CN113552148A - 非破坏检查装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种非破坏检查装置(100)，其可无论接头(T)的位置如何均进行准确的判定。所述非破坏检查装置(100)包括：搬送装置(1)，对在上部或下部收纳有接头(T)的被检查物(W)进行搬送；放射线发生器(2a,2b)，对被检查物(W)照射放射线束；放射线检测器(3a,3b)，隔着搬送装置(1)与放射线发生器(2a,2b)相向地设置；图像生成部，设置于放射线发生器(2a,2b)及放射线检测器(3a,3b)的近前，对被检查物(W)进行拍摄来生成被检查物(W)的摄像图像；位置检测部(91)，基于图像生成部所生成的摄像图像对接头(T)的位置进行检测；以及控制部(9)，基于接头(T)的位置对放射线发生器(2a,2b)的摄像时机或由放射线发生器(2a,2b)拍摄到的图像的选择进行控制。
Description
技术领域
本发明的实施方式涉及一种非破坏检查装置。
背景技术
已知有如下的非破坏检查装置：对被检查物照射以X射线为代表的放射线，对通过透过被检查物而减弱的放射线的二维分布进行检测并将其图像化，由此进行被检查物的非破坏检查。被检查物例如为圆筒型的锂离子电池，且其内部成为将正极板与负极板以圆筒状卷绕多层的结构。
正极板的宽度比负极板的宽度短，两者以正极板的端部不从负极板的端部伸出的方式卷绕。若正极板的端部从负极板的端部伸出，则在所伸出的正极板析出锂而发生短路，从而有可能着火。另外，即便在正极板的端部未从负极板的端部伸出的情况下，为了不使得因振动等而伸出，理想的是两者的端部间维持为规定的间隔。因此，在电池的内部，必须对正极板的端部是否从负极板的端部伸出，两者的端部间是否为规定的间隔进行检查。所述检查是通过对电池的下部照射放射线，并对剖面观察时交替地排列的正极板及负极板进行拍摄来进行。
由于正极板与负极板以圆筒状卷绕多层，因此在剖面观察时成为大致左右对称。因此，放射线的照射是在电池的下部在左右方向的其中一侧进行。特别是，伴随耳机的全无线化等而需求不断提高的按钮型的锂离子电池是内置于全无线耳机本体中那样的小型的电池，因此对作为判定对象的摄像图像要求高分辨率。对于此种小型的锂电池，若对其下部整体进行拍摄，则无法获得充分的分辨率，而难以判定，因此一般而言在这一点上放射线的照射也是在左右方向的其中一侧进行。
另外，更优选为电池的摄像不仅在下部，而且也在上部进行。若决定了正极板的宽度及负极板的宽度，则根据下部的两极板的端部间的间隔也得知上部的两极板的端部间的间隔。但是，若考虑到例如误差等，则可通过对上下两方进行拍摄来估计进一步的品质提高。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本专利特开2010-102901号公报
发明内容
[发明所要解决的问题]
此外，从卷绕于最外周的负极板延伸出被称为接头(tab)的金属制的引线。在对电池进行剖面观察的情况下，接头从所卷绕的负极板的其中一个侧面向电池下部延伸，以L字弯曲并延伸至电池的中心部附近为止。由于接头也吸收放射线，因此若在接头与正极板及负极板的端部重叠的状态下进行拍摄，则会成为妨碍所述检查的因素。即，如图1所示，在存在电池的接头的下部右侧图像中，通过正极板及负极板的端部被接头的透视图像遮住，而有可能难以准确地对正极板的端部是否从负极板的端部伸出、两者的端部间是否为规定的间隔进行判定。
为了解决所述问题，本实施方式的目的在于提供一种可无论接头的位置如何均进行准确的判定的非破坏检查装置。
[解决问题的技术手段]
实施方式非破坏检查装置包括如下结构。
(1)搬送装置，对在上部或下部收纳有接头的被检查物进行搬送。
(2)放射线发生器，对所述被检查物照射放射线束。
(3)放射线检测器，隔着所述搬送装置与所述放射线发生器相向地设置。
(4)图像生成部，设置于所述放射线发生器及所述放射线检测器的近前，对所述被检查物进行拍摄来生成所述被检查物的摄像图像。
