CN113734784A - 上下料控制装置及控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种上下料控制装置及控制方法，应用于设有多个检测单元的检测设备，每个所述检测单元均设有检测工位，所述上下料控制装置包括驱动组件、上料平台、执行机构及控制装置；驱动组件包括本体、第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件，所述本体沿第一方向设有上料工位及下料工位，多个所述检测工位位于上料工位与下料工位之间，所述第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件均设置于所述本体、且均相对于所述本体沿所述第一方向往复移动。上述上下料控制装置通过一个执行机构即可完成多个检测单元的上下料控制，结构较为简单，成本较低，适用范围较为广泛。

Description

上下料控制装置及控制方法

技术领域

本发明涉及自动化设备检测技术领域，特别是涉及一种上下料控制装置及控制方法。

背景技术

液晶模组在制造完成后，需要将液晶模组移动至检测单元进行检测，检测完成后再将液晶模组从检测单元移出。当检测设备上设有多个检测单元时，需要分别设置执行机构对各个检测单元进行上料及下料，因此存在上下料控制装置结构较复杂的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上下料控制装置结构较复杂的问题，提供一种上下料控制装置及控制方法。

一种上下料控制装置，应用于设有多个检测单元的检测设备，每个所述检测单元均设有检测工位，所述上下料控制装置包括驱动组件、上料平台、下料平台、执行机构及控制装置；驱动组件包括本体、第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件，所述本体沿第一方向设有上料工位及下料工位，所述上料工位及所述下料工位配置为能够使多个所述检测工位均位于所述上料工位与所述下料工位之间，所述第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件均设置于所述本体、且均相对于所述本体沿所述第一方向往复移动，所述驱动组件用于根据第一搬运控制指令控制所述第一驱动件由所述上料工位沿第一方向移动至目标区域，根据第二搬运控制指令控制所述第二驱动件由当前位置移动至所述目标区域，根据第三搬运控制指令控制所述第三驱动件由所述目标区域沿第一方向移动至所述下料工位。上料平台设置于所述第一驱动件；下料平台设置于所述第三驱动件；执行机构设置于所述第二驱动件，所述执行机构用于根据第一控制指令由处于所述目标区域的所述上料平台抓取待测样品、并将所述待测样品放置于目标检测工位，所述执行机构用于根据第二控制指令由所述目标检测工位抓取所述待测样品并将所述待测样品放置于处于所述目标区域的所述下料平台；控制装置分别与所述驱动组件及所述执行机构电连接，所述控制装置用于发送所述第一搬运控制指令、第二搬运控制指令、第三搬运控制指令至所述驱动组件，及用于发送所述第一控制指令及所述第二控制指令至所述执行机构。

上述上下料控制装置，通过设置第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件，分别带动上料平台、执行机构及下料平台相对于本体在多个检测工位之间往复移动，以实现对设有多个检测单元的检测设备的上下料控制。工作过程中，上料平台承载待测样品由上料工位进入目标区域，同时执行机构移动进入目标区域。当上料平台及执行机构均进入目标区域后，执行机构抓取位于上料平台的待测样品并放置于目标检测工位。在目标检测工位处完成检测后执行机构抓取待测样品并放置于下料平台，由下料平台将待测样品送至下料工位。上述上下料控制装置通过一个执行机构即可完成多个检测单元的上下料控制，结构较为简单，成本较低，适用范围较为广泛。

下面对本申请的技术方案作进一步说明：

在其中一个实施例中，所述第一控制指令包括第一样品移动指令、样品调整指令及第二样品移动指令，所述第一样品移动指令用于控制所述执行机构抓取所述待测样品、并将所述待测样品由所述上料平台移动至预设的中转工位，所述样品调整指令用于控制所述执行机构对所述待测样品进行调整，所述第二样品移动指令用于控制所述执行机构将调整后的所述待测样品移动并放置于所述目标检测工位。

在其中一个实施例中，所述上下料控制装置还包括第一图像获取模块，第一图像获取模块设于所述中转工位，用于获取所述待测样品的第一图像；所述控制装置与所述第一图像获取模块电连接，用于根据所述第一图像计算移动补偿值，并根据所述移动补偿值输出所述样品调整指令至所述执行机构。

在其中一个实施例中，所述上下料控制装置还包括第二图像获取模块，第二图像获取模块用于获取放置于所述目标检测工位的所述待测样品的第二图像；所述控制装置与所述第二图像获取模块电连接，所述控制装置用于根据所述第二图像计算位置偏差值，当所述位置偏差值超出预设偏差范围时，输出第三样品移动指令至所述执行机构，所述第三样品移动指令用于控制所述执行机构将所述待测样品由所述目标检测工位移动至所述中转工位。

