CN113923666B - 一种过覆盖基站识别方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种过覆盖基站识别方法、装置、电子设备及存储介质，涉及通信领域，用于解决现有技术中如何识别过覆盖基站的问题，包括：获取待识别基站的测量报告MR原始数据。根据待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点；确定至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量；其中，过覆盖采样点为至少一个目标采样点中与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且参考信号接收功率RSRP大于或等于预设RSRP阈值的目标采样点；根据过覆盖采样点的数量，确定过覆盖采样点占比；若过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值，则确定待识别基站为过覆盖基站。本申请用于过覆盖基站的识别。

Description

一种过覆盖基站识别方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及通信领域，尤其涉及一种过覆盖基站识别方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在移动通信无线网络中，基站可能会存在过覆盖的问题，即基站的覆盖范围超过了设定范围。基站的过覆盖问题也称为越区覆盖问题或过远覆盖问题。过覆盖基站对应的小区称之为过覆盖小区。

而由于在现实无线网络的铺设中，会存在规划不当、天线过高或优化不当等问题，移动通信无线网络中基站经常会出现过覆盖现象。此时，过覆盖基站会对邻站造成较强干扰，导致邻站产生信令拥塞以及由于干扰带来的掉话、掉线和切换频繁的问题。因此，在网络优化工作中，必须过覆盖基站识别出来并加以解决。

发明内容

本申请一种过覆盖基站识别方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决现有技术中如何识别过覆盖基站的问题。

为达到上述目的，本申请采用如下技术方案：

第一方面，本申请提供一种过覆盖基站识别方法，包括：获取待识别基站的测量报告MR原始数据。根据待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点；其中，目标采样点为MR原始数据对应的采样点中，具有位置信息记录的采样点。确定至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量；其中，过覆盖采样点为至少一个目标采样点中与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且参考信号接收功率RSRP大于或等于预设RSRP阈值的目标采样点。根据过覆盖采样点的数量，确定过覆盖采样点占比；若过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值，则确定待识别基站为过覆盖基站。

在一种可能的实现方式中，在确定至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量之前，方法还包括：获取待识别基站的位置信息，根据待识别基站的位置信息，确定至少一个参考基站；参考基站为与待识别基站相邻的基站。确定待识别基站与至少一个参考基站之间的平均站距。根据平均站距和预设系数，确定第一距离阈值；其中，预设系数大于或等于1。

在一种可能的实现方式中，上述方法还包括：若过覆盖采样点占比小于预设占比阈值，则确定待识别基站为非过覆盖基站。

在一种可能的实现方式中，上述方法还包括：若待识别基站为过覆盖基站，则确定待识别基站对应的小区中存在过覆盖采样点的小区为过覆盖小区。若待识别基站为过覆盖基站，则确定待识别基站对应的小区中不存在过覆盖采样点的小区为非过覆盖小区。若待识别基站为非过覆盖基站，则确定待识别基站对应的小区为非过覆盖小区。

在一种可能的实现方式中，根据过覆盖采样点的数量，确定过覆盖采样点占比，具体包括：确定至少一个目标采样点的总数量。将过覆盖采样点的数量与至少一个目标采样点的总数量的商，确定为过覆盖采样点占比。

基于上述技术方案，本申请能够带来以下有益效果：本申请通过统计待识别区域内，每个待识别基站的MR原始数据对应的有位置信息的采样点中，满足与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且RSRP大于或等于预设RSRP阈值的采样点，将其统计为过覆盖采样点，通过计算过覆盖采样点在总采样点中的占比，并与预设占比阈值进行对比，来确定待识别基站是否为过覆盖基站。由此，通过一个基站的MR原始数据对应的采样点到该基站的距离是否超过第一距离阈值来判断是否为越区采样点，再进一步根据采样点对应的信号强度是否超过预设RSRP门限，判断是否为过覆盖采样点，最后根据过覆盖采样点在总采样点中的占比是否超过预设占比门限，判定该基站是否为过覆盖基站，可以软件实现，快速得到准确、客观的评估结果，为无线网络的优化工作提供依据。

