CN113984795A - 基于x射线的电芯检测装置 - Google Patents

基于x射线的电芯检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN113984795A
CN113984795A CN202111209160.3A CN202111209160A CN113984795A CN 113984795 A CN113984795 A CN 113984795A CN 202111209160 A CN202111209160 A CN 202111209160A CN 113984795 A CN113984795 A CN 113984795A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detector
adjusting device
axis adjusting
ray source
ray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111209160.3A
Other languages
English (en)
Inventor
赵小龙
张超
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lima Optoelectronic Technology Beijing Co ltd
Original Assignee
Lima Optoelectronic Technology Beijing Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lima Optoelectronic Technology Beijing Co ltd filed Critical Lima Optoelectronic Technology Beijing Co ltd
Priority to CN202111209160.3A priority Critical patent/CN113984795A/zh
Publication of CN113984795A publication Critical patent/CN113984795A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明基于X射线的电芯检测装置，包括机架、设置于机架中部的载具组件、对应设置于载具组件下方的可调整式射线源组件、以及对应设置于载具组件上方的探测器组件；根据检测项和电芯高度，调整射线源组件的射线源和探测器组件的探测器在Z轴上的位置，达到合适的距离或放大倍数，形成柔性检测时电芯检测结构。

Description

基于X射线的电芯检测装置
技术领域
本发明涉及自动化生产技术及自动化生产设备，特别设计检测设备，具体的，其展示一种基于X射线的电芯检测装置。
背景技术
在自动化生产技术领域中，特别是电子产品的自动化制备过程中，产品制备后需要进行检测以保证成品合格率，如对电芯的检测，但现阶段的检测方式，射线源和探测器的设定位固定设置，或单一方向运动，检测项目单一，在需要进行不同型号规格电芯检测时，需要配置多个检测装置，或配置产品载具切换以应对不同规格型号电芯的检测，检测成本高，且现阶段的电芯检测方式，制备不同检测设备或不同规格载具时，需要消耗较多生产资源，进一步提检测成本，且多个检测设备或载具的设定，严重占据生产场地，不利于企业优化生产的实施。
因此，有必要提供一种基于X射线的电芯检测装置来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于X射线的电芯检测装置。
技术方案如下：
一种基于X射线的电芯检测装置，包括机架、设置于机架中部的载具组件、对应设置于载具组件下方的可调整式射线源组件、以及对应设置于载具组件上方的探测器组件；
根据检测项和电芯高度，调整射线源组件的射线源和探测器组件的探测器在Z轴上的位置，达到合适的距离或放大倍数，形成柔性检测时电芯检测结构。
进一步的，载具组件包括可滑动设置于机架上的载具板，且机架上对应载具板设置有用于放置前后电芯碰撞的对射传感器。
进一步的，载具板通过载具板连接块连接于载具滑动驱动件，且机架上对应载具板设置有滑动支撑组件，形成电芯防碰撞式输送结构。
进一步的，滑动支撑组件包括连接于机架上的支撑架，支撑架上设置有支撑滚轮。
进一步的，可调整式射线源组件包括设置于机架上的射线源x轴调整装置、设置于射线源x轴调整装置上的射线源y轴调整装置、以及设置于射线源y轴调整装置上的射线源z轴调整装置，射线源设置于射线源z轴调整装置上，形成三轴调节式射线源设定结构。
进一步的，探测器组件包括设置于机架上的探测器x轴调整装置、设置于探测器x轴调整装置上的探测器y轴调整装置、以及设置于探测器y轴调整装置上的探测器z轴调整装置，探测器设置于探测器z轴调整装置上，形成三轴调节式探测器设定结构。