在其中一个实施例中，所述上下料控制装置还包括识别模块，识别模块设于所述待测样品由所述目标区域至所述目标检测工位的移动路径上，所述识别模块用于识别所述待测样品的预设标记并获取对应的待测样品信息，所述待测样品信息用于与所述待测样品的检测结果建立关联。

一种上下料控制方法，应用于上述任意一项实施例所述的上下料控制装置，所述上下料控制方法包括：根据第一搬运控制指令控制所述上料平台由所述上料工位沿第一方向移动至目标区域；根据第二搬运控制指令控制所述执行机构由当前位置移动至所述目标区域；根据第一控制指令控制所述执行机构由所述上料平台抓取待测样品并将所述待测样品放置于所述目标检测工位；根据第二控制指令控制所述执行机构由所述目标检测工位抓取所述待测样品并将所述待测样品放置于所述下料平台；根据第三搬运控制指令控制所述下料平台由所述目标区域沿第一方向移动至所述下料工位。

在其中一个实施例中，所述根据第一控制指令控制所述执行机构由所述上料平台抓取所述待测样品并将所述待测样品放置于所述目标检测工位包括：根据第一样品移动指令控制所述执行机构抓取所述待测样品、并将所述待测样品由所述上料平台移动至预设的中转工位；获取所述待测样品在所述中转工位的第一图像；根据所述第一图像计算移动补偿值；根据所述移动补偿值输出样品调整指令；根据所述样品调整指令控制所述执行机构对所述待测样品进行调整；根据第二样品移动指令控制所述执行机构将调整后的所述待测样品移动并放置于所述目标检测工位。

在其中一个实施例中，所述根据所述第一图像计算移动补偿值包括：获取预先设置的标准图像；将所述第一图像与所述标准图像进行对比，计算得到移动补偿值。

在其中一个实施例中，所述上下料控制方法还包括：获取放置于所述目标检测工位的所述待测样品的第二图像；根据所述第二图像计算位置偏差值；若所述位置偏差值超出预先设置的偏差范围，则根据第三样品移动指令控制所述执行机构将所述待测样品由所述目标检测工位移动至所述中转工位。

在其中一个实施例中，所述上下料控制方法还包括：识别所述待测样品的预设标记并获取对应的待测样品信息；将所述待测样品信息与检测结果建立关联。

附图说明

图1为本发明一实施例中的上下料控制装置应用于设有两个检测单元的检测设备时的结构简图；

图2为本发明一实施例中的上下料控制装置应用于设有四个检测单元的检测设备时的结构简图；

图3为本发明一实施例中的上下料控制装置应用于设有四个检测单元的检测设备时的结构简图；

图4为本发明一实施例中的待测样品与标准位置之间位置偏差的示意图；

图5为本发明一实施例中的目标检测工位处的结构示意图；

图6为本发明一实施例中的上下料控制装置的结构框图；

图7为本发明一实施例中的上下料控制装置的结构框图；

图8为本发明一实施例中的上下料控制装置的结构框图；

图9为本发明一实施例中的控制装置与执行机构的连接关系框图；

图10为本发明一实施例中的上料控制方法流程示意图；

图11为本发明一实施例中的下料控制方法流程示意图。

附图标记：

10、上下料控制装置；100、驱动组件；110、本体；111、上料工位；112、下料工位；120、第一驱动件；130、第二驱动件；140、第三驱动件；200、上料平台；300、执行机构；310、机械手；320、样品抓取装置；400、下料平台；500、中转工位；510、第一图像获取模块；600、识别模块；20、检测单元；700、控制装置；800、第二图像获取模块；21、检测工位；21a、目标检测工位；30、目标区域。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

参见图1及图2，本发明一实施例提供了一种上下料控制装置10，应用于设有多个检测单元20的检测设备(图中未标出)，每个检测单元20均设有检测工位21，检测工位21可以是治具型腔。在检测工位21处对待测样品进行检测，其中待测样品可以是液晶模组、OLED显示模组。其中，图1示出了本发明一实施例中的上下料控制装置应用于设有两个检测单元的检测设备时的结构简图，图2示出了本发明一实施例中的上下料控制装置应用于设有四个检测单元的检测设备时的结构简图，图2中的上下料控制装置处于上料控制过程中。下面以设有四个检测单元20的检测设备为例进行说明。上下料控制装置10包括驱动组件100、上料平台200、执行机构300、下料平台400及控制装置700(控制装置700在图1及图2中未示出)，控制装置700分别与驱动组件100及执行机构300电连接。