第二方面，本申请提供一种过覆盖基站识别装置，该过覆盖基站识别装置包括：获取单元和处理单元。获取单元，用于获取待识别基站的测量报告MR原始数据。处理单元，用于根据待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点；其中，目标采样点为MR原始数据对应的采样点中，具有位置信息记录的采样点。处理单元，还用于确定至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量；其中，过覆盖采样点为至少一个目标采样点中与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且参考信号接收功率RSRP大于或等于预设RSRP阈值的目标采样点。处理单元，还用于根据过覆盖采样点的数量，确定过覆盖采样点占比。处理单元，还用于在过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值时，确定待识别基站为过覆盖基站。

在一种可能的实现方式中，获取单元，还用于获取待识别基站的位置信息。处理单元，还用于根据待识别基站的位置信息，确定至少一个参考基站；参考基站为与待识别基站相邻的基站。处理单元，还用于确定待识别基站与至少一个参考基站之间的平均站距。处理单元，还用于根据平均站距和预设系数，确定第一距离阈值；其中，预设系数大于或等于1。

在一种可能的实现方式中，处理单元，还用于在过覆盖采样点占比小于预设占比阈值时，确定待识别基站为非过覆盖基站。

在一种可能的实现方式中，处理单元，还用于在待识别基站为过覆盖基站时，确定待识别基站对应的小区中存在过覆盖采样点的小区为过覆盖小区。处理单元，还用于在待识别基站为过覆盖基站时，确定待识别基站对应的小区中不存在过覆盖采样点的小区为非过覆盖小区。处理单元，还用于在待识别基站为非过覆盖基站时，确定待识别基站对应的小区为非过覆盖小区。

在一种可能的实现方式中，处理单元，还用于确定至少一个目标采样点的总数量。处理单元，还用于将过覆盖采样点的数量与至少一个目标采样点的总数量的商，确定为过覆盖采样点占比。

此外，第二方面所述的过覆盖基站识别装置的技术效果可以参考上述第一方面所述的过覆盖基站识别方法的技术效果，此处不再赘述。

第三方面，本申请提供一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质，该一个或多个程序包括指令，上述指令当被本申请的电子设备执行时使电子设备执行如第一方面和第一方面的任一种可能的实现方式中所描述的过覆盖基站识别方法。

第四方面，本申请提供一种电子设备，包括：处理器以及存储器；其中，存储器用于存储一个或多个程序，一个或多个程序包括计算机执行指令，当电子设备运行时，处理器执行存储器存储的计算机执行指令，以使电子设备执行如第一方面和第一方面的任一种可能的实现方式中所描述的过覆盖基站识别方法。

第五方面，本申请提供一种包含指令的计算机程序产品，当该指令在计算机上运行时，使得本申请的电子设备执行如第一方面和第一方面的任一种可能的实现方式中所描述的过覆盖基站识别方法。

第六方面，本申请提供一种芯片系统，该芯片系统应用于过覆盖基站识别装置；所述芯片系统包括一个或多个接口电路，以及一个或多个处理器。所述接口电路和所述处理器通过线路互联；所述接口电路用于从所述过覆盖基站识别装置的存储器接收信号，并向所述处理器发送所述信号，所述信号包括所述存储器中存储的计算机指令。当所述处理器执行所述计算机指令时，所述过覆盖基站识别装置执行如第一方面及其任一种可能的设计方式所述的过覆盖基站识别方法。

附图说明

图1为本申请的实施例提供的一种过覆盖基站识别方法的流程示意图；

图2为本申请的实施例提供的另一种过覆盖基站识别方法的流程示意图；

图3为本申请的实施例提供的一种过覆盖基站识别装置的结构示意图；

图4为本申请的实施例提供的另一种过覆盖基站识别装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或者”的关系。例如，A/B可以理解为A或者B。

