CN113884712A - 一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，包括工作台、用于放置触摸屏的载板、设置在工作台上方的支架、设置在支架上的TX测试组件和RX测试组件；载板上方设置有等间距分布的真空吸附嘴，通过真空吸附原理吸附固定触摸屏；TX测试组件和RX测试组件相对工作台能够同时实现横向和纵向的移动，进而实现与触摸屏导电膜测试位的对位。本发明解决了现有电测机无法满足触摸屏导电膜的测试要求或者测试效率低的问题，通过采用多段可移动的测试压头和短路棒，且每个测试压头和短路棒均可以实现横向和纵向的调整，实现不同型号触摸屏导电膜测试需求的切换，能够实现不同型号触摸屏导电膜的电测试，大大提高测试效率。

Description

一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备

技术领域

本发明涉及触控显示模组技术领域，具体地说是一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备。

背景技术

触摸屏touch screen又称为“触控屏”、“触控面板”，是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，当接触了屏幕上的图形按钮时，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连结装置，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。触摸屏作为一种最新的电脑输入设备，它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式。它赋予了多媒体以崭新的面貌，是极富吸引力的全新多媒体交互设备。

目前触摸屏是由TX触控膜和RX触控膜贴合而成，且为了形成窄边框产品，设计了多段测试位。现有的电测机通常采用单测试压头的方式，电测机无法满足测试要求或者测试效率低，需要一种兼容各种尺寸和多段测试的电测设备。例如，附图1中，TX触控膜有4段测试位，RX触控膜有3段测试位，此触控膜从23寸至110寸都有产品，现有电测设备无法满足测试。

因此，提供一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，以解决现有触控屏测试所存在的问题，对其应用推广具有重要意义。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，以适用不同规格尺寸触摸屏且多段测试位的电测试，提高测试效率。

为了达到上述目的，本申请提供如下技术方案。

一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，包括工作台、用于放置触摸屏的载板、设置在工作台上方的支架、设置在支架上的TX测试组件和RX测试组件；

所述载板上方设置有等间距分布的真空吸附嘴，通过真空吸附原理吸附固定触摸屏；

所述TX测试组件和RX测试组件相对工作台能够同时实现横向和纵向的移动，进而实现与触摸屏导电膜测试位的对位；

所述TX测试组件包括TX测试压头和TX短路棒，所述RX测试组件包括RX测试压头和RX短路棒。

优选地，所述支架下方设置有第一滑槽，所述工作台上设置有与第一滑槽相对应的第一滑轨，以实现支架相对工作台的滑动；

所述TX测试组件和RX测试组件分别通过安装架固定在支架上。

优选地，所述支架的数量为4个，即第一支架、第二支架、第三支架及第四支架，所述TX测试压头和TX短路棒设置在第二支架和第三支架上；所述RX短路棒设置在第一支架上；所述RX测试压头设置在第四支架上。

优选地，所述安装架包括滑套、第一气缸、第一连接板，所述第一气缸固定在滑套下方，所述第一连接板设置在第一气缸的下方，所述TX测试压头和/或RX测试压头安装在第一连接板的下方，第一气缸能够带动TX测试组件和/或RX测试组件实现上下移动。

优选地，所述滑套上设置有第三滑槽，所述支架上设置有与第三滑槽相对应的第三滑轨，以实现滑套相对支架的滑动。

优选地，所述滑套一侧设置有固定板，固定板下方设置有CCD相机，所述CCD相机方便实现靶标对位。

优选地，所述滑套一侧设置有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓，通过拧紧螺栓顶住第三滑轨，以实现滑套在支架上位置的固定。

优选地，所述TX测试压头/RX测试压头包括治具板、对位探针、测试探针，治具板固定在第一连接板下方；所述对位探针、测试探针均固定在治具板的下方，所述对位探针的数量为2个，所述测试探针的数量为2个或2个以上，且等间距分布在2个对位探针之间，方便进行靶标矫正。

优选地，所述RX短路棒的数量为1个，所述第一支架上设置有滚珠丝杆，滚珠丝杆两端分别通过轴承固定在第一支架上，且滚珠丝杆一端连接有驱动电机；所述RX短路棒通过滑块固定在滚珠丝杆上，驱动电机通过带动滚珠丝杆转动实现RX短路棒的相对移动。

