CN113740627A - 测试架构及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本公开是提供一种测试架构及其测试方法，测试架构包含待测电器装置、测试治具及控制系统，且待测电器装置的待测插头上具有标记待测电器装置的电源规格的条码，故于待测插头与插座集成中所适用的电源插座的顶针相接触时，控制系统根据扫描信号将适用于待测插头的电源，经由对应的电源插座传送至待测插头以对待测电器装置进行测试，故测试架构仅需设置单一的测试治具，测试治具根据条码而提供对应的电源，以测试具有相异规格的待测插头的多个相异的待测电器装置，以降低生产及人力成本，且待测电器装置的电器特性不易损毁。

Description

测试架构及其测试方法

技术领域

本申请公开一种测试架构及其测试方法，特别涉及一种降低测试成本及避免损毁待测电器装置的电器特性的测试架构及其测试方法。

背景技术

目前，工厂在生产电器产品后，利用测试治具对电器产品进行测试，且由于现行的电器产品根据适用的国别及家用电源规格，而具有相异种类的待测插头，因此工厂内的测试治具提供相异的家用电源规格对具有不同待测插头的不同电器产品进行测试，以确保每一种电器产品于对应的家用电源规格下可正常使用。

现行的第一种测试方法是提供多种不同的测试治具，且每一种测试治具对应单一规格的电器产品以提供对应的一种家用电源规格，借此测试具有对应待测插头的电器产品，然而，这种方法因需具备多种不同的测试治具，才能对各种不同规格的电器产品测试，导致测试成本提高。现行的第二种方法则是提供一种单一测试治具，该测试治具包含可拆卸更换的多个测试接头，当测试治具用以测试不同电器产品时，必须手动调整提供给待测电器装置的家用电源规格，并且需手动更换对应于该家用电源规格的测试接头，然而，这种测试方法容易导致调整家用电源规格时或更换测试接头时发生错误，进而使得被测试的电器产品的电器特性损毁。

因此，如何发展一种克服上述缺点的测试架构及其测试方法，实为目前迫切的需求。

发明内容

本公开的目的在于提供一种测试架构及其测试方法，其降低测试成本及避免损毁电器产品的电器特性。

为达上述目的，本公开的一较广实施方式为提供一种测试架构，与电源供应器电连接，电源供应器提供多个具有相异电源规格的电源，测试架构包含待测电器装置、测试治具及控制系统。待测电器装置包含待测插头，待测插头具有条码，条码注记包含待测电器装置的待测插头适用的电源规格的信息。测试治具与电源供应器电连接，且包含基座及插座集成。插座集成包含多个顶针，设置于基座上，多个顶针经由排列组合的方式以形成具有相异规格的多个电源插座，而待测插头根据待测电器装置的电源规格而适用于多个电源插座中其中之一电源插座，每一电源插座根据对应的电源规格而由电源供应器中对应的电源进行供电。控制系统与电源供应器电连接，且包含扫描器及计算机。扫描器用以扫描条码，并产生扫描信号。计算机与扫描器及电源供应器电连接，于待测插头与插座集成中所适用的电源插座的多个顶针相接触时，计算机根据扫描信号确认待测插头所适用的电源规格，进而驱使电源供应器所提供的多个电源中适用于待测插头的电源，经由对应的电源插座的多个顶针传送至待测插头，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行。

为达上述目的，本公开的另一较广实施方式为提供一种测试方法，适用于测试架构，测试架构与电源供应器电连接，电源供应器提供多个具有相异电源规格的电源，测试架构包含测试治具，测试治具与电源供应器电连接，测试治具包含插座集成，插座集成中包含多个顶针，多个顶针经由排列组合的方式以形成具有相异规格的多个电源插座。测试方法包含下列步骤，首先，提供待测电器装置，待测电器装置包含待测插头，待测插头具有条码，条码注记包含待测插头适用的电源规格的信息，其中待测插头根据待测电器装置的电源规格而适用于多个电源插座中其中之一电源插座，其中每一电源插座根据对应的电源规格而由电源供应器中对应的电源进行供电。接着，扫描待测插头上的条码，以确认待测插头根据待测电器装置的电源规格，并根据确认结果产生扫描信号。接着，于待测插头与插座集成中所适用的电源插座的多个顶针相接触时，根据扫描信号确认待测插头所适用的电源规格，进而驱使电源供应器所提供的多个电源中适用于待测插头的电源，经由对应的电源插座的多个顶针传送至待测插头，以对待测插头进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行。