(5)位置检测部，基于所述图像生成部所生成的摄像图像对所述接头的位置进行检测。
(6)控制部，基于所述接头的位置对所述放射线发生器的摄像时机或由所述放射线发生器拍摄到的图像的选择进行控制。
实施方式的非破坏检查装置也可还包括如下结构。
(1)所述控制部包括摄像时机决定部或图像选择部，所述摄像时机决定部使所述放射线发生器避开所述接头的位置而照射所述放射线束，所述图像选择部选择由所述放射线发生器拍摄到的所述被检查物的多个图像中的未包含所述接头的图像。
(2)所述被检查物包括表示所述接头的位置的标记，所述图像生成部是对所述标记的位置进行拍摄的摄像部。
(3)所述放射线发生器及所述放射线检测器设置有两组，其中一组对所述被检查物的上部进行拍摄，另一组对所述被检查物的下部进行拍摄，所述图像生成部设置于所述其中一组或所述另一组的近前。
附图说明
图1是实施方式的被检查物的透视剖面图。
图2是表示实施方式的被检查物的立体图。
图3是表示实施方式的非破坏检查装置的平面图。
图4是表示实施方式的控制的功能框图。
图5是表示实施方式的非破坏检查装置的动作的流程图。
图6的(a)～图6的(c)是表示利用实施方式的摄像部进行的摄像图像的例子的图。
[符号的说明]
100：非破坏检查装置
1：搬送装置
11：旋转搬送装置
111：工作台
112：保持部
113：凹部
12：搬入装置
121：移载装置
13：搬出装置
131：移载装置
2：放射线发生器
3：放射线检测器
4：摄像部
5：屏蔽箱
51：搬入口
52：搬出口
9：控制部
91：位置检测部
92：摄像时机决定部
H：保持架
M：标记
N：负极板
P：正极板
T：接头
W：被检查物
具体实施方式
[1.实施方式]
[1-1.实施方式的结构]
以下，参照附图对实施方式的被检查物及非破坏检查装置进行说明。本实施方式中，对于一个被检查物，首先，对被检查物的上部的左侧及右侧进行拍摄，接着，避开接头对被检查物的下部的单侧进行拍摄，由此，对正极板的端部是否从负极板的端部伸出，两者的端部间是否为规定的间隔进行检查。
[被检查物]
被检查物W只要为在内部包括卷绕结构的圆筒型，则无特别限定，本实施方式的被检查物W为在壳体内部具有将正极板P与负极板N以圆筒状卷绕多层的结构的圆筒型的锂离子电池。正极板P在宽度方向上比负极板N短，且以不从负极板N伸出的方式卷绕。更优选为以两者的端部间维持为规定的间隔的方式卷绕。再者，规定的间隔可为值，也可为数值范围。另外，如图1的透视剖面图所示，在卷绕于卷绕结构的最外周的负极板N连接被称为接头T的引线，在本实施方式中，从最外周的负极板N的侧面向电池的下部延伸，以L字弯曲并延伸至电池的中心部附近为止。再者，省略了详细的说明，且在图1中也未示出，但在正极板P与负极板N之间存在包括树脂等的隔板。
如图2的立体图所示，被检查物W在其上表面包括标记M。本实施方式的标记M例如为大致矩形形状的白色密封件，粘贴于被检查物W上表面的外周部分、且为被检查物W内部中接头T以L字弯曲的位置的上方。即，在标记M的正下方收纳有接头T，标记M表示接头T的位置。此种标记M是在被检查物W的制造工序，例如将包含正极板P及负极板N的卷绕结构封入至壳体内部的工序中被贴附。
[非破坏检查装置]
非破坏检查装置100对被检查物W照射放射线，并对透过了被检查物W的放射线进行检测。基于所述检测结果，非破坏检查装置100生成被检查物W的透视图像。如图3所示，非破坏检查装置100包括：搬送机构1，对在其上表面上保持有被检查物W的圆柱状的保持架H进行搬送；放射线发生器2及放射线检测器3，对被检查物W的透视图像进行拍摄；摄像部4，从上方对被检查物W进行拍摄；以及屏蔽箱5，对放射线进行屏蔽。进而，非破坏检查装置100包括对搬送机构1、放射线发生器2及放射线检测器3、摄像部4的动作或方向进行控制的控制部9(参照图4)。
