CN113857061A - 一种电子元件检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种电子元件检测方法，该一种电子元件检测方法采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱，检测箱一侧设有进料传输机构对电子元件进行传输到检测箱内，检测箱远离进料传输机构一侧设有出料传输机构把检测完成的电子元件传输出检测箱外，检测箱内部上方向进料传输机构一侧设有控制下料部件控制电子元件依次有序下落，控制下料部件下方设有摆正部件对电子元件进行旋转摆正居中下落，摆正部件下方设有检测部件对电子元件进行检测筛选。
Description
技术领域
本发明涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种电子元件检测方法。
背景技术
电子元件，是电子电路中的基本元素，现有的电子元件在进行生产加工时，其成品多需要进行运输，以方便转移电子元件，从而再来进行电子元件的包装加工，而由于电子元件存在着不合格品，如次品充斥在成品中，则导致产品的合格率大大下降，影响生产厂商的口碑，同时次品流入市场后，当其进行安装使用时，也存在着极大的安全隐患，十分的危险，目前的电子元件检测需要人工进行摆正用万用表和电流表进行检测，电子元件检测数量多而且繁琐。
发明内容
本发明的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种电子元件检测方法，
本发明的目的可通过下列技术方案来实现：一种电子元件检测方法，包括以下步骤:
S1:电子元件放入，电子元件在进料传输机构上通过进料口进入到检测箱内；
S2:控制下落，电子元件进入到漏斗内依次下落到摆正部件内；
S3：转动摆正，电子元件下端被滑块吸铁石吸住，漏斗转动使电子元件上端向上离心方向；
S4：居中下落，摆正好的电子元件进行居中下落到检测部件内；
S5：调整，对电子元件进行连接脚进行方位调整和电子元件卡位进行限制；
S6：检测，对电子元件进行万用表检测，通过检测的数据进行判断；
S7:转动筛选，通过转动把坏的电子元件放入回收盒内，好的转动到收集盒内；
S8：传输，把装好的电子元件传输出检测箱进行打包运输；
步骤S1-S8采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱，检测箱一侧设有进料传输机构对电子元件进行传输到检测箱内，检测箱远离进料传输机构一侧设有出料传输机构把检测完成的电子元件传输出检测箱外，检测箱内部上方向进料传输机构一侧设有控制下料部件控制电子元件依次有序下落，控制下料部件下方设有摆正部件对电子元件进行旋转摆正居中下落，摆正部件下方设有检测部件对电子元件进行检测筛选。
优选的，检测箱向进料传输机构方向的一端滑动设有进口滑门，检测箱向出料传输机构一端滑动设有出口滑门，出料传输机构在检测箱内部上端设有放置盒。
优选的，控制下料部件包括进料漏斗，进料漏斗位于检测箱向进料传输机构方向的一端上方，进料漏斗上方设有挡块，挡块固定在检测箱上，进料漏斗中间固设有隔板，隔板上端固设有导向固定块，导向固定块两侧设有两个推动组，推动组包含设有多层伸缩柱，多层伸缩柱远离导向固定块一端固设有推板，隔板两侧转动连接设有两个转柱，两个转柱外围固设有两个转动板，隔板下端设有第一滑槽，第一滑槽内滑动设有两个滑块，两个滑块下端固设有两个伸缩吸铁石，进料漏斗内部底部两侧固设有两个固定挡块，进料漏斗内部底部中间设有下落口。
优选的，摆正部件包括摆正漏斗，摆正漏斗位于进料漏斗下方，摆正漏斗外围转动连接设有固定板，固定板固定在检测箱上，摆正漏斗向进料传输机构一侧滑动设有多个滑动吸铁石，摆正漏斗下端固设有摆正筒，摆正筒内部下方两侧设有两个居中推环，固定板远离进料传输机构方向的下端固设有固定块，固定块下方设有电机，电机上端固设有第一联动轴，第一联动轴与固定块转动连接，第一联动轴外围固设有带动套筒，带动套筒与摆正筒联动连接。
优选的，检测部件包括第二联动轴，第二联动轴固定在电机下端，第二联动轴外圆周面上固设有四个伸缩连接杆，四个伸缩连接杆远离第二联动轴一端固设有四个检测固定组，第二联动轴一侧设有收集盒，收集盒固定在检测箱一侧底部，收集盒向第二联动轴方向一端固设有倾斜导向板。
