CN113766878B - X射线平板探测器及其图像校正方法 - Google Patents
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Abstract
本公开公开了一种X射线平板探测器及其图像校正方法，显示区域中将部分像素设置伪像素，所有伪像素的位置坐标满足如下3个条件：(1)在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(2)且在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(3)且在同一坐标系中，显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同。
Description
技术领域
本公开涉及X射线摄像技术领域，尤指一种X射线平板探测器及其图像校正方法。
背景技术
近年来，X射线检测广泛应用于医疗、安全、无损检测以及科研等各个领域。目前，比较常见的X射线检测技术是2 0世纪9 0年代末出现的X射线数字照相(DigitalRadiography，DR)检测技术。X射线数字照相检测技术中使用了平板探测器(Flat PanelDetector，FPD)，其像素尺寸可小于0.1mm，因而其成像质量及分辨率几乎可与胶片照相系统媲美，同时还克服了胶片照相系统中的缺点，也为图像的计算机处理提供了方便。
现有的平板探测器，对产品进行不良分析时，首先需要进行图像采集，然后结合图像对不良位置在平板上进行定位，由于不同客户使用的电路板及采图时序存在差异，图像生成规则也各不相同，需要针对具体电路板及采图规则进行单独区分。常规方法为表面放上遮挡物并进行曝光，然后以图像中的遮挡物为参考进行定位。但是，上述方法容易使平板表面由于触碰遮挡物导致划伤或其他静电类mura不良，且采图过程也较为复杂。
发明内容
本公开实施例提供一种X射线平板探测器及其图像校正方法，具体方案如下：
一方面，本公开实施例提的一种X射线平板探测器，包括显示区域和边框区域，所述显示区域包括：交叉设置的多条信号读取线、多条扫描线和呈矩阵排列的多个像素；其中，所述显示区域内至少有一个所述像素为伪像素，所述伪像素在所述平板探测器采集图像时为暗态；
所有所述伪像素的位置坐标满足如下条件：
在同一坐标系中，所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同；
且在同一坐标系中，所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同；
且在同一坐标系中，所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素的数量大于1个小于或等于5个。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有所述伪像素均沿行方向和/或列方向相邻设置。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有所述伪像素中部分伪像素相邻设置。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有所述伪像素各自均互不相邻。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素的坐标位置均设置在所述显示区域靠近所述边框区域的位置。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述像素包括：光电转换单元和薄膜晶体管；其中，所述光电转换单元用于将X射线光转换为电信号并进行存储；所述薄膜晶体管的第一级与所述光电转换单元的输出端连接，所述薄膜晶体管的第二极与信号读取线连接，所述薄膜晶体管的栅极与扫描线连接；所述薄膜晶体管用于在所述扫描线的控制下将所述光电转换单元输出的信号提供至所述信号读取线。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第一极和第二极直接电连接。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的栅极与所述扫描线断路。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第二极与所述信号读取线断路。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第一极与所述光电转换单元断路。
另一方面，本公开实施例还提供了一种本公开实施例提供的上述任一种X射线平板探测器的图像校正方法，其中，包括：
获取所述平板探测器采集的初始图像；
根据所述初始图像中暗点的位置坐标定位所述初始图像的方向；
对所述初始图像中的伪像素进行修复，其中所述伪像素的亮度根据所述伪像素周边像素的亮度确定。
可选地，在本公开实施例提供的图像校正方法中，其中，所述伪像素的亮度根据所述伪像素周边像素的亮度确定，具体为：
所述伪像素的亮度等于与相邻的所有像素的亮度平均值。
附图说明
图1为本公开实施例提供的一种X射线平板探测器的结构示意图；
图2a为本公开实施例提供的X射线平板探测器中伪像素的位置示意比较图；
图2b为本公开实施例提供的X射线平板探测器中伪像素的位置示意比较图；
图2c为本公开实施例提供的X射线平板探测器中伪像素的位置示意比较图；
图3a为本公开实施例提供的不满足本公开X射线平板探测器条件的伪像素的位置示意图；
图3b为本公开实施例提供的不满足本公开X射线平板探测器条件的伪像素的位置示意图；
图3c为本公开实施例提供的不满足本公开X射线平板探测器条件的伪像素的位置示意图；
图4为本公开实施例提供的另一种X射线平板探测器的结构示意图；