搬送机构1是对载置有被检查物W的保持架H进行搬送的机构。搬送机构1包括：旋转搬送装置11，构成被检查物W的检查用搬送路径；搬入装置12，设置于旋转搬送装置11的搬入侧；以及搬出装置13，设置于旋转搬送装置11的搬出侧。搬入装置12、搬出装置13分别包括移载装置121、移载装置131。
搬入装置12、搬出装置13例如是链式输送机或带式输送机。搬入装置12经由移载装置121而将载置有被检查物W的保持架H搬入至旋转搬送装置11。即，移载装置121设置于搬入装置12与旋转搬送装置11之间。搬出装置13经由移载装置131而将保持架H从旋转搬送装置11搬出，所述保持架H载置有在旋转搬送装置11中结束了非破坏检查的被检查物W。即，移载装置131设置于搬出装置13与旋转搬送装置11之间。
移载装置121、移载装置131为大致相同的结构，且例如包含包括能够对保持架H进行保持的保持机构的轮而成。即，移载装置121是沿着其外周等间隔地包括多个凹部，且通过未图示的马达在水平方向上旋转的装置。在凹部设置有未图示的保持机构，通过所述保持机构可在凹部保持或释放保持架H。移载装置121一边在水平方向上旋转一边依次进行保持架H的保持或释放，由此逐渐将保持架H从搬入装置12移载至旋转搬送装置11。同样地，移载装置131是沿着其外周等间隔地包括多个凹部，且通过未图示的马达在水平方向上旋转的装置。在凹部设置有未图示的保持机构，通过所述保持机构可在凹部保持或释放保持架H。移载装置131一边在水平方向上旋转一边依次进行保持架H的保持或释放，由此逐渐将保持架H从旋转搬送装置11移载至搬出装置13。再者，保持机构例如通过利用真空或磁力的吸附机构或利用机械的夹持机构来实现，但在本实施方式中采用利用真空或磁力的吸附机构。
旋转搬送装置11包括圆盘状的工作台111以及与所述工作台111大致同心圆地竖立设置于工作台111上的环状的保持部112。在工作台111设置有未图示的马达，工作台111可与保持部112一起在水平方向上旋转。在保持部112沿着其外周等间隔地设置有多个凹部113。在凹部113设置有未图示的保持机构，通过所述保持机构可在凹部113保持或释放保持架H。即，旋转搬送装置11可在工作台111上依次对利用移载装置121从搬入装置12搬入的保持架H进行搬送。再者，保持机构例如通过利用真空或磁力的吸附机构或利用机械的夹持机构来实现，但在本实施方式中采用利用真空或磁力的吸附机构。
在环状的保持部112的内侧，背对背地设置有两个放射线发生器2。放射线发生器2向在其前面依次被搬送的被检查物W照射放射线束。放射线束是以焦点为顶点以棱锥形状扩大的放射线的束。放射线例如是X射线。所述放射线发生器2例如为X射线管。
放射线检测器3是与各个放射线发生器2的焦点相向地配置。即，两组的放射线发生器2及放射线检测器3分别隔着环状的保持部112相向。放射线检测器3对根据放射线的透过路径而减弱的放射线强度的二维分布进行检测，并输出与所述放射线强度成比例的透过数据。所述放射线检测器3例如包括影像增强器(Image Intensifier，I.I.)及相机、或平板显示器(Flat Panel Display，FPD)。
两组的放射线发生器2及放射线检测器3对被检查物W进行拍摄的高度互不相同，搬入装置12侧的组位于能够对被检查物W的上部进行拍摄的高度处，搬出装置13侧的组位于能够对被检查物W的下部进行拍摄的高度处。另外，将搬入装置12侧的放射线发生器2及放射线检测器3分别设为放射线发生器2a及放射线检测器3a，将搬出装置13侧的放射线发生器2及放射线检测器3分别设为放射线发生器2b及放射线检测器3b。两组的放射线发生器2及放射线检测器3均被设定为可对被检查物W的上部或下部的单侧进行拍摄。
