CN113465889A - 分光测试装置及分光机 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种分光测试装置及分光机。分光测试装置包括：多个探针组，各探针组包括两个探针组件；多个滑块组，各滑块组包括第一滑块和第二滑块；驱动机构，用于驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动；以及，支撑板。本申请的分光测试装置，设置驱动机构驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动，进而带动各探针组中两个探针组件相互靠近与远离；当各探针组的两个探针组件远离时，可以将LED芯片置于该探针组中，两个探针组件靠近时，以接触点亮LED芯片，以便对LED芯片进行测试；而通过设置多个探针组，从而可以实现同时对多个LED芯片进行测试，从而可以在无需增加分光机的前提下，提升测试效率，成本低。

Description

分光测试装置及分光机

技术领域

本申请属于LED测试技术领域，更具体地说，是涉及一种分光测试装置及分光机。

背景技术

随着LED芯片广泛应用于显示屏、指示灯、数码产品、背光源等不同领域，市场上对LED芯片的需求呈现几何级数增加，这样对LED芯片的生产效率提出了更高的要求。LED芯片生产制成后，一般使用分光机对LED芯片进行光学与电学测试。当前LED芯片的测试装置，一般是将LED芯片上电点亮后，对LED芯片一次性进行光学与电学性能测试，而得到LED芯片的全部性能数据。然而这种方式，测试LED芯片的用时较长，测试效率低。而当前提升测试效率，就需要增加分光机，导致成本大幅提升。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种分光测试装置及分光机，以解决相关技术中存在的LED芯片测试用时较长，测试效率低的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案是：提供一种分光测试装置，包括：

多个探针组，各所述探针组包括用于配合点亮测试LED芯片的两个探针组件；

多个滑块组，所述滑块组与所述探针组是一一对应，各所述滑块组包括用于支撑相应所述探针组中的两个所述探针组件的第一滑块和第二滑块；

驱动机构，用于驱动各所述第一滑块与相应所述第二滑块反向移动；以及，

支撑板；

各所述第一滑块滑动安装于所述支撑板上，各所述第二滑块滑动安装于所述支撑板上，所述驱动机构与所述支撑板相连。

在一个可选实施例中，所述驱动机构包括：

多个推杆组，所述推杆组与所述滑块组是一一对应，各所述推杆组包括与相应所述滑块组中的所述第一滑块铰接相连的第一推杆和与相应所述滑块组中的所述第二滑块铰接相连的第二推杆；

传动组件，用于带动各所述第一推杆与相应所述第二推杆反向移动；以及，

驱动电机，驱动所述传动组件，所述传动组件安装于所述支撑板上。

在一个可选实施例中，所述传动组件包括与各所述第一推杆相连的第一随动器、与各所述第二推杆相连的第二随动器，以及驱动所述第一随动器与所述第二随动器反向移动的凸轮，所述凸轮与所述驱动电机相连，所述第一随动器与所述第二随动器分别设于所述凸轮的相对两侧，所述第一随动器和所述第二随动器分别滑动安装于所述支撑板上。

在一个可选实施例中，所述传动组件还包括拉动所述第一随动器与所述第二随动器相互靠近的拉簧。

在一个可选实施例中，所述第一随动器包括第一随动轮、支撑所述第一随动轮的第一转轴和支撑所述第一转轴的第一滑动块，所述第一滑动块滑动安装于所述支撑板上，各所述第一推杆与所述第一滑动块铰接相连；

所述第二随动器包括第二随动轮、支撑所述第二随动轮的第二转轴和支撑所述第二转轴的第二滑动块，所述第二滑动块滑动安装于所述支撑板上，各所述第二推杆与所述第二滑动块铰接相连。

在一个可选实施例中，所述拉簧与所述推杆组是一一对应，各所述拉簧的两端分别与相应所述推杆组中所述第一推杆靠近所述凸轮的一端及所述第二推杆靠近所述凸轮的一端相连。

在一个可选实施例中，各所述第二滑块包括支撑相应所述探针组件的支撑块、滑动安装在支撑板上的连接块和连接所述支撑块与所述连接块的连接板，所述连接块与相应所述第二推杆铰接；所述支撑块位于所述第一滑块远离所述驱动机构的一侧。