图5为本公开实施例提供的又一种X射线平板探测器的结构示意图；
图6为本公开实施例提供的X射线平板探测器中正常像素的结构示意图；
图7为本公开实施例提供的X射线平板探测器中一种伪像素的结构示意图；
图8为本公开实施例提供的X射线平板探测器中另一种伪像素的结构示意图；
图9为本公开实施例提供的X射线平板探测器中又一种伪像素的结构示意图；
图10为本公开实施例提供的X射线平板探测器中又一种伪像素的结构示意图；
图11为本公开实施例提供的X射线平板探测器的图像校正方法的流程示意图；
图12为本公开实施例提供的图像校正方法中伪像素以及与其相邻的像素的位置示意图。
具体实施方式
具体地，由于目前市面上使用的平板探测器的品牌较多，不同品牌的平板探测器使用的电路板均不同，而平板探测器的栅线扫描方式以及信号读取线的扫描方式均与各自的电路板设置相关。例如栅线正向与反向的扫描方向差异，对应采集的图像即为上下颠倒；信号读取线正向与反向的扫描方向差异，对应采集的图像即为左右颠倒。由此可能出现多种图像与实物的匹配规律。为产品进行不良解析时的定位造成巨大的干扰。
基于此，本公开实施例提供了一种X射线平板探测器及其图像校正方法，不受X射线平板探测器的栅线扫描方式以及信号读取线的扫描方式的限定就可以对采集的图片进行定位。
为使本公开的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面将结合附图和实施例对本公开做进一步说明。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本公开更全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。本公开中所描述的表达位置与方向的词，均是以附图为例进行的说明，但根据需要也可以做出改变，所做改变均包含在本公开保护范围内。本公开的附图仅用于示意相对位置关系不代表真实比例。
需要说明的是，在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本公开。但是本公开能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本公开内涵的情况下做类似推广。因此本公开不受下面公开的具体实施方式的限制。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式，然所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的，并非用以限定本申请的范围。本申请的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。
下面结合附图，对本公开实施例提供的X射线平板探测器及其图像校正方法进行具体说明。
本公开实施例提供的一种X射线平板探测器，如图1所示，包括显示区域AA和边框区域SS，显示区域AA包括：交叉设置的多条信号读取线R1、多条扫描线G1和呈矩阵排列的多个像素pix；其中，显示区域AA内至少有一个像素pix为伪像素pix’，该伪像素pix’在平板探测器采集图像时为暗态；
所有伪像素pix’的位置坐标满足如下3个条件：
(1)、如图2a所示，在同一坐标系中(图2a中以XY坐标系为例进行示意)，显示区域AA经过水平翻转后所有伪像素pix’的坐标位置与显示区域AA经过垂直翻转后所有伪像素pix’的坐标位置不相同；例如图1中，伪像素pix’位于显示区域AA的左上角，因此当采集的图像中伪像素pix’位于显示区域AA的左上角时认为采集的图像为正确的方向，如果平板探测器沿像素行方向的扫描方式不同时，采集到的图像可能是图2a中的两种情况，只要针对采集到的图像将伪像素pix’的位置调整到位于显示区域AA的左上角时就能定位图像的正确方向，因此可以保证在采集图像时由伪像素pix’形成的暗点的位置不受沿像素行方向的扫描方式的影响。
(2)、如图2b所示，且在同一坐标系中(图2b中以XY坐标系为例进行示意)，所有伪像素pix’的坐标位置与显示区域AA经过垂直翻转后所有伪像素pix’的坐标位置不相同；例如图1中，伪像素pix’位于显示区域AA的左上角，因此当采集的图像中伪像素pix’位于显示区域AA的左上角时认为采集的图像为正确的方向，如果平板探测器沿像素列方向的扫描方式不同时，采集到的图像可能是图2b中的两种情况，只要针对采集到的图像将伪像素pix’的位置调整到位于显示区域AA的左上角时就能定位图像的正确方向，因此可以保证在采集图像时由伪像素pix’形成的暗点的位置不受沿像素列方向的扫描方式的影响。
如图2c所示，且在同一坐标系中(图2c中以XY坐标系为例进行示意)，垂直翻转后所有伪像素pix’的坐标位置不相同，例如图1中，伪像素pix’位于显示区域AA的左上角，因此当采集的图像中伪像素pix’位于显示区域AA的左上角时认为采集的图像为正确的方向，如果平板探测器沿像素列方向和沿像素行方向的扫描方式均不同时，采集到的图像可能是图2c中的两种情况，只要针对采集到的图像将伪像素pix’的位置调整到位于显示区域AA的左上角时就能定位图像的正确方向，因此可以保证在采集图像时由伪像素pix’形成的暗点的位置不受沿像素列方向和像素行方向的扫描方式的影响。
需要说明的是，图2a至图2c中，显示区域内“1”、“2”、“3”、“4”表示4个位置的像素pix，当显示区域AA发生翻转后，参见图2a至图2c，在同一坐标系内“1”、“2”、“3”、“4”这4个位置的像素pix的位置也发生变化。
