TW202144802A - 測試架構及其測試方法 - Google Patents

Abstract

本案係提供一種測試架構及其測試方法，測試架構包含待測電器裝置、測試治具及控制系統，且待測電器裝置的待測插頭上具有標記待測電器裝置的電源規格之條碼，故於待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的頂針相接觸時，控制系統根據掃描訊號將適用於待測插頭的電源，經由對應的電源插座傳送至待測插頭以對待測電器裝置進行測試，故測試架構僅需設置單一的測試治具，測試治具根據條碼而提供對應的電源，以測試具有相異規格的待測插頭之複數個相異的待測電器裝置，以降低生產及人力成本，且待測電器裝置的電器特性不易損毀。

Description

測試架構及其測試方法

本案係揭露一種測試架構及其測試方法，尤指一種降低測試成本及避免損毀待測電器裝置的電器特性之測試架構及其測試方法。

目前，工廠在生產電器產品後，係利用測試治具對電器產品進行測試，且由於現行的電器產品根據適用的國別及家用電源規格，而具有相異種類的待測插頭，因此工廠內的測試治具係提供相異的家用電源規格對具有不同待測插頭的不同電器產品進行測試，以確保每一種電器產品於對應的家用電源規格下可正常使用。

現行的第一種測試方法係提供多種不同的測試治具，且每一種測試治具對應單一規格的電器產品以提供對應的一種家用電源規格，藉此測試具有對應待測插頭的電器產品，然而，此種方法因須具備多種不同的測試治具，才能對各種不同規格的電器產品測試，導致測試成本提高。現行的第二種方法則係提供一種單一測試治具，該測試治具包含可拆卸更換的複數個測試接頭，當測試治具用以測試不同電器產品時，必須手動調整提供給待測電器裝置的家用電源規格，並且需手動更換對應於該家用電源規格的測試接頭，然而，此種測試方法容易導致調整家用電源規格時或更換測試接頭時發生錯誤，進而使得被測試的電器產品的電器特性損毀。

因此，如何發展一種克服上述缺點的測試架構及其測試方法，實為目前迫切之需求。

本案之目的在於提供一種測試架構及其測試方法，其係降低測試成本及避免損毀電器產品的電器特性。

為達上述目的，本案之一較廣實施態樣為提供一種測試架構，係與電源供應器電連接，電源供應器提供複數個具有相異電源規格的電源，測試架構包含待測電器裝置、測試治具及控制系統。待測電器裝置包含待測插頭，待測插頭具有條碼，條碼註記包含待測電器裝置之待測插頭適用的電源規格的資訊。測試治具係與電源供應器電連接，且包含基座及插座集成。插座集成係包含複數個頂針，設置於基座上，複數個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的複數個電源插座，而待測插頭根據待測電器裝置的電源規格而適用於複數個電源插座中其中之一電源插座，每一電源插座根據對應的電源規格而由電源供應器中對應的電源進行供電。控制系統係與電源供應器電連接，且包含掃描器及計算機。掃描器用以掃描條碼，並產生掃描訊號。計算機與掃描器及電源供應器電連接，於待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的複數個頂針相接觸時，計算機根據掃描訊號確認待測插頭所適用的電源規格，進而驅使電源供應器所提供的複數個電源中適用於待測插頭的電源，經由對應的電源插座的複數個頂針傳送至待測插頭，以對待測電器裝置進行供電，藉此測試待測電器裝置是否正常運作。

為達上述目的，本案之另一較廣實施態樣為提供一種測試方法，適用於測試架構，測試架構與電源供應器電連接，電源供應器提供複數個具有相異電源規格的電源，測試架構包含測試治具，測試治具係與電源供應器電連接，測試治具係包含插座集成，插座集成中包含複數個頂針，複數個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的複數個電源插座。測試方法包含下列步驟，首先，提供待測電器裝置，待測電器裝置包含待測插頭，待測插頭具有條碼，條碼註記包含待測插頭適用的電源規格的資訊，其中待測插頭根據待測電器裝置的電源規格而適用於複數個電源插座中其中之一電源插座，其中每一電源插座根據對應的電源規格而由電源供應器中對應的電源進行供電。接著，掃描待測插頭上的條碼，以確認待測插頭根據待測電器裝置的電源規格，並根據確認結果產生掃描訊號。接著，於待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的複數個頂針相接觸時，根據掃描訊號確認待測插頭所適用的電源規格，進而驅使電源供應器所提供的複數個電源中適用於待測插頭的電源，經由對應的電源插座的複數個頂針傳送至待測插頭，以對待測插頭進行供電，藉此測試待測電器裝置是否正常運作。