放射线检测器3包括判定部31、存储部32(参照图4)。判定部31例如为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，存储部32例如为硬盘驱动器(Hard Disk Drive，HDD)或固态驱动器(Solid State Drive，SSD)等存储器(storage)。判定部31通过将放射线检测器3所拍摄到的图像与预先存储于存储部32中的规定的基准进行对照，来判定被检查物W是否良好，并将其判定结果输出至控制部9。被检查物W是否良好例如通过正极板P是否从负极板N伸出来判定。另外，即便在未伸出的情况下，也可进一步通过正极板P的端部与负极板N的端部的间隔是否为规定的间隔来进行双重判定。即，所谓预先存储于存储部32中的规定的基准，为正极板P未从负极板N伸出，正极板P的端部与负极板N的端部的间隔是规定的间隔，或者为所述两者。
摄像部4是从上方对被检查物W进行拍摄的相机。作为摄像部4，可使用红外线(Infrared Ray，IR)相机、电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)相机、互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor Transistor，CMOS)相机。摄像部4设置于旋转搬送装置11的上方、且为俯视时放射线发生器2b及放射线检测器3b的近前。所谓近前，是指被检查物W的搬送方向上的近前。即，摄像部4在利用放射线发生器2b及放射线检测器3b进行拍摄之前，对被检查物W进行拍摄。
另外，若根据其功能来理解摄像部4并进行说明，则摄像部4是生成包含被检查物W的上表面上所贴附的标记M的位置在内的摄像图像的图像生成部。控制部9可根据所述拍摄图像对与标记M的位置对应的接头T的位置进行检测。
屏蔽箱5包围搬送机构1的一部分、放射线发生器2、放射线检测器3、以及摄像部4，且对放射线进行屏蔽。屏蔽箱5包含铅等对放射线进行屏蔽的材料而构成。屏蔽箱5例如为长方体形状。在屏蔽箱5中设置有：将保持有被检查物W的保持架H搬入至内部的搬入口51、将屏蔽箱5内部的被检查物W搬出至屏蔽箱5外部的搬出口52，搬入口51设置于搬入装置12的途中，搬出口52设置于搬出装置13的途中。
如图4所示，为了对被检查物W进行搬送及检查，控制部9对搬送机构1、放射线发生器2、放射线检测器3、摄像部4的动作或方向进行控制。例如，可基于从放射线检测器3的判定部31输出的判定结果来对搬送机构1进行控制。控制部9为所谓的计算机，且包含HDD或SSD等存储器(storage)、RAM、CPU及驱动电路。在存储器中例如存储有用于对各结构进行控制的程序或数据。在RAM中展开程序并且临时存储数据。CPU对程序进行处理，驱动器电路根据所述处理结果对各结构供给电力。
控制部9基于摄像部4所拍摄到的被检查物W的图像，来决定放射线发生器2照射放射线束的时机，即放射线发生器2的摄像时机。更详细而言，控制部9包括位置检测部91及摄像时机决定部92。位置检测部91判别被检查物W的上表面上所贴附的标记M的位置来对接头T的位置进行检测。摄像时机决定部92基于位置检测部91所检测出的接头T的位置来决定放射线发生器2的摄像时机。由此，放射线发生器2能够以避开标记M的位置的正下方所收纳的接头T的方式对被检查物W进行拍摄。
[1-2.实施方式的作用]
关于本实施方式的被检查物W的搬送及检查顺序，以图5的流程图为中心并参照附图进行说明。
(1)搬入及搬送工序
作为前提，在搬入装置12的搬送路径上，载置有被检查物W的保持架H排列至移载装置121的近前为止。当通过利用控制部9进行控制来驱动搬送机构1时，保持架H从搬入装置12依次移载至旋转搬送装置11(步骤S01)。更详细而言，首先，移载装置121的凹部吸附保持在搬入装置12上被搬送的保持架H。接着，旋转搬送装置11的保持部112的凹部113吸附保持所述保持架H，另一方面，移载装置121释放所述保持架H。由此，保持架H从移载装置121交接至旋转搬送装置11，在与保持部112一起旋转的工作台111上以保持于凹部113中的状态被搬送(步骤S02)。
(2)上部摄像工序
