CN113945363B - 检测摄像头模组传感器位移性能的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法，包括以下步骤：S10.对感光芯片A方向位移性能进行测试，其中，所述A方向包括水平方向和垂直方向，得到到A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系；判断在A的正方向最大像素位移是否达到预设第一像素值，判断在A的负方向最大像素位移是否达到预设第二像素值，根据A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系，取出k个不同像素位移所对应的DAC Codej值，进行不同像素位移下的DAC Code稳定性测试。本发明能够检测摄像头模组的传感器位移性能是否满足要求。

Description

检测摄像头模组传感器位移性能的方法
技术领域
本发明属于摄像头模组的测试技术领域，具体涉及一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法。
背景技术
目前随着手机市场不断升级，摄像头模组分辨率得到了质的提升，如像素从200万，到现在1亿像素的摄像头量产，各个终端厂商的使用摄像头像素居高不下，特别在旗舰机种上，主摄像头普遍采用的是4800万像素以上的摄像头。为了追求更高的像素，行业引入了传感器位移技术。该技术原本应用于专业数码单反相机上，通过将感光芯片在多个方向上进行微动，捕获原本在固定状态下无法采集到的光信号，由此得到更多的图像细节，合成更高像素的图片。对于传感器位移式摄像头模组，来料异常或者模组装配工艺缺陷可能导致其传感器位移功能不良、一致性不佳等问题。
因此，有必要开发一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法,能检测摄像头模组的传感器位移性能是否满足要求。
本发明所述的一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法，包括以下步骤：
S10.对感光芯片A方向位移性能进行测试，其中，所述A方向包括水平方向和垂直方向，具体包括：
S100.将镜头正对Chart图并按水平朝上摆放，其中，Chart图的中心具有一圆点；
S101.在摄像头模组焦距下拍摄一张未过曝的清晰图片，并建立坐标系，以图像的左上角为原点o(0,0),水平向右为X轴正方向，垂直向下为Y轴正方向；
S102.捕获图片中心的圆点，计算此圆点的质心P的坐标P(x,y)；
S103.将A方向的DAC code值置为0；
S104.拍摄一张Chart图片；
S105.捕获Chart图片上的圆点，并计算出圆点的质心Pi的坐标Pi(xi,yi)，i＝0,1,2，…，m；
S106.计算步骤S105所得质心Pi相对于步骤S102所得质心P的A方向像素位移量；
S107.判断A方向的DAC Code值是否到达最大值，若否，则进入步骤S108，若是，则得到A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系，并进入步骤S109；
S108.将A方向上的DAC Code增加λ，其中，λ为步长，并进入步骤S104；
S109.基于A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系，判断在A的正方向最大像素位移是否达到预设第一像素值，若是，则进入步骤S110，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；
S110.基于A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系，判断在A的负方向最大像素位移是否达到预设第二像素值，若是，则进入步骤S20，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；
S20.根据A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系，取出k个不同像素位移所对应的DAC Codej值，j＝1,2，…，k，重复多次输入DAC Codej值来驱动感光芯片位移，在感光芯片完成位移后拍摄一张Chart图片，并计算出Chart图片中圆点的质心Pj的坐标Pj(xj,yj)，计算所得质心Pj相对于步骤S102所得质心P的A方向像素位移量,若各A方向像素位移量均在预设误差范围内，则表示摄像头模组的传感器位移性合格，否则表示摄像头模组的传感器位移性不合格。
可选地，所述第一像素值为1.5pixel。
可选地，所述第二像素值为-1.5pixel。
可选地，所述步骤S20中，分别取出水平方向上±0.5pixel、±1pixel、±1.5pixel所对应的DAC Code值，以及垂直方向上±0.5pixel、±1pixel、±1.5pixel所对应的DACCode值。
可选地，所述步骤S20中，所述预设误差范围为±0.05pixel。
本发明具有以下优点：通过对摄像头模组的位移性能的检测，能够对不满足位移性能的摄像头模组进行拦截，从而提高了摄像头模组的品质。
附图说明
图1是本实施例中对感光芯片水平方向位移性能进行测试的流程图；
图2本实施例中对感光芯片垂直方向位移性能进行测试的流程图；
图3是本实施例中摄像头模组、chart图的位置关系示意图；
图4是本实施例中圆点相对移动像素位移的示意图；
图5是本实施例中chart图的示意图；
图6是本实施例中水平方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系示意图；
图7是本实施例中垂直方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系示意图；