优选的，检测固定组包含设有固定环，固定环内部两侧滑动设有两个滑动卡位块，固定环下端一侧设有万用表检测组，固定环下端远离万用表检测组一侧设有电流表检测组，固定环下端两侧设有转动组，转动组包含设有两个伸缩转动柱，两伸缩转动柱转动连接在固定环上，两个伸缩转动柱下端固设有两个拨杆，万用表检测组包含设有两个第一齿轮，两个第一齿轮转动连接在固定环下端，两个第一齿轮啮合连接设有两个第一检测笔套，两个第一检测笔套滑动连接在固定环下端，两个第一检测笔套内部滑动设有两个第一伸缩检测笔，电流表检测组包含设有两个第二齿轮，两个第二齿轮转动连接在固定环下端，两个第二齿轮啮合设有两个第二检测笔套，两个第二检测笔套滑动连接在固定环下端，两个第二检测笔套内部滑动设有两个第二伸缩检测笔。
有益效果：
1.通过控制下料部件和摆正部件设置，对电子元件进行依次排序和摆正居中，有利于电子元件的检测。
2.通过检测部件设置，对电子元件进行好坏的检测和检测部件种类的检测进行分类，有利于对电子元件的存储。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的解释:
图1为本发明的方法流程图。
图2为本发明的等轴测结构示意图。
图3为本发明的正视图结构示意图。
图4为图3中A-A处剖视结构示意图。
图5为图3中B-B处剖视结构示意图。
图6为图4中A处的局部放大图结构示意图。
图7为图5中B处的局部放大图结构示意图。
图8为本发明的正视图结构示意图。
图9为图8中C-C处剖视结构示意图。
图10为图9中C处的局部放大图结构示意图。
图11为图9中D处的局部放大图结构示意图。
图中，检测箱10、进料传输机构11、出料传输机构12、控制下料部件13、摆正部件14、检测部件15、放置盒16、进口滑门17、出口滑门18、挡块19、进料漏斗20、隔板21、导向固定块22、推动组23、多层伸缩柱24、推板25、转柱26、转动板27、第一滑槽28、滑块29、伸缩吸铁石30、固定挡块31、下落口32、摆正漏斗33、滑动吸铁石34、摆正筒35、居中推环36、固定板37、固定块38、电机39、第一联动轴40、带动套筒41、第二联动轴42、伸缩连接杆43、检测固定组44、固定环45、滑动卡位块46、万用表检测组47、电流表检测组48、转动组49、伸缩转动柱50、拨杆51、第一齿轮52、第一检测笔套53、第一伸缩检测笔54、第二齿轮55、第二检测笔套56、第二伸缩检测笔57、倾斜导向板58、收集盒59。
具体实施方式
以下是本发明的具体实施例并结合附图，对本发明的技术方案作进一步的描述，但本发明并不限于这些实施例。
结合图1-11，一种电子元件检测方法，包括以下步骤:
S1:电子元件放入，电子元件在进料传输机构上通过进料口进入到检测箱内；
S2:控制下落，电子元件进入到漏斗内依次下落到摆正部件内；
S3：转动摆正，电子元件下端被滑块吸铁石吸住，漏斗转动使电子元件上端向上离心方向；
S4：居中下落，摆正好的电子元件进行居中下落到检测部件内；
S5：调整，对电子元件进行连接脚进行方位调整和电子元件卡位进行限制；
S6：检测，对电子元件进行万用表检测，通过检测的数据进行判断；
S7:转动筛选，通过转动把坏的电子元件放入回收盒内，好的转动到收集盒内；
S8：传输，把装好的电子元件传输出检测箱进行打包运输；
步骤S1-S8采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱10，检测箱10一侧设有进料传输机构11对电子元件进行传输到检测箱10内，检测箱10远离进料传输机构11一侧设有出料传输机构12把检测完成的电子元件传输出检测箱10外，检测箱10内部上方向进料传输机构11一侧设有控制下料部件13控制电子元件依次有序下落，控制下料部件13下方设有摆正部件14对电子元件进行旋转摆正居中下落，摆正部件14下方设有检测部件15对电子元件进行检测筛选。
进一步的，结合图1-11，检测箱10向进料传输机构11方向的一端滑动设有进口滑门17，检测箱10向出料传输机构12一端滑动设有出口滑门18，出料传输机构12在检测箱10内部上端设有放置盒16。
进一步的，结合图1-11，控制下料部件13包括进料漏斗20，进料漏斗20位于检测箱10向进料传输机构11方向的一端上方，进料漏斗20上方设有挡块19，挡块19固定在检测箱10上，进料漏斗20中间固设有隔板21，隔板21上端固设有导向固定块22，导向固定块22两侧设有两个推动组23，推动组23包含设有多层伸缩柱24，多层伸缩柱24远离导向固定块22一端固设有推板25，隔板21两侧转动连接设有两个转柱26，两个转柱26外围固设有两个转动板27，隔板21下端设有第一滑槽28，第一滑槽28内滑动设有两个滑块29，两个滑块29下端固设有两个伸缩吸铁石30，进料漏斗20内部底部两侧固设有两个固定挡块31，进料漏斗20内部底部中间设有下落口32。
