CN112422960A - 摄像头模组的偏移估算方法及装置、存储介质、终端 - Google Patents
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Abstract
一种摄像头模组的偏移估算方法及装置、存储介质、终端,所述摄像头模组的偏移估算方法,包括:获取摄像头模组的镜头阴影标定参数,所述镜头阴影标定参数包括:每个像素采样点的坐标以及对应的增益;构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程;根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数;根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,所述偏移估算包括:光心偏移估计及光轴偏转估计中的至少一种。上述方案能够兼顾偏移估算成本以及效率。
Description
技术领域
本发明实施例涉及摄像头模组领域,尤其涉及一种摄像头模组的偏移估算方法及装置、存储介质、终端。
背景技术
随着消费市场对智能手机需求的增长,摄像头模组的需求量也同步增长。手机摄像头模组需要具有轻便、体积小等特点,这也对模组的制造和装配提出了更高的要求。理想的摄像头模组,镜头的光学中心和图像传感器的几何中心应位于光轴直线上,且镜头的光轴应垂直于图像传感器平面。然而,生产过程中不可避免的存在一些误差,由于误差的存在,实际制造和装配过程中会出现镜头光心偏移和光轴偏转问题,影响成像质量,严重影响智能手机的拍摄效果。
为了确保生产的摄像头模组的质量,通常需要对摄像头模组进行检测,现有技术中对摄像头模组的检测通常包括以下三种方式:
一种方式是采用物理测量方法,物理测量主要是在模组厂产线进行抽检,间隔一定时间会对模组进行抽样检测,准确的测量相关指标的物理尺寸。另一种方式是光学测量方法,根据传统光学反射原理以及其他形式的方法测量镜头与图像传感器之间的倾斜角度。又一种方式是标定测量方法,标定测量方法主要拍摄具有特殊标记和形状的图卡,然后通过软件对图像进行分析来间接估计镜头的光心偏移和光轴偏转。
然而,物理测量方法及光学测量方法,虽然得到的测量结果比较准确,但是需要具备专业的测量环境条件,且效率较低,适合抽检和预测,难以做到对每颗摄像头模组进行检测,不适合对摄像头模组进行大批量检测。标定测量方法虽然可以大规模产时使用,但是需要在产线增加相应的标定图卡和拍摄工位,一定程度上增加了模组厂的成本。
综上,现有技术中,对摄像头模组的测量方式无法兼顾摄像头模组的偏移测量效率及测量成本。
发明内容
本发明实施例解决的技术问题是摄像头模组的偏移测量方式无法兼顾测量效率及测量成本。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种摄像头模组的偏移估算方法,包括:获取摄像头模组的镜头阴影标定参数,所述镜头阴影标定参数包括:每个像素采样点的坐标以及对应的增益;构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间关系的椭圆抛物面方程;根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数;根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,所述偏移估算包括:光心偏移估计及光轴偏转估计中的至少一种。
可选的,所述椭圆抛物面方程的参数,包括:椭圆抛物面的长半轴、椭圆抛物面的短半轴及椭圆抛物面的顶点坐标,其中,所述椭圆抛物面的顶点坐标为所述摄像头模组中的镜头的光学中心坐标。
可选的,所述根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,包括:根据所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴,进行光轴偏转估计。
可选的,所述根据所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴,光轴偏转估计,包括:计算所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴的比值;根据所述比值,进行光轴偏转估计;其中,当所述比值小于1时,估算所述光轴在垂直方向发生偏转;当所述比值大于1时,估算所述光轴在水平方向发生偏转;当所述比值等于1时,估算所述光轴未发生偏转。
可选的,所述根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,包括:根据所述光学中心坐标以及摄像头模组中图像传感器的图像几何中心的坐标,计算所述光学中心与所述图像几何中心之间的相对距离;根据所述相对距离,进行光心偏移估算;其中,当所述相对距离大于零时,确定发生光心偏移。