参见图2，驱动组件100包括本体110、第一驱动件120、第二驱动件130及第三驱动件140，上料平台200设置于第一驱动件120，执行机构300设置于第二驱动件130，下料平台400设置于第三驱动件140。本体110沿第一方向设有上料工位111及下料工位112，上料工位111及下料工位112配置为能够使多个检测工位21均位于上料工位111与下料工位112之间，即多个检测工位21在第一方向上沿着本体110排列。多个检测工位21可以如图2所示均排列于本体110的一侧，也可以分别排列于本体110的两侧。第一驱动件120、第二驱动件130及第三驱动件140均设置于本体110、且均相对于本体110沿第一方向(图2中A方向)往复移动，以分别带动上料平台200、执行机构300、下料平台400移动。

结合参见图2及图6，驱动组件100用于根据第一搬运控制指令控制第一驱动件120由上料工位111沿第一方向移动至目标区域30，上料平台200能在第一驱动件120的带动下移动至目标区域30。驱动组件100用于根据第二搬运控制指令控制第二驱动件130由当前位置移动至目标区域30，执行机构300能在第二驱动件130的带动下移动至目标区域30。控制装置700用于发送第一控制指令至执行机构300。执行机构300用于根据第一控制指令由处于目标区域30的上料平台200抓取待测样品、并将待测样品放置于目标检测工位21a。

上料控制过程中，控制装置700可以根据检测单元20的上料需求确定目标检测工位21a，在邻近目标检测工位21a处确定目标区域30，目标区域30包括供上料平台200停留的第一目标位置、供执行机构300停留的第二目标位置及供下料平台400停留的第三目标位置。根据所确定的目标区域30获取第一搬运控制指令及第二搬运控制指令并发送至驱动组件100。驱动组件100接收第一搬运控制指令并控制第一驱动件120由上料工位111沿第一方向移动至目标区域30，第一驱动件120上设置的上料平台200将承载的待测样品搬运至目标区域30。驱动组件100接收第二搬运控制指令控制第二驱动件130由当前位置移动至目标区域30，第二驱动件130上设置的执行机构300被搬运至目标区域30。当上料平台200及执行机构300均移动至目标区域30，控制装置700发送第一控制指令至执行机构300。执行机构300根据第一控制指令由处于目标区域30的上料平台200抓取待测样品、并将待测样品放置于目标检测工位21a，如此完成了上料控制。

在目标检测工位21a对待测样品进行检测，检测完成后进行下料控制。

继续参见图3及图6，图3示出了本发明一实施例中的上下料控制装置应用于设有四个检测单元的检测设备时的结构简图，图3中的上下料控制装置处于下料控制过程中。控制装置700用于发送第二控制指令至执行机构300。执行机构300用于根据第二控制指令由目标检测工位21a抓取待测样品并将待测样品放置于处于目标区域30的下料平台400。控制装置700用于发送第三搬运控制指令至驱动组件100。驱动组件100用于根据第三搬运控制指令控制第三驱动件140由目标区域30沿第一方向移动至下料工位112。

下料控制过程中，控制装置700发送第二控制指令至执行机构300，执行机构300根据第二控制指令由目标检测工位21a抓取待测样品并将待测样品放置于处于目标区域30的下料平台400。控制装置700发送第三搬运控制指令至驱动组件100，驱动组件100接收第三搬运控制指令并控制第三驱动件140带动承载的待测样品由目标区域30沿第一方向移动至下料工位112，如此完成了下料控制。

上述上下料控制装置10，通过设置第一驱动件120、第二驱动件130及第三驱动件140，分别带动上料平台200、执行机构300及下料平台400相对于本体110在多个检测工位21之间往复移动，以实现对设有多个检测单元20的检测设备的上下料控制。工作过程中，上料平台200承载待测样品由上料工位111进入目标区域30，同时执行机构300移动进入目标区域30。当上料平台200及执行机构300均进入目标区域30后，执行机构300抓取位于上料平台200的待测样品并放置于目标检测工位21a。在目标检测工位21a处完成检测后执行机构300抓取待测样品并放置于处于目标区域30的下料平台400，由下料平台400将待测样品送至下料工位112。上述上下料控制装置10通过一个执行机构300即可完成多个检测单元20的上下料控制，结构较为简单，成本较低，适用范围较为广泛。需要说明的是，其中驱动组件100可以是三动子直线电机，第一驱动件120、第二驱动件130及第三驱动件140分别为三动子直线电机的三个动子。控制装置700的具体类型不限制，如可以是可编程逻辑控制器(Programmable Logic Controller，PLC)。