體現本案特徵與優點的一些典型實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化，其皆不脫離本案的範圍，且其中的說明及圖示在本質上當作說明之用，而非架構於限制本案。

請參閱第1圖、第2圖及第3圖，其中第1圖為本案之測試架構之方塊結構示意圖，第2圖為第1圖所示的測試架構之測試治具及待測插頭的部分立體結構示意圖，第3圖為第1圖之測試架構之測試治具之上視圖。如圖所示，本案之測試架構1係與電源供應器5電連接，以接收電源供應器5所提供之電能，其中電源供應器5係可提供複數個具有相異電源規格的電源，且測試架構1包含待測電器裝置、測試治具3及控制系統4。測試架構1用以測試待測電器裝置，而為了精簡圖式，於第1及2圖中僅繪出待測電器裝置所包含的待測插頭2，其中當待測電器裝置欲利用測試治具3進行測試時，測試治具3會將從電源供應器5所接收之電源經由待測插頭2提供給待測電器裝置，使待測電器裝置運作而開始進行測試。此外，待測插頭2具有條碼21，條碼21註記了包含待測電器裝置之待測插頭2適用的電源規格的資訊，例如待測插頭2係適用於美國所使用之交流電電壓及交流電頻率(即交流電電壓為120V，且交流電頻率為60Hz)，此外，條碼21可利用列印或燒結的方式顯示於該待測插頭2上，且條碼21可為但不限為由二維條碼所構成。

測試治具3係與電源供應器5電連接，且測試治具3包含基座31及插座集成。基座31具有相對設置的第一面311及第二面312。插座集成包含複數個頂針32，係設置於基座31上，且穿設於基座31，每一頂針32包含第一端321及第二端322，每一頂針32的第一端321係位於基座31的第一面311，每一頂針32的第二端322係位於基座31的第二面312。其中複數個頂針32依據不同國家的電源規格及所需形成的插座態樣而經由排列組合的方式以形成具有相異規格的複數個電源插座，每一電源插座根據對應的電源規格而由電源供應器5中對應的電源進行供電。以下為了清楚說明電源插座的位置設置，將第2圖中的複數個頂針分別標示為32a、32b、32c、32d、32e、32f、32g、32h、32i、32j及32k，於第2圖中，頂針32a及32d可共同構成第一電源插座，而第一電源插座係對應於印度電源規格的插座態樣，且適用於交流電電壓240V且交流電頻率50Hz的電能。頂針32b及32c可共同構成第二電源插座，而第二電源插座係對應於美國電源規格的插座態樣，且適用於交流電電壓120V且交流電頻率60Hz的電能。頂針32e及32f可共同構成第三電源插座，而第三電源插座係對應於歐洲電源規格或巴西電源規格的插座態樣，且適用於交流電電壓220V且交流電頻率50Hz的電能或交流電電壓110V且交流電頻率60Hz的電能。頂針32g及32h可共同構成第四電源插座，而第四電源插座係對應於澳洲電源規格的插座態樣，且適用於交流電電壓240V且交流電頻率50Hz的電能。頂針32i、32j及32k可共同構成第五電源插座，而第五電源插座係對應於英國電源規格的插座態樣，且適用於交流電電壓240V且交流電頻率60Hz的電能。當然複數個頂針32不僅侷限於構成上述的五種電源插座，可根據實際使用狀況添加或刪減頂針32的數量以構成不同數量及種類的電源插座。

待測插頭2根據待測電器裝置的電源規格而適用於複數個電源插座中其中之一電源插座，例如待測插頭2係適用於交流電電壓為120V且交流電頻率為60Hz的美國電源規格的插座態樣，則當待測插頭2與插座集成中第二電源插座的頂針32b及32c相接觸時，交流電電壓為120V且交流電頻率為60Hz的電能則可經由頂針32b及32c傳送至待測插頭2。