可选的,所述摄像头模组的偏移估算方法还包括:当所述摄像头模组的偏移估算结果满足设定的偏移范围时,确定所述摄像头模组为合格模组。
本发明实施例还提供一种摄像头模组的偏移估算装置,包括:获取单元,用于获取摄像头模组的镜头阴影标定参数,所述镜头阴影标定参数包括:每个像素采样点的坐标以及对应的增益;构建单元,用于构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程;求解单元,用于根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数;偏移估算单元,用于根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,所述偏移估算包括:光心偏移估计及光轴偏转估计中的至少一种。
本发明实施例还提供一种存储介质,计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行上述任一种摄像头模组的偏移估算方法的步骤。
本发明实施例还提供一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行上述任一种摄像头模组的偏移估算方法的步骤。
与现有技术相比,本发明实施例的技术方案具有以下有益效果:
通常每个摄像头模组在生产过程中需要进行镜头阴影标定,借助于每个摄像头模组的镜头阴影标定参数进行偏移估计,其中,镜头阴影标定参数可以包括每个像素采样点的坐标以及对应的增益。具体而言,构建用于表征像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程,根据镜头阴影标定参数求解椭圆抛物面方程的参数,进而根据椭圆抛物面参数进行摄像头模组的光心偏移估计及光轴偏转估计等偏移估计。由于每个摄像头模组在出厂之前均需要进行镜头阴影标定,从而基于每个摄像头模组的镜头阴影标定结果,实现对每个摄像头模组的偏移估计,故可以兼顾偏移估计成本以及效率,且可以实现批量化的对摄像头模组进行偏移估计,确保每个摄像头模组的质量。
附图说明
图1是摄像头模组的光心偏移示意图;
图2是摄像头模组的光轴偏转示意图;
图3是本发明实施例中的一种摄像头模组的偏移估算方法的流程图;
图4是本发明实施例中的一种摄像头模组的偏移估算装置的结构示意图。
具体实施方式
现有技术中,摄像头模组的生产过程中不可避免的存在一些误差,由于误差的存在,实际制造和装配过程中会出现镜头光心偏移和光轴偏转问题,影响成像质量,严重影响智能手机的拍摄效果。参照图1,给出了一种光心偏移的示意图,图2给出了一种光轴偏转的示意图。其中,光心偏移指镜头12(主要指透镜)的光轴13(光轴指镜头中心的线)和图像传感器11的中心线14(图像传感器中心的线)不能保持严格的重合,光轴13与中心线14之间发生一定的偏移。光轴偏转指镜头12和图像传感器11不能保持严格的平行,镜头12和图像传感器11之间存在一定的夹角。导致光轴13与中心线14不平行,光轴13与中心线14之间存在夹角θ。
为了确保生产的摄像头模组的质量,通常需要对摄像头模组进行检测,现有技术中对摄像头模组的检测方式通常包括以下三种:
一种方式为物理测量方法,主要是在模组厂产线进行抽检,间隔一定时间会对摄像头模组进行抽样检测,准确的测量相关指标的物理尺寸。这种方法需要具备专业的测量环境条件,测量结果比较准确,但是会有效率问题,适合抽检和预测,很难做到对每颗摄像头模组进行检测。
另一种方式为光学测量方法,根据传统光学反射原理以及其他形式的方法测量镜头与图像传感器之间的倾斜角度,需要具备专业的光学实验环境和工具,这种方法同样存在效率上的问题,不适合大批量检测。
又一种方式为标定测量方法,拍摄具有特殊标记和形状的图卡,然后通过软件对图像进行分析来间接估计镜头的光心偏移和光轴偏转。这种方法效率上优于物理测量方法和光学测量方法,可以在大规模量产时使用。其缺点是需要在产线增加相应的标定图卡和拍摄工位,一定程度上增加了摄像头模组厂的成本。
综上,现有技术中,对摄像头模组的偏移测量方式无法兼顾测量效率及测量成本。
为解决上述问题,在本发明实施例中,通常每个摄像头模组在生产过程中需要进行镜头阴影标定,借助于每个摄像头模组的镜头阴影标定参数进行偏移估计,其中,镜头阴影标定参数可以包括每个像素采样点的坐标以及对应的增益。具体而言,构建用于表征像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程,根据镜头阴影标定参数求解椭圆抛物面方程的参数,进而根据椭圆抛物面参数进行摄像头模组的光心偏移估计及光轴偏转估计等偏移估计。由于每个摄像头模组在出厂之前均需要进行镜头阴影标定,从而基于每个摄像头模组的镜头阴影标定结果,实现对每个摄像头模组的偏移估计,故可以兼顾偏移估计成本以及效率,且可以实现批量化的对摄像头模组进行偏移估计,确保每个摄像头模组的质量。