在一个可选实施例中，至少一个所述探针组的两个所述探针组件为单探针测试组件；和/或，至少一个所述探针组的两个所述探针组件为双探针测试组件。

在一个可选实施例中，所述分光测试装置还包括用于调节各所述探针组位置的三轴调节机构，所述支撑板安装于所述三轴调节机构上。

本申请实施例的另一目的在于提供一种分光机，包括如上任一实施例所述的分光测试装置。

本申请实施例提供的分光测试装置的有益效果在于：与现有技术相比，本申请的分光测试装置，设置驱动机构驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动，进而带动各探针组中两个探针组件相互靠近与远离；当各探针组的两个探针组件远离时，可以将LED芯片置于该探针组中，两个探针组件靠近时，以接触点亮LED芯片，以便对LED芯片进行测试；而通过设置多个探针组，从而可以实现同时对多个LED芯片进行测试，从而可以在无需增加分光机的前提下，提升测试效率，成本低。

本申请实施例提供的分光机的有益效果在于：与现有技术相比，本申请的分光机使用了上述实施例的分光测试装置，具有上述分光测试装置的技术效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的分光测试装置的立体结构示意图一；

图2为本申请实施例提供的分光测试装置的立体结构示意图二；

图3为本申请实施例提供的分光测试装置的分解结构示意图；

图4为图3中传动组件的结构示意图；

图5为图3中探针组及滑块组的结构示意图。

其中，图中各附图主要标记：

100-分光测试装置；

10-支撑板；11-感应器；12-感应片；

20-探针组；21-探针组件；211-双探针测试组件；212-单探针测试组件；

30-滑块组；31-第一滑块；32-第二滑块；321-连接块；322-支撑块；323-连接板；324-凹槽；33-第一轨导组件；34-第二轨导组件；

40-驱动机构；

41-推杆组；411-第一推杆；412-第二推杆；42-驱动电机；421-主轴；422-连接器；

50-传动组件；51-凸轮；52-第一随动器；521-第一随动轮；522-第一转轴；523-第一滑动块；53-第二随动器；531-第二随动轮；532-第二转轴；533-第二滑动块；54-第一滑轨组件；55-第二滑轨组件；56-拉簧；

60-三轴调节机构；61-X轴调节组件；611-第一支座；612-第一引导轨；613-第一螺栓；62-Y轴调节组件；621-第二支座；622-第二引导轨；623-第二螺栓；63-Z轴调节组件；631-第三支座；632-第三引导轨；633-第三螺栓。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”、“一些实施例”或“实施例”意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。此外，在一个或多个实施例中，可以以任何合适的方式组合特定的特征、结构或特性。

本申请中使用的英文缩写对应的中文及英语原文如下：

LED，英文：Light Emitting Diode；中文：发光二极管。

请参阅图1至图3，现对本申请提供的分光测试装置100进行说明。所述分光测试装置100，包括多个探针组20、多个滑块组30、驱动机构40和支撑板10。

请参阅图1、图3和图5，各探针组20包括两个探针组件21，两个探针组件21用于配合点亮LED芯片，以便测试LED芯片。也就是说，每一个探针组20可以用于配合点亮LED芯片，以便测试LED芯片。

滑块组30的数量与探针组20的数量相等，滑块组30与探针组20是一一对应。各滑块组30包括第一滑块31和第二滑块32，第一滑块31和第二滑块32用于支撑相应探针组20的两个探针组件21，以便通过第一滑块31和第二滑块32配合支撑对应两个探针组件21，并引导两个探针组件21移动。

各第一滑块31滑动安装于支撑板10上，各第二滑块32滑动安装于支撑板10上，以通过支撑板10来各第一滑块31与各第二滑块32。

驱动机构40安装于支撑板10上，通过支撑板10来支撑住驱动机构40。驱动机构40用于驱动各第一滑块31与相应第二滑块32反向移动，进而带动各探针组20的两个探针组件21反向移动。这样可以带动各探针组20中两个探针组件21相互靠近与远离。

当各探针组20的两个探针组件21远离时，可以将LED芯片置于该探针组20中，两个探针组件21靠近时，以接触点亮LED芯片，以便对LED芯片进行测试；而通过设置多个探针组20，从而可以实现同时对多个LED芯片进行测试。如可以将多个探针组20分别测试LED芯片，以实现同时对多个LED芯片的光学与电学性能进行测试，提升效率。当然，一个探针组20仅测试LED芯片的部分性能，这样可以通过多个探针组20配合，完成一个LED芯片的光学与电学性能测试，减少一个探针组20测试LED芯片的时间，以提升效率。

