CN113414142A - 一种压电片阻抗特性测量装置及其测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种压电片阻抗特性测量装置及其测量方法，包括载片测试台，载片测试台顶部端面中设有测试台端面通孔，载片测试台顶部端面下侧设有转动电机，转动电机轴端固定安装有用于放置压电片的转盘，载片测试台外侧设有色标传感器，色标传感器所发出的光信号能照射至放置于转盘上的压电片的侧壁上；测试台端面通孔上方处设有探针推杆，探针推杆的杆端固定连接有用于实现压电片阻抗特性测量的测量探针。通过布置色标传感器控制置于转盘上的压电片所需转动的角度，以实现阻抗特性测量中压电片的定位监测。

Description

一种压电片阻抗特性测量装置及其测量方法

技术领域

本发明涉及一种压电片测量技术，尤其是涉及一种使用于换能器中薄片式压电片的阻抗特性测量装置及其测量方法。

背景技术

换能器是一种能够将声波振动与电信号相互转化的能量转换器件，被广泛应用于工业、国防等不同行业领域中。超声流量计是利用超声波在流动介质中传播速度等于被测介质的平均流速与声波在静止介质中速度的矢量和的原理进行测量的流量计，具有对流场干扰小，测量精度高和抗干扰性强等优点。换能器是超声流量计中的关键部件，主要用于发射和接收超声波。而换能器中实现电信号和声波信号转换的关键器件则是压电片，由于压电片是通过振动产生和接受声波信号的，振动产生和接受声波信号均表现为电能和机械能之间的能量转化，而压电片的阻抗特性对上述信号转换过程的信噪比、效率等性能指标有重要影响。为了确保换能器的工作性能质量稳定，希望对每一个压电片进行阻抗特性检测。

一种常见的换能器是采用反转电极结构的圆形薄片式压电片，压电片中压电材料的轴向两端分别引出一个电极，其中一端的电极还经导体延伸至另一轴向端，因此在压电片的一端存在两个电极，便于对外接电。压电片的外形简单，结构单薄，不易快速定位电极和连接测量电路，不易进行批量阻抗检测。

发明内容

本发明为解决现有使用于超声流量计换能器中的压电片由于其一侧端面上设置有两个呈相反极性的电极，不便于快速定位电极和连接测量电路，不易进行批量阻抗检测而提供一种通过色标传感器和传动组件实现对压电片的定位，使得压电片得以快速和准确的接入阻抗特性测量电路中并实现压电片阻抗特性测量的测量装置及其测量方法。

本发明为解决上述技术问题所采用的具体技术方案为：一种压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：包括载片测试台，载片测试台顶部端面中设有测试台端面通孔，载片测试台顶部端面下侧设有转动电机，转动电机轴端固定安装有用于放置压电片的转盘，转盘以其顶部端面与载片测试台顶部端面相平齐的方式设置于测试台端面通孔中；载片测试台外侧设有色标传感器，色标传感器所发出的光信号能照射至放置于转盘上的压电片的侧壁上；测试台端面通孔上方处设有探针推杆，探针推杆的杆端固定连接有用于实现压电片阻抗特性测量的测量探针。通过布置色标传感器控制置于转盘上的压电片所需转动的角度，使得压电片得以快速和准确的接入阻抗特性测量电路中并实现压电片的阻抗特性测量。

作为优选，所述的测量探针底部具有两个极性相反的第一探针电极端和第二探针电极端，每个电极端内部设置有弹簧，电极端底部的针头可沿弹簧形变方向移动，实现测量探针与压电片间的良好接触。

作为优选，还包括进料机构，进料机构包括进料推杆，进料推杆的轴端上固定连接有进料推板，沿进料推杆推移的直线方向上并位于载片测试台顶部端面上方处设有凸台，凸台上设有凸台凹槽,凸台凹槽内插入安装有进料筒，进料筒顶部端面与凸台上侧端面相平齐，使得压电片阻抗特性测量过程中压电片能够以自动化的形式实现进料，提高阻抗特性测量效率。