为使本发明实施例的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
本发明实施例提供一种摄像头模组的偏移估算方法,下面参照图3给出的本发明实施例中的一种摄像头模组的偏移估算方法的流程图进行说明,摄像头模组的偏移估算方法可以包括如下步骤:
步骤S31,获取摄像头模组的镜头阴影标定参数。
在具体实施中,摄像头模组在出厂之前,通常需要进行镜头阴影(Lens Shading)标定,并得到对应的镜头阴影标定参数。其中,镜头阴影标定参数可以包括每个像素采样点的坐标以及对应的增益。
镜头阴影标定参数可以为经过采样的像素对应的增益表(gain table)。
步骤S32,构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程。
经研究发现,Lens Shading产生的原因是镜头的通光量从镜头的光学中心到边角逐渐减少,成像亮度出现从光学中心向四周逐渐递减的现象。
如果镜头光学中心与图像传感器的图像几何中心没有偏移且二者不存在夹角时,成像后光学中心将与图像传感器的图像几何中心完全重合,而且拍摄到的阴影(Shading)图像具有非常好的旋转对称性,在以光学中心为圆心的任意圆上,亮度具有非常好的一致性。
如果发生光心偏移和光轴偏转时,也即最亮的光学中心不再与图像传感器的几何中心重合,导致拍摄到的阴影(Shading)图像的旋转对称性变差,Shading图像效果近似形成以光学中心为中心点的椭圆,椭圆上的亮度具有一定的一致性。
Lens Shading标定可得到经过采样的gain table。通过gain table对像素的亮度实现补偿矫正时,距离光学中心(可简称为光心)较近的像素获取的增益较小,远离光学中心的像素获取的增益较大。因此,在没有光心偏移和光轴偏转的理想条件下,gain table的分布近似为碗形的旋转抛物面,所有横截面均为圆形,最低点与图像几何中心重合。当出现光心偏移和光轴偏转时,gain table的分布近似椭圆抛物面,所有横截面为椭圆形,并且最低点与图像几何中心不再重合。
基于上述研究发现的像素采样点的空间位置与增益之间的关系特点,可以构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程。
在本发明实施例中,构建的椭圆抛物面方程如公式(1)所示:
其中,(x,y)为像素采样点坐标,(xc,yc)为光学中心坐标,a为椭圆抛物面的长半轴,b为所述椭圆抛物面的短半轴,z为像素采样点的增益。
步骤S33,根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数。
在具体实施中,椭圆抛物面方程的参数可以包括:椭圆抛物面的长半轴、椭圆抛物面的短半轴及椭圆抛物面的顶点坐标,其中,所述椭圆抛物面的顶点坐标为所述摄像头模组中的镜头的光学中心坐标。当椭圆抛物面的开口朝上时,椭圆抛物面的顶点坐标为椭圆抛物面的最低点。
在具体实施中,可以采用多种方式根据镜头阴影标定参数求解椭圆抛物面方程的参数。
在本发明一实施例中,可以采用如下方式求解椭圆抛物面方程的参数,具体而言:
将上述公式(1)展开,得到如下公式(2):
将公式(3)至(7)代入公式(2)得到如下公式(8):
Ax2+By2+Cx+Dy+E=z; (8)
根据镜头阴影标定参数中的像素采样点坐标(x,y),以及各个像素采样点处对应的增益(gain)值,由全部标定所得的N个像素采样点采用如下公式(9),求解未知系数A、B、C、D及E。
根据公式(3)至(7)进行变形,求解出椭圆抛物面的参数,其中光学中心坐标(xc,yc)如公式(10)及(11)所示,椭圆抛物面的长半轴a如公式(12)所示,所述椭圆抛物面的短半轴b如公式(13)所示。
将求解出未知系数A、B、C及D代入公式(10)及(11)得到光学中心坐标,将A代入公式(12)得到a的值,将公式B代入公式(13)得到b的值。
需要说明的是,椭圆抛物面方程的参数的求解方式并不限于上述举例,也可以采用其他方式求解出椭圆抛物面方程的参数,此处不再一一举例说明。
步骤S34,根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算。
在具体实施中,在得到光学中心坐标、椭圆抛物面的长半轴及椭圆抛物面的短半轴后,可以根据光学中心坐标、椭圆抛物面的长半轴及椭圆抛物面的短半轴,进行摄像头模组的偏移估算。
在具体实施中,可以根据所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴,进行光轴偏转估计。
在本发明一实施例中,采用公式(14)计算所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴的比值。
其中,Tilt为椭圆抛物面的长半轴及椭圆抛物面的短半轴的比值,a为椭圆抛物面的长半轴,b为椭圆抛物面的短半轴。