本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”和“第二”是用于区别不同的对象，而不是用于描述对象的特定顺序。例如，第一边缘服务节点和第二边缘服务节点是用于区别不同的边缘服务节点，而不是用于描述边缘服务节点的特征顺序。

此外，本申请的描述中所提到的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括其他没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

另外，在本申请实施例中，“示例性的”、或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请中被描述为“示例性的”或“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”、或者“例如”等词旨在以具体方式呈现概念。

为了便于理解本申请的技术方案，下面对一些技术术语进行介绍。

1、基站

基站主要用于实现终端设备的资源调度、无线资源管理、无线接入控制等功能。基站可以包括各种形式的基站，例如：宏基站，微基站(也称为小站)，中继站，接入点等。具体可以为：是无线局域网(Wireless Local Area Network，WLAN)中的接入点(access point，AP)，全球移动通信系统(Global System for Mobile Communications，GSM)或码分多址接入(Code Division Multiple Access，CDMA)中的基站(Base Transceiver Station，BTS)，也可以是宽带码分多址(Wideband Code Division Multiple Access，WCDMA)中的基站(NodeB，NB)，还可以是LTE中的演进型基站(Evolved Node B，eNB或eNodeB)，或者中继站或接入点，或者车载设备、可穿戴设备以及未来5G网络中的下一代节点B(The NextGeneration Node B，gNB)或者未来演进的公用陆地移动网(Public Land MobileNetwork，PLMN)网络中的基站等。

2、过覆盖基站

在一个区域的移动通信无线网络包含的多个基站中，为了不对网络性能造成负面影响，要求每个基站所覆盖的小区不能超出设定的范围对其他基站覆盖的小区造成干扰。若一个基站所覆盖的小区超出了预定的范围，且对其他基站覆盖的小区造成了干扰，则称该基站为过覆盖基站(也称之为越区覆盖基站或过远覆盖基站)，该过覆盖基站对应的对其他基站覆盖的小区造成了干扰的小区称为过覆盖小区。

以上对本申请中的一些技术术语进行了介绍。

现阶段，在移动通信无线网络的铺设过程中，由于规划不当、天线过高或优化不当等原因，移动通信无线网络中基站经常会出现过覆盖现象。此时，过覆盖基站会对邻站造成较强干扰，导致邻站产生信令拥塞以及由于干扰带来的掉话、掉线和切换频繁的问题。因此，在网络优化工作中，必须过覆盖基站识别出来并加以解决。

现有技术中，对于过覆盖基站的识别通常有两种方案，一种是采用人工方式，在地理化基站分布图上标记出所有基站的测量报告(measurement report，MR)采样点分布图，进而人工进行识别。但是由于移动通信无线网络的规模越来越大，一个城市或区域内基站的数量会多达几千或几万，此时再采用人工识别的方式所消耗的时间和成本较高，且容易造成遗漏。

另一种方案是使用计算机软件的方式，基于一定的算法对过覆盖基站进行识别。这种采用计算机软件的方式所需求的数据量较大，计算过程较为复杂。

为解决上述现有方案中存在的问题，本申请实施例提供了一种过覆盖基站识别方法及装置。其中，过覆盖基站识别装置通过统计待识别区域内，每个待识别基站的MR原始数据对应的有位置信息的采样点中，满足与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且参考信号接收功率(reference signal receiving power，RSRP)大于或等于预设RSRP阈值的采样点。在此之后，过覆盖基站识别装置将其统计为过覆盖采样点，通过计算过覆盖采样点在总采样点中的占比，并与预设占比阈值进行对比，来确定待识别基站是否为过覆盖基站。