作为优选，所述的载片测试台外侧设有切换机构，切换机构包括切换推杆和切换推板，切换推杆的轴端上固定安装有切换推板；载片测试台顶部端面上设置有测试台端面第一凹槽,切换推板下端面能够与测试台端面第一凹槽上端面相抵接，切换推板上贯穿设有切换推板通孔,测试台端面第一凹槽上贯穿设有凹槽通孔，使得压电片阻抗特性测量过程中压电片能够以自动化的形式实现出料，提高阻抗特性测量效率。

作为优选，还包括出料机构，出料机构包括出料推杆，出料推杆的轴端上固定连接有出料推板，沿出料推杆推移的直线方向上并位于载片测试台顶部端面下侧位置处设有废料筒和出料筒，废料筒设置于凹槽通孔正下方位置处，载片测试台顶部端面上并位于测试台端面第一凹槽的旁侧位置处设置有测试台端面第二凹槽,测试台端面第二凹槽内插入安装有出料筒，出料筒顶部端面与载片测试台顶部端面相平齐，使得阻抗特性测量后的压电片能够依据测量数据实现分类放置。

作为优选，所述的出料推板上设有出料推板通孔和推板直槽，推板直槽一端贯穿出料推板，推板直槽另一端与出料推板通孔相连通；出料推板上的出料推板通孔与测试台端面通孔同轴心重合时，色标传感器中的光源部与出料推板上的推板直槽两相正对，使得压电片可通过出料推板通孔直接落至设置于测试

台端面通孔中的转盘上并被色标传感器所检测，提高阻抗特性测量效率。

作为优选，所述的载片测试台顶部端面的外侧上方位置处分别设有第一激光位移传感和第二激光位移传感，第一激光位移传感中的激光发射端面倾斜侧对转盘上侧端面，第二激光位移传感中的激光发射端面倾斜侧对出料筒筒腔内侧；通过布置有多个激光位移传感用于实现阻抗测量过程中压电片的方位确认，实现阻抗测量过程中不同步骤间的可靠衔接。

本发明申请的另一个发明目的在于提供一种压电片阻抗特性测量方法，其特征在于：包括如下测量执行步骤

A1.通过上述技术方案之一所述的进料机构将存储在进料筒筒腔内部的压电片向上顶出；

A2.通过上述技术方案之一所述的出料推杆推动出料推板向载片测试台所处位置方向移动，直至出料推板通孔与测试台端面通孔同轴心重合；

A3.通过上述技术方案之一所述的进料推杆推动进料推板和压电片一同向出料推板所处位置方向移动，直至压电片被推入出料推板通孔中，进料推杆带动进料推板反向移动；

A4.通过上述技术方案之一所述的测试台端面通孔中设置有转盘，压电片经由出料推板通孔而落于转盘上，转盘电机带动转盘和压电片转动，色标传感器中的光源部发射出的光信号沿出料推板上的推板直槽射至压电片的侧壁上，当色标传感器检测到其所接收到的光信号为经由压电片侧壁上的电极层所散射回的光信号时，转动电机停止转动，转盘和压电片同步保持停止转动；

A5.通过上述技术方案之一所述的探针推杆带动测量探针向压电片所处位置方向移动，直至测量探针上的两个电极端分别与压电片上的两个电极部相连，外部阻抗特性测量电路通过测量探针实现与压电片电性连接，通过外部阻抗特性测量电路获取该压电片的相关阻抗特性数据以完成压电片的阻抗特性测量；

A6.检测完成后，若该压电片阻抗特性符合要求所需，出料推杆推动出料推板和压电片一同向出料筒所处位置方向移动，直至压电片落入出料筒内；

A7.检测完成后，若该压电片阻抗特性未符合要求所需，则通过先行驱动切换推杆向外伸出并带动切换推板移动，直至切换推板通孔与第一凹槽中的凹槽通孔同轴心重合，出料推板推动压电片落入废料筒内。

作为优选，还可以在执行A3～A4的步骤之间执行下述B1步骤实现阻抗测量过程中压电片的方位确认：

B1.压电片置于转盘上时，通过第一激光位移传感器所发出的激光由原先的照射至转盘上侧端面改变为照射至压电片上侧端面，使得第一激光位移传感器所测量出的距离发生改变，从而控制转盘开始转动。