控制系統4係與電源供應器5電連接，且包含掃描器41及計算機42。掃描器41係用以掃描待測插頭2上的條碼21，並產生掃描訊號。計算機42係與掃描器41及電源供應器5電連接，計算機42於待測插頭2與插座集成中所適用的電源插座的複數個頂針32相接觸時，計算機42根據掃描訊號確認待測插頭2所適用的電源規格，進而驅使電源供應器5所提供的複數個電源中適用於待測插頭2的電源，經由對應的電源插座的複數個頂針32傳送至待測插頭2，以對待測電器裝置進行供電，藉此測試待測電器裝置是否正常運作。

由上可知，本案之測試架構1包含待測電器裝置、測試治具3及控制系統4，且待測電器裝置的待測插頭2上具有標記了待測電器裝置的電源規格之條碼21，故於待測插頭2與插座集成中所適用的電源插座的頂針32相接觸時，控制系統4可根據掃描訊號將適用於待測插頭2的電源，經由對應的電源插座傳送至待測插頭2，以對待測電器裝置進行供電，藉此測試待測電器裝置是否正常運作，因此，相較於傳統測試方法，本案之測試架構1僅需設置單一的測試治具3，且測試治具3可根據待測插頭2上的條碼21而可提供對應的電源，藉此可測試具有相異電源規格的待測插頭2之複數個相異的待測電器裝置，因此本案之測試架構1的生產成本及人力成本降低，且由於本案之測試架構1無需手動調整電源，亦無須手動更換測試治具，因此本案之測試架構1所測試的待測電器裝置的電器特性不易損毀。

於一些實施例中，測試架構1更包含開關單元6，開關單元6係與計算機42電連接，且連接於電源供應器5及複數個電源插座之其中之一電源插座之間，計算機42根據掃描訊號控制開關單元6進行導通路徑的切換，使得電源供應器5所提供的複數個電源中適用於待測插頭2的電源，經由開關單元6及對應的電源插座的複數個頂針32傳送至待測插頭2。

於一些實施例中，除了根據待測插頭2上的條碼21確認適用於待測插頭2的電源規格外，亦可以有其它方式確認適用於待測插頭2的電源規格，例如於待測插頭2內設置相連接的USB端22及記憶體23，如第3圖所示，待測電器裝置的電源規格經由USB端22寫入記憶體23中。此外，控制系統4更包含輸入輸出介面43，輸入輸出介面43與計算機42電連接，輸入輸出介面43經由待測插頭2的USB端22讀取記憶體23內關於待測電器裝置的電源規格的資訊，並將讀取結果傳送至計算機42，使計算機42確認適用於待測插頭2的電源規格。

待測插頭2更包含插頭本體24及複數個導電部25，複數個導電部25設置於插頭本體24上，插頭本體24具有一本體高度H1，導電部25具有一導電部高度H4。於一些實施例中，頂針32e及32f所構成的第三電源插座的態樣實際上適用於巴西電源規格的插座態樣或歐洲電源規格的插座態樣，故除了可以利用掃描器41掃描待測插頭2上的條碼21，以確認待測插頭2為巴西電源規格或歐洲電源規格的插座態樣外，更可以根據適用於巴西電源規格的待測插頭2的插頭本體24的本體高度H1(即18.05mm)與適用於歐洲電源規格的待測插頭2的插頭本體24的本體高度H1(即14.75mm)不同的特性，進行待測插頭2屬於巴西電源規格或歐洲電源規格的判別，以達到雙重確認之功效，藉此避免待測插頭2在插入由頂針32e及32f所構成的第三電源插座時，第三電源插座提供錯誤的電源。而為了達成前述之功效，測試治具3更包含接觸開關33，接觸開關33設置於基座31上，且位於頂針32e及32f之間，接觸開關33包含第一端331及第二端332，接觸開關33的第一端331位於基座31的第一面311，且接觸開關33的第一端331突出於基座31的第一面311具有高度H2，接觸開關33的第二端332位於基座31的第二面312。其中待測插頭2適用於巴西電源規格的電源，且接觸開關33的第一端331突出於基座31的第一面311的高度H2大於頂針32e及32f突出於基座31的第一面311的高度H3與導電部25的導電部高度H4之和，因此，當待測插頭2與頂針32e及32f所構成的第三電源插座相接觸時，待測插頭2的插頭本體24按壓接觸開關33，而接觸開關33產生一形變量，使得接觸開關33對應產生接觸訊號並傳送至計算機42，計算機42根據接觸訊號及掃描訊號控制開關單元6做路徑切換，使得巴西電源規格之電源與第三電源插座的頂針32e及32f經由開關單元6而連接導通。其中待測插頭2適用於歐洲電源規格的電源，且接觸開關33的第一端331突出於基座31的第一面311的高度H2小於頂針32e及32f突出於基座31的第一面311的高度H3與導電部25的導電部高度H4之和，因此，當待測插頭2與頂針32e及32f所構成的第三電源插座相接觸時，待測插頭2的插頭本體24並未與接觸開關33的第一端331相接觸，計算機42僅根據掃描訊號控制開關單元6，使得歐洲電源規格之電源與第三電源插座的頂針32e及32f經由開關單元6而連接導通。