对于在工作台111上被搬送的保持架H上所载置的被检查物W，通过设置于搬入装置12侧的放射线发生器2a及放射线检测器3a，来拍摄其上部。更详细而言，拍摄上部的左侧与右侧的任一者。由于在被检查物W的上部不存在接头T，因此可不顾及接头T的存在而进行拍摄。放射线检测器3a的判定部31基于所述摄像图像来判定被检查物W是否良好，并将其判定结果输出至控制部9(步骤S03)。被检查物W是否良好例如通过正极板P是否从负极板N伸出来判定。另外，即便在未伸出的情况下，也可进一步通过正极板P的端部与负极板N的端部的间隔是否为存储于存储部32中的规定的间隔来进行双重判定。此处，被当作正极板P从负极板N伸出的不良品的被检查物W也可不进行利用后段的摄像部4进行的拍摄以及利用设置于搬出装置13侧的放射线发生器2b及放射线检测器3b进行的拍摄，而从旋转搬送装置11搬出。更详细而言，被当作不良品的被检查物W也可通过从判定部31接收到其判定结果的控制部9对移载装置131进行控制，而移载至未图示的回收输送机上，并回收至设置于所述回收输送机的前端的回收箱中。
(3)下部摄像工序
经过步骤S03中的非破坏检查的被检查物W在旋转搬送装置11的工作台111上进一步被搬送，并在摄像部4的正下方被所述摄像部4拍摄(步骤S04)。摄像部4将所述摄像图像发送至控制部9，控制部9的位置检测部91判别所述摄像图像中的标记M的位置，并对接头T的位置进行检测(步骤S05)。摄像时机决定部92基于所述接头T的位置，来决定放射线发生器2b照射放射线束的时机，在所述时机使放射线发生器2b照射放射线束，并使放射线发生器2b对被检查物W进行拍摄(步骤S06)。换言之，放射线发生器2b基于摄像部4的摄像图像，来决定对被检查物W下部的左右中的哪个进行拍摄。以下，一边示出摄像部4的摄像图像的例子，一边对所述决定进行详细说明。
[标记M位于左侧的情况]
如图6的(a)所示，当在摄像部4的摄像图像中标记M位于左侧、即搬送方向的相反方向侧时，从放射线发生器2b来看，接头T被收纳于被检查物W的左侧，因此摄像时机决定部92将摄像时机提前，使放射线发生器2b对被检查物W的下部右侧进行拍摄。由于在被检查物W的下部右侧不存在接头T，因此摄像图像适合于检查。
[标记M位于右侧的情况]
如图6的(b)所示，当在摄像部4的摄像图像中标记M位于右侧、即搬送方向侧时，从放射线发生器2b来看，接头T被收纳于被检查物W的右侧，因此摄像时机决定部92将摄像时机延迟，使放射线发生器2b对被检查物W的下部左侧进行拍摄。由于在被检查物W的下部左侧不存在接头T，因此摄像图像适合于检查。
[标记M位于上侧或下侧的情况]
如图6的(c)所示，当在摄像部4的摄像图像中标记M位于上侧或下侧、即与搬送方向垂直的方向侧时，从放射线发生器2b来看，接头T被收纳于被检查物W的中央附近，因此摄像时机决定部92可将摄像时机提前而使放射线发生器2b对被检查物W的下部右侧进行拍摄，也可将摄像时机延迟而使放射线发生器2b对被检查物W的下部左侧进行拍摄。由于在被检查物W的下部左侧及下部右侧均不存在接头T，因此即便对下部左侧与右侧中的任一者进行拍摄，摄像图像也适合于检查。
[不存在标记M的情况]
当在摄像部4的摄像图像中未映照有标记M时，可认为标记M的丢失、被检查物W错误地上下反转而载置于保持架H等。在此种情况下，接收到摄像图像的控制部9可停止非破坏检查装置100的运转，从旋转搬送装置11中去除未映照有标记M的被检查物W，也可通过控制部9对移载装置131进行控制，而作为标记不良品移载至未图示的回收输送机上，并回收至设置于所述回收输送机的前端的回收箱中。
(4)判定工序
在步骤S06之后，放射线检测器3b的判定部31基于摄像图像来判定被检查物W是否良好，并将其判定结果输出至控制部9(步骤S07)。被检查物W是否良好例如通过正极板P是否从负极板N伸出来判定。另外，即便在未伸出的情况下，也可进一步通过正极板P的端部与负极板N的端部的间隔是否为存储于存储部32中的规定的间隔来进行双重判定。此处，被当作不良品的被检查物W也可通过从判定部31接收到其判定结果的控制部9对移载装置131进行控制，而移载至未图示的回收输送机上，并回收至设置于所述回收输送机的前端的回收箱中。