作为优选，还可以在执行A5步骤之中插入执行下述C1步骤实现测量探针与压电片间的良好接触：

C1.探针推杆带动测量探针向压电片所处位置方向移动时，探针推杆可采用由快至慢的变速方式推动测量探针移动，测量探针靠近压电片时，测量探针底部的电极端能够以较为缓慢的速度和较小的碰撞与压电片相抵接。

本发明的有益效果是：通过色标传感器和传动组件实现对压电片的定位，使得压电片得以快速和准确的接入阻抗特性测量电路中并实现压电片阻抗特性测量。

本发明内布置有多个激光位移传感用于实现阻抗测量过程中压电片的方位确认，实现阻抗测量过程中不同步骤间的可靠衔接。

附图说明：

下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的详细说明。

图1是本发明压电片阻抗特性测量装置的结构示意图。

图2是图1中A处的放大结构示意图。

图3本发明压电片阻抗特性测量装置的主视结构示意图。

图4本发明压电片阻抗特性测量装置的俯视结构示意图。

图5是图4中A-A向剖视结构示意图。

图6是图5中B处的放大结构示意图。

图7是发明压电片阻抗特性测量装置测量的压电陶瓷片的结构示意图。

图8是发明压电片阻抗特性测量装置的压电片阻抗特性测量的a过程示意图。

图9是发明压电片阻抗特性测量装置的压电片阻抗特性测量的b过程示意图。

图10是发明压电片阻抗特性测量装置的压电片阻抗特性测量的c过程示意图。

图11是发明压电片阻抗特性测量装置的压电片阻抗特性测量的d过程示意图。

图12是发明压电片阻抗特性测量装置的压电片阻抗特性测量的e过程示意图。

具体实施方式

实施例1：

图1、图2、图3、图4、图5、图6、图7、图8、图9、图10、图11、图12所示的实施例中，一种压电片阻抗特性测量装置，包括载片测试台11，载片测试台11顶部端面中设有测试台端面通孔11a，载片测试台11顶部端面下侧设有转动电机27，转动电机27轴端固定安装有用于放置压电片的转盘29，转盘29以其顶部端面与载片测试台11顶部端面相平齐的方式设置于测试台端面通孔11a中；载片测试台11外侧设有色标传感器15，色标传感器15所发出的光信号能照射至放置于转盘29上的压电片的侧壁上；测试台端面通孔11a上方处设有探针推杆13，探针推杆13的杆端固定连接有用于实现压电片阻抗特性测量的测量探针19。

对压电片进行阻抗特性检测，压电片81置于测试台端面通孔11a中的转盘29上时，转盘29下方的转动电机27带动转盘29和压电片81一同转动，所述转动速度可以较为缓慢，使得转动电机27停止转动时，转盘29和压电片81能保持同步停止转动。

色标传感器15中的光源部15a发射出的光信号能够照至压电片81的侧壁上；由于压电片81侧壁上具有电极层，经压电片81侧壁上的电极层所散射回的光信号与照射至压电片81其余侧壁上所散射回的光信号具有差异，根据上述差异通过色标传感器15实现压电片的定位监测，转动电机27带动转盘29和压电片81转动的过程中，当色标传感器15检测出其接受到的光信号是经由压电片81侧壁上的电极层所散射回的光信号时，转动电机27停止转动，转盘29和压电片81同步保持停止转动。

压电片81静止后，位于压电片81上方的探针推杆13向下伸出，并带动固定于探针推杆13的伸出端的测量探针19向下移动，测量探针19具有两个极性相反的第一探针电极端19a和第二探针电极端19b，每个电极端内部设置有弹簧，电极端底部的针头可沿弹簧形变方向移动，实现测量探针19与压电片间的良好接触。

由于压电片81停止转动时，压电片81侧壁上的电极层与色标传感器15中的光源部15a相对，且所述压电片81上侧端面上设置有两个呈相反极性的电极，分别为第一压电片电极部81a和第二压电片电极部81b，当测量探针19与压电片81上侧端面相抵时，第一探针电极端19a和第二探针电极端19b分别与第一压电片电极部81a和第二压电片电极部81b相抵接，外部阻抗特性测量电路通过测量探针19实现与压电片81电性连接，通过外部阻抗特性测量电路获取该压电片81的相关阻抗特性数据以完成压电片81的阻抗特性测量。