图8是本实施例中摄像头模组不合格的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。
本实施例中，一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法，包括以下步骤：
S10.对感光芯片A方向位移性能进行测试，其中，所述A方向包括水平方向和垂直方向。
如图1所示，当A方向为水平方向时，对感光芯片3水平方向位移性能进行测试的具体步骤如下：
S100.将镜头2正对Chart图1并按水平朝上摆放，其中，Chart图1的中心具有一圆点4，参见图5。
S101.在摄像头模组焦距下拍摄一张未过曝的清晰图片，并建立坐标系，参见图5，以图像的左上角为原点o(0,0),水平向右为X轴正方向，垂直向下为Y轴正方向。
S102.捕获图片中心的圆点5，计算此圆点的质心P的坐标P(x,y)，其计算方法如下：
对于二维连续函数f(x,y),其(p+q)阶矩被定义为：
Figure BDA0003312891780000031
数字图像由二维离散信号组成，离散化后图像的(p+q)阶矩公式为:
Figure BDA0003312891780000032
其中：C表示图像的总列数，R表示图像的总行数，f(x,y)表示图像在(x,y)位置的像素值。
计算质心坐标P(x,y):
Figure BDA0003312891780000033
其中，M00为图像的零阶矩，M10为图像关于X轴的一阶矩、M01为图像关于Y轴的一阶矩。
S103.将水平方向的DAC code值置为0。
S104.拍摄一张Chart图片。
S105.捕获Chart图片上的圆点，并计算出圆点的质心Pi的坐标Pi(xi,yi)，i＝0,1,2，…，m。
S106.计算步骤S105所得质心Pi相对于步骤S102所得质心P的水平方向像素位移量，即dxi＝xi-x，参见图4。
S107.判断水平方向的DAC Code值是否到达最大值，若否，则进入步骤S108，若是，则得到水平方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系，并进入步骤S109。
S108.将水平方向上的DAC Code增加λ，其中，λ为步长，并进入步骤S104。
S109.基于水平方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系，判断在水平的正方向最大像素位移是否达到预设第一像素值，若是，则进入步骤S110，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；本实施例中，所述第一像素值为1.5pixel。
S110.基于水平方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系，判断在水平的负方向最大像素位移是否达到预设第二像素值，若是，则进入步骤S20，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；所述第二像素值为-1.5pixel。
比如：当DAC code值为0时，圆点的质心P0的坐标P0(x0,y0)，质心P0相对于质心P的水平方向像素位移量，即dx0＝x0-x。
当DAC code值从0变为λ时，圆点的质心P1的坐标P1(x1,y1)，质心P1相对于质心P的水平方向像素位移量，即dx1＝x1-x。
当DAC code值为2λ时，圆点的质心P2的坐标P2(x2,y2)，质心P2相对于质心P的水平方向像素位移量，即dx2＝x2-x。
依次类推，当DAC code值为mλ时，圆点的质心Pm的坐标Pm(xm,ym)，质心Pm相对于质心P的水平方向像素位移量，即dm＝xm-x。
最后得到，水平方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系，参见图6。
如图2所示，当A方向为垂直方向时，对感光芯片垂直方向位移性能进行测试的具体步骤如下：
S100.将镜头正对Chart图并按水平朝上摆放，其中，Chart图的中心具有一圆点。
S101.在摄像头模组焦距下拍摄一张未过曝的清晰图片，并建立坐标系，以图像的左上角为原点o(0,0),水平向右为X轴正方向，垂直向下为Y轴正方向。
S102.捕获图片中心的圆点，计算此圆点的质心P的坐标P(x,y)；其中，质心计算公式如下:x为质心X坐标，y为质心Y坐标。
S103.将垂直方向的DAC code值置为0。
S104.拍摄一张Chart图片。
S105.捕获Chart图片上的圆点，并计算出圆点的质心Pi的坐标Pi(xi,yi)，i＝0,1,2，…，m。
S106.计算步骤S105所得质心Pi相对于步骤S102所得质心P的垂直方向像素位移量。
S107.判断垂直方向的DAC Code值是否到达最大值，若否，则进入步骤S108，若是，则得到垂直方向上的DAC Code与垂直方向像素位移的对应关系，并进入步骤S109。
S108.将垂直方向上的DAC Code增加λ，其中，λ为步长，并进入步骤S104。
S109.基于垂直方向上的DAC Code与垂直方向像素位移的对应关系，判断在垂直的正方向最大像素位移是否达到预设第一像素值，若是，则进入步骤S110，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；本实施例中，所述第一像素值为1.5pixel。
S110.基于垂直方向上的DAC Code与垂直方向像素位移的对应关系，判断在垂直的负方向最大像素位移是否达到预设第二像素值，若是，则进入步骤S20，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；所述第二像素值为-1.5pixel，参见图8。
比如：当DAC code值为0时，圆点的质心P0的坐标P0(x0,y0)，质心P0相对于质心P的垂直方向像素位移量，即d1＝y0-y。