附图说明

图1为本公开的测试架构的方框结构示意图。

图2为图1所示的测试架构的测试治具及待测插头的第一实施例的部分立体结构示意图。

图3为图1的测试架构的测试治具的上视图。

图4为本公开的测试方法应用于图1的测试架构的流程示意图。

符号说明

1：测试架构

2：待测插头

21：条码

22：USB端

23：存储器

24：插头本体

H1：本体高度

25：导电部

H4：导电部高度

H2、H3：高度

3：测试治具

31：基座

311：第一面

312：第二面

32、32a、32b、32c、32d、32e、32f、32g、32h、32i、32j、32k：顶针

321：第一端

322：第二端

33：接触开关

331：第一端

332：第二端

4：控制系统

41：扫描器

42：计算机

43：输入输出接口

5：电源供应器

6：开关单元

S1、S2、S3：步骤

具体实施方式

体现本公开特征与优点的一些典型实施例将在后段的说明中详细叙述。应理解的是本公开能够在不同的实施方式上具有各种的变化，其皆不脱离本公开的范围，且其中的说明及图示在本质上当作说明之用，而非架构于限制本公开。

请参阅图1、图2及图3，其中图1为本公开的测试架构的方框结构示意图，图2为图1所示的测试架构的测试治具及待测插头的部分立体结构示意图，图3为图1的测试架构的测试治具的上视图。如图所示，本公开的测试架构1与电源供应器5电连接，以接收电源供应器5所提供的电能，其中电源供应器5可提供多个具有相异电源规格的电源，且测试架构1包含待测电器装置、测试治具3及控制系统4。测试架构1用以测试待测电器装置，而为了精简附图，于图1及图2中仅绘出待测电器装置所包含的待测插头2，其中当待测电器装置欲利用测试治具3进行测试时，测试治具3会将从电源供应器5所接收的电源经由待测插头2提供给待测电器装置，使待测电器装置运行而开始进行测试。此外，待测插头2具有条码21，条码21注记了包含待测电器装置的待测插头2适用的电源规格的信息，例如待测插头2是适用于美国所使用的交流电电压及交流电频率(即交流电电压为120V，且交流电频率为60Hz)，此外，条码21可利用打印或烧结的方式显示于该待测插头2上，且条码21可为但不限为由二维条码所构成。

测试治具3与电源供应器5电连接，且测试治具3包含基座31及插座集成。基座31具有相对设置的第一面311及第二面312。插座集成包含多个顶针32，设置于基座31上，且穿设于基座31，每一顶针32包含第一端321及第二端322，每一顶针32的第一端321位于基座31的第一面311，每一顶针32的第二端322位于基座31的第二面312。其中多个顶针32依据不同国家的电源规格及所需形成的插座实施例而经由排列组合的方式以形成具有相异规格的多个电源插座，每一电源插座根据对应的电源规格而由电源供应器5中对应的电源进行供电。以下为了清楚说明电源插座的位置设置，将图2中的多个顶针分别标示为32a、32b、32c、32d、32e、32f、32g、32h、32i、32j及32k，于图2中，顶针32a及32d可共同构成第一电源插座，而第一电源插座是对应于印度电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压240V且交流电频率50Hz的电能。顶针32b及32c可共同构成第二电源插座，而第二电源插座是对应于美国电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压120V且交流电频率60Hz的电能。顶针32e及32f可共同构成第三电源插座，而第三电源插座是对应于欧洲电源规格或巴西电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压220V且交流电频率50Hz的电能或交流电电压110V且交流电频率60Hz的电能。顶针32g及32h可共同构成第四电源插座，而第四电源插座是对应于澳洲电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压240V且交流电频率50Hz的电能。顶针32i、32j及32k可共同构成第五电源插座，而第五电源插座是对应于英国电源规格的插座实施例，且适用于交流电电压240V且交流电频率60Hz的电能。当然多个顶针32不仅局限于构成上述的五种电源插座，可根据实际使用状况添加或删减顶针32的数量以构成不同数量及种类的电源插座。

