CN214846693U - 一种ddr控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，包括本体和控制开关，以及设于本体上依次连接的微处理器、信号协议转换器和连接器，所述微处理器通过本体与外部内存插槽连接，信号协议转换器通过连接器与外部主机连接用于实现数据交互，外部主机分别与微处理器和控制开关连接，控制开关位于本体上，且控制开关的一端与微处理器连接，控制开关的另一端与外部DDR控制器连接。本实用新型能够通过本体将外部内存插槽的电压信号传输给微处理器进行处理，微处理器将测试结果对应信号传输给信号协议转换器并通过连接器发送给外部主机，有效提高了测试效率，实现了DDR控制器和内存插槽焊接可靠性的自动化测试。

Description

一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具

技术领域

本实用新型属于计算机调试技术领域，尤其涉及一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具。

背景技术

DDR(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)内存在服务器中占据着非常重要的作用，影响着系统的稳定性和可靠性。服务器平台一般有一个或多个处理器，而DDR控制器集成在处理器里面，每个处理器可以连接8个内存插槽，在样品和批量生产阶段容易发生DDR内存控制器和插槽焊接不良的情况，尤其在高低温环境试验中更容易出现问题，如何能够方便、快速对DDR控制器和内存插槽的焊接可靠性进行调试并定位就成了关键所在。

对于传统的DDR控制器和内存插槽的焊接测试治具，其上设有一块纽扣电池、按钮开关和一定数量的内存信号LED灯，测试时将该测试治具插入内存插槽中，然后按下按钮开关，如果DDR控制器和内存插槽焊接没有问题，则对应的DDR内存信号LED灯就会发亮，反之则不亮，这种调试方式需要现场人工干预，依靠观察调试治具上面的LED灯来判断是否存在问题，同时这种测试治具和测试方式只能在常温下进行裸板测试。

鉴于此，研究一种测试效率高的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具是本技术领域技术人员需要解决的技术问题。

实用新型内容

为了解决现有DDR控制器和内存插槽焊接可靠性测试治具调试效率低的问题，本实用新型提供一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，能够便捷的进行DDR控制器和内存插槽焊接可靠性测试定位。

本实用新型提供一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，包括本体和控制开关，以及设于本体上依次连接的微处理器、信号协议转换器和连接器，所述微处理器通过本体与外部内存插槽连接用于接收外部内存插槽的电压信号，信号协议转换器通过连接器与外部主机连接用于实现数据交互，外部主机分别与微处理器和控制开关连接，控制开关位于本体上，且控制开关的一端与微处理器连接，控制开关的另一端与外部DDR控制器连接。

优选的，所述外部主机通过连接器分别与微处理器和控制开关连接用于对微处理器和控制开关供电。

优选的，所述本体上还设有稳压器，所述稳压器的一端与连接器连接，稳压器的另一端分别与控制开关和微处理器连接。

优选的，所述本体还设有限流电阻，所述限流电阻位于控制开关和稳压器之间并分别与控制开关和稳压器连接。

优选的，所述稳压器为线性稳压器。

优选的，所述连接器为Micro USB连接器。

优选的，所述控制开关为MOS开关或三极管。

与现有技术相比，本实用新型通过所述本体与外部内存插槽连接，即可将DDR控制器的电压信号通过外部内存插槽传输给本体上的微处理器，进而微处理器将电压信号转换成数字信号传输给信号协议转换器，然后通过信号协议转换器转换为USB信号进而传输给连接器，最后通过连接器将测试结果发送给外部主机，因此，本实用新型能够有效提高DDR控制器和内存插槽焊接可靠性的调试测试效率。同时，微处理器也可以把存在问题的电压信号对应的具体物理位置信息发送给外部主机，操作人员即可利用X-光机或/和焊接装备进行检查维修，大大节约了问题分析时间和维修时间。

附图说明

利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图1是本实用新型的结构框图，

图2是本实用新型另一实施例的结构框图。

附图中：

11.本体，12.微处理器，13.信号协议转换器，14.连接器，15.控制开关，16.稳压器，17.限流电阻，2.DDR控制器，3.内存插槽，4.主机。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细的描述。

如图1所示，一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，包括本体11和控制开关15，以及设于本体11上依次连接的微处理器12、信号协议转换器13和连接器14，所述微处理器12通过本体11与外部内存插槽3连接用于接收外部内存插槽3的电压信号，信号协议转换器13通过连接器14与外部主机4连接用于实现数据交互，外部主机4分别与微处理器12和控制开关15连接，控制开关15位于本体11上，且控制开关15的一端与微处理器12连接，控制开关15的另一端与外部DDR控制器2连接。

本实施例中，所述本体11插接于外部内存插槽3中，微处理器12的输入管脚通过本体11与外部内存插槽3连接，外部DDR控制器2的内存模拟电压信号可通过外部内存插槽3发送至微处理器12中，微处理器12通过所接收的模拟电压信号获取测试结果然后将测试结果对应的电压信号转换为数字信号并发送给信号协议转换器13，数字信号经过信号协议转换器13转换为对应USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)信号，外部主机4通过连接器14获取调试测试结果。有效提高了调试测试效率，实现了DDR控制器2和内存插槽3焊接可靠性的自动化调试测试。