測試治具測試治具請參閱第4圖，其係為本案之測試方法應用於第1圖之測試架構之流程示意圖。如圖所示，首先，執行步驟S1，提供待測電器裝置，待測電器裝置包含待測插頭2，待測插頭2具有條碼21，條碼21註記包含待測插頭2適用的電源規格的資訊，其中待測插頭2根據待測電器裝置的電源規格而適用於複數個電源插座中其中之一電源插座，其中每一電源插座根據對應的電源規格而由電源供應器5中對應的電源進行供電。接著，執行步驟S2，掃描待測插頭2上的條碼21，以確認待測插頭2根據待測電器裝置的電源規格，並根據確認結果產生掃描訊號。接著，執行步驟S3，於待測插頭2與插座集成中所適用的電源插座的複數個頂針32相接觸時，根據掃描訊號確認待測插頭2所適用的電源規格，進而驅使電源供應器5所提供的複數個電源中適用於待測插頭2的電源，經由對應的電源插座的複數個頂針32傳送至待測插頭2，以對待測插頭2進行供電，藉此測試待測電器裝置是否正常運作。

綜上所述，本案之測試架構包含待測電器裝置、測試治具及控制系統，且待測電器裝置的待測插頭上具有標記了待測電器裝置的電源規格之條碼，故於待測插頭與插座集成中所適用的電源插座的頂針相接觸時，控制系統可根據掃描訊號將適用於待測插頭的電源，經由對應的電源插座傳送至待測插頭，以對待測電器裝置進行供電，藉此測試待測電器裝置是否正常運作，因此，相較於傳統測試方法，本案之測試架構僅需設置單一的測試治具，且測試治具可根據待測插頭上的條碼而可提供對應的電源，藉此可測試具有相異規格的待測插頭之複數個相異的待測電器裝置，因此本案之測試架構的生產成本及人力成本降低，且由於本案之測試架構無需手動調整電源，亦無須手動更換測試治具，因此本案之測試架構所測試的待測電器裝置的電器特性不易損毀。

1:測試架構 2:待測插頭 21:條碼 22:USB端 23:記憶體 24:插頭本體 H1:本體高度 25:導電部 H4:導電部高度 H2、H3:高度 3:測試治具 31:基座 311:第一面 312:第二面 32、32a、32b、32c、32d、32e、32f、32g、32h、32i、32j、32k:頂針 321:第一端 322:第二端 33:接觸開關 331:第一端 332:第二端 4:控制系統 41:掃描器 42:計算機 43:輸入輸出介面 5:電源供應器 6:開關單元 S1、S2、S3:步驟

第1圖為本案之測試架構之方塊結構示意圖。 第2圖為第1圖所示的測試架構之測試治具及待測插頭的第一實施例的部分立體結構示意圖。 第3圖為第1圖之測試架構之測試治具之上視圖。 第4圖為本案之測試方法應用於第1圖之測試架構之流程示意圖。

1:測試架構

2:待測插頭

21:條碼

22:USB端

23:記憶體

24:插頭本體

25:導電部

3:測試治具

31:基座

311:第一面

312:第二面

32:頂針

321:第一端

322:第二端

33:接觸開關

331:第一端

332:第二端

4:控制系統

41:掃描器

42:計算機

43:輸入輸出介面

5:電源供應器

6:開關單元

Claims (7)