在本申请提供的过覆盖基站识别方法中，执行主体是过覆盖基站识别装置。该过覆盖基站识别装置可以是一种电子设备(例如电脑终端、服务器)，还可以是电子设备中的处理器，还可以是电子设备中用于过覆盖基站识别的控制模块，还可以是电子设备中用于过覆盖基站识别的客户端。示例性的，过覆盖基站识别装置可以设置在待识别基站的通信机房中。

为了解决如何识别过覆盖基站的问题，本申请提供一种过覆盖基站识别方法。如图1所示，本申请提供的过覆盖基站识别方法包括以下步骤：

S101、过覆盖基站识别装置获取MR原始数据。

可选的，过覆盖基站识别装置获取待识别基站的工参数据，该工参数据中包括待识别基站的MR原始数据。由此，过覆盖基站识别装置能够根据待识别基站的工参数据，确定待识别基站的MR原始数据。

S102、过覆盖基站识别装置根据待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点。

其中，目标采样点是指MR原始数据对应的采样点中，具有位置信息记录的采样点。

可选的，目标采样点具有的位置信息可以是经纬度数据。过覆盖基站识别装置通过判断每个采样点对应的MR数据中，是否包括经纬度数据，来判断该采样点是否为目标采样点。若一个采样点对应的MR数据中包括该采样点的经纬度数据，则过覆盖基站识别装置确定该采样点为目标采样点。同理，若一个采样点对应的MR数据中不包括该采样点的经纬度数据，则过覆盖基站识别装置确定该采样点不为目标采样点。

S103、过覆盖基站识别装置确定至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量。

可选的，过覆盖采样点为至少一个目标采样点中与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且RSRP大于或等于预设RSRP阈值的目标采样点。

可选的，过覆盖基站识别装置获取待识别基站的工参数据，该工参数据中包括过覆盖采样点的RSRP。由此，过覆盖基站识别装置能够根据待识别基站的工参数据，确定待识别基站的RSRP。

可选的，第一距离阈值可由过覆盖基站识别装置提前进行预设，也可以根据待识别基站的实际参数进行计算限定，本申请实施例对此不做限定。

可选的，预设RSRP阈值可由过覆盖基站识别装置提前进行预设。例如，过覆盖基站识别装置设置预设RSRP阈值为-100，本申请实施例对此不做限定。

S104、过覆盖基站识别装置根据所述过覆盖采样点的数量，确定过覆盖采样点占比。

可选的，过覆盖基站识别装置统计所有目标采样点的数量，并记为N，N为正整数。过覆盖基站识别装置根据以下公式来计算过覆盖采样点占比：

R＝M/N

其中，R用于表示过覆盖采样点占比，M用于表示过覆盖采样点的数量，N用于表示所有目标采样点的数量，M为自然数，N为正整数。

S105、过覆盖基站识别装置根据过覆盖采样点占比，判断待识别基站是否为过覆盖基站。

可选的，过覆盖基站识别装置根据过覆盖采样点占比与预设占比阈值的大小关系，来判断来判断待识别基站是否为过覆盖基站。其中，预设占比阈值由人工优先设置并输入在过覆盖基站识别装置中，具体根据实际需求而定。示例性的，预设占比阈值的设置范围在10％至30％之间，具体的，例如设为20％。本申请实施例对预设占比阈值的取值设定不做限定。

可选的，若过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值，则确定待识别基站为过覆盖基站；若过覆盖采样点占比小于预设占比阈值，则确定待识别基站为非过覆盖基站。

在一种可能的实现方式中，过覆盖基站识别装置每判断一个基站是否为过覆盖基站后，将该基站写入过覆盖基站名单中。进一步的，过覆盖基站识别装置在对待识别区域中每一个基站进行是否为过覆盖基站的识别后，将过覆盖基站名单输出，为无线网络优化工作的进行提供参考。

可选的，过覆盖基站识别装置在确定待识别基站为过覆盖基站后，进一步的将待识别基站对应的小区中存在过覆盖采样点的小区确定为过覆盖小区，将待识别基站对应的小区中不存在过覆盖采样点的小区为非过覆盖小区。可以理解，过覆盖基站识别装置在确定待识别基站为非过覆盖基站后，过覆盖基站对应的全部小区都为非过覆盖小区。