(5)搬出工序
最后，结束了检查的被检查物W的保持架H从旋转搬送装置11依次移载至搬出装置13(步骤S08)。更详细而言，首先，移载装置131的凹部吸附保持在工作台111上被搬送的保持架H。另一方面，旋转搬送装置11的保持部112的凹部113释放所述保持架H。由此，移载装置131在吸附保持所述保持架H的状态下继续在水平方向上旋转，在搬出装置13上释放。
以上，通过步骤S01～步骤S08，来依次搬送及检查保持架H上所载置的被检查物W。
[1-3.实施方式的效果]
(1)在本实施方式中，在旋转搬送装置11的上方、且为放射线发生器2b及放射线检测器3b的近前设置摄像部4，并基于摄像部4的摄像图像中的标记M的位置，来决定放射线发生器2b的摄像时机。标记M与接头T的位置对应，因此放射线发生器2b可避开被检查物W内部所收纳的接头T来进行拍摄。其结果，在判定部31判定利用放射线检测器3b进行的摄像图像时，可降低因接头T的透视图像引起的判定不良的可能。
另外，当在摄像部4的摄像图像中未映照有标记M时，可认为标记M的丢失、被检查物W错误地上下反转而载置于保持架H等。无论如何，均可通过摄像部4的摄像图像中有无标记M，而将所述被检查物W判定为不良品。
(2)在本实施方式中，在对被检查物W下部进行拍摄之前对上部进行拍摄，并判定被检查物W是否良好。由此，不仅在下部，而且也在上部可对正极板P是否从负极板N伸出，两者的端部间是否为规定的间隔进行检查，因此可提高被检查物W的品质。
[2.其他实施方式]
在本说明书中对本发明的多个实施方式进行了说明，但所述实施方式是作为例子来进行提示，并不意图限定发明的范围。如上所述的实施方式能够以其它各种形态来实施，且可在不脱离发明的范围的范围内进行各种省略或置换、变更。所述实施方式或其变形包含在发明的范围或主旨中，同样地包含在权利要求所记载的发明及其均等的范围内。
(1)在所述实施方式中，通过控制部9的摄像时机决定部92以避开接头T的位置的方式使放射线发生器2b照射放射线束。但是，控制部9也可为以下形态：在被检查物W的左右两侧使放射线发生器2b照射各一次共计照射两次放射线束，选择所述两次照射中的通过避开接头T的位置那样的照射而拍摄的图像，判定部31判定所选择的所述图像。在此情况下，控制部9包括图像选择部来代替摄像时机决定部92。
(2)在所述实施方式中，控制部9的位置检测部91根据摄像部4所拍摄到的被检查物W的上表面上所贴附的标记M的位置，检测出与标记M的位置对应的接头T的位置。但是，例如也可设为设置放射线发生器及放射线检测器的组而代替摄像部4来对被检查物W进行拍摄，控制部9的位置检测部91根据所述摄像图像来对接头T的位置进行检测。在此情况下，图像生成部并非摄像部4，而为代替所述摄像部4而设置的放射线发生器及放射线检测器的组。再者，此时的利用放射线发生器及放射线检测器进行的摄像图像与所述实施方式的利用放射线发生器2及放射线检测器3进行的摄像图像不同，为理解了被检查物W整体的图像。
(3)在所述实施方式中，设为接头T被收纳于被检查物W的下部并进行了检查，但也可设为被收纳于上部并进行了检查。在此情况下，接头T延伸并以L字弯曲的一侧为被检查物W的上部或用来贴附标记M的上表面，相反侧为下部。另外，摄像部4设置于放射线发生器2a及放射线检测器3a的近前。
(4)在所述实施方式中，通过两组的放射线发生器2及放射线检测器3对被检查物W的上部及下部进行了拍摄，但也可通过一组的放射线发生器2及放射线检测器3仅对上部或下部中的其中一者、即存在接头T的一者进行拍摄。
(5)在所述实施方式中，设为标记M贴附于被检查物W的上表面，但不限于此。例如即便是侧面，只要示出接头T的位置即可。在此情况下，摄像部4设置于可对标记M进行拍摄的位置。另外，标记M不限于贴附，例如也可为在涂料或被检查物W的表面上所雕刻的记号。