待测插头2根据待测电器装置的电源规格而适用于多个电源插座中其中之一电源插座，例如待测插头2适用于交流电电压为120V且交流电频率为60Hz的美国电源规格的插座实施例，则当待测插头2与插座集成中第二电源插座的顶针32b及32c相接触时，交流电电压为120V且交流电频率为60Hz的电能则可经由顶针32b及32c传送至待测插头2。

控制系统4与电源供应器5电连接，且包含扫描器41及计算机42。扫描器41用以扫描待测插头2上的条码21，并产生扫描信号。计算机42与扫描器41及电源供应器5电连接，计算机42于待测插头2与插座集成中所适用的电源插座的多个顶针32相接触时，计算机42根据扫描信号确认待测插头2所适用的电源规格，进而驱使电源供应器5所提供的多个电源中适用于待测插头2的电源，经由对应的电源插座的多个顶针32传送至待测插头2，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行。

由上可知，本公开的测试架构1包含待测电器装置、测试治具3及控制系统4，且待测电器装置的待测插头2上具有标记了待测电器装置的电源规格的条码21，故于待测插头2与插座集成中所适用的电源插座的顶针32相接触时，控制系统4可根据扫描信号将适用于待测插头2的电源，经由对应的电源插座传送至待测插头2，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行，因此，相较于传统测试方法，本公开的测试架构1仅需设置单一的测试治具3，且测试治具3可根据待测插头2上的条码21而可提供对应的电源，借此可测试具有相异电源规格的待测插头2的多个相异的待测电器装置，因此本公开的测试架构1的生产成本及人力成本降低，且由于本公开的测试架构1无需手动调整电源，亦无需手动更换测试治具，因此本公开的测试架构1所测试的待测电器装置的电器特性不易损毁。

于一些实施例中，测试架构1还包含开关单元6，开关单元6与计算机42电连接，且连接于电源供应器5及多个电源插座的其中之一电源插座之间，计算机42根据扫描信号控制开关单元6进行导通路径的切换，使得电源供应器5所提供的多个电源中适用于待测插头2的电源，经由开关单元6及对应的电源插座的多个顶针32传送至待测插头2。

于一些实施例中，除了根据待测插头2上的条码21确认适用于待测插头2的电源规格外，亦可以有其它方式确认适用于待测插头2的电源规格，例如于待测插头2内设置相连接的USB端22及存储器23，如图3所示，待测电器装置的电源规格经由USB端22写入存储器23中。此外，控制系统4还包含输入输出接口43，输入输出接口43与计算机42电连接，输入输出接口43经由待测插头2的USB端22读取存储器23内关于待测电器装置的电源规格的信息，并将读取结果传送至计算机42，使计算机42确认适用于待测插头2的电源规格。