1. 一種測試架構，係與一電源供應器電連接，該電源供應器提供複數個具有相異電源規格的電源，且該測試架構包含： 一待測電器裝置，包含一待測插頭，該待測插頭具有一條碼，該條碼註記包含該待測電器裝置之該待測插頭適用的該電源規格的資訊； 一測試治具，係與該電源供應器電連接，且包含： 一基座；以及 一插座集成，係包含複數個頂針，設置於該基座上，其中該複數個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的複數個電源插座，而該待測插頭根據該待測電器裝置的該電源規格而適用於該複數個電源插座中其中之一該電源插座，其中每一該電源插座根據對應的該電源規格而由該電源供應器中對應的該電源進行供電；以及 一控制系統，係與該電源供應器電連接，且包含： 一掃描器，用以掃描該條碼，並產生一掃描訊號；以及 一計算機，與該掃描器及該電源供應器電連接，於該待測插頭與該插座集成中所適用的該電源插座的該複數個頂針相接觸時，該計算機根據該掃描訊號確認該待測插頭所適用的該電源規格，進而驅使該電源供應器所提供的該複數個電源中適用於該待測插頭的該電源，經由對應的該電源插座的該複數個頂針傳送至該待測插頭，以對該待測電器裝置進行供電，藉此測試該待測電器裝置是否正常運作。
2. 如請求項1所述的測試架構，其中該測試架構更包含一開關單元，係與該計算機電連接，且連接於該電源供應器及複數個該電源插座之其中之一該電源插座之間，該計算機根據該掃描訊號控制該開關單元進行導通路徑的切換，使得該電源供應器所提供的該複數個電源中適用於該待測插頭的該電源，經由該開關單元及對應的該電源插座的該複數個頂針傳送至該待測插頭。
3. 如請求項1所述的測試架構，其中該待測插頭內設置相連接的一USB端及一記憶體，其中該待測電器裝置的該電源規格的資訊經由該USB端寫入該記憶體中。
4. 如請求項3所述的測試架構，其中該控制系統更包含一輸入輸出介面，該輸入輸出介面經由該USB端讀取該記憶體內關於該待測電器裝置的該電源規格的資訊，並將讀取結果傳送至該計算機，使該計算機確認適用於該待測插頭的該電源規格。
5. 如請求項1所述的測試架構，其中該測試治具更包含一接觸開關，該接觸開關設置於該基座上，該待測插頭包含一插頭本體及複數個導電部，該複數個導電部設置於該插頭本體上，該插頭本體具有一本體高度，每一該導電部具有一導電部高度，其中該待測插頭適用於巴西電源規格，且該接觸開關突出於該基座的一第一面的高度大於該待測插頭適用的該頂針的高度與該導電部的該導電部高度之和，而當該待測插頭與適用於巴西電源規格的該複數個頂針相接觸時，該待測插頭的該插頭本體按壓該接觸開關，而該接觸開關產生一形變量，使得該接觸開關產生一接觸訊號，該計算機根據該掃描訊號及該接觸訊號控制一開關單元做路徑切換，使得巴西電源規格之該電源與對應的該電源插座經由該開關單元而連接導通。
6. 如請求項1所述的測試架構，其中該條碼為二維條碼所構成。
7. 一種測試方法，適用於一測試架構，該測試架構與一電源供應器電連接，該電源供應器提供複數個具有相異電源規格的電源，該測試架構包含一測試治具，測試治具係與該電源供應器電連接，該測試治具係包含一插座集成，該插座集成中包含複數個頂針，該複數個頂針經由排列組合的方式以形成具有相異規格的複數個電源插座，其中該測試方法包含： (a)  提供一待測電器裝置，該待測電器裝置包含一待測插頭，該待測插頭具有一條碼，該條碼註記包含該待測插頭適用的該電源規格的資訊，其中該待測插頭根據該待測電器裝置的該電源規格而適用於該複數個電源插座中其中之一該電源插座，其中每一該電源插座根據對應的該電源規格而由該電源供應器中對應的該電源進行供電； (b) 掃描該待測插頭上的該條碼，並產生一掃描訊號，以根據該掃描訊號確認該待測插頭根據該待測電器裝置的該電源規格；以及 (c)  於該待測插頭與該插座集成中所適用的該電源插座的該複數個頂針相接觸時，根據該掃描訊號確認該待測插頭所適用的該電源規格，進而驅使該電源供應器所提供的該複數個電源中適用於該待測插頭的該電源，經由對應的該電源插座的該複數個頂針傳送至該待測插頭，以對該待測插頭進行供電，藉此測試該待測電器裝置是否正常運作。

Images