需要说明的是，由于小区是指在移动通信网络中，一个基站或基站的一部分所覆盖的区域，因此上述对过覆盖基站的识别方法也可直接应用于小区，即上述方法对过覆盖小区的识别同样适用。

本申请通过统计待识别区域内，每个待识别基站的MR原始数据对应的有位置信息的采样点中，满足与待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且RSRP大于或等于预设RSRP阈值的采样点，将其统计为过覆盖采样点，通过计算过覆盖采样点在总采样点中的占比，并与预设占比阈值进行对比，来确定待识别基站是否为过覆盖基站。由此，通过一个基站的MR原始数据对应的采样点到该基站的距离是否超过第一距离阈值来判断是否为越区采样点，再进一步根据采样点对应的信号强度是否超过预设RSRP门限，判断是否为过覆盖采样点，最后根据过覆盖采样点在总采样点中的占比是否超过预设占比门限，判定该基站是否为过覆盖基站，可以软件实现，快速得到准确、客观的评估结果，为无线网络的优化工作提供依据。与现有技术中使用计算机软件的方案相比，本申请需要获取的数据量较少，计算过程简洁，降低了过覆盖过覆盖基站的人力物力成本。

结合图1，如图2所示，本申请提供的过覆盖基站识别方法在步骤S103之前，还包括以下步骤：

S201、过覆盖基站识别装置获取待识别基站的位置信息。

可选的，过覆盖基站识别装置获取待识别基站的工参数据，该工参数据中包括待识别基站的经纬度信息。由此，过覆盖基站识别装置能够根据待识别基站的工参数据中的经纬度信息，确定待识别基站的位置信息。

S202、过覆盖基站识别装置根据待识别基站的位置信息，确定至少一个参考基站。

其中，参考基站为与待识别基站相邻的基站。需要说明的是，此处的与待识别基站相邻的基站，是指待识别基站周边第一圈邻站，在典型的基站布局中，一般参考基站的数量为6个。

S203、过覆盖基站识别装置确定待识别基站与至少一个参考基站之间的平均站距。

其中，待识别基站与至少一个参考基站之间的平均站距，即为待识别基站与各个参考基站之间距离的平均值。

S204、过覆盖基站识别装置根据平均站距和预设系数，确定所述第一距离阈值。

可选的，预设系数可由人工优先设置并输入在过覆盖基站识别装置中，具体根据实际需求而定。示例性的，预设系数的设置范围在1.2至2之间，具体的，例如设为1.5。本申请实施例对预设系数的取值设定不做限定。

需要说明的是，由于小区是指在移动通信网络中，一个基站或基站的一部分所覆盖的区域，因此上述对过覆盖基站的识别方法也可直接应用于小区，即上述方法对过覆盖小区的识别同样适用。

本申请实施例可以根据上述方法示例对过覆盖基站识别装置进行功能模块或者功能单元的划分，例如，可以对应各个功能划分各个功能模块或者功能单元，也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块或者功能单元的形式实现。其中，本申请实施例中对模块或者单元的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

示例性的，如图3所示，为本申请实施例所涉及的一种过覆盖基站识别装置的一种可能的结构示意图。该过覆盖基站识别装置300包括：获取单元301和处理单元302。

其中，获取单元301，用于获取待识别基站的测量报告MR原始数据。

处理单元302，用于根据待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点。

处理单元302，还用于确定至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量。

处理单元302，还用于根据过覆盖采样点的数量，确定过覆盖采样点占比。

处理单元302，还用于在过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值时，确定待识别基站为过覆盖基站。