由于待测样品在从自动上料机等装置移动至上料平台200时通常会出现位置偏差，可能会导致待测样品不能按照预设的位置和角度放置于上料平台200上。进一步地，执行机构300由上料平台200抓取待测样品向目标检测工位21a移动过程中也会出现位置偏差，可能会导致执行机构300无法顺利地将待测样品放置至目标检测工位21a。待测样品若未能按照预设的位置和角度放置于目标检测工位21a，则会直接影响到检测结果。例如，液晶模组在前道制造工艺完成后，需要进入后道工序对液晶模组的各种缺陷进行检测，以此来确认制造工艺及品质是否达到需求。一般液晶模组能够进行检测的首要条件是能够在治具内压接点亮，由于执行机构在对液晶模组搬运的过程中会产生偏差，则会导致压接成功率下降。

为了消除上述的位置偏差，在一实施例中，第一控制指令包括第一样品移动指令、样品调整指令及第二样品移动指令，第一样品移动指令用于控制执行机构300抓取待测样品、并将待测样品由上料平台200移动至预设的中转工位500，样品调整指令用于控制执行机构300对待测样品进行调整，第二样品移动指令用于控制执行机构300将调整后的待测样品移动并放置于目标检测工位21a。

上料控制过程中，当上料平台200及执行机构300移动至目标区域30，控制装置700发送第一样品移动指令至执行机构300，执行机构300抓取待测样品、并将待测样品由上料平台200移动至预设的中转工位500。控制装置700发送样品调整指令至执行机构300，控制执行机构300对待测样品进行调整。控制装置700发送第二样品移动指令至执行机构300，执行机构300控制执行机构300将调整后的待测样品移动并放置于目标检测工位21a。上述上下料控制装置10在将待测样品放置在目标检测工位21a之前，例如可以在将待测样品邻近目标检测工位21a时通过执行机构300对待测样品进行调整，完成待测样品与目标检测工位21a上的标准放置位置之间的对位，能够较为准确地将待测样品以预设的位置及角度放置于目标检测工位21a，以提高压接检测的成功率。

具体地，参见图2及图7，在一实施例中，上下料控制装置10还包括第一图像获取模块510，第一图像获取模块510设于中转工位500，第一图像获取模块510用于获取待测样品的第一图像。控制装置700与第一图像获取模块510电连接，用于根据第一图像计算移动补偿值，并根据移动补偿值输出样品调整指令至执行机构300。其中，第一图像获取模块510可以为高精度工业相机，待测样品移动至中转工位500时位于高精度工业相机的图像采集区域内。

上料控制过程中，第一图像获取模块510获取待测样品的第一图像，并将第一图像传输至控制装置700，控制装置700根据第一图像识别待测样品的第一位置数据，将第一位置数据与预存的标准位置数据进行对比，计算移动补偿值。为了更好地进行说明，作为一种示例，参见图4，图4示出了本发明一实施例中的待测样品与标准位置之间位置偏差的示意图，其中标准位置是指目标检测工位21a上用于放置待测样品的标准位置。当对两枚待测样品进行上料控制时，预先确定目标检测工位21a上待测样品的标准位置数据，将第一位置数据与标准位置数据对比，得到第一枚待测样品的位置偏差ΔX1、位置偏差ΔY1、角度偏差Δθ1，以及第二枚待测样品的位置偏差ΔX2、位置偏差ΔY2和角度偏差Δθ2，之后对两枚待测样品进行位置调整。上述上下料控制装置10通过获取第一图像并计算得到移动补偿值，根据移动补偿值对待测样品进行调整，能够更好地消除位置偏差，进一步提高了压接检测的成功率。

需要说明的是，上述上下料控制装置10可以在每一个检测单元20均对应设置中转工位500及第一图像获取模块510，以便根据上料需求确定其中一个检测工位21为目标检测工位21a之后，利用其对应的第一图像获取模块510对待测样品进行图像采集。

参见图2及图8，在一实施例中，上下料控制装置10还包括第二图像获取模块800，设于目标检测工位21a，第二图像获取模块800用于获取放置于目标检测工位21a的待测样品的第二图像。控制装置700与第二图像获取模块800电连接，控制装置700用于根据第二图像计算位置偏差值，当位置偏差值超出预设偏差范围时，输出第三样品移动指令至执行机构300。第三样品移动指令用于控制执行机构300将待测样品由目标检测工位21a移动至中转工位500。

