CN113504459A - 一种光电集成电路芯片的测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种光电集成电路芯片的测试系统,其结构包括顶盖、测试仪主体、底座,顶盖的顶端铰接于测试仪主体的顶部左端,底座焊接在测试仪主体的底部,转动旋钮,带动固定杆使压紧板滑动夹紧,便于对不同大小的集成电路芯片进行限位,避免芯片与探针接触不紧密,并且推动滑块移动,便于调节测试设备的高度,使得探针与不同厚度的芯片更好地接触,升降块带动探针主体上下滑动,使得不同的探针脚与芯片接触进行测试,增加了设备使用的便利性,并且在探针脚损坏进行更换时,转动探针脚使其探针主体与拆卸,便于对探针脚的更换,提高测试工作的整体效率。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域,更具体地说,尤其是涉及到一种光电集成电路芯片的测试系统。
背景技术
光电集成电路是一种将光学传感器集成在半导体硅片上的集成电路,其特点是将输入的光学模拟量信号直接转化成数字量信号输出,使集成度更高,稳定性更好,光电集成电路芯片的检测环节是提高芯片制造水平的关键之一,但是在测试时会产生较大的电流磁波,容易导致电路芯片受电力刺激拨动移位,且没有对所需测试的集成电路芯片进行夹持固定的装置,难以对不同大小的集成电路芯片进行限位,从而使得在测试时,容易出现电路芯片与测试探针接触不紧密的情况,导致对测试数据造成影响,降低对集成电路芯片的测试效率,并且在测试过程中,不间断地置放被测集成电路芯片于测试工位的测试座上数千次,容易使得探针脚的弹性疲乏甚至针体损坏,导致需要将测试仪拆卸安装,更换整支探针,造成操作人员的不便,降低测试工作的整体效率。
发明内容
本发明实现技术目的所采用的技术方案是:该一种光电集成电路芯片的测试系统,其结构包括顶盖、操作按钮、测试仪主体、显示面板、底座、工具箱,所述顶盖的顶端铰接于测试仪主体的顶部左端,所述操作按钮设在测试仪主体的顶部后端,所述测试仪主体的左端后侧嵌固安装有显示面板,所述底座焊接在测试仪主体的底部,所述工具箱在底座的左端内部活动卡合,所述测试仪主体包括外壳、电机、处理器主机、压紧装置、测试装置,所述电机焊接在外壳内部的左侧后端,所述处理器主机嵌固安装在外壳内部的左侧前端,所述压紧装置安装在外壳内部的底部前侧,所述测试装置的顶部与外壳内部的顶部中心嵌固连接。
作为本发明的进一步改进,所述压紧装置包括测试板、旋钮、固定杆、压紧板、固定板、弹簧、滑杆、垫板,所述旋钮安装在固定杆的左侧顶端,所述固定杆的右侧底端嵌固安装在压紧板的左侧中部,所述固定板焊接在测试板的左侧,所述固定杆的左侧中上端与固定板的中部螺纹连接,所述滑杆的左端安装在固定板右端的前后两侧,并且滑杆的右端与测试板右侧内部的左端相连接,所述滑杆在压紧板的前后两端内部滑动连接,所述弹簧的左端安装在固定板右端的前后两侧,并且述弹簧的右端与压紧板前后两侧的左端相连接,所述弹簧与滑杆的左端间隙配合,所述压紧板在测试板内侧的底部滑动连接,所述垫板的右端嵌固安装在测试板右侧内部的左端,所述压紧板材质为铝,抗磨损、抗生锈能力强,并且压紧板右端面设有一层橡胶材质的防滑凸纹,且垫板材质为橡胶,防滑性好且具有一定的弹性,所述滑杆在测试板的前后两端各设有一根,材质为铝,硬度高、抗磨损,并且每根滑杆左侧间隙配合有一根弹簧,所述压紧板前后两端可以套在滑杆外部,在测试板内侧的底部左右滑动。
作为本发明的进一步改进,所述测试装置包括固定块、转块、转动杆、滑槽、滑块、高度调整装置、探测装置,所述固定块的顶端嵌固安装在外壳内部的顶部中心,并且固定块的底端在转块顶侧的内部活动卡合,所述转动杆的顶部铰接于转块的底端,所述滑槽的后端与转动杆的底端嵌固连接,所述滑块在滑槽的内部滑动连接,所述滑槽的右侧中部设有高度调整装置,所述滑块的底部前端嵌固安装有探测装置,所述转块可以绕着固定块底部旋转,并且转动杆顶部可以绕着转块底部转动一定角度,所述滑块与滑槽材质均为铝,光滑性和抗磨损能力好,所述滑块可以在滑槽内部上下滑动,并且滑槽右端安装有高度调整装置。
作为本发明的进一步改进,所述高度调整装置包括调整转钮、调整杆、连接块,所述调整转钮的左端与调整杆的右端嵌固连接,所述调整杆与连接块的内壁螺纹连接,所述连接块材质为铝,硬度高且抗磨损能力好,所述调整杆可以将左侧的滑块进行卡紧。