为了进一步说明本公开实施例提供的X射线平板探测器中伪像素的位置，下面举几个反例来说明。例如图3a所示，如果所有伪像素pix’的坐标位置与显示区域AA经过水平翻转后所有伪像素pix’的坐标位置相同，那么从左向右扫描和从右向左扫描采集到的图像中伪像素pix’的位置是相同，因此根据伪像素pix’的位置不能定位图像的正确方向。例如图3b所示，如果所有伪像素pix’的坐标位置与显示区域AA经过垂直翻转后所有伪像素pix’的坐标位置相同，那么从上向下扫描和从下向上扫描采集到的图像中伪像素pix’的位置是相同，因此根据伪像素pix’的位置不能定位图像的正确方向。例如图3c所示，如果显示区域AA经过水平翻转后所有伪像素pix’的坐标位置与显示区域AA经过垂直翻转后所有伪像素pix’的坐标位置相同，那么从右向左扫描和从下向上扫描采集到的图像中伪像素pix’的位置是相同，因此根据伪像素pix’的位置不能定位图像的正确方向。
综上，本公开实施例提供的X射线平板探测器，由于在显示区域中将部分像素设置伪像素，所有伪像素的位置坐标满足上面提到的3个条件：(1)在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(2)且在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(3)且在同一坐标系中，显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同。因此，不管X射线平板探测器沿像素行方向如何扫描，沿像素列方向如何扫描，根据采集到的图像中伪像素的位置均能定位图像的正确方向。
并且，本公开实施例提供的X射线平板探测器，方法操作简单，且相较于现有产品变更少，且不会对产品其它特性产生影响，具有较好的实施性。
需要说明的时，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，伪像素是相对正常像素而言的，即伪像素是不能像正常像素一样正常工作的像素，正常像素在采集的初始图像中为亮点，但是伪像素在采集的初始图像中为暗点，因此，根据采集的初始图像中暗点的位置就可以确定图像的正确方向。
在具体实施时，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，对伪像素的数量不作限定，但是如果伪像素数量太多，那么在使用过程中，伪像素可能会影响X射线平板探测器对目标产品的采集。
具体地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，伪像素的数量可以为1个，但是在采集图像时，如果正好采集到一个暗点，容易与伪像素发生混淆，在图像定位是容易误判。
因此，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，伪像素的数量大于1个小于或等于5个。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有伪像素均沿行方向相邻设置；或者，所有伪像素均沿列方向相邻设置；或者，部分伪像素沿行方向相邻设置，部分伪像素沿列方向相邻设置。
或者，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有伪像素中部分伪像素相邻设置。
或者，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有伪像素各自均互不相邻。
具体地，X射线平板探测器的显示区域AA一般为矩形，下面以伪像素的数量为3个为例，说明本公开实施例提供的X射线平板探测器。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图4所示，伪像素pix’的数量为3，其中2个伪像素pix’相邻设置，另1个伪像素pix’与其它2个伪像素pix’均不相邻，这样由于2个伪像素pix’形成的暗点的面积与1个伪像素pix’形成的暗点的面积不同，可起到防止混淆的作用。
进一步地，在具体实施时，如图4所示，显示区域AA为矩形，相邻设置的2个伪像素pix’靠近显示区域AA的其中一个角设置。例如图4的左上角，另1个伪像素pix’靠近显示区域AA的另一个角设置，例如图4中的右下角。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图5所示，伪像素pix’的数量为3，3个伪像素pix’均不相邻，3个伪像素pix’的连线构成的三角形，这样可以利用3个伪像素pix’的连线构成的三角形的形状来判断采集的图像的方向。
进一步地，在具体实施时，如图5所示，显示区域AA为矩形，连线构成的三角形的3个伪像素pix’靠近显示区域AA的其中一个角设置，例如图5的右下角。
具体地，由于X射线平板探测器在使用时，目标产品一般均在显示区域的中心区域成像，因此，为了避免伪像素对X射线平板探测器采集目标产品图像产生影响，因此，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，伪像素的坐标位置均设置在显示区域AA靠近边框区域SS的位置，即伪像素距离边框区域SS的距离小于伪像素距离显示区域AA中心的距离。
在具体实施时，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图6所示，像素pix包括：光电转换单元01和薄膜晶体管02；其中，光电转换单元01用于将X射线光转换为电信号并进行存储；薄膜晶体管02的第一级与光电转换单元01的输出端连接，薄膜晶体管02的第二极与信号读取线R1连接，薄膜晶体管02的栅极与扫描线G1连接；薄膜晶体管02用于在扫描线G1的控制下将光电转换单元01输出的信号提供至信号读取线R1。从而根据信号读取线R1的信号生成图像。
在具体实施时，薄膜晶体管的第一极和第二极中其中一极为源极，另一极为漏极，在此不作限定。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图6所示，光电转换单元一般包括X射线转化层011、光电二极管012和电容C1，在采集图像时，X射线经X射线转化层011转化为550nm左右的可见光，再由光电二极管012将可见光转化为电信号，储存于电容C1中。当薄膜晶体管02打开时，信号读取线R1读取电荷，并生成灰度数据，从而生成图像。其中，光电二极管012的阳极连接的偏执电压Vb使光电二极管012保持反向截止，VP点电压源自于为光电二极管012受光照后产生的电荷。