(6)在所述实施方式中，设为放射线检测器3包括判定部31及存储部32，但控制部9也可担负这些的结构及作用效果。即，放射线检测器3可将摄像图像发送至控制部9，并在控制部9中进行拍摄图像的判定。
(7)在所述实施方式中，设为也可通过移载装置131将被当作不良品的被检查物W载置于回收输送机上并回收至回收箱中，但也可载置于从移载装置131延伸至搬入装置12的未图示的再投入输送机上而再投入至搬入装置12中，进而移载至旋转搬送装置11来进行再检查。
(8)对所述实施方式的被检查物W进行搬送的搬送装置1也可包括直线状的输送机而构成来代替旋转搬送装置11。
(9)所述实施方式的被检查物W以载置于保持架H的状态被搬送，但也可不经由保持架H而直接搬送。
Claims (6)
1.一种非破坏检查装置，包括：
搬送装置，对在上部或下部收纳有接头的被检查物进行搬送；
放射线发生器，对所述被检查物照射放射线束；
放射线检测器，隔着所述搬送装置与所述放射线发生器相向地设置；
图像生成部，设置于所述放射线发生器及所述放射线检测器的近前，对所述被检查物进行拍摄来生成所述被检查物的摄像图像；
位置检测部，基于所述图像生成部所生成的所述摄像图像对所述接头的位置进行检测；以及
控制部，基于所述接头的位置对所述放射线发生器的摄像时机或由所述放射线发生器拍摄到的图像的选择进行控制。
2.根据权利要求1所述的非破坏检查装置，其中
所述控制部包括摄像时机决定部，所述摄像时机决定部使所述放射线发生器避开所述接头的位置而照射所述放射线束。
3.根据权利要求1所述的非破坏检查装置，其中
所述控制部包括图像选择部，所述图像选择部选择由所述放射线发生器拍摄到的所述被检查物的多个图像中的未包含所述接头的图像。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的非破坏检查装置，其中
所述被检查物包括表示所述接头的位置的标记，
所述图像生成部是对所述标记的位置进行拍摄的摄像部。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的非破坏检查装置，其中
所述放射线发生器及所述放射线检测器设置有两组，
其中一组对所述被检查物的上部进行拍摄，
另一组对所述被检查物的下部进行拍摄，
所述图像生成部设置于所述其中一组或所述另一组的近前。
6.根据权利要求4所述的非破坏检查装置，其中
所述放射线发生器及所述放射线检测器设置有两组，
其中一组对所述被检查物的上部进行拍摄，
另一组对所述被检查物的下部进行拍摄，
所述图像生成部设置于所述其中一组或所述另一组的近前。
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Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002373649A (ja) * | 2001-06-18 | 2002-12-26 | Mitsubishi Chemicals Corp | 電池およびその製造方法 |
| JP2003014670A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-15 | Sony Corp | 蛍光ｘ線分析方法及び蛍光ｘ線分析装置 |
| CN101728573A (zh) * | 2008-10-22 | 2010-06-09 | 东芝It·控制系统株式会社 | 电池检查装置 |
| CN101997135A (zh) * | 2009-08-06 | 2011-03-30 | 东芝It·控制系统株式会社 | 电池检查装置 |
| CN102473890A (zh) * | 2010-03-08 | 2012-05-23 | 日立麦克赛尔能源株式会社 | 锂离子二次电池 |