本申请提供的分光测试装置100，与现有技术相比，本申请的分光测试装置100，设置驱动机构40驱动各第一滑块31与相应第二滑块32反向移动，进而带动各探针组20中两个探针组件21相互靠近与远离；当各探针组20的两个探针组件21远离时，可以将LED芯片置于该探针组20中，两个探针组件21靠近时，以接触点亮LED芯片，以便对LED芯片进行测试；而通过设置多个探针组20，从而可以实现同时对多个LED芯片进行测试，从而可以在无需增加分光机的前提下，提升测试效率，成本低。

在一个实施例中，请参阅图1至图3，驱动机构40包括多个推杆组41、传动组件50和驱动电机42。

推杆组41的数量与滑块组30的数量相等，推杆组41与滑块组30是一一对应。各推杆组41包括第一推杆411和第二推杆412，第一推杆411与相应滑块组30的第一滑块31铰接相连，以推动第一滑块31在支撑板10上滑动。第二推杆412与相应滑块组30的第二滑块32铰接相连，以推动第二滑块32在支撑板10上滑动。进而通过推杆组41来推动相应探针组20的两个探针组件21相互靠近与远离。

传动组件50安装于支撑板10上。传动组件50与驱动电机42相连，通过驱动电机42带动传动组件50移动，进而带动各第一推杆411与相应第二推杆412反向移动，进而推动各探针组20的两个探针组件21相互靠近与远离。

可以理解地，驱动机构40也可以包括多个气缸或直线电机，以直接驱动第一滑块31与第二滑块32反向移动。

在一个实施例中，请参阅图2至图4，传动组件50包括第一随动器52、第二随动器53和凸轮51，凸轮51与驱动电机42相连，通过驱动电机42驱动凸轮51转动。第一随动器52与第二随动器53分别设于凸轮51的相对两侧，并且第一随动器52与第二随动器53分别与凸轮51相连。第一随动器52与各第一推杆411相连，第二随动器53与各第二推杆412相连。

在凸轮51转动时，推动第一随动器52与第二随动器53相互靠近时，可以推动各第一推杆411与各第二推杆412，反向移动，进而带动各第一滑块31及各第二滑块32相互靠近，以带动各探针组20的两个探针组件21相互靠近，以点亮测试LED芯片。

在凸轮51转动时，推动第一随动器52与第二随动器53相互远离时，可以推动各第一推杆411与各第二推杆412，反向移动，进而带动各第一滑块31及各第二滑块32相互远离，以带动各探针组20的两个探针组件21相互远离，以更换各探针组20中的LED芯片。

第一随动器52和第二随动器53分别滑动安装于支撑板10上，以通过支撑板10来支撑住第一随动器52和第二随动器53。

在一个实施例中，传动组件50还包括拉簧56，拉簧56拉动第一随动器52与第二随动器53相互靠近，以便第一随动器52与第二随动器53紧贴凸轮51，以便凸轮51推动第一随动器52与第二随动器53同步反向移动。

在一个实施例中，第一随动器52包括第一随动轮521、第一转轴522和第一滑动块523。第一随动轮521转动安装在第一转轴522上，而第一转轴522安装在第一滑动块523上，以将第一随动轮521转动安装在第一滑动块523上。

第一滑动块523滑动安装于支撑板10上，以通过支撑板10来支撑住第一滑动块523。各第一推杆411与第一滑动块523铰接相连，从而在凸轮51推动第一随动轮521移动，进而推动第一滑动块523与第一推杆411移动。设置第一随动轮521，以便凸轮51能灵活推动第一随动轮521移动。

第二随动器53包括第二随动轮531、第二转轴532和第二滑动块533。第二随动轮531转动安装在第二转轴532上，而第二转轴532安装在第二滑动块533上，以将第二随动轮531转动安装在第二滑动块533上。第二滑动块533滑动安装于支撑板10上，以通过支撑板10来支撑住第二滑动块533。各第二推杆412与第二滑动块533铰接相连，从而在凸轮51推动第二随动轮531移动，进而推动第二滑动块533与第二推杆412移动。设置第二随动轮531，以便凸轮51能灵活推动第二随动轮531移动。