可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图7所示，伪像素pix’中，薄膜晶体管02的第一极和第二极直接电连接。即在正常像素中，薄膜晶体管的第一极和第二极是彼此独立的，只有当栅极控制薄膜晶体管打开时，第一极和第二极之间才会导通。而在伪像素中，薄膜晶体管的第一极和第二极直接电连接，这样光电转换单元将X射线光转换的电信号不能进行存储，会直接通过薄膜晶体管的第一极和第二极传输至信号读取线，这样当扫描线扫描至该薄膜晶体管时，信号读取线上没有电荷，伪像素为暗点。
通过使薄膜晶体管的第一极和第二极直接电连接实现伪像素，从制作工艺来说，仅需要对伪像素位置处薄膜晶体管的第一极和第二极的图形进行更改，操作简单易实现，不用增加工艺步骤。
或者，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图8所示，伪像素pix’中，薄膜晶体管02的栅极与扫描线G1断路。其中，图8中薄膜晶体管02的栅极与扫描线G1用虚线连接表示断路。这样当扫描线扫描至该薄膜晶体管时，薄膜晶体管仍是截止状态，因此信号读取线上没有电荷，伪像素为暗点。在制作工艺上，仅需要将原本电连接的栅极与扫描线断开即可，操作简单易实现，不用增加工艺步骤。
或者，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图9所示，伪像素pix’中，薄膜晶体管02的第二极与信号读取线R1断路。其中，图9中薄膜晶体管02的第二极与信号读取线R1用虚线连接表示断路。这样信号读取线上始终没有电荷，伪像素为暗点。在制作工艺上，仅需要将原本电连接的薄膜晶体管与信号读取线断开即可，操作简单易实现，不用增加工艺步骤。
或者，可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，如图10所示，伪像素pix’中，薄膜晶体管02的第一极与光电转换单元01断路。其中，图10中薄膜晶体管02的第一极与光电转换单元01用虚线连接表示断路。这样信号读取线上始终没有电荷，伪像素为暗点。在制作工艺上，仅需要将原本电连接的薄膜晶体管的第一极与光电转换单元断开即可，操作简单易实现，不用增加工艺步骤。
当然，在具体实施时，还可以通过其它方式实现伪像素，例如在伪像素中不设置光电转换单元、或者不设置光电二级管、或者不设置薄膜晶体管、或者光电转换单元和薄膜晶体管均不设置等，在此不作限定，只要保证伪像素在采集图像素时为暗点即可。
在具体实施时，日常生活中我们看到的X射线平板探测器采集的图像，例如医院影像室拍的X射线图像，均是对采集的初始像素进行校正后形成的。因此，本公开实施例提供的X射线平板探测器，在使用时，可以在对初始图像进行校正时，对伪像素的亮度进行校正。
因此，基于同一发明构思，本公开实施例还提供了一种上述任一种X射线平板探测器的图像校正方法，如图11所示，包括：
S101、获取平板探测器采集的初始图像；
S102、根据初始图像中暗点的位置坐标定位初始图像的方向；
S103、对初始图像中的伪像素进行修复，其中伪像素的亮度根据伪像素周边像素的亮度确定。
可选地，在本公开实施例提供的图像校正方法中，伪像素的亮度根据伪像素周边像素的亮度确定，具体为：
伪像素的亮度等于与其相邻的所有像素的亮度平均值。
具体地，以图12所示伪像素pix’为例，与该伪像素pix’相邻的像素有8个，因此该伪像素pix’的亮度等于1-8这8个像素的亮度平均值，当然，在具体实施时，该伪像素pix’的亮度也可以根据这8个像素中其中几个像素的亮度平均值确定，在此不作限定。
本公开实施例提供的X射线平板探测器及其图像校正方法，由于在显示区域中将部分像素设置伪像素，所有伪像素的位置坐标满足如下3个条件：(1)在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(2)且在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(3)且在同一坐标系中，显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同。因此，不管X射线平板探测器沿像素行方向如何扫描，沿像素列方向如何扫描，根据采集到的图像中伪像素的位置均能定位图像的正确方向。
显然，本领域的技术人员可以对本公开进行各种改动和变型而不脱离本公开的精神和范围。这样，倘若本公开的这些修改和变型属于本公开权利要求及其等同技术的范围之内，则本公开也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (13)
1.一种X射线平板探测器，包括显示区域和边框区域，所述显示区域包括：交叉设置的多条信号读取线、多条扫描线和呈矩阵排列的多个像素；其中，所述显示区域内至少有一个所述像素为伪像素，所述伪像素在所述平板探测器采集图像时为暗态；
所有所述伪像素的位置坐标满足如下条件：
在同一坐标系中，所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同；
且在同一坐标系中，所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同；
且在同一坐标系中，所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同。
2.如权利要求1所述的X射线平板探测器，其中，所述伪像素的数量大于1个小于或等于5个。