当DAC code值从0变为λ时，圆点的质心P1的坐标P1(x1,y1)，质心P1相对于质心P的垂直方向像素位移量，即dy1＝y1-y。
当DAC code值为2λ时，圆点的质心P2的坐标P2(x2,y2)，质心P2相对于质心P的水平垂直像素位移量，即dy2＝y2-y。
依次类推，当DAC code值为mλ时，圆点的质心P2的坐标Pm(xm,ym)，质心Pm相对于质心P的垂直方向像素位移量，即dym＝ym-y。
最后得到，垂直方向上的DAC Code与垂直方向像素位移的对应关系，参见图7。
S20.当A方向为水平方向时，根据水平方向上DAC Code与水平方向像素位移的对应关系，取出k个不同像素位移所对应的DAC Codej值，j＝1,2，…，k，重复多次输入DACCodej值来驱动感光芯片位移，在感光芯片完成位移后拍摄一张Chart图片，并计算出Chart图片中圆点的质心Pj的坐标Pj(xj,yj)，计算所得质心Pj相对于步骤S102所得质心P的水平方向像素位移量,即dxj＝xj-x。
当A方向为垂直方向时，根据垂直方向上DAC Code与垂直方向像素位移的对应关系，取出k个不同像素位移所对应的DAC Codej值，j＝1,2，…，k，重复多次输入DAC Codej值来驱动感光芯片位移，在感光芯片完成位移后拍摄一张Chart图片，并计算出Chart图片中圆点的质心Pj的坐标Pj(xj,yj)，计算所得质心Pj相对于步骤S102所得质心P的水平方向像素位移量,即dyj＝yj-y。
若各水平方向像素位移量和各垂直方向像素位移量均在预设误差范围内，则表示摄像头模组的传感器位移性合格，否则表示摄像头模组的传感器位移性不合格。
本实施例中，所述步骤S20中，分别取出水平方向上±0.5pixel、±1pixel、±1.5pixel所对应的DAC Code值，以及垂直方向上±0.5pixel、±1pixel、±1.5pixel所对应的DAC Code值。
本实施例中，所述步骤S20中，所述预设误差范围为±0.05pixel。

Claims (5)

1.一种检测摄像头模组传感器位移性能的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S10.对感光芯片A方向位移性能进行测试，其中，所述A方向包括水平方向和垂直方向，具体包括：
S100.将镜头正对Chart图并按水平朝上摆放，其中，Chart图的中心具有一圆点；
S101.在摄像头模组焦距下拍摄一张未过曝的清晰图片，并建立坐标系，以图像的左上角为原点o(0,0),水平向右为X轴正方向，垂直向下为Y轴正方向；
S102.捕获图片中心的圆点，计算此圆点的质心P的坐标P(x,y)；
S103. 获取感光芯片的m个DAC code值，其中，DAC code值是驱动感光芯片的一个参数，DAC code值的初始值为0，并以步长为λ逐渐增加，以所述m个DAC code值中的每个DACcode值驱动所述感光芯片位移，使所述感光芯片沿A方向到达与所述m个DAC code值一一对应的m个位置，感光芯片每移动一个位置后，进入步骤S104;
S104.拍摄一张Chart图片；
S105.捕获Chart图片上的圆点，并计算出圆点的质心Pi的坐标Pi(xi,yi)，其中，i=1,2，…，m；
S106.计算步骤S105所得质心Pi相对于步骤S102所得质心P的A方向像素位移量；
S107. 判断A方向的DAC Code值是否到达最大值，若否，则进入步骤S108，若是，则根据所述m个DAC code值，以及所述m个A方向像素位移量，绘制A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系线，并进入步骤S109；
S108.将A方向上的DAC Code增加λ，并进入步骤S104；
S109.基于A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系线，判断在A的正方向最大像素位移是否达到预设第一像素值，若是，则进入步骤S110，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；
S110. 基于A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系线，判断在A的负方向最大像素位移是否达到预设第二像素值，若是，则进入步骤S20，若否，表示该摄像头模组的传感器位移性能不合格；
S20.根据A方向上的DAC Code与A方向像素位移的对应关系线，取出k个不同像素位移所对应的DAC Codej值，j=1,2，…，k，重复多次输入DAC Codej值来驱动感光芯片位移，在感光芯片完成位移后拍摄一张Chart图片，并计算出Chart图片中圆点的质心Pj的坐标Pj (xj,yj），计算所得质心Pj相对于步骤S102所得质心P的A方向像素位移量,若各A方向像素位移量均在预设误差范围内，则表示摄像头模组的传感器位移性合格，否则表示摄像头模组的传感器位移性不合格。
2.根据权利要求1所述的检测摄像头模组传感器位移性能的方法，其特征在于：所述第一像素值为1.5 pixel。
3.根据权利要求1或2所述的检测摄像头模组传感器位移性能的方法，其特征在于：所述第二像素值为-1.5 pixel。
4.根据权利要求3所述的检测摄像头模组传感器位移性能的方法，其特征在于：所述步骤S20中，分别取出水平方向上±0.5pixel、±1pixel、±1.5pixel所对应的DAC Code值，以及垂直方向上±0.5pixel、±1pixel、±1.5pixel所对应的DAC Code值。
5.根据权利要求3所述的检测摄像头模组传感器位移性能的方法，其特征在于：所述步骤S20中，所述预设误差范围为±0.05pixel。
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