优选地，所述载板下方设置有第二滑槽，工作台上设置有与第二滑槽相对应的第二滑轨，以实现载板相对工作台的移动。

本发明所获得的有益技术效果：

1)本发明解决了现有电测机无法满足触摸屏导电膜的测试要求或者测试效率低的问题，通过采用多段可移动的测试压头和短路棒，能够实现不同型号触摸屏导电膜的电测试，大大提高测试效率。

2)本发明中每个测试压头和短路棒均可以实现横向和纵向的调整，实现不同型号触摸屏导电膜测试需求的切换；通过支架相对工作台的移动，实现测试压头和短路棒的横向移动，通过安装架相对支架的移动，实现测试压头和短路棒的纵向移动，能够适应不同规格触摸屏的电测试；测试压头包括治具板、对位探针、测试探针，对位探针的长度大于测试探针的长度，以使得对位探针和测试探针可以同步下压到测试位，方便调整和查看，方便靶标对位，且缩短对位时间，从而提高测试效率。

3)本发明中TX测试压头、TX短路棒、RX测试压头、RX短路棒的数量可以为1个或1个以上，以满足现有多段测试位触摸屏的电测需求，大大提高电测设备的适用性；载板通过真空吸附原理吸附固定触控膜，载板带触控膜通过载板导轨进入测试区，可以实现工作台上放料区和测试区的分离，便于自动上下料。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，从而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下以本申请的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

根据下文结合附图对本申请具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本申请的上述及其他目的、优点和特征。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。

图1是现有技术中TX触控膜和RX触控膜的结构示意图；

图2是本公开一种实施例中电容式触摸屏导电膜探针式电测设备的结构示意图1；

图3是本公开一种实施例中电容式触摸屏导电膜探针式电测设备的结构示意图2；

图4是附图2的俯视图；

图5是附图2的右视图；

图6是本公开一种实施例中安装架和测试压头的结构示意图；

图7是本公开另一种实施例中电容式触摸屏导电膜探针式电测设备的结构示意图；

图8是本公开另一种实施例中滑块、第二气缸、第二连接板的连接结构示意图。

在以上附图中：100、工作台；110、第一滑轨；120、限位块；130、第二滑轨；140、限位板；200、载板；210、第二滑槽；310、第一支架；320、第二支架；330、第三支架；340、第四支架；350、第一滑槽；360、第三滑轨；400、安装架；410、滑套；420、第一气缸；430、第三滑槽；440、第一连接板；450、固定板；460、CCD相机；470、螺栓；510、TX测试压头；520、TX短路棒；610、RX测试压头；620、RX短路棒；710、治具板；720、对位探针；730、测试探针；810、滚珠丝杆；820、驱动电机；830、滑块；840、第二气缸；850、第二连接板。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。在下面的描述中，提供诸如具体的配置和组件的特定细节仅仅是为了帮助全面理解本申请的实施例。因此，本领域技术人员应该清楚，可以对这里描述的实施例进行各种改变和修改而不脱离本申请的范围和精神。另外，为了清楚和简洁，实施例中省略了对已知功能和构造的描述。

应该理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“本实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“一个实施例”或“本实施例”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。

此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身并不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。

本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，单独存在B，同时存在A和B三种情况，本文中术语“/和”是描述另一种关联对象关系，表示可以存在两种关系，例如，A/和B，可以表示：单独存在A，单独存在A和B两种情况，另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”关系。

本文中术语“至少一种”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和B的至少一种，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含。

如附图2-5所示，一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，包括工作台100、用于放置触摸屏的载板200、设置在工作台100上方的支架300、设置在支架300上的TX测试组件和RX测试组件。

所述载板200上方设置有等间距分布的真空吸附嘴，通过真空吸附原理吸附固定触摸屏。

进一步的，所述载板200下方设置有第二滑槽210，工作台100上设置有与第二滑槽210相对应的第二滑轨130，以实现载板200相对工作台100的移动。

进一步的，所述工作台100的两侧均设置有限位板140，限位板140用于限定载板200移动的位置，有效防止载板200脱离工作台100。

所述TX测试组件和RX测试组件相对工作台100能够同时实现横向和纵向的移动，进而实现与触摸屏导电膜测试位的对位。

所述TX测试组件和RX测试组件分别通过安装架400固定在支架上，且能够相对支架移动。所述TX测试组件包括TX测试压头510和TX短路棒520，所述RX测试组件包括RX测试压头610和RX短路棒620。