3.如权利要求2所述的X射线平板探测器，其中，所有所述伪像素均沿行方向和/或列方向相邻设置。
4.如权利要求2所述的X射线平板探测器，其中，所有所述伪像素中部分伪像素相邻设置。
5.如权利要求2所述的X射线平板探测器，其中，所有所述伪像素各自均互不相邻。
6.如权利要求1所述的X射线平板探测器，其中，所述伪像素的坐标位置均设置在所述显示区域靠近所述边框区域的位置。
7.如权利要求1-6任一项所述的X射线平板探测器，其中，所述像素包括：光电转换单元和薄膜晶体管；其中，所述光电转换单元用于将X射线光转换为电信号并进行存储；所述薄膜晶体管的第一级与所述光电转换单元的输出端连接，所述薄膜晶体管的第二极与信号读取线连接，所述薄膜晶体管的栅极与扫描线连接；所述薄膜晶体管用于在所述扫描线的控制下将所述光电转换单元输出的信号提供至所述信号读取线。
8.如权利要求7所述的X射线平板探测器，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第一极和第二极直接电连接。
9.如权利要求7所述的X射线平板探测器，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的栅极与所述扫描线断路。
10.如权利要求7所述的X射线平板探测器，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第二极与所述信号读取线断路。
11.如权利要求7所述的X射线平板探测器，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第一极与所述光电转换单元断路。
12.一种如权利要求1-11任一项所述的X射线平板探测器的图像校正方法，其中，包括：
获取所述平板探测器采集的初始图像；
根据所述初始图像中暗点的位置坐标定位所述初始图像的方向；
对所述初始图像中的伪像素进行修复，其中所述伪像素的亮度根据所述伪像素周边像素的亮度确定。
13.如权利要求12所述的图像校正方法，其中，所述伪像素的亮度根据所述伪像素周边像素的亮度确定，具体为：
所述伪像素的亮度等于与相邻的所有像素的亮度平均值。
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|---|---|---|---|---|
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| CN117289324A (zh) * | 2022-06-16 | 2023-12-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 平板探测器的控制方法、控制装置及平板探测装置 |
Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011130362A (ja) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Toshiba Electron Tubes & Devices Co Ltd | 放射線画像読取装置 |
| JP2012090032A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | ラインアーチファクト検出器及びその検出方法 |
| CN102714703A (zh) * | 2009-12-31 | 2012-10-03 | 全视科技有限公司 | 产生图像传感器的列偏移校正 |
| CN103777413A (zh) * | 2012-10-23 | 2014-05-07 | 乐金显示有限公司 | 平板显示装置及其制造方法 |
| CN104412129A (zh) * | 2012-06-20 | 2015-03-11 | 皇家飞利浦有限公司 | X射线探测器像素布局 |
| CN204906538U (zh) * | 2014-04-29 | 2015-12-23 | 半导体元件工业有限责任公司 | 生成噪声校正的像素值的电子设备、减小噪声信号的电子设备和成像系统 |
| CN107872633A (zh) * | 2016-09-28 | 2018-04-03 | 半导体元件工业有限责任公司 | 具有暗像素的图像传感器 |
| CN108088560A (zh) * | 2016-11-21 | 2018-05-29 | 三星电子株式会社 | 基于事件的传感器、包括其的用户设备及其操作方法 |
| CN108110015A (zh) * | 2016-11-25 | 2018-06-01 | 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 | X射线图像传感器、平板探测器及其图像采集校正方法 |
| CN108110014A (zh) * | 2016-11-25 | 2018-06-01 | 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 | X射线图像传感器、平板探测器及其图像曝光采集方法 |
| CN109767711A (zh) * | 2019-03-14 | 2019-05-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的故障检测方法、装置、系统及存储介质 |
| CN109819184A (zh) * | 2017-12-21 | 2019-05-28 | 思特威(上海)电子科技有限公司 | 图像传感器及减少图像传感器固定图像噪声的方法 |