可以理解地，传动组件50也可以使用其他结构的偏心轮机构。也可以使用曲柄滑块机构等。

在一个实施例中，拉簧56与推杆组41是一一对应，各拉簧56的两端分别与第一推杆411和第二推杆412相连，具体地，拉簧56与第一推杆411靠近凸轮的一端相连，拉簧56与第二推杆412靠近凸轮的一端相连，这样可以更好的拉动各推杆组41中的第一推杆411与第二推杆412同步反向移动。

在一个实施例中，请参阅图2至图4，传动组件50还包括第一滑轨组件54和第二滑轨组件55，第一滑轨组件54安装于支撑板10上，第二滑轨组件55安装于支撑板10上，通过支撑板10来支撑住第一滑轨组件54和第二滑轨组件55。第一滑轨组件54与第一随动器52相连，以引导第一随动器52在支撑板10上滑动，保证第一随动器52平稳滑动。第二滑轨组件55与第二随动器53相连，以引导第二随动器53在支撑板10上滑动，保证第二随动器53平稳滑动。

在一个实施例中，第一滑动块523安装在第一滑轨组件54上，以通过第一滑轨组件54引导第一滑动块523移动，进而引导第一随动器52滑动。第二滑动块533安装在第二滑轨组件55上，以通过第二滑轨组件55引导第二滑动块533移动，进而引导第二随动器53滑动。

在一个实施例中，第一滑轨组件54可以为导轨滑块组30件，也可以是交叉导轨组件等。

在一个实施例中，第二滑轨组件55可以为导轨滑块组30件，也可以是交叉导轨组件等。

可以理解地，也可以直接将第一滑动块523滑动安装在支撑板10上。如可以在支撑板10上设置滑槽，将第一滑动块523安装在滑槽中，也可以引导第一滑动块523移动。同理，可以在支撑板10上设置滑槽，将第二滑动块533安装在滑槽中，也可以引导第二滑动块533移动。

在一个实施例中，驱动机构40还包括连接器422，连接器422安装于驱动电机42的主轴421上，凸轮51与连接器422相连。设置连接器422，以方便将凸轮51与驱动电机42相连。可以理解地，也可以将凸轮51直接与驱动电机42相连。

在一个实施例中，第二滑动块533上安装有感应片12，支撑板10上安装有感应器11，以通过感应器11来探测感应片12，以确定第二滑动块533的行程，进而确定探针组20的两个探针组件21的移动位置，方便控制。

在一个实施例中，请参阅图1、图3和图5，分光测试装置100还包括第一轨导组件33，第一轨导组件33的数量与第一滑块31的数量相等，第一轨导组件33安装在支撑板10上，通过支撑板10来支撑住第一轨导组件33。第一轨导组件33与第一滑块31相连，以引导第一滑块31在支撑板10上滑动，保证第一滑块31带动相应探针组件21平稳滑动。

在一个实施例中，第一轨导组件33可以为导轨滑块组件，也可以是交叉导轨组件等。

可以理解地，也可以直接将第一滑块31滑动安装在支撑板10上。如可以在支撑板10上设置滑轨，将第一滑块31安装在滑轨上，也可以引导第一滑块31移动。

在一个实施例中，请参阅图1、图3和图5，分光测试装置100还包括第二轨导组件34，第二轨导组件34的数量与第二滑块32的数量相等，第二轨导组件34安装在支撑板10上，通过支撑板10来支撑住第二轨导组件34。第二轨导组件34与第二滑块32相连，以引导第二滑块32在支撑板10上滑动，保证第二滑块32带动相应探针组件21平稳滑动。

在一个实施例中，第二轨导组件34可以为导轨滑块组30件，也可以是交叉导轨组件等。

可以理解地，也可以直接将第二滑块32滑动安装在支撑板10上。如可以在支撑板10上设置滑轨，将第二滑块32安装在滑轨上，也可以引导第二滑块32移动。

在一个实施例中，各第二滑块32包括支撑块322、连接块321和连接板323，连接板323连接支撑块322与连接块321。相应探针组件21安装在支撑块322上，通过支撑块322来支撑住相应的探针组件21。连接块321滑动安装在支撑板10上，并且连接块321与相应第二推杆412铰接，支撑块322位于第一滑块31远离驱动机构40的一侧。通过连接板323来连接支撑块322与连接块321，可以减小占用的空间，提升空间利用率。

