CN217404424U - 一种pcb老化测试装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种PCB老化测试装置及系统，PCB老化测试装置包括载板以及设置于所述载板上的PCB插座、处理器单元、通信单元和电源模块，所述PCB插座和被测试的PCB一一对应，所述处理器单元通过PCB插座与被测试的PCB电连接，所述通信单元通过处理器单元和每个PCB插座分别连接，所述通信单元与上位机连接，所述电源模块和PCB插座、处理器单元、通信单元的供电端分别连接。本实用新型结构简单且集成度高，有效节省了人力成本，提升了PCB老化测试的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCB测试领域，尤其涉及一种PCB老化测试装置及系统。
背景技术
在印刷电路板(PCB)的制造过程中，会执行不同类型的测试和检查过程。这有助于确保所制造PCB的质量和功能，并检查其是否有缺陷。因此，如果根本存在任何缺陷，则可以在制造的早期阶段将其消除。在几种测试和检查技术中，一种是老化测试方法。
老化测试就是在一定的条件下(125℃(257°F)的温度下)使PCB通电工作一定时间，以进行压力测试，在老化测试期间，PCB上的集成电路(IC)承受着巨大的压力，从而有助于识别IC的缺陷和故障。
目前的PCB老化测试往往效率较低，并且需要人工操作，造成人力成本的浪费。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本实用新型提供一种PCB老化测试装置及系统，结构简单，提升效率，节省人力成本。
为解决上述技术问题，本实用新型提出的技术方案为：
一种PCB老化测试装置，包括载板以及设置于所述载板上的PCB插座、处理器单元、通信单元和电源模块，所述PCB插座和被测试的PCB一一对应，所述处理器单元通过PCB插座与被测试的PCB电连接，所述通信单元通过处理器单元和每个PCB插座分别连接，所述通信单元与上位机连接，所述电源模块和PCB插座、处理器单元、通信单元的供电端分别连接。
进一步的，所述载板上还设有监测串口连接器和调试串口连接器，所述通信单元分别通过所述监测串口连接器以及调试串口连接器与上位机连接。
进一步的，所述载板上还设有网络连接器，所述通信单元通过所述网络连接器与上位机连接。
进一步的，所述PCB插座上设有PCB插槽，所述PCB插槽和对应的被测试的PCB插拔连接。
进一步的，所述PCB插座上设有金属触点，所述金属触点和对应的被测试的PCB贴合。
进一步的，所述处理器单元和电源模块的控制端连接。
进一步的，所述载板表面设有阻燃层。
进一步的，所述载板采用聚酰亚胺材料制作。
本实用新型还提出一种PCB老化测试系统，包括PCB老化测试装置、高低温箱和上位机，所述PCB老化测试装置为任一所述的PCB老化测试装置，所述PCB老化测试装置设置于高低温箱中，且所述PCB老化测试装置的通信单元和上位机连接。
进一步的，所述上位机为PC或者智能移动终端。
与现有技术相比，本实用新型的优点在于：
本实用新型在载板上集成了PCB插座、处理器单元、通信单元和电源模块，并且PCB插座与被测试的PCB一一对应，结构简单且集成度高，仅需要载板就能配合上位机进行多块PCB板卡的老化测试，有效节省了人力成本，提升了PCB老化测试的效率。同时载板上设置有监测串口连接器、调试串口连接器以及网络连接器，可以通过串口或者网口向上位机上传监测数据或者从上位机下载调试数据，实现了多种方式的老化测试的监测和调试。
附图说明
图1为本实用新型实施例中PCB老化测试装置的结构示意图。
图2为本实用新型实施例中PCB老化测试系统的结构示意图。
图例说明：1-PCB插座、2-处理器单元、3-通信单元、4-电源模块、101-载板、102-高低温箱、103-上位机。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体优选的实施例对本实用新型作进一步描述，但并不因此而限制本实用新型的保护范围。
如图1所示，本实施例提出一种PCB老化测试装置，包括载板101以及设置于所述载板101上的PCB插座1、处理器单元2、通信单元3和电源模块4，所述PCB插座1和被测试的PCB一一对应，所述处理器单元2通过PCB插座1与被测试的PCB电连接，所述通信单元3通过处理器单元2和每个PCB插座1分别连接，所述通信单元3还与上位机连接，所述电源模块4和PCB插座1、处理器单元2、通信单元3的供电端分别连接。
通过上述结构，载板101上集成了PCB插座1、处理器单元2、通信单元3和电源模块4，并且PCB插座1与被测试的PCB一一对应，结构简单且集成度高，仅需要载板101就能配合上位机进行多块PCB板卡的老化测试，处理器单元2可以通过任一PCB插座1读取对应的被测试的PCB状态，并将所读取的信息通过通信单元3上传给上位机，从而实现无人值守的PCB老化测试，有效节省了人力成本，提升了PCB老化测试的效率。
本实施例中，被测试的PCB采用002板卡，通信单元3采用002母板，处理器单元2采用中央处理器(central processing unit，简称CPU)，PCB插座1共有30个，从而载板101一共可放置30块被测试的002板卡，这些被测试的002板卡的编号通过程序设置，便于老化测试中查看每块002板卡的状态，每块002板卡的串口通过对应的PCB插座1连接到CPU，CPU与002母板通讯，002母板通过串口连接线把每块002板卡老化过程中的打印信息上传到上位机的串口调试助手，上位机通过串口打印信息来查看老化过程中的002板卡状态。
如图1所示，本实施例中，载板101上设有监测串口连接器5和调试串口连接器6，所述通信单元3分别通过所述监测串口连接器5以及调试串口连接器6与上位机连接，此外，载板101上还设有网络连接器7，所述通信单元3通过所述网络连接器7与上位机连接。从而本实施例的PCB老化测试装置可以通过串口或者网口向上位机上传监测数据或者从上位机下载调试数据，实现了多种方式的老化测试的监测和调试。
本实施例中，PCB插座1可以采用多种方式与对应的PCB板卡可拆卸连接，一种方式中，所述PCB插座1上设有PCB插槽，所述PCB插槽和对应的被测试的PCB插拔连接。另一种方式中，所述PCB插座1上设有金属触点，所述金属触点和对应的被测试的PCB贴合。