可选的，获取单元301，还用于获取待识别基站的位置信息。

可选的，处理单元302，还用于根据待识别基站的位置信息，确定至少一个参考基站。

可选的，处理单元302，还用于确定待识别基站与至少一个参考基站之间的平均站距。

可选的，处理单元302，还用于根据平均站距和预设系数，确定第一距离阈值。

可选的，处理单元302，还用于在过覆盖采样点占比小于预设占比阈值时，确定待识别基站为非过覆盖基站。

可选的，处理单元302，还用于在待识别基站为过覆盖基站时，确定待识别基站对应的小区中存在过覆盖采样点的小区为过覆盖小区。

可选的，处理单元302，还用于在待识别基站为过覆盖基站时，确定待识别基站对应的小区中不存在过覆盖采样点的小区为非过覆盖小区。

可选的，处理单元302，还用于在待识别基站为非过覆盖基站时，确定待识别基站对应的小区为非过覆盖小区。

可选的，处理单元302，还用于确定至少一个目标采样点的总数量。

可选的，处理单元302，还用于将过覆盖采样点的数量与至少一个目标采样点的总数量的商，确定为过覆盖采样点占比。

可选的，过覆盖基站识别装置300还可以包括存储单元(图3中以虚线框示出)，该存储单元存储有程序或指令，当处理单元302执行该程序或指令时，使得过覆盖基站识别装置可以执行上述方法实施例所述的过覆盖基站识别方法。

此外，图3所述的过覆盖基站识别装置的技术效果可以参考上述实施例所述的过覆盖基站识别方法的技术效果，此处不再赘述。

示例性地，图4为上述实施例中所涉及的过覆盖基站识别装置的又一种可能的结构示意图。如图4所示，过覆盖基站识别装置400包括：处理器402。

其中，处理器402，用于对该过覆盖基站识别装置的动作进行控制管理，例如，执行上述获取单元301和处理单元302执行的步骤，和/或用于执行本文所描述的技术方案的其它过程。

上述处理器402可以是实现或执行结合本申请内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。该处理器可以是中央处理器，通用处理器，数字信号处理器，专用集成电路，现场可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。所述处理器也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。

可选地，过覆盖基站识别装置400还可以包括通信接口403、存储器401和总线404。其中，通信接口403用于支持过覆盖基站识别装置400与其他网络实体的通信。存储器401用于存储该过覆盖基站识别装置的程序代码和数据。

其中，存储器401可以是过覆盖基站识别装置中的存储器，该存储器可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器；该存储器也可以包括非易失性存储器，例如只读存储器，快闪存储器，硬盘或固态硬盘；该存储器还可以包括上述种类的存储器的组合。

总线404可以是扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture，EISA)总线等。总线404可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图4中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统，装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本申请实施例提供一种包含指令的计算机程序产品，当所述计算机程序产品在本申请的电子设备上运行时，使得所述计算机执行上述方法实施例所述的过覆盖基站识别方法。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当计算机执行该指令时，该本申请的电子设备执行上述方法实施例所示的方法流程中过覆盖基站识别装置执行的各个步骤。

其中，计算机可读存储介质，例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘。随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可擦式可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory，EPROM)、寄存器、硬盘、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的人以合适的组合、或者本领域数值的任何其他形式的计算机可读存储介质。一种示例性的存储介质耦合至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于特定用途集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)中。在本申请实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何在本申请揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种过覆盖基站识别方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待识别基站的测量报告MR原始数据；

根据所述待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点；其中，所述目标采样点为所述MR原始数据对应的采样点中，具有位置信息记录的采样点；

确定所述至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量；其中，所述过覆盖采样点为所述至少一个目标采样点中与所述待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且参考信号接收功率RSRP大于或等于预设RSRP阈值的目标采样点；

根据所述过覆盖采样点的数量，确定所述过覆盖采样点占比；若所述过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值，则确定所述待识别基站为过覆盖基站；