上料控制过程中，当执行机构300将待测样品放置于目标检测工位21a，第二图像获取模块800获取放置于目标检测工位21a的待测样品的第二图像。控制装置700根据第二图像计算位置偏差值，当位置偏差值超出预设偏差范围时，控制装置700输出第三样品移动指令至执行机构300。执行机构300将待测样品由目标检测工位21a移动至中转工位500，通过第一图像获取模块510重新对待测样品重新进行图像采集，并对待测样品进行调整。上述上下料控制装置10在待测样品放置完成后，对放置于目标检测工位21a的待测样品进行图像采集并根据采集后的图像判断是否需要返回中转工位500，即对待测样品的放置位置进行验证，如不符合要求则重新对待测样品采集图像并调整，以进一步提高待测样品放置在目标检测工位21a上的精度，进而提高压接成功率。

与第一图像获取模块510相同，上述上下料控制装置10可以在每一个检测单元20的检测工位21处均设置第二图像获取模块800，以便获取放置于目标检测工位21a的待测样品的第二图像。当检测工位21可放置多个待测样品时，上下料控制装置10可对应设置多个第二图像获取模块800。另外，上下料控制装置10可以在每一个检测工位21处设置移栽驱动装置，并将第二图像获取模块800安装至移栽驱动装置的驱动端以带动第二图像获取模块800相对于检测工位21移动，以扩大图像采集的范围。

具体地，在一实施例中，执行机构300将待测样品由目标检测工位21a移动至中转工位500，第一图像获取模块510用于重新对待测样品进行图像采集获得第三图像，并将第三图像发送至控制装置700。控制装置700根据第三图像计算得到二次移动补偿值，并根据二次移动补偿值发送二次样品调整指令至执行机构300，当待测样品再次邻近目标检测工位21a时，执行机构300根据二次样品调整指令对待测样品进行二次调整。此过程既可以进一步提高检测设备的压接成功率，也可以对第一次调整对位后的精度进行复检，进而为算法人员收集对位精度数据提供便利。

为了更好地对上述的复检过程进行说明，参见图5，作为一种示例，目标检测工位21a为用于承载待测样品的治具型腔，预先在治具上设有十字标记a并在待测样品上设有十字标记b，控制装置700控制第二图像获取模块800获取放置于治具型腔的待测样品的第二图像，并将第二图像发送至控制装置700。需要说明的是，图5中所示的第二图像获取模块800仅为示意，实际设置时，可将第二图像获取模块800设置于目标检测工位21a的上方，以使目标检测工位21a及待测样品均处于第二图像获取模块800的图像采集范围内，第二图像获取模块800可以为高精度工业相机。控制装置700识别第二图像中的十字标记a与十字标记b，对比得到两个十字标记上、下、左、右的距离，获得当前位置数据。控制装置700将当前位置数据与设定的标准位置数值进行比较运算，若计算值在+/-0.05mm范围内则判定可以压接，若超过+/-0.05mm范围需返回中转工位500。第一图像获取模块510对返回中转工位500的待测样品重新拍照计算移动补偿值。当重新拍照并对位的次数达到设定次数后，该产品被登记为复判产品下料，经过验证，对位复检后不成功率小于0.05％。

参见图9，在一实施例中，执行机构300包括机械手310及设置于机械手310驱动端的样品抓取装置320，第一样品移动指令包括第一抓取指令，第一抓取指令用于控制样品抓取装置320抓取待测样品，第二样品移动指令包括第一释放指令，第一释放指令用于控制样品抓取装置320释放待测样品。其中，样品抓取装置320可以是真空吸盘、真空夹爪等。

参见图1，为了便于对检测结果进行记录及调取，上下料控制装置10还包括识别模块600，识别模块600设于待测样品由目标区域30至目标检测工位21a的移动路径上，识别模块600用于识别待测样品的预设标记并获取对应的待测样品信息，待测样品信息用于与待测样品的检测结果建立关联。在待测样品由目标区域30向目标检测工位21a移动过程中，当待测样品的预设标记进入识别模块600的识别区域时，识别模块600识别预设标记并获取与待测样品对应的待测样品信息，在待测样品检测完成后将检测结果与待测样品信息建立关联，以便对检测结果进行记录及调取。需要说明的是，预设标记可以是设于待测样品上且与待测样品一一对应的条码、二维码或编号等，另外，识别模块600可以是扫码枪。