本实施例中，为了能够设置不同的压力条件来进行老化测试，所述处理器单元2和电源模块4的控制端连接，处理器单元2根据通信单元3从上位机获取的调试信息，可以控制电源模块4的输出电压，从而操作人员可以根据实际需求，对于被测试的PCB进行不同程度的压力测试。
考虑到PCB老化测试装置在老化测试的过程中被暴露在高温下，因此本实施例中载板101表面设有阻燃层，阻燃层采用阻燃剂，以确保PCB老化测试装置能够承受老化过程之中的环境温度。
另外，本实施例中，所述载板101采用聚酰亚胺材料制作，以承受较高的环境温度。
如图2所示，本实施例还提出一种PCB老化测试系统，包括本实施例中的PCB老化测试装置、高低温箱102和上位机103，所述PCB老化测试装置设置于高低温箱102中，且所述PCB老化测试装置的通信单元3和上位机103连接。
本实施例中的上位机103为PC，实现操作人员可以远程获取PCB老化测试的结果，或者进行远程调试。
本实施例中的上位机103也可以为智能移动终端，以便于操作人员在任意位置可以获得PCB老化测试的结果，或者进行远程调试，与之对应的，PCB老化测试系统还包括无线通信模块，所述PCB老化测试装置的通信单元3通过监测串口连接器5、调试串口连接器6和网络连接器7连接无线通信模块，智能移动终端与无线通信模块无线连接。
综上所述，本实施例的PCB老化测试装置及PCB老化测试系统可以在无人值守的情况下高效、稳定的老化PCB板，并且监测PCB的状态，还能实时由上位机进行远程调试，从而更加符合产业的需求。
上述只是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型作任何形式上的限制。虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均应落在本实用新型技术方案保护的范围内。
Claims (10)
1.一种PCB老化测试装置，其特征在于，包括载板(101)以及设置于所述载板(101)上的PCB插座(1)、处理器单元(2)、通信单元(3)和电源模块(4)，所述PCB插座(1)和被测试的PCB一一对应，所述处理器单元(2)通过PCB插座(1)与被测试的PCB电连接，所述通信单元(3)通过处理器单元(2)和每个PCB插座(1)分别连接，所述通信单元(3)还与上位机连接，所述电源模块(4)和PCB插座(1)、处理器单元(2)、通信单元(3)的供电端分别连接。
2.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述载板(101)上还设有监测串口连接器(5)和调试串口连接器(6)，所述通信单元(3)分别通过所述监测串口连接器(5)以及调试串口连接器(6)与上位机连接。
3.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述载板(101)上还设有网络连接器(7)，所述通信单元(3)通过所述网络连接器(7)与上位机连接。
4.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述PCB插座(1)上设有PCB插槽，所述PCB插槽和对应的被测试的PCB插拔连接。
5.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述PCB插座(1)上设有金属触点，所述金属触点和对应的被测试的PCB贴合。
6.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述处理器单元(2)和电源模块(4)的控制端连接。
7.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述载板(101)表面设有阻燃层。
8.根据权利要求1所述的PCB老化测试装置，其特征在于，所述载板(101)采用聚酰亚胺材料制作。
9.一种PCB老化测试系统，其特征在于，包括PCB老化测试装置、高低温箱(102)和上位机(103)，所述PCB老化测试装置为权利要求1～8任一所述的PCB老化测试装置，所述PCB老化测试装置设置于高低温箱(102)中，且所述PCB老化测试装置的通信单元(3)和上位机(103)连接。
10.根据权利要求9所述的PCB老化测试系统，其特征在于，所述上位机(103)为PC或者智能移动终端。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202220561871.0U CN217404424U (zh) | 2022-03-14 | 2022-03-14 | 一种pcb老化测试装置及系统 |
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Publications (1)
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| CN202220561871.0U Active CN217404424U (zh) | 2022-03-14 | 2022-03-14 | 一种pcb老化测试装置及系统 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN217404424U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116343896A (zh) * | 2023-06-01 | 2023-06-27 | 深圳市晶存科技有限公司 | 板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质 |
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2022
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| CN116343896B (zh) * | 2023-06-01 | 2023-10-17 | 深圳市晶存科技有限公司 | 板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质 |
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