进一步的，结合图1-11，摆正部件14包括摆正漏斗33，摆正漏斗33位于进料漏斗20下方，摆正漏斗33外围转动连接设有固定板37，固定板37固定在检测箱10上，摆正漏斗33向进料传输机构11一侧滑动设有多个滑动吸铁石34，摆正漏斗33下端固设有摆正筒35，摆正筒35内部下方两侧设有两个居中推环36，固定板37远离进料传输机构11方向的下端固设有固定块38，固定块38下方设有电机39，电机39上端固设有第一联动轴40，第一联动轴40与固定块38转动连接，第一联动轴40外围固设有带动套筒41，带动套筒41与摆正筒35联动连接。
进一步的，结合图1-11，检测部件15包括第二联动轴42，第二联动轴42固定在电机39下端，第二联动轴42外圆周面上固设有四个伸缩连接杆43，四个伸缩连接杆43远离第二联动轴42一端固设有四个检测固定组44，第二联动轴42一侧设有收集盒59，收集盒59固定在检测箱10一侧底部，收集盒59向第二联动轴42方向一端固设有倾斜导向板58。
进一步的，结合图1-11，检测固定组44包含设有固定环45，固定环45内部两侧滑动设有两个滑动卡位块46，固定环45下端一侧设有万用表检测组47，固定环45下端远离万用表检测组47一侧设有电流表检测组48，固定环45下端两侧设有转动组49，转动组49包含设有两个伸缩转动柱50，两伸缩转动柱50转动连接在固定环45上，两个伸缩转动柱50下端固设有两个拨杆51，万用表检测组47包含设有两个第一齿轮52，两个第一齿轮52转动连接在固定环45下端，两个第一齿轮52啮合连接设有两个第一检测笔套53，两个第一检测笔套53滑动连接在固定环45下端，两个第一检测笔套53内部滑动设有两个第一伸缩检测笔54，电流表检测组48包含设有两个第二齿轮55，两个第二齿轮55转动连接在固定环45下端，两个第二齿轮55啮合设有两个第二检测笔套56，两个第二检测笔套56滑动连接在固定环45下端，两个第二检测笔套56内部滑动设有两个第二伸缩检测笔57。
工作原理
S1:电子元件放入，电子元件放在进料传输机构11上,进口滑门17上滑打开，进料传输机构11启动把电子元件通过进料口进入到检测箱10内。
S2:控制下落，电子元件从进料传输机构11上下落到控制下料部件13内，跑出的电子元件被挡块19挡回控制下料部件13内，导向固定块22把电子元件往两边分布，多层伸缩柱24多次伸出推动推板25把电子元件推到转动板27上端，转柱26转动带动转动板27转动把电子元件下落，滑块29在第一滑槽28内滑动带动伸缩吸铁石30把电子元件吸起来依次通过下落口32下落到摆正部件14内。
S3：转动摆正，电子元件下落到摆正漏斗33内，下端被滑动吸铁石34吸住，电机39启动通过第一联动轴40转动带动带动套筒41转动，带动套筒41转动带动摆正筒35转动，摆正筒35转动带动摆正漏斗33转动，通过摆正漏斗33转动产生离心力把电子元件上端离心向上，滑动吸铁石34带动电子元件下滑到摆正筒35内。
S4：居中下落，摆正好的电子元件被两个居中推环36卡主居中，滑动吸铁石34滑走，电子元件有连接脚的一端向下。
S5：调整，电子元件下落到固定环45内，两个滑动卡位块46滑出按照电子元件的上端大小进行卡位，伸缩转动柱50伸缩转动带动拨杆51转动碰到电子元件长脚，使电子元件长脚端向收集盒59方向转动。
S6：检测，正级第一齿轮52转动啮合带动正级第一检测笔套53滑动，正级第一检测笔套53滑动带动正级第一伸缩检测笔54碰到电子元件长脚端，负极第一齿轮52转动啮合带动负极第一检测笔套53滑动，负极第一检测笔套53滑动带动负级第一伸缩检测笔54碰到电子元件其他脚进行检测电子元件是否可以正常使用，万用表检测组47回到原来位置电流表检测组48进行检测，正级第二齿轮55转动啮合带动正级第二检测笔套56滑动，正级第二检测笔套56滑动带动正级第二伸缩检测笔57接触电子元件长脚端，负级第二齿轮55转动啮合带动负级第二检测笔套56滑动，负级第二检测笔套56滑动带动负级第二伸缩检测笔57接触电子元件其他脚端，通过电流表检测组48检测的数据进行电子元件识别。
S7:转动筛选，电机39启动通过第二联动轴42转动带动伸缩连接杆43转动，伸缩连接杆43转动通过检测固定组44带动电子元件转动，当坏的电子元件转动到倾斜导向板58上方时，滑动卡位块46滑回把坏的电子元件下落通过倾斜导向板58进入到收集盒59内进行收集，好的电子元件转动到放置盒16上方，通过电流表检测组48的数据对电子元件进行分类存储，二极管放在放置盒16两侧，三级管放在放置盒16靠近二极管的两侧，其他电子元件放在放置盒16中间，电子元件之间通过伸缩连接杆43伸缩进行移动下落到放置盒16内。