参见图10及图11，其中图10示出了上料控制方法流程示意图；图11示出了下料控制方法流程示意图。一种上下料控制方法，应用于上述任意一个实施例的上下料控制装置10。上下料控制方法的具体步骤包括：

步骤S100：根据第一搬运控制指令控制上料平台200由上料工位111沿第一方向移动至目标区域30；根据第二搬运控制指令控制执行机构300由当前位置移动至目标区域30。控制装置700根据检测单元20的上料需求确定目标检测工位21a，在邻近目标检测工位21a处确定目标区域30，根据所确定的目标区域30获取第一搬运控制指令及第二搬运控制指令并发送至驱动组件100。驱动组件100接收第一搬运控制指令并控制第一驱动件120由上料工位111沿第一方向移动至目标区域30，第一驱动件120上设置的上料平台200将承载的待测样品搬运至目标区域30。驱动组件100接收第二搬运控制指令控制第二驱动件130由当前位置移动至目标区域30，第二驱动件130上设置的执行机构300被搬运至目标区域30。需要说明的是，第一驱动件120及第二驱动件130的可以同步进行驱动，也可以先后进行驱动。当先后进行驱动时，根据两者的相对位置进行先后顺序地选择。参见图2，当驱动组件100为三动子直线电机时，且第二驱动件130位于第一驱动件120与第三驱动件140之间时，先驱动第二驱动件130再驱动第一驱动件120。

步骤S200：根据第一控制指令控制执行机构300由上料平台200抓取待测样品并将待测样品放置于目标检测工位21a。控制装置700发送第一控制指令至执行机构300。执行机构300根据第一控制指令由处于目标区域30的上料平台200抓取待测样品、并将待测样品放置于目标检测工位21a。待放置于目标检测工位21a的待测样品完成检测后，开始步骤S300。为了便于理解以目标检测工位21a为治具型腔为例进行说明，当判定达到压接检测条件后，治具真空吸附待测样品，机械手310破真空释放待测样品并离开治具位置，治具进行自动压接点灯测试，各项数据测试完成后，开始步骤S300。

步骤S300：根据第二控制指令控制执行机构300由目标检测工位21a抓取待测样品并将待测样品放置于下料平台400。控制装置700发送第二控制指令至执行机构300，执行机构300根据第二控制指令由目标检测工位21a抓取待测样品并将待测样品放置于处于目标区域30的下料平台400。需要说明的是，在步骤S300之前上下料控制方法还可以包括如下步骤：控制装置700发送控制指令至驱动组件100，驱动组件100接收控制指令并控制第三驱动件140带动下料平台400移动进入目标区域30。

步骤S400：根据第三搬运控制指令控制下料平台400由目标区域30沿第一方向移动至下料工位112。控制装置700发送第三搬运控制指令至驱动组件100，驱动组件100接收第三搬运控制指令并控制第三驱动件140带动承载的待测样品由目标区域30沿第一方向移动至下料工位112，将待测样品搬运至下料工位112，以便与下游设备交接。

上述上下料控制方法，通过控制第一驱动件120、第二驱动件130及第三驱动件140，分别带动上料平台200、执行机构300及下料平台400相对于本体110在多个检测工位21之间往复移动，以实现对设有多个检测单元20的检测设备的上下料控制。以上的上下料控制方法包括对一个检测单元的上下料控制过程，当进行其他检测单元的上下料控制时，只需要重新确定目标检测工位后重复上述步骤。

在一实施例中，步骤S200根据第一控制指令控制执行机构300由上料平台200抓取待测样品并将待测样品放置于目标检测工位21a的具体方法包括：

步骤S210：根据第一样品移动指令控制执行机构300抓取待测样品、并将待测样品由上料平台200移动至预设的中转工位500。当驱动装置根据第一搬运控制指令及第二搬运控制指令完成对上料平台200及执行机构300的搬运后反馈信号至控制装置700，控制装置700发送第一样品移动指令至执行机构300，执行机构300接收第一样品移动指令并抓取待测样品、并将待测样品由上料平台200移动至预设的中转工位500。

步骤S220：获取待测样品在中转工位500的第一图像。当执行机构300根据第一样品移动指令将待测样品移动至中转工位500时反馈信号至控制装置700，控制装置700发送第一图像采集指令至第一图像获取模块510。第一图像获取模块510接收第一图像采集指令并对待测样品拍照，获取待测样品在中转工位500的第一图像并将第一图像发送至控制装置700。