在具体实施中,得到比值之后,根据比值确定光轴偏转情况。当比值小于1时,估算光轴在垂直方向发生偏转。当比值大于1时,估算光轴在水平方向发生偏转。当比值等于1时,估算光轴未发生偏转。
在本发明另一实施例中,根据所述光学中心坐标以及摄像头模组中图像传感器的图像几何中心的坐标,进行光心偏移估算。
具体而言,根据所述光学中心坐标以及摄像头模组中图像传感器的图像几何中心的坐标,计算所述光学中心与所述图像几何中心之间的相对距离。根据所述相对距离,进行光心偏移估算。当相对距离大于零时,确定光心偏移。相对距离即为光心偏移量。
在具体实施中,可以采用欧式距离衡量光学中心与图像几何中心之间的相对距离。例如,可以采用如下公式(15)计算光学中心与图像几何中心之间的相对距离:
其中,Dist为光学中心与图像几何中心之间的相对距离;(x0,y0)为图像几何中心坐标;(xc,yc)为光学中心坐标。
在具体实施中,光学中心与图像几何中心之间的相对距离可以为像素距离。
在具体实施中,在进行摄像头模组的偏移估算时,可以对摄像头模组进行光心偏移估计,也可以进行光轴偏转估计,还可以同时进行光心偏移估计及光轴偏转估计。
由上可知,通常每个摄像头模组在生产过程中需要进行镜头阴影标定,借助于每个摄像头模组的镜头阴影标定参数进行偏移估计,其中,镜头阴影标定参数可以包括每个像素采样点的坐标以及对应的增益。具体而言,构建用于表征像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程,根据镜头阴影标定参数求解椭圆抛物面方程的参数,进而根据椭圆抛物面参数进行摄像头模组的光心偏移估计及光轴偏转估计等偏移估计。由于每个摄像头模组在出厂之前均需要进行镜头阴影标定,从而基于每个摄像头模组的镜头阴影标定结果,实现对每个摄像头模组的偏移估计,故可以兼顾成本以及效率,可以实现批量化的对摄像头模组进行偏移估计。此外,基于镜头阴影标定参数进行摄像头模组的偏移估计,偏移估算的可靠性较高,可以确保每个摄像头模组的质量。
在具体实施中,在完成对摄像头模组进行偏移估算之后,可以根据偏移估计结果确定摄像头模组是否合格。具体而言,当所述摄像头模组的偏移估算结果满足设定的偏移范围时,确定所述摄像头模组为合格模组。相应地,当摄像头模组的偏移估算结果不满足设定的偏移范围,则判定摄像头模组为不合格模组。
进一步地,可以根据摄像头模组的偏移估算结果对摄像头模组进行分拣或分类。例如,将偏移估算结果满足设定的偏移范围的摄像头模组放入合格模组生产线上,将偏移估算结果不满足设定的偏移范围的摄像头模组投放至不合格模组生产线上或者从合格模组中挑拣出来。从而可以实现合格模组的自动分拣。
在具体实施中,偏移范围可以根据对摄像头模组的合格率要求精度的容忍度进行设定。对合格率结果的要求精度较苛刻时,所设定的偏移范围可以相对较小;对合格率结果的要求精度较宽松时,所设定的偏移范围可以相对较大。
例如,对于椭圆抛物面的长半轴及椭圆抛物面的短半轴的比值Tilt位于(0.92,1.08)内的摄像头模组判定为合格模组。对于Tilt位于(0.92,1.08)之外的摄像头模组判定为不合格模组。
又如,光学中心与图像几何中心之间的相对距离Dist处于[0,12]内的摄像头模组判定为合格模组。当Dist处于[0,12]之外的摄像头模组判定为不合格模组。
需要说明的是,以上所举比值范围(0.92,1.08)以及距离范围[0,12]仅为便于理解做出的示意性说明,在实际应用中,比值范围以及距离范围并不限于此,还可以为其他取值,具体根据实际需求进行设定即可。
本发明实施例提供的摄像头模组的偏移估算方法可以实现在产线对每颗摄像头模组的光心偏移和光轴偏转进行检测。只需在产线上,对摄像头模组进行阴影标定工具中集成摄像头模组的偏移估算方法的数据分析软件,通过对阴影标定后得到的Lens Shading数据分析,即可在完成Lens Shading标定后立即获取镜头光心偏移和光轴偏转的偏移估算结果。本发明实施例提供的摄像头模组的偏移估算方法与现有技术相比,无须增加专门的偏移检测设备,无须专业的环境和工具,基于阴影标定后得到的Lens Shading数据分析即可实现偏移估算,故偏移估算成本低,偏移估算效率高,估算结果的可靠性高。
为了便于本领域技术人员更好的理解和实现本发明实施例,本发明实施例还提供一种摄像头模组的偏移估算装置。
参照图4,给出了本发明实施例中的一种摄像头模组的偏移估算装置的结构示意图。摄像头模组的偏移估算装置40可以包括:
获取单元41,用于获取摄像头模组的镜头阴影标定参数,所述镜头阴影标定参数包括:每个像素采样点的坐标以及对应的增益;
构建单元42,用于构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间的关系的椭圆抛物面方程;
求解单元43,用于根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数;