S8：传输，出口滑门18上滑打开，出料传输机构12启动把装好的电子元件传输出检测箱10外进行打包运输。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种电子元件检测方法，其特征在于，包括以下步骤:
S1:电子元件放入，电子元件在进料传输机构上通过进料口进入到检测箱内；
S2:控制下落，电子元件进入到漏斗内依次下落到摆正部件内；
S3：转动摆正，电子元件下端被滑块吸铁石吸住，漏斗转动使电子元件上端向上离心方向；
S4：居中下落，摆正好的电子元件进行居中下落到检测部件内；
S5：调整，对电子元件进行连接脚进行方位调整和电子元件卡位进行限制；
S6：检测，对电子元件进行万用表检测，通过检测的数据进行判断；
S7:转动筛选，通过转动把坏的电子元件放入回收盒内，好的转动到收集盒内；
S8：传输，把装好的电子元件传输出检测箱进行打包运输；
步骤S1-S8采用一种电子元件检测设备配合完成,该电子元件检测设备包括检测箱(10)，所述检测箱(10)一侧设有进料传输机构(11)对电子元件进行传输到检测箱(10)内，所述检测箱(10)远离进料传输机构(11)一侧设有出料传输机构(12)把检测完成的电子元件传输出检测箱(10)外，所述检测箱(10)内部上方向进料传输机构(11)一侧设有控制下料部件(13)控制电子元件依次有序下落，所述控制下料部件(13)下方设有摆正部件(14)对电子元件进行旋转摆正居中下落，所述摆正部件(14)下方设有检测部件(15)对电子元件进行检测筛选。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件检测方法，其特征在于：所述检测箱(10)向进料传输机构(11)方向的一端滑动设有进口滑门(17)，所述检测箱(10)向出料传输机构(12)一端滑动设有出口滑门(18)，所述出料传输机构(12)在检测箱(10)内部上端设有放置盒(16)。
3.根据权利要求2所述的一种电子元件检测方法，其特征在于：所述控制下料部件(13)包括进料漏斗(20)，所述进料漏斗(20)位于检测箱(10)向进料传输机构(11)方向的一端上方，所述进料漏斗(20)上方设有挡块(19)，所述挡块(19)固定在检测箱(10)上，所述进料漏斗(20)中间固设有隔板(21)，所述隔板(21)上端固设有导向固定块(22)，所述导向固定块(22)两侧设有两个推动组(23)，所述推动组(23)包含设有多层伸缩柱(24)，所述多层伸缩柱(24)远离导向固定块(22)一端固设有推板(25)，所述隔板(21)两侧转动连接设有两个转柱(26)，所述两个转柱(26)外围固设有两个转动板(27)，所述隔板(21)下端设有第一滑槽(28)，所述第一滑槽(28)内滑动设有两个滑块(29)，所述两个滑块(29)下端固设有两个伸缩吸铁石(30)，所述进料漏斗(20)内部底部两侧固设有两个固定挡块(31)，所述进料漏斗(20)内部底部中间设有下落口(32)。
4.根据权利要求3所述的一种电子元件检测方法，其特征在于：所述摆正部件(14)包括摆正漏斗(33)，所述摆正漏斗(33)位于进料漏斗(20)下方，所述摆正漏斗(33)外围转动连接设有固定板(37)，所述固定板(37)固定在检测箱(10)上，所述摆正漏斗(33)向进料传输机构(11)一侧滑动设有多个滑动吸铁石(34)，所述摆正漏斗(33)下端固设有摆正筒(35)，所述摆正筒(35)内部下方两侧设有两个居中推环(36)，所述固定板(37)远离进料传输机构(11)方向的下端固设有固定块(38)，所述固定块(38)下方设有电机(39)，所述电机(39)上端固设有第一联动轴(40)，所述第一联动轴(40)与固定块(38)转动连接，所述第一联动轴(40)外围固设有带动套筒(41)，所述带动套筒(41)与摆正筒(35)联动连接。
5.根据权利要求4所述的一种电子元件检测方法，其特征在于：所述检测部件(15)包括第二联动轴(42)，所述第二联动轴(42)固定在电机(39)下端，所述第二联动轴(42)外圆周面上固设有四个伸缩连接杆(43)，所述四个伸缩连接杆(43)远离第二联动轴(42)一端固设有四个检测固定组(44)，所述第二联动轴(42)一侧设有收集盒(59)，所述收集盒(59)固定在检测箱(10)一侧底部，所述收集盒(59)向第二联动轴(42)方向一端固设有倾斜导向板(58)。