作为本发明的进一步改进,所述探测装置包括可更换式探针、升降块、工作箱体、接线口,所述升降块与可更换式探针的上侧相连接,所述可更换式探针安装在工作箱体的内部,所述接线口嵌固安装在工作箱体的左侧前端,所述升降块材质为橡胶,绝缘性好且具有一定的弹性,所述可更换式探针可以在工作箱体的内部上下滑动,并且升降块可以带动可更换式探针上下滑动。
作为本发明的进一步改进,所述可更换式探针包括传导块、探针主体、压簧、套筒、探针脚,所述探针主体的顶部与传导块的底部螺纹连接,所述探针主体的底侧外壁与套筒的底侧内壁螺纹连接,所述套筒的外侧安装在工作箱体的内部,所述压簧的顶部安装在探针主体的顶部内壁,并且压簧的底部与探针脚的顶部相连接,所述探针脚在探针主体的内部滑动连接,所述探针主体与探针脚均为铍铜材质,且探针脚的表面镀一层金,导电性能好,所述探针脚顶部可以在探针主体的底部上下滑动,所述套筒材质为铝,导电性好且耐磨性强。
本发明的有益效果在于:
1.转动旋钮,带动固定杆使压紧板滑动夹紧,便于对不同大小的集成电路芯片进行限位,避免芯片与探针接触不紧密,并且推动滑块移动,便于调节测试设备的高度,使得探针与不同厚度的芯片更好地接触。
2.升降块带动探针主体上下滑动,使得不同的探针脚与芯片接触进行测试,增加了设备使用的便利性,并且在探针脚损坏进行更换时,转动探针脚使其与探针主体拆卸,便于对探针脚的更换,提高测试工作的整体效率。
附图说明
图1为本发明一种光电集成电路芯片的测试系统的结构示意图。
图2为本发明一种测试仪主体的内部结构示意图。
图3为本发明一种压紧装置的立体结构示意图。
图4为本发明一种测试装置的立体结构示意图。
图5为本发明一种高度调整装置的内部结构示意图。
图6为本发明一种探测装置的内部结构示意图。
图7为本发明一种可更换式探针的内部结构示意图。
图中:顶盖-1、操作按钮-2、测试仪主体-3、显示面板-4、底座-5、工具箱-6、外壳-31、电机-32、处理器主机-33、压紧装置-34、测试装置-35、测试板-341、旋钮-342、固定杆-343、压紧板-344、固定板-345、弹簧-346、滑杆-347、垫板-348、固定块-351、转块-352、转动杆-353、滑槽-354、滑块-355、高度调整装置-356、探测装置-357、调整转钮-56a、调整杆-56b、连接块-56c、可更换式探针-571、升降块-572、工作箱体-573、接线口-574、传导块-71a、探针主体-71b、压簧-71c、套筒-71d、探针脚-71d。
具体实施方式
以下结合附图对本发明做进一步描述:
实施例1:
如附图1至附图5所示:
本发明一种光电集成电路芯片的测试系统,其结构包括顶盖1、操作按钮2、测试仪主体3、显示面板4、底座5、工具箱6,所述顶盖1的顶端铰接于测试仪主体3的顶部左端,所述操作按钮2设在测试仪主体3的顶部后端,所述测试仪主体3的左端后侧嵌固安装有显示面板4,所述底座5焊接在测试仪主体3的底部,所述工具箱6在底座5的左端内部活动卡合,所述测试仪主体3包括外壳31、电机32、处理器主机33、压紧装置34、测试装置35,所述电机32焊接在外壳31内部的左侧后端,所述处理器主机33嵌固安装在外壳31内部的左侧前端,所述压紧装置34安装在外壳31内部的底部前侧,所述测试装置35的顶部与外壳31内部的顶部中心嵌固连接。
其中,所述压紧装置34包括测试板341、旋钮342、固定杆343、压紧板344、固定板345、弹簧346、滑杆347、垫板348,所述旋钮342安装在固定杆343的左侧顶端,所述固定杆343的右侧底端嵌固安装在压紧板344的左侧中部,所述固定板345焊接在测试板341的左侧,所述固定杆343的左侧中上端与固定板345的中部螺纹连接,所述滑杆347的左端安装在固定板345右端的前后两侧,并且滑杆347的右端与测试板341右侧内部的左端相连接,所述滑杆347在压紧板344的前后两端内部滑动连接,所述弹簧346的左端安装在固定板345右端的前后两侧,并且述弹簧346的右端与压紧板344前后两侧的左端相连接,所述弹簧346与滑杆347的左端间隙配合,所述压紧板344在测试板341内侧的底部滑动连接,所述垫板348的右端嵌固安装在测试板341右侧内部的左端,所述压紧板344材质为铝,抗磨损、抗生锈能力强,增加设备的使用寿命,并且压紧板344右端面设有一层橡胶材质的防滑凸纹,且垫板348材质为橡胶,防滑性好且具有一定的弹性,便于对电路芯片进行夹持固定,所述滑杆347在测试板341的前后两端各设有一根,材质为铝,硬度高、抗磨损,并且每根滑杆347左侧间隙配合有一根弹簧346,所述压紧板344前后两端可以套在滑杆347外部,在测试板341内侧的底部左右滑动,便于对不同大小的集成电路芯片进行限位,使得在对集成电路芯片测试时,避免出现集成电路芯片与测试探针接触不紧密的情况。