步骤S230：根据第一图像计算移动补偿值。第一图像获取模块510获取待测样品的第一图像，并将第一图像传输至控制装置700，控制装置700根据第一图像识别待测样品的第一位置数据，将第一位置数据与预存的标准位置数据进行对比，计算移动补偿值。

步骤S240：根据移动补偿值输出样品调整指令。控制装置700根据移动补偿值输出样品调整指令至执行机构300。

步骤S250：根据样品调整指令控制执行机构300对待测样品进行调整。执行机构300可以将待测样品移动至目标检测工位21a附近，根据接收到的样品调整指令对待测样品进行调整，将待测样品与目标检测工位21a上的标准放置位置之间进行对位。

步骤S260：根据第二样品移动指令控制执行机构300将调整后的待测样品移动并放置于目标检测工位21a。

上述上下料控制方法通过获取第一图像并计算得到移动补偿值，根据移动补偿值对待测样品进行调整，能够更好地消除位置偏差，进一步提高了压接检测的成功率。

具体地，在一实施例中，步骤S240中根据第一图像计算移动补偿值具体步骤包括：S241：获取预先设置的标准图像。S242：将第一图像与标准图像进行对比，计算得到移动补偿值。控制装置700根据接收到的第一图像识别待测样品的第一位置数据，控制装置700获取预先设置的标准图像并获取其对应的标准位置数据，将第一位置数据与标准位置数据进行对比，计算得到移动补偿值。需要说明的是，第一位置数据可以包括待测样品的在X方向上的坐标、Y方向上的坐标及圆周θ方向的角度，同样标准位置数据对应包括标准位置的X方向上的坐标、Y方向上的坐标及圆周θ方向的角度。

在一实施例中，上下料控制方法还包括对位复检步骤：获取放置于目标检测工位21a的待测样品的第二图像，根据第二图像计算位置偏差值；若位置偏差值超出预先设置的偏差范围，则根据第三样品移动指令控制执行机构300将待测样品由目标检测工位21a移动至中转工位500。当执行机构300将待测样品放置于目标检测工位21a，第二图像获取模块800获取放置于目标检测工位21a的待测样品的第二图像。控制装置700根据第二图像计算位置偏差值，当位置偏差值超出预设偏差范围时，控制装置700输出第三样品移动指令至执行机构300。执行机构300将待测样品由目标检测工位21a移动至中转工位500，对待测样品重新进行位置调整。需要说明的是，可以在每次完成待测样品的放置后均进行上述复检步骤，直至位置偏差值在预先设置的偏差范围内则不再进行复检，即达到压接检测条件，开始对待测样品进行检测。但是，如果复检的次数达到设定的复检次数最大值时，位置偏差值仍然超出预设偏差范围，则将当前的待测样品登记为复判产品并下料。

在一实施例中，上下料控制方法还包括识别步骤：识别待测样品的预设标记并获取对应的待测样品信息；将待测样品信息与检测结果建立关联。在待测样品由目标区域30向目标检测工位21a移动过程中，当待测样品的预设标记进入识别模块600的识别区域时，识别模块600识别预设标记并获取与待测样品对应的待测样品信息，在待测样品检测完成后将检测结果与待测样品信息建立关联，以便对检测结果进行记录及调取。需要说明的是，上述的识别步骤可以在将待测样品由目标区域30向中转工位500移动的过程中进行，也可以在将待测样品由中转工位500向目标检测工位21a移动过程中进行。上下料控制方法识别预设标记并获取待测样品信息，便于对检测结果进行记录及调取。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种上下料控制装置，其特征在于，应用于设有多个检测单元的检测设备，每个所述检测单元均设有检测工位，所述上下料控制装置包括：

驱动组件，包括本体、第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件，所述本体沿第一方向设有上料工位及下料工位，所述上料工位及所述下料工位配置为能够使多个所述检测工位均位于所述上料工位与所述下料工位之间，所述第一驱动件、第二驱动件及第三驱动件均设置于所述本体、且均相对于所述本体沿所述第一方向往复移动，所述驱动组件用于根据第一搬运控制指令控制所述第一驱动件由所述上料工位沿第一方向移动至目标区域，根据第二搬运控制指令控制所述第二驱动件由当前位置移动至所述目标区域，根据第三搬运控制指令控制所述第三驱动件由所述目标区域沿第一方向移动至所述下料工位；