在一个实施例中，连接板323的下侧开设有凹槽324，支撑块322与支撑板10间隔设置，也就是说，支撑块322相对于支撑板10为悬置设置，则可以从该凹槽324处，将LED芯片移送到探针组20的两个探针组件21之间，方便LED芯片的更换。

在一个实施例中，请参阅图2和图5，多个探针组20沿同一圆周间隔排布设置，这样可以使用环形传送结构，如转盘来传送LED芯片。

在一个实施例中，当多个探针组20沿同一圆周间隔排布时，驱动机构40及支撑板10可以位于该圆周的外侧，这样可以减小该分光测试装置100占用环形传送结构，如转盘的内部空间。

在一个实施例中，至少一个探针组20的两个探针组件21为单探针测试组件212，也就是说，多个探针组20中：至少一个探针组20的两个探针组件21为单探针测试组件212，以适用使用单探针测试的LED芯片。

在一个实施例中，至少一个探针组20的两个探针组件21为双探针测试组件211，也就是说，多个探针组20中：至少一个探针组20的两个探针组件21为双探针测试组件211，以适用使用双探针测试的LED芯片。

一般来说，对单探针测试组件212和双探针测试组件211均可以点亮与测试LED芯片。但一些特殊类型的LED芯片，可能需要使用双探针测试组件211，以对其辅助性能或特点性能进行测试。

在一个实施例中，探针组20为两个，一个探针组20的两个探针组件21为单探针测试组件212，另一个探针组20的两个探针组件21为单探针测试组件212。可以理解地，探针组20也可以为三个、四个等数量。

在一个实施例中，探针组20为两个时，两个第一滑块31位于两个第二滑块32的相对内侧，以减小占用空间。

在一个实施例中，第二滑块32的连接块321竖向设置，以滑动安装在支撑板10的侧面，以减小占用空间。当设有第二轨导组件34，可以将第二轨导组件34安装在支撑板10的侧面，以支撑第二滑块32。

可以理解地，当探针组20为多个时，可以将第二滑块32的连接板323弯曲设置，以避让开相应的第一滑块31，以减小占用空间。

在一个实施例中，请参阅图1至图3，该分光测试装置100还包括三轴调节机构60，支撑板10安装在三轴调节机构60上，通过三轴调节机构60来调节各探针组20位置，以方便组装，并且便于定位测试LED芯片。

在一个实施例中，三轴调节机构60包括X轴调节组件61、Y轴调节组件62和Z轴调节组件63，Z轴调节组件63安装于Y轴调节组件62上，Y轴调节组件62安装于X轴调节组件61上，支撑板10安装于Z轴调节组件63上，以实现调节支撑板10于空间上的位置，进而调节各探针组20位置。

在一个实施例中，X轴调节组件61包括沿X轴设置的第一引导轨612、滑动安装于第一引导轨612上的第一支座611和转动支撑于第一引导轨612上的第一螺栓613，第一支座611中沿X轴方向开设有第一螺纹孔，第一螺栓613安装于第一螺纹孔中，Y轴调节组件62安装于第一支座611上。通过转动第一螺栓613，以推动第一支座611沿第一引导轨612移动，进而实现调节第一支座611沿X轴的位置，进而调节支撑板10沿X轴的位置。可以理解地，X轴调节组件61也可以使用螺杆螺母机构、齿轮齿条机构等线性模块。

在一个实施例中，Y轴调节组件62包括沿Y轴设置的第二引导轨622、滑动安装于第二引导轨622上的第二支座621和转动支撑于第二引导轨622上的第二螺栓623，第二支座621中沿Y轴方向开设有第二螺纹孔，第二螺栓623安装于第二螺纹孔中，Z轴调节组件63安装于第二支座621上，第二支座621滑动安装于第一支座611上，第二引导轨622安装于第一支座611上。通过转动第二螺栓623，以推动第二支座621沿第二引导轨622移动，进而实现调节第二支座621沿Y轴的位置，进而调节支撑板10沿Y轴的位置。可以理解地，Y轴调节组件62也可以使用螺杆螺母机构、齿轮齿条机构等线性模块。