其中,所述测试装置35包括固定块351、转块352、转动杆353、滑槽354、滑块355、高度调整装置356、探测装置357,所述固定块351的顶端嵌固安装在外壳31内部的顶部中心,并且固定块351的底端在转块352顶侧的内部活动卡合,所述转动杆353的顶部铰接于转块352的底端,所述滑槽354的后端与转动杆353的底端嵌固连接,所述滑块355在滑槽354的内部滑动连接,所述滑槽354的右侧中部设有高度调整装置356,所述滑块355的底部前端嵌固安装有探测装置357,所述转块352可以绕着固定块351底部旋转,并且转动杆353顶部可以绕着转块352底部转动一定角度,便于维修时对测试设备进行拆卸安装,所述滑块355与滑槽354材质均为铝,光滑性和抗磨损能力好,增加设备的使用寿命,所述滑块355可以在滑槽354内部上下滑动,并且滑槽354右端安装有高度调整装置356,便于对滑槽354的高度进行调节,使得测试探针与不同厚度的集成电路芯片更好地接触。
其中,所述高度调整装置356包括调整转钮56a、调整杆56b、连接块56c,所述调整转钮56a的左端与调整杆56b的右端嵌固连接,所述调整杆56b与连接块56c的内壁螺纹连接,所述连接块56c材质为铝,硬度高且抗磨损能力好,增强设备的使用寿命,所述调整杆56b可以将左侧的滑块355进行卡紧,便于调节测试设备的高度,使得测试探针与集成电路芯片更好地接触。
本实施例的具体使用方式与作用:
本发明中,转动固定杆343的左侧顶端的旋钮342,带动固定杆343使得压紧板344在滑杆347外部滑动进行夹紧,压紧板344在测试板341内侧的底部向右滑动,调整合适后将光电集成电路芯片放入压紧板344与垫板348之间,便于对不同大小的集成电路芯片进行限位,使得在对集成电路芯片测试时,避免出现集成电路芯片与测试探针接触不紧密的情况,转动转块352与转动杆353将滑槽354调整到合适的位置,推动滑块355在滑槽354内部向下移动,便于对滑槽354的高度进行调节,转动调整转钮56a使得调整杆56b将左侧的滑块355进行卡紧,便于调节测试设备的高度,使得测试探针与不同厚度的集成电路芯片更好地接触。
实施例2:
如附图6至附图7所示:
其中,所述探测装置357包括可更换式探针571、升降块572、工作箱体573、接线口574,所述升降块572与可更换式探针571的上侧相连接,所述可更换式探针571安装在工作箱体573的内部,所述接线口574嵌固安装在工作箱体573的左侧前端,所述升降块572材质为橡胶,绝缘性好且具有一定的弹性,避免升降块572对可更换式探针571造成干扰或者损坏,所述可更换式探针571可以在工作箱体573的内部上下滑动,并且升降块572可以带动可更换式探针571上下滑动,便于不同的可更换式探针571与集成电路芯片接触进行测试,增加了设备使用的便利性。
其中,所述可更换式探针571包括传导块71a、探针主体71b、压簧71c、套筒71d、探针脚71e,所述探针主体71b的顶部与传导块71a的底部螺纹连接,所述探针主体71b的底侧外壁与套筒71d的底侧内壁螺纹连接,所述套筒71d的外侧安装在工作箱体573的内部,所述压簧71c的顶部安装在探针主体71b的顶部内壁,并且压簧71c的底部与探针脚71e的顶部相连接,所述探针脚71e在探针主体71b的内部滑动连接,所述探针主体71b与探针脚71e均为铍铜材质,且探针脚71e的表面镀一层金,导电性能好且有一定弹性,在测试中不容易偏移,增强探针的使用寿命,所述探针脚71e顶部可以在探针主体71b的底部上下滑动,使得探针测试设备的弹性更好,探针脚71e在测试中不容易偏移,所述套筒71d材质为铝,导电性好且耐磨性强,增强设备的使用寿命,所述套筒71d与探针主体71b螺纹连接,并且探针主体71b与探针脚71e也为螺纹连接,便于对探针脚71e的更换,增加维修保养工作便利性,提高测试工作的整体效率。
本实施例的具体使用方式与作用:
本发明中,将电机32、处理器主机33的电源线,接入工作箱体573左端的接线口574,通过测试仪主体3顶部后端的操作按钮2启动电机32,通过升降块572带动探针主体71b在工作箱体573内部上下滑动,使得不同的探针脚71d与集成电路芯片接触进行测试,增加了设备使用的便利性,并且在电路芯片测试过程中,探针脚71d长期对集成电路芯片进行测试,容易使得探针脚的弹性疲乏甚至针体损坏,转动套筒71d使其与探针主体71b拆卸,且转动探针主体71b使其与探针脚71e拆卸,便于对探针脚71e的更换,避免更换整支探针而将测试仪拆卸安装,增加维修保养工作便利性,提高测试工作的整体效率。
利用本发明所述技术方案,或本领域的技术人员在本发明技术方案的启发下,设计出类似的技术方案,而达到上述技术效果的,均是落入本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种光电集成电路芯片的测试系统,其结构包括顶盖(1)、操作按钮(2)、测试仪主体(3)、显示面板(4)、底座(5)、工具箱(6),所述顶盖(1)的顶端铰接于测试仪主体(3)的顶部左端,所述操作按钮(2)设在测试仪主体(3)的顶部后端,所述测试仪主体(3)的左端后侧嵌固安装有显示面板(4),所述底座(5)焊接在测试仪主体(3)的底部,所述工具箱(6)在底座(5)的左端内部活动卡合,其特征在于:
所述测试仪主体(3)包括外壳(31)、电机(32)、处理器主机(33)、压紧装置(34)、测试装置(35),所述电机(32)焊接在外壳(31)内部的左侧后端,所述处理器主机(33)嵌固安装在外壳(31)内部的左侧前端,所述压紧装置(34)安装在外壳(31)内部的底部前侧,所述测试装置(35)的顶部与外壳(31)内部的顶部中心嵌固连接。
2.根据权利要求1所述的一种光电集成电路芯片的测试系统,其特征在于:所述压紧装置(34)包括测试板(341)、旋钮(342)、固定杆(343)、压紧板(344)、固定板(345)、弹簧(346)、滑杆(347)、垫板(348),所述旋钮(342)安装在固定杆(343)的左侧顶端,所述固定杆(343)的右侧底端嵌固安装在压紧板(344)的左侧中部,所述固定板(345)焊接在测试板(341)的左侧,所述固定杆(343)的左侧中上端与固定板(345)的中部螺纹连接,所述滑杆(347)的左端安装在固定板(345)右端的前后两侧,并且滑杆(347)的右端与测试板(341)右侧内部的左端相连接,所述滑杆(347)在压紧板(344)的前后两端内部滑动连接,所述弹簧(346)的左端安装在固定板(345)右端的前后两侧,并且述弹簧(346)的右端与压紧板(344)前后两侧的左端相连接,所述弹簧(346)与滑杆(347)的左端间隙配合,所述压紧板(344)在测试板(341)内侧的底部滑动连接,所述垫板(348)的右端嵌固安装在测试板(341)右侧内部的左端。
3.根据权利要求1所述的一种光电集成电路芯片的测试系统,其特征在于:所述测试装置(35)包括固定块(351)、转块(352)、转动杆(353)、滑槽(354)、滑块(355)、高度调整装置(356)、探测装置(357),所述固定块(351)的顶端嵌固安装在外壳(31)内部的顶部中心,并且固定块(351)的底端在转块(352)顶侧的内部活动卡合,所述转动杆(353)的顶部铰接于转块(352)的底端,所述滑槽(354)的后端与转动杆(353)的底端嵌固连接,所述滑块(355)在滑槽(354)的内部滑动连接,所述滑槽(354)的右侧中部设有高度调整装置(356),所述滑块(355)的底部前端嵌固安装有探测装置(357)。
4.根据权利要求3所述的一种光电集成电路芯片的测试系统,其特征在于:所述高度调整装置(356)包括调整转钮(56a)、调整杆(56b)、连接块(56c),所述调整转钮(56a)的左端与调整杆(56b)的右端嵌固连接,所述调整杆(56b)与连接块(56c)的内壁螺纹连接。
5.根据权利要求3所述的一种光电集成电路芯片的测试系统,其特征在于:所述探测装置(357)包括可更换式探针(571)、升降块(572)、工作箱体(573)、接线口(574),所述升降块(572)与可更换式探针(571)的上侧相连接,所述可更换式探针(571)安装在工作箱体(573)的内部,所述接线口(574)嵌固安装在工作箱体(573)的左侧前端。