所述支架下方设置有第一滑槽350，所述工作台100上设置有与第一滑槽350相对应的第一滑轨110，以实现支架相对工作台100的滑动，方便实现工作台100上放料区和测试区的分离，便于自动上下料，大大提高测试效率。

进一步的，所述第一滑轨110的两端均设置有限位块120，限位块120用于限定支架两端移动的位置。

所述支架的数量为4个，即第一支架310、第二支架320、第三支架330及第四支架340，所述TX测试压头510和TX短路棒520设置在第二支架320和第三支架330上，且TX测试压头510设置在第二支架320和第三支架330的同侧，TX短路棒520也设置在第二支架320和第三支架330的同侧，且与TX测试压头510的位置相对；TX测试压头510和TX短路棒520相对第二支架320和第三支架330能够滑动。所述RX短路棒620设置在第一支架310上，且相对第一支架310能够滑动；所述RX测试压头610设置在第四支架340上，且相对第四支架340能够滑动。

在一个实施例中，如附图6所示，所述安装架400包括滑套410、第一气缸420、第一连接板440，所述第一气缸420固定在滑套410下方，所述第一连接板440设置在第一气缸420的下方，所述TX测试压头510和/或RX测试压头610安装在第一连接板440的下方，第一气缸420能够带动TX测试组件和/或RX测试组件实现上下移动。

所述滑套410上设置有第三滑槽430，所述支架上设置有与第三滑槽430相对应的第三滑轨360，以实现滑套410相对支架的滑动。

进一步的，所述滑套410一侧设置有固定板450，固定板450下方设置有CCD相机460，所述CCD相机460方便实现靶标对位。

进一步的，所述第一连接板440下方设置有微调机构6(附图中未标识)，所述TX测试压头510和/或RX测试压头610安装在微调机构6下方，以实现对位时TX测试压头510和/或RX测试压头610位置和角度的微调，即XYθ的微调，从而实现靶标对位。通过通过CCD相机460和微调机构的配合实现靶标对位。

可替换的，所述载板200的下方设置有微调机构，方便实现靶标对位。

进一步的，所述滑套410一侧设置有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓470，通过拧紧螺栓470顶住第三滑轨360，以实现滑套410在支架上位置的固定。

在一个实施例中，参见附图6，所述TX测试压头510/RX测试压头610包括治具板710、对位探针720、测试探针730，治具板710固定在第一连接板440下方；所述对位探针720、测试探针730均固定在治具板710的下方，所述对位探针720的数量为2个，所述测试探针730的数量为2个或2个以上，且等间距分布在2个对位探针720之间，方便进行靶标矫正。

进一步的，所述对位探针720的长度大于测试探针730的长度，方便调整和查看，对位探针720可伸缩距离大于测试探针730，以使得对位探针720和测试探针730可以同步下压到测试位。所述第一气缸420带动治具板710下移，对位探针720与靶标中心重合则对位准确，测试探针730测试电阻使用。

在一个实施例中，如附图7所示，所述RX短路棒620的数量为1个，所述第一支架310上设置有滚珠丝杆810，滚珠丝杆810两端分别通过轴承固定在第一支架310上，且滚珠丝杆810一端连接有驱动电机820；所述RX短路棒620通过滑块830固定在滚珠丝杆810上，驱动电机820通过带动滚珠丝杆810转动实现RX短路棒620的相对移动。

进一步的，如附图8所述，所述滑块830下方设置有第二气缸840，第二气缸840下方设置有第二连接板850，所述RX短路棒620固定在第二连接板850上。

上述电容式触摸屏导电膜探针式电测设备的工作原理：载板200接收并吸附触控膜，载板200带触控膜通过第二滑轨130进入测试区。

当测试TX触控膜：

初始调整阶段：根据触摸屏型号例如附图1中的产品，滑动第一移动支架320和TX测试压头510，从而使得两个TX测试压头510对应TX触控膜T01和T02测试位，滑动第二移动支架330和TX短路棒520，从而使得两个TX短路棒520移动到TX触控膜T02和T03测试位。

自动测试阶段：两个TX测试压头510下压，测试测试位相邻PIN的电阻，以测试TX通道的短路，测试结束，两个TX短路棒520下压，测试测试位每个PIN与短路棒的电阻，以测试TX通道的断路。

