（4），所述动力机（4）输出轴的一端固定安装有丝杆（5），所述丝杆（5）通过外表面的螺纹活动套接有行程座（6）且行程座（6）活动安装在动力仓（1）的内部并位于行程板（3）的下方，所述行程座（6）内腔靠近底部的位置上固定安装有旋转座Ⅰ（7），所述旋转座Ⅰ（7）的外表面互动套接有传动杆（8），所述行程座（6）的底部固定安装有烧录仓（9），所述烧录仓（9）顶部位于行程座（6）两侧的位置上开设有圆形通孔且该圆形通孔的内部固定套接有连接装置（10），所述连接装置（10）的顶部固定安装有提示装置（11），所述连接装置（10）的底部固定安装有探针装置（12），所述传动杆（8）的一端与探针装置（12）活动套接，所述连接装置（10）包括连接座（101），所述连接座（101）的底部固定安装有螺纹连接套筒（102），所述螺纹连接套筒（102）的内部通过螺纹固定套接有探针装置（12），所述连接座（101）顶部靠近外侧的位置上固定安装有定位环（103），所述连接座（101）顶部且位于中心的位置上固定安装有连接柱（104），所述连接座（101）顶部且位于定位环（103）外侧的位置上固定安装有触发杆（105），所述探针装置（12）包括螺纹管（121），所述螺纹管（121）通过螺纹与螺纹连接套筒（102）固定连接，所述螺纹管（121）的底部活动套接有行程套筒（122），所述行程套筒（122）的外表面开设有行程孔（123），所述行程套筒（122）的内部活动套接有测试探针（124），所述测试探针（124）的外表面固定安装有旋转座Ⅱ（125）且旋转座Ⅱ（125）从行程孔（123）的内部伸出，所述旋转座Ⅱ（125）与传动杆（8）活动套接，所述行程套筒（122）底部的两侧固定安装有接触头（126）。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测烧录座的测试探针，其特征在于：所述连接座（101）顶部通过定位环（103）和触发杆（105）的限位作用固定安装有提示装置（11），所述连接装置（10）起到信号连接的作用将探针装置（12）的输出端与提示装置（11）的输入端相连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测烧录座的测试探针，其特征在于：所述提示装置（11）包括触发座（111），所述触发座（111）的顶部固定安装有数据线（112），所述触发座（111）的外表面固定安装有基座（113），所述基座（113）的顶部固定安装有提示灯（114），所述触发杆（105）的输出端通过信号连接的方式与提示灯（114）的输入端相连接，所述触发座（111）的底部开设有定位槽（115）且定位槽（115）与定位环（103）和连接柱（104）相对应。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测烧录座的测试探针，其特征在于：所述接触头（126）的输出端通过信号连接的方式与伸缩机（2）和动力机（4）的输入端相连接，所述接触头（126）的输出端通过信号连接的方式与触发杆（105）的输入端相连接。

Images