为了提高多个压电片的检测效率，可于载片测试台11下方设置支撑台1，载片测试台11直接固定安装于支撑台1顶部端面上方，支撑台1顶部端面上方还设有进料机构，进料机构包括进料推杆6，进料推杆6通过支座固定连接于支撑台1顶部端面上方，进料推杆6的轴端上固定连接有进料推板21，沿进料推杆6推移的直线方向上并位于载片测试台11顶部端面上方处设有凸台24，凸台24上设有凸台凹槽24a,凸台凹槽24a内插入安装有进料筒25，进料筒25顶部端面与凸台24上侧端面相平齐。

进料筒25内部设有贯穿上下两侧端面的进料筒25筒腔，支撑台1顶部端面下侧并位于进料筒25正下方位置处固定安装有进料推杆筒30，进料推杆筒30中的进料筒杆30a由进料推杆筒30推出并穿过支撑台1顶部端面进入进料筒25中，通过进料推杆筒30中的进料筒杆30a将存储在进料筒25筒腔内部的多个压电片81依次从进料筒25筒腔中推出。

进料筒25顶部开口中心设置于进料推杆6伸缩路径上,进料推杆6向外伸出并推动进料推板21移动，进料推板21上设有呈凹状的弧形部21a，进料推杆6移动过程中，进料推板21上的弧形部21a与进料筒25中位于最上层的压电片81相接并推动最上层的压电片81一同移动。

支撑台1顶部端面上方还设有出料机构，出料机构包括出料推杆3，出料推杆3通过支座固定连接于支撑台1顶部端面上方，出料推杆3的轴端上固定连接有出料推板20，沿出料推杆3推移的直线方向上并位于载片测试台11顶部端面下侧位置处设有废料筒28和出料筒26，废料筒28设置于凹槽通孔11c正下方位置处，载片测试台11顶部端面上并位于测试台端面第一凹槽11b的旁侧位置处设置有测试台端面第二凹槽11d,测试台端面第二凹槽11d内插入安装有出料筒26，出料筒26顶部端面与载片测试台11顶部端面相平齐。

出料推板20上设置有出料推板通孔20a和推板直槽20b,通过设置凸台24上侧端面与出料推板20中出料推板通孔20a的顶部端面相平齐，压电片81能够在进料推板21的推动下移动至出料推板20上，并通过先行设置出料推板通孔20a与测试台端面通孔11a同轴心重合的方式，实现压电片81经出料推板通孔20a直接落在置于测试台端面通孔11a中的转盘29上。

载片测试台11顶部端面的外侧上方位置处设有第一激光位移传感8，第一激光位移传感8通过支座固定安装于支撑台1顶部端面上，第一激光位移传感8中的激光发射端面倾斜侧对转盘29上侧端面；当压电片81置于转盘29上时，第一激光位移传感8中激光发射端面所发出的激光由原先的照射至转盘29上侧端面改变为照射至压电片81上侧端面，上述差异变化使得第一激光位移传感8所测量出的距离发生改变，从而实现快速判定转盘29上是否存在压电片。

支撑台1顶部端面上方并位于载片测试台11外侧位置处还设有切换机构,切换机构包括切换推杆17和切换推板18，切换推杆17通过支座固定于支撑台1顶部端面上方，切换推杆17的轴端上固定安装有切换推板18；载片测试台11顶部端面上设置有测试台端面第一凹槽11b,切换推板18下端面与测试台端面第一凹槽11b上端面相抵接，切换推板18上贯穿设有切换推板通孔18a,测试台端面第一凹槽11b上贯穿设有凹槽通孔11c，废料筒28设置于凹槽通孔11c正下方位置处，载片测试台11顶部端面上并位于测试台端面第一凹槽11b的旁侧位置处设置有测试台端面第二凹槽11d,测试台端面第二凹槽11d内插入安装有出料筒26，出料筒26顶部端面与载片测试台11顶部端面相平齐。