其中，所述外部主机4通过连接器4提供电源给微处理器12和控制开关15，当外部主机给微处理器12下达调试测试指令时，微处理器12通过控制开关15打开外部DDR控制器2的地管脚并供电，由于DDR控制器2中存在二极管，因此，通过二极管的导通使得DDR控制器2中的内存信号存在对应的电压，当外部DDR控制器2和外部内存插槽3焊接良好时，DDR控制器2中内存信号对应的电压就会通过外部内存插槽3传输给微处理器12，当外部DDR控制器2和外部内存插槽3焊接不良时，所述微处理器12就不会接收到外部DDR控制器2内存信号对应的电压信号，然后微处理器12将所接收的电压信号传输至外部主机4即可获取调试测试结果。

其中，所述外部主机4，还用于下达调试测试指令并从连接器14中读取调试测试结果。

其中，所述微处理器12，用于接收外部主机4所下达的调试测试指令和读取外部内存插槽3所传输的外部DDR控制器2的内存信号对应的电压信号，同时将所读取的外部DDR控制器2中内存信号对应的电压信号转换为数字信号，以及通过嵌入微处理器12中的测试软件把存在问题的电压信号的逻辑关系和实际物理位置对应起来，从而获取调试测试结果，最后将调试测试结果输出给外部主机4，操作人员即可利用X-光机和焊接装备进行检查维修，能够大大节约问题分析时间和维修时间，且不需要人工现场干预，解决了传统调试测试方式中在高低温环境试验过程中不能进入到试验箱里进行人工操作的问题，而且不会破坏现场试验环境操作，极其便捷的定位问题所在，有效提高了调试测试效率，同时还可以应用于高低温环境试验过程中进行DDR控制器2和内存插槽3焊接可靠性的调试测试。

其中，所述信号协议转换器13，用于将微处理器12输出的测试结果数字信号转换为USB信号并通过连接器14传输给外部主机4，由于普通外部主机4只有一个串口，因此，本实施例中通过在信号协议转换器13与外部主机4之间设置一个连接器14，有效解决了一个串口只能连接一个测试治具使得调试测试效率低下的问题，其中，所述连接器14为MicroUSB连接器，由于USB接口具有很强大的扩展功能，外部主机4的USB接口通过Micro USB连接器可以同时连接多个测试治具进行调试测试，从而能够提高DDR控制器2和内存插槽3焊接可靠性的调试测试效率。

其中，所述控制开关15用于保护电路，在插拔测试治具过程中，通过关闭控制开关15能够避免对外部DDR控制器2造成瞬时电流冲击，进而可以避免损坏外部DDR控制器2。

如图2所示，所述本体11上还设有稳压器16，所述稳压器16的一端与连接器14连接，稳压器16的另一端分别与控制开关15和微处理器12连接。本实施例中，通过设置稳压器6将外部主机4的USB接口所提供的5V电压转换为3.3V或者更小的电压，通过转换为较小的电压给微处理器12和控制开关15和供电能够有效减少电源消耗并稳定电压，进而能够有效保护各个部件。

如图2所示，所述本体11还设有限流电阻17，所述限流电阻17位于控制开关15和稳压器16之间并分别与控制开关15和稳压器16连接。本实施例中通过设置限流电阻17用于将外部主机4提供给控制开关15的电源进行限流，进一步对电路进行保护以延长部件使用寿命。

其中，所述稳压器16为稳压效果更好的线性稳压器。控制开关15选择MOS开关或三极管。

上面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，不能理解为对本实用新型保护范围的限制。

总之，本实用新型虽然列举了上述优选实施方式，但是应该说明，虽然本领域的技术人员可以进行各种变化和改型，除非这样的变化和改型偏离了本实用新型范围，否则都应该包括在本实用新型的保护范围内。

Claims (7)

1.一种DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，包括本体(11)和控制开关(15)，以及设于本体(11)上依次连接的微处理器(12)、信号协议转换器(13)和连接器(14)，所述微处理器(12)通过本体(11)与外部内存插槽(3)连接用于接收外部内存插槽(3)的电压信号，信号协议转换器(13)通过连接器(14)与外部主机(4)连接用于实现数据交互，外部主机(4)分别与微处理器(12)和控制开关(15)连接，控制开关(15)位于本体(11)上，且控制开关(15)的一端与微处理器(12)连接，控制开关(15)的另一端与外部DDR控制器(2)连接。

2.如权利要求1所述的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，所述外部主机(4)通过连接器(14)分别与微处理器(12)和控制开关(15)连接用于对微处理器(12)和控制开关(15)供电。

3.如权利要求1所述的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，所述本体(11)上还设有稳压器(16)，所述稳压器(16)的一端与连接器(14)连接，稳压器(16)的另一端分别与控制开关(15)和微处理器(12)连接。

4.如权利要求1所述的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，所述本体(11)还设有限流电阻(17)，所述限流电阻(17)位于控制开关(15)和稳压器(16)之间并分别与控制开关(15)和稳压器(16)连接。

5.如权利要求4所述的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，所述稳压器(16)为线性稳压器。

6.如权利要求1所述的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，所述连接器(14)为Micro USB连接器。

7.如权利要求1所述的DDR控制器和内存插槽焊接可靠性自动化调试治具，其特征在于，所述控制开关(15)为MOS开关或三极管。

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