进一步的，通过三轴调节式射线源设定结构、以及三轴调节式探测器设定结构，配合载具组件，检测时，对应电芯的高度和位于载具组件上的位置，进行射线源和探测器位置的对应调节，形成应对多型号检测的柔性一体化电芯检测设备。
进一步的，探测器包括设置于探测器z轴调整装置上的探测器支座，探测器支座面向载具组件侧端面设置有探测体。
进一步的，探测器支座面向载具组件侧端面还设置有扫描电芯信息的扫描枪。
进一步的，将电芯的外型尺寸信息记录于条形码中，通过扫码枪扫码可获得电芯外型参数，包括高度及检测位，后通过扫码所得数据进行可调整式射线源组件及探测器组件的调整，调整至适合所需检测位置，后进行电芯检测，形成触发调整式电芯检测结构。
进一步的，载具滑动驱动件、射线源x轴调整装置、射线源y轴调整装置、射线源z轴调整装置、探测器x轴调整装置、探测器y轴调整装置、探测器z轴调整装置均由直线驱动滑台构成。
与现有技术相比，本发明通过三轴调节式射线源设定结构、以及三轴调节式探测器设定结，检测时，对应电芯的高度和位于载具组件上的位置，进行射线源和探测器位置的对应调节，可兼容多个检测项目及应对多种型号电芯的检测，减少电芯检测所需设备，降低生产成本，同时减少资源浪费，便于企业优化生产场地的实施。
附图说明
图1是本发明的结构示意图之一。
图2是本发明的结构示意图之二。
图3是本发明的结构示意图之三。
图4是本发明的结构示意图之四。
图5是本发明的结构示意图之五。
具体实施方式
实施例：
参阅图1-5，本实施例展示一种基于X射线的电芯检测装置，包括机架1、设置于机架1中部的载具组件2、对应设置于载具组件2下方的可调整式射线源组件3、以及对应设置于载具组件2上方的探测器组件4；
根据检测项和电芯100高度，调整射线源组件3的射线源31和探测器4组件的探测器41在Z轴上的位置，达到合适的距离或放大倍数，形成柔性检测时电芯检测结构。
载具组件2包括可滑动设置于机架1上的载具板21，且机架1上对应载具板21设置有用于放置前后电芯100碰撞的对射传感器5。
载具板21包括用于装载电芯100的装载位，装载位上包括用于电芯100检测的检测避让槽22.
载具板21通过载具板连接块23连接于载具滑动驱动件(未展示)，且机架1上对应载具板21设置有滑动支撑组件6，形成电芯防碰撞式输送结构。
滑动支撑组件6包括连接于机架1上的支撑架61，支撑架61上设置有支撑滚轮62。
可调整式射线源组件3包括设置于机架上的射线源x轴调整装置32、设置于射线源x轴调整装置32上的射线源y轴调整装置33、以及设置于射线源y轴调整装置33上的射线源z轴调整装置34，射线源31设置于射线源z轴调整装置34上，形成三轴调节式射线源设定结构。
探测器组件4包括设置于机架1上的探测器x轴调整装置42、设置于探测器x轴调整装置42上的探测器y轴调整装置43、以及设置于探测器y轴调整装置43上的探测器z轴调整装置44，探测器41设置于探测器z轴调整装置44上，形成三轴调节式探测器设定结构。
通过三轴调节式射线源设定结构、以及三轴调节式探测器设定结构，配合载具组件，检测时，对应电芯100的高度和位于载具组件上的位置，进行射线源31和探测器41位置的对应调节，形成应对多型号检测的柔性一体化电芯检测设备。
探测器41包括设置于探测器z轴调整装置44上的探测器支座45，探测器支座45面向载具组件2侧端面设置有探测体46。
探测器支座45面向载具组件2侧端面还设置有扫描电芯信息的扫描枪7。
将电芯的外型尺寸信息记录于条形码中，通过扫码枪7扫码可获得电芯外型参数，包括高度及检测位，后通过扫码所得数据进行可调整式射线源组件3及探测器组件4的调整，调整至适合所需检测位置，后进行电芯检测，形成触发调整式电芯检测结构。
载具滑动驱动件(未展示)、射线源x轴调整装置32、射线源y轴调整装置33、射线源z轴调整装置34、探测器x轴调整装置42、探测器y轴调整装置43、探测器z轴调整装置44均由直线驱动滑台构成。
检测步骤如下：
1)电芯100装载于载具组件2上，并通过载具滑动驱动件(未展示)驱动至检测位；
2)扫码枪进行电芯条形码扫码，获得电芯信息，包括电芯高度及检测位；
3)进行射线源41位置的调整，具体为：通过射线源x轴调整装置32、射线源y轴调整装置33调整射线源31于xy轴平面的位置，后通过射线源z轴调整装置34调整射线源所需高度；
4)同步的进行探测器41位置的调整，具体为：通过探测器x轴调整装置42、探测器y轴调整装置43调整探测器41于xy轴平面的位置，后通过探测器z轴调整装置44调整探测器所需高度；
5)同步步骤4)和步骤5)获的所需的射线源31和探测器位置调整；
6)进行电芯100的检测；
7)检测后，载具组件2滑出检测为，更换载具上的电芯。
与现有技术相比，本发明通过三轴调节式射线源设定结构、以及三轴调节式探测器设定结，检测时，对应电芯的高度和位于载具组件上的位置，进行射线源和探测器位置的对应调节，可兼容多个检测项目及应对多种型号电芯的检测，减少电芯检测所需设备，降低生产成本，同时减少资源浪费，便于企业优化生产场地的实施。
以上所述的仅是本发明的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：包括机架、设置于机架中部的载具组件、对应设置于载具组件下方的可调整式射线源组件、以及对应设置于载具组件上方的探测器组件；