检测完成后，若该压电片81阻抗特性符合要求所需，出料推杆3向外伸出并带动出料推板20和压电片81向出料筒26所在位置处移动，在上述移动过程中，转盘29顶部端面与载片测试台11顶部端面相平齐，压电片81能够自由的从转盘29转移至载片测试台11顶部端面上侧，可预先将切换推板18设置成切换推板18中的切换推板通孔18a与第一凹槽11b中的凹槽通孔11c无相交状态，压电片81在出料推板20的推动下经由切换推板18上侧端面移动至出料筒26所在位置处，当出料推板20中的出料推板通孔20a位于出料筒26顶部开口正方上时，压电片81落入出料筒26内。

出料筒26内部设有贯穿上下两侧端面的出料筒26筒腔，支撑台1顶部端面下侧并位于出料筒26正下方位置处固定安装有出料推杆筒31，出料推杆筒31中的出料筒杆31a由出料推杆筒31推出并穿过支撑台1顶部端面进入出料筒26中。

出料筒26外侧设有第二激光位移传感10，第二激光位移传感10通过支座固定安装于支撑台1顶部端面上，第二激光位移传感10中的激光发射端面倾斜侧对出料筒26筒腔内侧，若出料筒26筒腔内侧已装有压电片81，第二激光位移传感10的激光发射端面所照射出的激光可照射至压电片81上侧端面，根据第二激光位移传感10所测量出的距离数据信息控制位于出料筒26下方处的出料推杆筒31驱动出料筒杆31a移动，使得位于出料筒26筒腔内最上层的压电片81其上侧至出料筒顶部间的空间中至少有能够用于容纳另一个压电片大小的空间，使得压电片能依次堆摞于出料筒26中，降低了压电片于出料筒26筒腔中的下落距离，减小了压电片于出料筒26筒腔中因长距离下落而对压电片产生的碰撞。

若出料筒26筒腔内侧未装有压电片81，第二激光位移传感10的激光发射端面所照射出的激光可照射至出料筒杆31a顶端，根据第二激光位移传感10所测量出的距离数据信息控制位于出料筒26下方处的出料推杆筒31驱动出料筒杆31a移动，使得出料筒杆31a其顶端至出料筒26顶部间的空间中至少有能够用于容纳另一个压电片大小的空间，使得压电片能依次堆摞于出料筒26中，降低了压电片于出料筒26筒腔中的下落距离，减小了压电片落于出料筒杆31a顶端而对压电片产生的碰撞。

检测完成后，若该压电片81阻抗特性未符合要求所需，可通过先行驱动切换推杆17向外伸出并带动切换推板18移动，直至切换推板18中的切换推板通孔18a与第一凹槽11b中的凹槽通孔11c同轴心重合，切换推杆17停止移动并保持伸出状态，出料推杆3向外伸出并带动出料推板20和压电片81向切换推板18所在位置处移动，在上述移动过程中，转盘29顶部端面与载片测试台11顶部端面相平齐，压电片81能够自由的从转盘29转移至载片测试台11顶部端面上侧，当出料推板20中的出料推板通孔20a位于切换推板18中的切换推板通孔18a轴中心重合时，压电片81落入废料筒28内。

实施例2：

图1、图2、图3、图4、图5、图6、图7、图8、图9、图10、图11、图12所示的实施例中，一种压电片阻抗特性测量方法，包括如下测量执行步骤：

A1.通过上述技术方案之一所述的进料机构将存储在进料筒25筒腔内部的压电片81向上顶出；

A2.通过上述技术方案之一所述的出料推杆3向外伸出并推动出料推板20向载片测试台11所处位置方向移动，直至出料推板通孔20a与测试台端面通孔11a同轴心重合；

A3.通过上述技术方案之一所述的进料推杆6向外伸出并推动进料推板21向出料推板20所处位置方向移动，进料推板21上的弧形部21a与压电片81相抵接并带动压电片81一同向出料推板20所处位置方向移动，直至压电片81被推入出料推板通孔20a中，进料推杆6带动进料推板21反向移动；