待测插头2还包含插头本体24及多个导电部25，多个导电部25设置于插头本体24上，插头本体24具有一本体高度H1，导电部25具有一导电部高度H4。于一些实施例中，顶针32e及32f所构成的第三电源插座的实施例实际上适用于巴西电源规格的插座实施例或欧洲电源规格的插座实施例，故除了可以利用扫描器41扫描待测插头2上的条码21，以确认待测插头2为巴西电源规格或欧洲电源规格的插座实施例外，还可以根据适用于巴西电源规格的待测插头2的插头本体24的本体高度H1(即18.05mm)与适用于欧洲电源规格的待测插头2的插头本体24的本体高度H1(即14.75mm)不同的特性，进行待测插头2属于巴西电源规格或欧洲电源规格的判别，以达到双重确认的技术效果，借此避免待测插头2在插入由顶针32e及32f所构成的第三电源插座时，第三电源插座提供错误的电源。而为了实现前述的技术效果，测试治具3还包含接触开关33，接触开关33设置于基座31上，且位于顶针32e及32f之间，接触开关33包含第一端331及第二端332，接触开关33的第一端331位于基座31的第一面311，且接触开关33的第一端331突出于基座31的第一面311具有高度H2，接触开关33的第二端332位于基座31的第二面312。其中待测插头2适用于巴西电源规格的电源，且接触开关33的第一端331突出于基座31的第一面311的高度H2大于顶针32e及32f突出于基座31的第一面311的高度H3与导电部25的导电部高度H4之和，因此，当待测插头2与顶针32e及32f所构成的第三电源插座相接触时，待测插头2的插头本体24按压接触开关33，而接触开关33产生一形变量，使得接触开关33对应产生接触信号并传送至计算机42，计算机42根据接触信号及扫描信号控制开关单元6做路径切换，使得巴西电源规格的电源与第三电源插座的顶针32e及32f经由开关单元6而连接导通。其中待测插头2适用于欧洲电源规格的电源，且接触开关33的第一端331突出于基座31的第一面311的高度H2小于顶针32e及32f突出于基座31的第一面311的高度H3与导电部25的导电部高度H4之和，因此，当待测插头2与顶针32e及32f所构成的第三电源插座相接触时，待测插头2的插头本体24并未与接触开关33的第一端331相接触，计算机42仅根据扫描信号控制开关单元6，使得欧洲电源规格的电源与第三电源插座的顶针32e及32f经由开关单元6而连接导通。

测试治具请参阅图4，其为本公开的测试方法应用于图1的测试架构的流程示意图。如图所示，首先，执行步骤S1，提供待测电器装置，待测电器装置包含待测插头2，待测插头2具有条码21，条码21注记包含待测插头2适用的电源规格的信息，其中待测插头2根据待测电器装置的电源规格而适用于多个电源插座中其中之一电源插座，其中每一电源插座根据对应的电源规格而由电源供应器5中对应的电源进行供电。接着，执行步骤S2，扫描待测插头2上的条码21，以确认待测插头2根据待测电器装置的电源规格，并根据确认结果产生扫描信号。接着，执行步骤S3，于待测插头2与插座集成中所适用的电源插座的多个顶针32相接触时，根据扫描信号确认待测插头2所适用的电源规格，进而驱使电源供应器5所提供的多个电源中适用于待测插头2的电源，经由对应的电源插座的多个顶针32传送至待测插头2，以对待测插头2进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行。

综上所述，本公开的测试架构包含待测电器装置、测试治具及控制系统，且待测电器装置的待测插头上具有标记了待测电器装置的电源规格的条码，故于待测插头与插座集成中所适用的电源插座的顶针相接触时，控制系统可根据扫描信号将适用于待测插头的电源，经由对应的电源插座传送至待测插头，以对待测电器装置进行供电，借此测试待测电器装置是否正常运行，因此，相较于传统测试方法，本公开的测试架构仅需设置单一的测试治具，且测试治具可根据待测插头上的条码而可提供对应的电源，借此可测试具有相异规格的待测插头的多个相异的待测电器装置，因此本公开的测试架构的生产成本及人力成本降低，且由于本公开的测试架构无需手动调整电源，亦无需手动更换测试治具，因此本公开的测试架构所测试的待测电器装置的电器特性不易损毁。

Claims (7)

1.一种测试架构，与一电源供应器电连接，该电源供应器提供具有相异电源规格的多个电源，且该测试架构包含：

一待测电器装置，包含一待测插头，该待测插头具有一条码，该条码注记包含该待测电器装置的该待测插头适用的该电源规格的信息；

一测试治具，与该电源供应器电连接，且包含：

一基座；及

一插座集成，包含多个顶针，设置于该基座上，其中所述多个顶针经由排列组合的方式以形成具有相异规格的多个电源插座，而该待测插头根据该待测电器装置的该电源规格而适用于所述多个电源插座中其中之一电源插座，其中每一电源插座根据对应的该电源规格而由该电源供应器中对应的该电源进行供电；以及