| CN110189270A (zh) * | 2019-05-24 | 2019-08-30 | 上海联影医疗科技有限公司 | 一种图像校正方法、装置、计算机设备和介质 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100752283B1 (ko) * | 2002-11-07 | 2007-08-29 | 롬 가부시키가이샤 | 에리어 이미지 센서 |
| GB0514998D0 (en) * | 2005-07-21 | 2005-08-31 | E2V Tech Uk Ltd | Sensor with trigger pixels for imaging of pulsed radiation |
| KR100776488B1 (ko) * | 2006-02-09 | 2007-11-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 데이터 구동회로 및 이를 구비한 평판 표시장치 |
| JP2008172330A (ja) * | 2007-01-09 | 2008-07-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像装置及び撮像装置 |
| KR20090034541A (ko) * | 2007-10-04 | 2009-04-08 | 삼성전자주식회사 | 엑스-레이 검출기용 어레이 기판 및 이를 갖는 엑스-레이검출기 |
| KR20130010255A (ko) * | 2011-07-18 | 2013-01-28 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 장치 및 화소맵 업데이트 방법 |
| JP5558538B2 (ja) * | 2011-12-08 | 2014-07-23 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法及び制御プログラム |
| JP5945513B2 (ja) * | 2013-02-20 | 2016-07-05 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像処理装置および方法、並びに放射線撮影装置 |
| JP6752619B2 (ja) * | 2016-05-16 | 2020-09-09 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置、画像形成装置 |
-
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Patent Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011130362A (ja) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Toshiba Electron Tubes & Devices Co Ltd | 放射線画像読取装置 |
| CN102714703A (zh) * | 2009-12-31 | 2012-10-03 | 全视科技有限公司 | 产生图像传感器的列偏移校正 |
| JP2012090032A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | ラインアーチファクト検出器及びその検出方法 |
| CN104412129A (zh) * | 2012-06-20 | 2015-03-11 | 皇家飞利浦有限公司 | X射线探测器像素布局 |
| CN103777413A (zh) * | 2012-10-23 | 2014-05-07 | 乐金显示有限公司 | 平板显示装置及其制造方法 |
| CN204906538U (zh) * | 2014-04-29 | 2015-12-23 | 半导体元件工业有限责任公司 | 生成噪声校正的像素值的电子设备、减小噪声信号的电子设备和成像系统 |
| CN107872633A (zh) * | 2016-09-28 | 2018-04-03 | 半导体元件工业有限责任公司 | 具有暗像素的图像传感器 |
| CN108088560A (zh) * | 2016-11-21 | 2018-05-29 | 三星电子株式会社 | 基于事件的传感器、包括其的用户设备及其操作方法 |
| CN108110015A (zh) * | 2016-11-25 | 2018-06-01 | 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 | X射线图像传感器、平板探测器及其图像采集校正方法 |
| CN108110014A (zh) * | 2016-11-25 | 2018-06-01 | 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 | X射线图像传感器、平板探测器及其图像曝光采集方法 |
| CN109819184A (zh) * | 2017-12-21 | 2019-05-28 | 思特威(上海)电子科技有限公司 | 图像传感器及减少图像传感器固定图像噪声的方法 |
| CN109767711A (zh) * | 2019-03-14 | 2019-05-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的故障检测方法、装置、系统及存储介质 |
| CN110189270A (zh) * | 2019-05-24 | 2019-08-30 | 上海联影医疗科技有限公司 | 一种图像校正方法、装置、计算机设备和介质 |
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