6.根据权利要求5所述的一种光电集成电路芯片的测试系统,其特征在于:所述可更换式探针(571)包括传导块(71a)、探针主体(71b)、压簧(71c)、套筒(71d)、探针脚(71e),所述探针主体(71b)的顶部与传导块(71a)的底部螺纹连接,所述探针主体(71b)的底侧外壁与套筒(71d)的底侧内壁螺纹连接,所述套筒(71d)的外侧安装在工作箱体(573)的内部,所述压簧(71c)的顶部安装在探针主体(71b)的顶部内壁,并且压簧(71c)的底部与探针脚(71e)的顶部相连接,所述探针脚(71e)在探针主体(71b)的内部滑动连接。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113900016A (zh) * | 2021-12-08 | 2022-01-07 | 深圳市汤诚科技有限公司 | 一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法 |
CN115542134A (zh) * | 2022-11-30 | 2022-12-30 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种集成电路高精度测试装置 |
CN115575850A (zh) * | 2022-09-02 | 2023-01-06 | 湖北钛时代新能源有限公司 | 电芯振平短路的测试装置 |
CN115608718A (zh) * | 2022-11-07 | 2023-01-17 | 宁波晶创科技有限公司 | 一种晶片电清洗装置 |
WO2023105317A1 (en) * | 2021-12-08 | 2023-06-15 | International Business Machines Corporation | Testing a single chip in a wafer probing system |
-
2021
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113900016A (zh) * | 2021-12-08 | 2022-01-07 | 深圳市汤诚科技有限公司 | 一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法 |
CN113900016B (zh) * | 2021-12-08 | 2022-02-18 | 深圳市汤诚科技有限公司 | 一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法 |
WO2023105317A1 (en) * | 2021-12-08 | 2023-06-15 | International Business Machines Corporation | Testing a single chip in a wafer probing system |
US11808808B2 (en) | 2021-12-08 | 2023-11-07 | International Business Machines Corporation | Testing a single chip in a wafer probing system |
CN115575850A (zh) * | 2022-09-02 | 2023-01-06 | 湖北钛时代新能源有限公司 | 电芯振平短路的测试装置 |
CN115608718A (zh) * | 2022-11-07 | 2023-01-17 | 宁波晶创科技有限公司 | 一种晶片电清洗装置 |
CN115608718B (zh) * | 2022-11-07 | 2023-11-24 | 宁波晶创科技有限公司 | 一种晶片电清洗装置 |
CN115542134A (zh) * | 2022-11-30 | 2022-12-30 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种集成电路高精度测试装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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WW01 | Invention patent application withdrawn after publication | ||
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