一控制系统，与该电源供应器电连接，且包含：

一扫描器，用以扫描该条码，并产生一扫描信号；及

一计算机，与该扫描器及该电源供应器电连接，于该待测插头与该插座集成中所适用的该电源插座的所述多个顶针相接触时，该计算机根据该扫描信号确认该待测插头所适用的该电源规格，进而驱使该电源供应器所提供的所述多个电源中适用于该待测插头的该电源，经由对应的该电源插座的所述多个顶针传送至该待测插头，以对该待测电器装置进行供电，借此测试该待测电器装置是否正常运行。

2.如权利要求1所述的测试架构，其中该测试架构还包含一开关单元，与该计算机电连接，且连接于该电源供应器及多个电源插座的其中之一电源插座之间，该计算机根据该扫描信号控制该开关单元进行导通路径的切换，使得该电源供应器所提供的所述多个电源中适用于该待测插头的该电源，经由该开关单元及对应的该电源插座的所述多个顶针传送至该待测插头。

3.如权利要求1所述的测试架构，其中该待测插头内设置相连接的一USB端及一存储器，其中该待测电器装置的该电源规格的信息经由该USB端写入该存储器中。

4.如权利要求3所述的测试架构，其中该控制系统还包含一输入输出接口，该输入输出接口经由该USB端读取该存储器内关于该待测电器装置的该电源规格的信息，并将读取结果传送至该计算机，使该计算机确认适用于该待测插头的该电源规格。

5.如权利要求1所述的测试架构，其中该测试治具还包含一接触开关，该接触开关设置于该基座上，该待测插头包含一插头本体及多个导电部，所述多个导电部设置于该插头本体上，该插头本体具有一本体高度，每一导电部具有一导电部高度，其中该待测插头适用于巴西电源规格，且该接触开关突出于该基座的一第一面的高度大于该待测插头适用的该顶针的高度与该导电部的该导电部高度之和，而当该待测插头与适用于巴西电源规格的所述多个顶针相接触时，该待测插头的该插头本体按压该接触开关，而该接触开关产生一形变量，使得该接触开关产生一接触信号，该计算机根据该扫描信号及该接触信号控制一开关单元做路径切换，使得巴西电源规格的该电源与对应的该电源插座经由该开关单元而连接导通。

6.如权利要求1所述的测试架构，其中该条码由二维条码构成。

7.一种测试方法，适用于一测试架构，该测试架构与一电源供应器电连接，该电源供应器提供多个具有相异电源规格的电源，该测试架构包含一测试治具，测试治具与该电源供应器电连接，该测试治具包含一插座集成，该插座集成中包含多个顶针，所述多个顶针经由排列组合的方式以形成具有相异规格的多个电源插座，其中该测试方法包含：

(a)提供一待测电器装置，该待测电器装置包含一待测插头，该待测插头具有一条码，该条码注记包含该待测插头适用的该电源规格的信息，其中该待测插头根据该待测电器装置的该电源规格而适用于所述多个电源插座中其中之一电源插座，其中每一电源插座根据对应的该电源规格而由该电源供应器中对应的该电源进行供电；

(b)扫描该待测插头上的该条码，并产生一扫描信号，以根据该扫描信号确认该待测插头根据该待测电器装置的该电源规格；以及

(c)于该待测插头与该插座集成中所适用的该电源插座的所述多个顶针相接触时，根据该扫描信号确认该待测插头所适用的该电源规格，进而驱使该电源供应器所提供的所述多个电源中适用于该待测插头的该电源，经由对应的该电源插座的所述多个顶针传送至该待测插头，以对该待测插头进行供电，借此测试该待测电器装置是否正常运行。

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