A4.通过上述技术方案之一所述的测试台端面通孔11a中设置有转盘29，压电片81经由出料推板通孔20a而落于转盘29上，转盘电机27带动转盘29和压电片81转动，色标传感器15中的光源部15a发射出的光信号沿出料推板20上的推板直槽20b射至压电片81的侧壁上，经压电片81侧壁上的电极层所散射回的光信号与照射至压电片81其余侧壁上所散射回的光信号具有差异，上述差异通过色标传感器15实现检测，当色标传感器15检测到其所接收到的光信号为经由压电片81侧壁上的电极层所散射回的光信号时，转动电机27停止转动，转盘29和压电片81同步保持停止转动；

A5.通过上述技术方案之一所述的探针推杆13带动测量探针19向压电片81所处位置方向移动，当测量探针19与压电片81上侧端面相抵时，测量探针19中的第一探针电极端19a和第二探针电极端19b分别与压电片81上的第一压电片电极部81a和第二压电片电极部81b相抵接，外部阻抗特性测量电路通过测量探针19实现与压电片81电性连接，通过外部阻抗特性测量电路获取该压电片81的相关阻抗特性数据以完成压电片81的阻抗特性测量；

A6.检测完成后，若该压电片81阻抗特性符合要求所需，出料推杆3向外伸出并带动出料推板20和压电片81一同向出料筒26所处位置方向移动，当出料推板20中的出料推板通孔位20a于出料筒26顶部开口正方上时，压电片81在出料推板20的推动下落入出料筒26筒腔内；

A7.检测完成后，若该压电片81阻抗特性未符合要求所需，则通过先行驱动切换推杆17向外伸出并带动切换推板18移动，直至切换推板通孔18a与第一凹槽11b中的凹槽通孔11c同轴心重合，切换推杆17停止移动并保持伸出状态，当出料推板20中的出料推板通孔20a与切换推板18中的切换推板通孔18a同轴心重合时，压电片81在出料推板20的推动下落入废料筒28筒腔内。

执行完上述第A1步骤～A7步骤的压电片81单件检测后，根据需要是否进行执行对下一个压电片的检测阻抗特性检测。

还可以在执行A3～A4的步骤之间执行下述B1步骤实现阻抗测量过程中压电片的方位确认：

B1.压电片81置于转盘29上时，通过第一激光位移传感8所发出的激光由原先的照射至转盘29上侧端面改变为照射至压电片81上侧端面，使得第一激光位移传感8所测量出的距离发生改变，从而控制转盘29开始转动。

还可以在执行A5步骤之中插入执行下述C1步骤实现测量探针与压电片间的良好接触：

C1.探针推杆13带动测量探针19向压电片81所处位置方向移动时，探针推杆13可采用由快至慢的变速方式推动测量探针19移动，测量探针19靠近压电片81时，测量探针19底部的第一探针电极端19a和第二探针电极端19b能够以较为缓慢的速度和较小的碰撞与压电片81相抵接。

在本发明位置关系描述中，出现诸如术语“内”、“外”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示方位或者位置关系的为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了方便描述实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

以上内容和结构描述了本发明产品的基本原理、主要特征和本发明的优点，本行业的技术人员应该了解。上述实例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都属于要求保护的本发明范围之内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (10)

1.一种压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：包括载片测试台，载片测试台顶部端面中设有测试台端面通孔，载片测试台顶部端面下侧设有转动电机，转动电机轴端固定安装有用于放置压电片的转盘，转盘以其顶部端面与载片测试台顶部端面相平齐的方式设置于测试台端面通孔中；载片测试台外侧设有色标传感器，色标传感器所发出的光信号能照射至放置于转盘上的压电片的侧壁上；测试台端面通孔上方处设有探针推杆，探针推杆的杆端固定连接有用于实现压电片阻抗特性测量的测量探针。

2.按照权利要求1所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：所述的测量探针底部具有两个极性相反的第一探针电极端和第二探针电极端，每个电极端内部设置有弹簧。

3.按照权利要求1所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：还包括进料机构，进料机构包括进料推杆，进料推杆的轴端上固定连接有进料推板，沿进料推杆推移的直线方向上并位于载片测试台顶部端面上方处设有凸台，凸台上设有凸台凹槽,凸台凹槽内插入安装有进料筒，进料筒顶部端面与凸台上侧端面相平齐。