在所述确定所述至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量之前，所述方法还包括：

获取待识别基站的位置信息，根据所述待识别基站的位置信息，确定至少一个参考基站；所述参考基站为与所述待识别基站相邻的基站；

确定所述待识别基站与所述至少一个参考基站之间的平均站距；

根据所述平均站距和预设系数，确定所述第一距离阈值；其中，所述预设系数大于或等于1。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述过覆盖采样点占比小于预设占比阈值，则确定所述待识别基站为非过覆盖基站。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述待识别基站为所述过覆盖基站，则确定所述待识别基站对应的小区中存在所述过覆盖采样点的小区为过覆盖小区；

若所述待识别基站为所述过覆盖基站，则确定所述待识别基站对应的小区中不存在所述过覆盖采样点的小区为非过覆盖小区；

若所述待识别基站为所述非过覆盖基站，则确定所述待识别基站对应的小区为非过覆盖小区。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述过覆盖采样点的数量，确定所述过覆盖采样点占比，具体包括：

确定所述至少一个目标采样点的总数量；

将所述过覆盖采样点的数量与所述至少一个目标采样点的总数量的商，确定为所述过覆盖采样点占比。

5.一种过覆盖基站识别装置，其特征在于，所述过覆盖基站识别装置包括：获取单元和处理单元；

所述获取单元，用于获取待识别基站的测量报告MR原始数据；

所述处理单元，用于根据所述待识别基站的MR原始数据，确定至少一个目标采样点；其中，所述目标采样点为所述MR原始数据对应的采样点中，具有位置信息记录的采样点；

所述处理单元，还用于确定所述至少一个目标采样点中，过覆盖采样点的数量；其中，所述过覆盖采样点为所述至少一个目标采样点中与所述待识别基站之间的距离小于第一距离阈值，且参考信号接收功率RSRP大于或等于预设RSRP阈值的目标采样点；

所述处理单元，还用于根据所述过覆盖采样点的数量，确定所述过覆盖采样点占比；

所述处理单元，还用于在所述过覆盖采样点占比大于或等于预设占比阈值时，确定所述待识别基站为过覆盖基站；

所述获取单元，还用于获取待识别基站的位置信息；

所述处理单元，还用于根据所述待识别基站的位置信息，确定至少一个参考基站；所述参考基站为与所述待识别基站相邻的基站；

所述处理单元，还用于确定所述待识别基站与所述至少一个参考基站之间的平均站距；

所述处理单元，还用于根据所述平均站距和预设系数，确定所述第一距离阈值；其中，所述预设系数大于或等于1。

6.根据权利要求5所述的过覆盖基站识别装置，其特征在于，

所述处理单元，还用于在所述过覆盖采样点占比小于预设占比阈值时，确定所述待识别基站为非过覆盖基站。

7.根据权利要求6所述的过覆盖基站识别装置，其特征在于，

所述处理单元，还用于在所述待识别基站为所述过覆盖基站时，确定所述待识别基站对应的小区中存在所述过覆盖采样点的小区为过覆盖小区；

所述处理单元，还用于在所述待识别基站为所述过覆盖基站时，确定所述待识别基站对应的小区中不存在所述过覆盖采样点的小区为非过覆盖小区；

所述处理单元，还用于在所述待识别基站为所述非过覆盖基站时，确定所述待识别基站对应的小区为非过覆盖小区。

8.根据权利要求5-7任一项所述的过覆盖基站识别装置，其特征在于，

所述处理单元，还用于确定所述至少一个目标采样点的总数量；

所述处理单元，还用于将所述过覆盖采样点的数量与所述至少一个目标采样点的总数量的商，确定为所述过覆盖采样点占比。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器以及存储器；其中，所述存储器用于存储计算机执行指令，当所述电子设备运行时，所述处理器执行所述存储器存储的所述计算机执行指令，以使所述电子设备执行权利要求1-4中任一项所述的过覆盖基站识别方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括指令，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备执行时，使得所述电子设备能够执行如权利要求1-4中任一项所述的过覆盖基站识别方法。

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