其中，TX的两个短路棒可以也设置成TX测试压头510，直接一次性测试测试位的相邻PIN电阻和每个PIN与短路棒的电阻。

当测试RX触控膜：

初始调整阶段，根据型号例如附图1中的产品，将三个RX测试压头610移动到RX触控膜R01、R02和R03测试位，并将RX短路棒620移动到测试位的对侧。

自动测试阶段，三个RX测试压头610下压，测试测试位相邻PIN的电阻，以测试RX通道的短路，测试结束，RX短路棒620下压，测试测试位每个PIN与短路棒的电阻，以测试RX通道的断路。

需要说明的是，本实施例中TX测试压头510、TX短路棒520、RX测试压头610、RX短路棒620的数量可以为任意数量，即可以为1个或1个以上，本发明技术方案所保护的范围并不限定于本实施例中的数量。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，其并非因此限制本发明的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，通过常规的替代或者能够实现相同的功能在不脱离本发明的原理和精神的情况下对这些实施例进行变化、修改、替换、整合和参数变更均落入本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，包括工作台(100)、用于放置触摸屏的载板(200)、设置在工作台(100)上方的支架(300)、设置在支架(300)上的TX测试组件和RX测试组件；

所述载板(200)上方设置有等间距分布的真空吸附嘴，通过真空吸附原理吸附固定触摸屏；

所述TX测试组件和RX测试组件相对工作台(100)能够同时实现横向和纵向的移动，进而实现与触摸屏导电膜测试位的对位；

所述TX测试组件包括TX测试压头(510)和TX短路棒(520)，所述RX测试组件包括RX测试压头(610)和RX短路棒(620)。

2.根据权利要求1所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述支架下方设置有第一滑槽(350)，所述工作台(100)上设置有与第一滑槽(350)相对应的第一滑轨(110)，以实现支架相对工作台(100)的滑动；

所述TX测试组件和RX测试组件分别通过安装架(400)固定在支架上。

3.根据权利要求2所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述支架的数量为4个，即第一支架(310)、第二支架(320)、第三支架(330)及第四支架(340)，所述TX测试压头(510)和TX短路棒(520)设置在第二支架(320)和第三支架(330)上；所述RX短路棒(620)设置在第一支架(310)上；所述RX测试压头(610)设置在第四支架(340)上。

4.根据权利要求2所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述安装架(400)包括滑套(410)、第一气缸(420)、第一连接板(440)，所述第一气缸(420)固定在滑套(410)下方，所述第一连接板设置在第一气缸(420)的下方，所述TX测试压头(510)和/或RX测试压头(610)安装在第一连接板(440)的下方，第一气缸(420)能够带动TX测试组件和/或RX测试组件实现上下移动。

5.根据权利要求4所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，所述滑套(410)上设置有第三滑槽(430)，所述支架上设置有与第三滑槽(430)相对应的第三滑轨(360)，以实现滑套(410)相对支架的滑动。

6.根据权利要求4所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述滑套(410)一侧设置有固定板(450)，固定板(450)下方设置有CCD相机(670)，所述CCD相机(460)方便实现靶标对位。

7.根据权利要求4所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述滑套(410)一侧设置有螺纹孔，螺纹孔内设置有螺栓(470)，通过拧紧螺栓(470)顶住第三滑轨，以实现滑套(410)在支架上位置的固定。

8.根据权利要求4所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述TX测试压头(510)/RX测试压头(610)包括治具板(710)、对位探针(720)、测试探针(730)，治具板固定在第一连接板(440)下方；所述对位探针(720)、测试探针(730)均固定在治具板(710)的下方，所述对位探针(720)的数量为2个，所述测试探针(730)的数量为2个或2个以上，且等间距分布在2个对位探针(720)之间，方便进行靶标矫正。

9.根据权利要求3所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述RX短路棒(620)的数量为1个，所述第一支架上设置有滚珠丝杆(810)，滚珠丝杆(810)两端分别通过轴承固定在第一支架(310)上，且滚珠丝杆(810)一端连接有驱动电机(820)；所述RX短路棒(620)通过滑块固定在滚珠丝杆(810)上，驱动电机(820)通过带动滚珠丝杆(810)转动实现RX短路棒(620)的相对移动。

10.根据权利要求1所述的电容式触摸屏导电膜探针式电测设备，其特征在于，所述载板(200)下方设置有第二滑槽(210)，工作台(100)上设置有与第二滑槽(210)相对应的第二滑轨(130)，以实现载板(200)相对工作台(100)的移动。

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