偏移估算单元44,用于根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,所述偏移估算包括:光心偏移估计及光轴偏转估计中的至少一种。
在具体实施中,摄像头模组的偏移估算装置40的具体工作原理及工作流程,可以参考本发明上述实施例中摄像头模组的偏移估算方法中的描述,此处不再赘述。
本发明实施例还提供一种存储介质,计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行本发明上述任一实施例提供的摄像头模组的偏移估算方法的步骤。
本发明实施例还提供一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行本发明上述任一实施例提供的摄像头模组的偏移估算方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于任一计算机可读存储介质中,存储介质可以包括:ROM、RAM、磁盘或光盘等。
虽然本发明披露如上,但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与修改,因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。
Claims (10)
1.一种摄像头模组的偏移估算方法,其特征在于,包括:
获取摄像头模组的镜头阴影标定参数,所述镜头阴影标定参数包括:每个像素采样点的坐标以及对应的增益;
构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间关系的椭圆抛物面方程;
根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数;
根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,所述偏移估算包括:光心偏移估计及光轴偏转估计中的至少一种。
2.如权利要求1所述的摄像头模组的偏移估算方法,其特征在于,所述椭圆抛物面方程的参数,包括:椭圆抛物面的长半轴、椭圆抛物面的短半轴及椭圆抛物面的顶点坐标,其中,所述椭圆抛物面的顶点坐标为所述摄像头模组中的镜头的光学中心坐标。
3.如权利要求2所述的摄像头模组的偏移估算方法,其特征在于,所述根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,包括:
根据所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴,进行光轴偏转估计。
4.如权利要求3所述的摄像头模组的偏移估算方法,其特征在于,所述根据所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴,进行光轴偏转估计,包括:
计算所述椭圆抛物面的长半轴及所述椭圆抛物面的短半轴的比值;
根据所述比值,进行光轴偏转估计;
其中,当所述比值小于1时,估算所述光轴在垂直方向发生偏转;
当所述比值大于1时,估算所述光轴在水平方向发生偏转;
当所述比值等于1时,估算所述光轴未发生偏转。
5.如权利要求2所述的摄像头模组的偏移估算方法,其特征在于,所述根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,包括:
根据所述光学中心坐标以及摄像头模组中图像传感器的图像几何中心的坐标,计算所述光学中心与所述图像几何中心之间的相对距离;
根据所述相对距离,进行光心偏移估算;
其中,当所述相对距离大于零时,确定发生光心偏移。
7.如权利要求1至5任一项所述的摄像头模组的偏移估算方法,其特征在于,还包括:
当所述摄像头模组的偏移估算结果满足设定的偏移范围时,确定所述摄像头模组为合格模组。
8.一种摄像头模组的偏移估算装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取摄像头模组的镜头阴影标定参数,所述镜头阴影标定参数包括:每个像素采样点的坐标以及对应的增益;
构建单元,用于构建用于表征所述像素采样点的空间位置与增益之间关系的椭圆抛物面方程;
求解单元,用于根据所述镜头阴影标定参数求解所述椭圆抛物面方程的参数;
偏移估算单元,用于根据所述椭圆抛物面方程的参数,进行所述摄像头模组的偏移估算,所述偏移估算包括:光心偏移估计及光轴偏转估计中的至少一种。
9.一种存储介质,计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1至7任一项所述的摄像头模组的偏移估算方法的步骤。
10.一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至7中任一项所述的摄像头模组的偏移估算方法的步骤。
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