4.按照权利要求1所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：所述的载片测试台外侧设有切换机构，切换机构包括切换推杆和切换推板，切换推杆的轴端上固定安装有切换推板；载片测试台顶部端面上设置有测试台端面第一凹槽,切换推板下端面能够与测试台端面第一凹槽上端面相抵接，切换推板上贯穿设有切换推板通孔,测试台端面第一凹槽上贯穿设有凹槽通孔。

5.按照权利要求4所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：还包括出料机构，出料机构包括出料推杆，出料推杆的轴端上固定连接有出料推板，沿出料推杆推移的直线方向上并位于载片测试台顶部端面下侧位置处设有废料筒和出料筒，废料筒设置于凹槽通孔正下方位置处，载片测试台顶部端面上并位于测试台端面第一凹槽的旁侧位置处设置有测试台端面第二凹槽,测试台端面第二凹槽内插入安装有出料筒，出料筒顶部端面与载片测试台顶部端面相平齐。

6.按照权利要求5所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：所述的出料推板上设有出料推板通孔和推板直槽，推板直槽一端贯穿出料推板，推板直槽另一端与出料推板通孔相连通；出料推板上的出料推板通孔与测试台端面通孔同轴心重合时，色标传感器中的光源部与出料推板上的推板直槽两相正对。

7.按照权利要求5所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：所述的载片测试台顶部端面的外侧上方位置处分别设有第一激光位移传感和第二激光位移传感，第一激光位移传感中的激光发射端面倾斜侧对转盘上侧端面，第二激光位移传感中的激光发射端面倾斜侧对出料筒筒腔内侧。

8.一种压电片阻抗特性测量方法，其特征在于：包括如下测量执行步骤

A1.通过权利要求1～7之一所述的进料机构将存储在进料筒筒腔内部的压电片向上顶出；

A2.通过权利要求1～7之一所述的出料推杆推动出料推板向载片测试台所处位置方向移动，直至出料推板通孔与测试台端面通孔同轴心重合；

A3.通过权利要求1～7之一所述的进料推杆推动进料推板和压电片一同向出料推板所处位置方向移动，直至压电片被推入出料推板通孔中，进料推杆带动进料推板反向移动；

A4.通过权利要求1～7之一所述的测试台端面通孔中设置有转盘，压电片经由出料推板通孔而落于转盘上，转盘电机带动转盘和压电片转动，色标传感器中的光源部发射出的光信号沿出料推板上的推板直槽射至压电片的侧壁上，当色标传感器检测到其所接收到的光信号为经由压电片侧壁上的电极层所散射回的光信号时，转动电机停止转动，转盘和压电片同步保持停止转动；

A5.通过权利要求1～7之一所述的探针推杆带动测量探针向压电片所处位置方向移动，直至测量探针上的两个电极端分别与压电片上的两个电极部相连，外部阻抗特性测量电路通过测量探针实现与压电片电性连接，通过外部阻抗特性测量电路获取该压电片的相关阻抗特性数据以完成压电片的阻抗特性测量；

A6.检测完成后，若该压电片阻抗特性符合要求所需，出料推杆推动出料推板和压电片一同向出料筒所处位置方向移动，直至压电片落入出料筒内；

A7.检测完成后，若该压电片阻抗特性未符合要求所需，则通过先行驱动切换推杆向外伸出并带动切换推板移动，直至切换推板通孔与第一凹槽中的凹槽通孔同轴心重合，出料推板推动压电片落入废料筒内。

9.如权利要求8所述的一种压电片阻抗特性测量方法，其特征在于还包括如下检测步骤：

B1.压电片置于转盘上时，通过第一激光位移传感器所发出的激光由原先的照射至转盘上侧端面改变为照射至压电片上侧端面，使得第一激光位移传感器所测量出的距离发生改变，从而控制转盘开始转动。

10.如权利要求8所述的一种压电片阻抗特性测量方法，其特征在于还包括如下检测步骤：

C1.探针推杆带动测量探针向压电片所处位置方向移动时，探针推杆可采用由快至慢的变速方式推动测量探针移动，测量探针靠近压电片时，测量探针底部的电极端能够以较为缓慢的速度和较小的碰撞与压电片相抵接。

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