根据检测项和电芯高度，调整射线源组件的射线源和探测器组件的探测器在Z轴上的位置，达到合适的距离或放大倍数，形成柔性检测时电芯检测结构。
2.根据权利要求1所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：载具组件包括可滑动设置于机架上的载具板，载具板通过载具板连接块连接于载具滑动驱动件，且机架上对应载具板设置有滑动支撑组件。
3.根据权利要求2所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：滑动支撑组件包括连接于机架上的支撑架，支撑架上设置有支撑滚轮。
4.根据权利要求2或3所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：可调整式射线源组件包括设置于机架上的射线源x轴调整装置、设置于射线源x轴调整装置上的射线源y轴调整装置、以及设置于射线源y轴调整装置上的射线源z轴调整装置，射线源设置于射线源z轴调整装置上，形成三轴调节式射线源设定结构。
5.根据权利要求4所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：探测器组件包括设置于机架上的探测器x轴调整装置、设置于探测器x轴调整装置上的探测器y轴调整装置、以及设置于探测器y轴调整装置上的探测器z轴调整装置，探测器设置于探测器z轴调整装置上，形成三轴调节式探测器设定结构。
6.根据权利要求5所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：通过三轴调节式射线源设定结构、以及三轴调节式探测器设定结构，配合载具组件，检测时，对应电芯的高度和位于载具组件上的位置，进行射线源和探测器位置的对应调节，形成应对多型号检测的柔性一体化电芯检测设备。
7.根据权利要求5或6所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：探测器包括设置于探测器z轴调整装置上的探测器支座，探测器支座面向载具组件侧端面设置有探测体。
8.根据权利要求7所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：探测器支座面向载具组件侧端面还设置有扫描电芯信息的扫描枪。
9.根据权利要求8所述的一种基于X射线的电芯检测装置，其特征在于：载具滑动驱动件、射线源x轴调整装置、射线源y轴调整装置、射线源z轴调整装置、探测器x轴调整装置、探测器y轴调整装置、探测器z轴调整装置均由直线驱动滑台构成。
CN202111209160.3A 2021-10-18 2021-10-18 基于x射线的电芯检测装置 Pending CN113984795A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111209160.3A CN113984795A (zh) 2021-10-18 2021-10-18 基于x射线的电芯检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111209160.3A CN113984795A (zh) 2021-10-18 2021-10-18 基于x射线的电芯检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113984795A true CN113984795A (zh) 2022-01-28

Family

ID=79739101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111209160.3A Pending CN113984795A (zh) 2021-10-18 2021-10-18 基于x射线的电芯检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113984795A (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09116102A (ja) * 1995-10-24 1997-05-02 Nissan Motor Co Ltd 半導体集積回路及び半導体集積回路の破損検知方法
JP2003065973A (ja) * 2001-08-29 2003-03-05 Hitachi Ltd Ｘ線ｃｔ装置および撮影方法
CN101158575A (zh) * 2006-08-19 2008-04-09 斯考拉股份公司 测量电芯或电缆尤其是电力电缆的塑料护套壁厚的方法
GB0906740D0 (en) * 2009-04-18 2009-06-03 Ibm Signal repowering chip for 3-dimensional integrated circuit