6.根据权利要求5所述的一种电子元件检测方法，其特征在于：所述检测固定组(44)包含设有固定环(45)，所述固定环(45)内部两侧滑动设有两个滑动卡位块(46)，所述固定环(45)下端一侧设有万用表检测组(47)，所述固定环(45)下端远离万用表检测组(47)一侧设有电流表检测组(48)，所述固定环(45)下端两侧设有转动组(49)，所述转动组(49)包含设有两个伸缩转动柱(50)，所述两个伸缩转动柱(50)转动连接在固定环(45)上，所述两个伸缩转动柱(50)下端固设有两个拨杆(51)，所述万用表检测组(47)包含设有两个第一齿轮(52)，所述两个第一齿轮(52)转动连接在固定环(45)下端，所述两个第一齿轮(52)啮合连接设有两个第一检测笔套(53)，所述两个第一检测笔套(53)滑动连接在固定环(45)下端，所述两个第一检测笔套(53)内部滑动设有两个第一伸缩检测笔(54)，所述电流表检测组(48)包含设有两个第二齿轮(55)，所述两个第二齿轮(55)转动连接在固定环(45)下端，所述两个第二齿轮(55)啮合设有两个第二检测笔套(56)，所述两个第二检测笔套(56)滑动连接在固定环(45)下端，所述两个第二检测笔套(56)内部滑动设有两个第二伸缩检测笔(57)。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117609695A (zh) * | 2023-11-29 | 2024-02-27 | 中创华源科技有限公司 | 基于dnn检测算法和ai智能识别检测方法及电子设备 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009105363A (ja) * | 2007-05-28 | 2009-05-14 | Nitto Kogyo Co Ltd | バルク用セグメントフィーダー、部品供給用アタッチメント、電子部品処理装置、及び、部品搬送装置 |
| CN108516138A (zh) * | 2018-03-29 | 2018-09-11 | 重庆土豆电子商务有限公司 | 电子元件送料机构 |
| CN110038817A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-07-23 | 南京微伽自动化技术有限公司 | 一种电子元器件的自动检测缺陷设备 |
| CN210391655U (zh) * | 2019-08-22 | 2020-04-24 | 珠海市奥德维科技有限公司 | 微型电子元件测包机 |
| CN212216283U (zh) * | 2019-12-16 | 2020-12-25 | 生源(天津)生物工程有限公司 | 一种下落式金检机 |
| CN214022094U (zh) * | 2020-12-04 | 2021-08-24 | 苏州工业园区普耐尔电子有限公司 | 一种带电芯收集设备的电芯分选机 |
-
2021
- 2021-09-26 CN CN202111125226.0A patent/CN113857061B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009105363A (ja) * | 2007-05-28 | 2009-05-14 | Nitto Kogyo Co Ltd | バルク用セグメントフィーダー、部品供給用アタッチメント、電子部品処理装置、及び、部品搬送装置 |
| CN108516138A (zh) * | 2018-03-29 | 2018-09-11 | 重庆土豆电子商务有限公司 | 电子元件送料机构 |
| CN110038817A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-07-23 | 南京微伽自动化技术有限公司 | 一种电子元器件的自动检测缺陷设备 |
| CN210391655U (zh) * | 2019-08-22 | 2020-04-24 | 珠海市奥德维科技有限公司 | 微型电子元件测包机 |
| CN212216283U (zh) * | 2019-12-16 | 2020-12-25 | 生源(天津)生物工程有限公司 | 一种下落式金检机 |
| CN214022094U (zh) * | 2020-12-04 | 2021-08-24 | 苏州工业园区普耐尔电子有限公司 | 一种带电芯收集设备的电芯分选机 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117609695A (zh) * | 2023-11-29 | 2024-02-27 | 中创华源科技有限公司 | 基于dnn检测算法和ai智能识别检测方法及电子设备 |
Also Published As
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