上料平台，设置于所述第一驱动件；

下料平台，设置于所述第三驱动件；

执行机构，设置于所述第二驱动件，所述执行机构用于根据第一控制指令由处于所述目标区域的所述上料平台抓取待测样品、并将所述待测样品放置于目标检测工位，所述执行机构用于根据第二控制指令由所述目标检测工位抓取所述待测样品并将所述待测样品放置于处于所述目标区域的所述下料平台；

控制装置，分别与所述驱动组件及所述执行机构电连接，所述控制装置用于发送所述第一搬运控制指令、第二搬运控制指令、第三搬运控制指令至所述驱动组件，及用于发送所述第一控制指令及所述第二控制指令至所述执行机构。

2.根据权利要求1所述的上下料控制装置，其特征在于，所述第一控制指令包括第一样品移动指令、样品调整指令及第二样品移动指令，所述第一样品移动指令用于控制所述执行机构抓取所述待测样品、并将所述待测样品由所述上料平台移动至预设的中转工位，所述样品调整指令用于控制所述执行机构对所述待测样品进行调整，所述第二样品移动指令用于控制所述执行机构将调整后的所述待测样品移动并放置于所述目标检测工位。

3.根据权利要求2所述的上下料控制装置，其特征在于，所述上下料控制装置还包括：

第一图像获取模块，设于所述中转工位，用于获取所述待测样品的第一图像；

所述控制装置与所述第一图像获取模块电连接，用于根据所述第一图像计算移动补偿值，并根据所述移动补偿值输出所述样品调整指令至所述执行机构。

4.根据权利要求3所述的上下料控制装置，其特征在于，所述上下料控制装置还包括：

第二图像获取模块，用于获取放置于所述目标检测工位的所述待测样品的第二图像；

所述控制装置与所述第二图像获取模块电连接，所述控制装置用于根据所述第二图像计算位置偏差值，当所述位置偏差值超出预设偏差范围时，输出第三样品移动指令至所述执行机构，所述第三样品移动指令用于控制所述执行机构将所述待测样品由所述目标检测工位移动至所述中转工位。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的上下料控制装置，其特征在于，所述上下料控制装置还包括：

识别模块，设于所述待测样品由所述目标区域至所述目标检测工位的移动路径上，所述识别模块用于识别所述待测样品的预设标记并获取对应的待测样品信息，所述待测样品信息用于与所述待测样品的检测结果建立关联。

6.一种上下料控制方法，其特征在于，应用于权利要求1-5中任意一项所述的上下料控制装置，所述上下料控制方法包括：

根据第一搬运控制指令控制所述上料平台由所述上料工位沿第一方向移动至目标区域；

根据第二搬运控制指令控制所述执行机构由当前位置移动至所述目标区域；

根据第一控制指令控制所述执行机构由所述上料平台抓取待测样品并将所述待测样品放置于所述目标检测工位；

根据第二控制指令控制所述执行机构由所述目标检测工位抓取所述待测样品并将所述待测样品放置于所述下料平台；

根据第三搬运控制指令控制所述下料平台由所述目标区域沿第一方向移动至所述下料工位。

7.根据权利要求6所述的上下料控制方法，其特征在于，所述根据第一控制指令控制所述执行机构由所述上料平台抓取所述待测样品并将所述待测样品放置于所述目标检测工位包括：

根据第一样品移动指令控制所述执行机构抓取所述待测样品、并将所述待测样品由所述上料平台移动至预设的中转工位；

获取所述待测样品在所述中转工位的第一图像；

根据所述第一图像计算移动补偿值；

根据所述移动补偿值输出样品调整指令；

根据所述样品调整指令控制所述执行机构对所述待测样品进行调整；

根据第二样品移动指令控制所述执行机构将调整后的所述待测样品移动并放置于所述目标检测工位。

8.根据权利要求7所述的上下料控制方法，其特征在于，所述根据所述第一图像计算移动补偿值包括：

获取预先设置的标准图像；

将所述第一图像与所述标准图像进行对比，计算得到移动补偿值。

9.根据权利要求8所述的上下料控制方法，其特征在于，所述上下料控制方法还包括：

获取放置于所述目标检测工位的所述待测样品的第二图像；

根据所述第二图像计算位置偏差值；

若所述位置偏差值超出预先设置的偏差范围，则

根据第三样品移动指令控制所述执行机构将所述待测样品由所述目标检测工位移动至所述中转工位。

10.根据权利要求6所述的上下料控制方法，其特征在于，所述上下料控制方法还包括：

识别所述待测样品的预设标记并获取对应的待测样品信息；

将所述待测样品信息与检测结果建立关联。

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