在一个实施例中，Z轴调节组件63包括沿Z轴设置的第三引导轨632、支撑第三引导轨632的第三支座631和转动支撑于第三引导轨632上的第三螺栓633，第二支座621中沿Z轴方向开设有第三螺纹孔，第三螺栓633安装于第三螺纹孔中，支撑板10安装于第三支座631上，第三引导轨632与第二支座621滑动相连。通过转动第三螺栓633，以推动第二支座621相对于第三引导轨632移动，以使第三引导轨632升降，进而带动第三支座631升降，进而调节第三支座631沿Z轴的位置，进而调节支撑板10沿Z轴的位置。可以理解地，Y轴调节组件62也可以使用螺杆螺母机构、齿轮齿条机构等线性模块。

本申请实施例还提供一种分光机，包括如上任一实施例所述的分光测试装置。本申请实施例的分光机使用了上述实施例的分光测试装置，具有上述分光测试装置的技术效果，在此不再赘述。

以上所述仅为本申请的可选实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种分光测试装置，其特征在于，包括：

多个探针组，各所述探针组包括用于配合点亮测试LED芯片的两个探针组件；

多个滑块组，所述滑块组与所述探针组是一一对应，各所述滑块组包括用于支撑相应所述探针组中的两个所述探针组件的第一滑块和第二滑块；

驱动机构，用于驱动各所述第一滑块与相应所述第二滑块反向移动；以及，

支撑板；

各所述第一滑块滑动安装于所述支撑板上，各所述第二滑块滑动安装于所述支撑板上，所述驱动机构与所述支撑板相连。

2.如权利要求1所述的分光测试装置，其特征在于，所述驱动机构包括：

多个推杆组，所述推杆组与所述滑块组是一一对应，各所述推杆组包括与相应所述滑块组中的所述第一滑块铰接相连的第一推杆和与相应所述滑块组中的所述第二滑块铰接相连的第二推杆；

传动组件，用于带动各所述第一推杆与相应所述第二推杆反向移动；以及，

驱动电机，驱动所述传动组件，所述传动组件安装于所述支撑板上。

3.如权利要求2所述的分光测试装置，其特征在于：所述传动组件包括与各所述第一推杆相连的第一随动器、与各所述第二推杆相连的第二随动器，以及驱动所述第一随动器与所述第二随动器反向移动的凸轮，所述凸轮与所述驱动电机相连，所述第一随动器与所述第二随动器分别设于所述凸轮的相对两侧，所述第一随动器和所述第二随动器分别滑动安装于所述支撑板上。

4.如权利要求3所述的分光测试装置，其特征在于：所述传动组件还包括拉动所述第一随动器与所述第二随动器相互靠近的拉簧。

5.如权利要求4所述的分光测试装置，其特征在于：所述第一随动器包括第一随动轮、支撑所述第一随动轮的第一转轴和支撑所述第一转轴的第一滑动块，所述第一滑动块滑动安装于所述支撑板上，各所述第一推杆与所述第一滑动块铰接相连；

所述第二随动器包括第二随动轮、支撑所述第二随动轮的第二转轴和支撑所述第二转轴的第二滑动块，所述第二滑动块滑动安装于所述支撑板上，各所述第二推杆与所述第二滑动块铰接相连。

6.如权利要求4所述的分光测试装置，其特征在于：所述拉簧与所述推杆组是一一对应，各所述拉簧的两端分别与相应所述推杆组中所述第一推杆靠近所述凸轮的一端及所述第二推杆靠近所述凸轮的一端相连。

7.如权利要求2所述的分光测试装置，其特征在于：各所述第二滑块包括支撑相应所述探针组件的支撑块、滑动安装在支撑板上的连接块和连接所述支撑块与所述连接块的连接板，所述连接块与相应所述第二推杆铰接；所述支撑块位于所述第一滑块远离所述驱动机构的一侧。

8.如权利要求1-7任一项所述的分光测试装置，其特征在于，至少一个所述探针组的两个所述探针组件为单探针测试组件；和/或，至少一个所述探针组的两个所述探针组件为双探针测试组件。

9.如权利要求1-7任一项所述的分光测试装置，其特征在于：所述分光测试装置还包括用于调节各所述探针组位置的三轴调节机构，所述支撑板安装于所述三轴调节机构上。

10.一种分光机，其特征在于：包括如权利要求1-9任一项所述的分光测试装置。

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