| KR20190133551A (ko) * | 2018-05-23 | 2019-12-03 | 주식회사 이노메트리 | 전극 탭 정렬 기구 및 이를 구비한 원통형 이차 전지용 엑스레이 검사 장치 |
| CN110595401A (zh) * | 2019-08-29 | 2019-12-20 | 东莞市骏智机电科技有限公司 | 一种使用X-ray射线检测电池四角的检测方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000090958A (ja) | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電池の検査装置及び検査方法 |
| JP2004156975A (ja) | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リード位置検出方法及び装置 |
| JP5559618B2 (ja) | 2010-06-21 | 2014-07-23 | 株式会社日立パワーソリューションズ | タブ付き電極材を内装した筒型電池のタブ検査方法、その検査方法に用いるタブ検査装置、及びタブマーキング装置 |
| JP5458327B2 (ja) | 2011-02-04 | 2014-04-02 | 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 | 電池検査装置及び電池検査方法 |
| JP5830928B2 (ja) | 2011-05-13 | 2015-12-09 | オムロン株式会社 | 検査領域設定方法およびｘ線検査システム |
| JP6473924B2 (ja) | 2014-12-03 | 2019-02-27 | 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 | 電池検査装置 |
-
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-
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Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002373649A (ja) * | 2001-06-18 | 2002-12-26 | Mitsubishi Chemicals Corp | 電池およびその製造方法 |
| JP2003014670A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-15 | Sony Corp | 蛍光ｘ線分析方法及び蛍光ｘ線分析装置 |
| CN101728573A (zh) * | 2008-10-22 | 2010-06-09 | 东芝It·控制系统株式会社 | 电池检查装置 |
| CN101997135A (zh) * | 2009-08-06 | 2011-03-30 | 东芝It·控制系统株式会社 | 电池检查装置 |
| CN102473890A (zh) * | 2010-03-08 | 2012-05-23 | 日立麦克赛尔能源株式会社 | 锂离子二次电池 |
| KR20190133551A (ko) * | 2018-05-23 | 2019-12-03 | 주식회사 이노메트리 | 전극 탭 정렬 기구 및 이를 구비한 원통형 이차 전지용 엑스레이 검사 장치 |
| CN110595401A (zh) * | 2019-08-29 | 2019-12-20 | 东莞市骏智机电科技有限公司 | 一种使用X-ray射线检测电池四角的检测方法 |
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