CN107764844A (zh) * 2017-09-21 2018-03-06 重庆真测科技股份有限公司 大型ct检测设备的位置调整系统及其调整方法
CN107764846A (zh) * 2017-10-20 2018-03-06 重庆大学 一种正交直线扫描的cl成像系统及分析方法
CN207138324U (zh) * 2017-07-10 2018-03-27 东莞新易科电子有限公司 一种电芯自动整形及技能检测设备
CN110220926A (zh) * 2019-07-03 2019-09-10 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种基于五轴运动平台的x射线检测装置
CN212228013U (zh) * 2020-04-29 2020-12-25 大族激光科技产业集团股份有限公司 电芯检测装置
CN112393792A (zh) * 2020-08-24 2021-02-23 万向一二三股份公司 一种检测叠片裸电芯片数合格的方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09116102A (ja) * 1995-10-24 1997-05-02 Nissan Motor Co Ltd 半導体集積回路及び半導体集積回路の破損検知方法
JP2003065973A (ja) * 2001-08-29 2003-03-05 Hitachi Ltd Ｘ線ｃｔ装置および撮影方法
CN101158575A (zh) * 2006-08-19 2008-04-09 斯考拉股份公司 测量电芯或电缆尤其是电力电缆的塑料护套壁厚的方法
GB0906740D0 (en) * 2009-04-18 2009-06-03 Ibm Signal repowering chip for 3-dimensional integrated circuit
CN207138324U (zh) * 2017-07-10 2018-03-27 东莞新易科电子有限公司 一种电芯自动整形及技能检测设备
CN107764844A (zh) * 2017-09-21 2018-03-06 重庆真测科技股份有限公司 大型ct检测设备的位置调整系统及其调整方法
CN107764846A (zh) * 2017-10-20 2018-03-06 重庆大学 一种正交直线扫描的cl成像系统及分析方法
CN110220926A (zh) * 2019-07-03 2019-09-10 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种基于五轴运动平台的x射线检测装置
CN212228013U (zh) * 2020-04-29 2020-12-25 大族激光科技产业集团股份有限公司 电芯检测装置
CN112393792A (zh) * 2020-08-24 2021-02-23 万向一二三股份公司 一种检测叠片裸电芯片数合格的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104990796A (zh) 一种检测机构
CN113984796A (zh) 有限角度扫描检测装置
CN208555077U (zh) 一种全自动笔记本脚垫高度误差检测装置
CN213181893U (zh) 一种用于pcb板检测的生产设备
CN113984795A (zh) 基于x射线的电芯检测装置
CN211768717U (zh) 电子元件性能自动检测机
CN210171960U (zh) 一种检测手机壳或中框上辅料贴付状态的设备
CN207866209U (zh) 全针检测设备
CN212988284U (zh) 非接触式检测设备
CN214538037U (zh) 检测设备
CN111998791B (zh) 激光测量装置及应用其的自动化测量设备
CN213455333U (zh) 外观尺寸检测设备
CN212410029U (zh) 一种硅基oled探针测试装置
CN114264679A (zh) 基于x射线对电子产品进行扫描检测的装置
CN210730226U (zh) 一种电池ocv测试机及测试总装
CN209964402U (zh) 一种bongding本压着装置
CN210965966U (zh) 一种电源变压器的共模检测机构及共模检测装置
CN113245212A (zh) 一种全自动光学精密测量设备
CN107493143B (zh) 一种无线模块检测设备
CN205079737U (zh) 3d元件高度检测仪的进料结构
CN221650228U (zh) 外观检测装置
CN217689370U (zh) 一种智能电流校验机
CN217155796U (zh) 一种摄像头透光率检测装置
CN219224548U (zh) 双工位笔记本金属外壳尺寸视觉检测设备
CN216606170U (zh) 分拣设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination