CN1133362A - 用于检测织布的方法和设备 - Google Patents

Abstract

一种织布检测装置，它能够消除如照明光或飞虫之类的干扰所造成的影响。两个感光元件布置在织布的纬线方向内。这些感光元件检测织布上的不同范围而且将转换成的电流信号送至两个电流-电压转换器。这些转换器将电流信号转换成电压信号并随后将电压信号送至差值计算电路。在差值计算电路中计算出电压信号之间的差值并将所得到的差值信号送至比较器。比较器将差值信号与参考值进行比较。

Description

用于检测织布的方法和设备

本发明涉及用于检测采用经纬线编织得的布匹所带缺陷的一种方法与一种设备，该方法与设备使用一些基于接收到的光量而发出电信号的光电传感器。

在日本专利公开未决No.60-231850中公开了这种类型的检测织布的设备。在这种设备中，光敏元件接收从光源射出的并由织布反射的光线。光敏元件基于接收到的光量发出电信号而且该电信号由评价装置来评价。

一般来说，通过将该电信号的强度与预设的参考值相比较来评价此根据接收的光量而转换得的电信号。如果电信号的值不大于参考值，则评价结果显示“正常”；如果电信号的值超过参考值，则评价结果显示“异常”。但是，该电信号容易受到除了检测设备之外的照明光存在或飞虫出现的影响，因而发生变化。由于产生的检测误差，从而阻止了对织布编织情况的准确检测。

因此，本发明的一个目的是提供用于检测织布的一种方法和一种设备，它能够消除干扰，如照明光和飞虫的影响。

为此，根据本发明的一个方面，在经线和纬线之一的方向内布置多个光电传感器，计算多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值，而且判定装置根据该计算结果来判定是否发出在上述纱线之外的其它纱线上的缺陷检出信号。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于检测织布的设备，该设备装配有在经线和纬线之一的方向内布置的多个光电传感器；差值计算装置，用于计算多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值；以及判定装置，用于根据该计算结果来判定是否发出在上述纱线之外的其它纱线上的缺陷检出信号。

采用上述配置，在或者经线或者纬线的方向内布置多个光电传感器。计算多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值，并将得到的差值与，例如预定参考值相比较。对差值的计算消除了例如照明光和飞虫之类的干扰所引起的电信号波动。如果计算出的差值超过参考值，则判定装置发出缺陷检出信号。当在纬线方向内布置多个光电传感器时，则发出的缺陷检出信号表示在经线中已检测出一个缺陷。当在经线方向内布置多个光电传感器时，则发出的缺陷检出信号表示在纬线中已检测出一个缺陷。

根据本发明的另一个方面，提供了一种用于检测织布的设备，该设备装配有在经线方向内布置的多个光电传感器；差值计算装置，用于计算多个传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值；相加装置，用于计算多个光电传感器的电信号的总和；纬线缺陷判定装置，用于根据差值计算装置所给出的计算结果来判定是否发出纬线上的缺陷检出信号；以及经线缺陷判定装置，用于根据相加装置所给出的计算结果来判定是否发出经线上的缺陷检出信号。

采用这种配置，差值计算装置计算出经线方向内所布置的多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值，而且相加装置也计算出诸光电传感器的电信号的总和。差值的计算消除了例如照明光和飞虫之类的干扰所引起的电信号波动。经线缺陷判定装置根据相加装置所给出的计算结果来判定是否发出经线上的缺陷检出信号。纬线缺陷判定装置根据差值计算装置所给出的计算结果来判定是否发出纬线上的缺陷检出信号。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于检测织布的设备，该设备装配有：在经线方向内放置的并能在织布的宽度方向内移动的多个光电传感器；差值计算装置，用于计算多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值；相加装置，用于计算多个光电传感器的诸电信号的总和；经线缺陷判定装置，用于根据相加装置所给出的结果来判定是否发出在经线上的缺陷检出信号；比较装置，用于将差值计算装置执行的代数运算所得到的差值信号值与参考值相比较并发出一个对应于超过了参考值的差值信号的时间宽度固定(fixation)信号；以及伪缺陷判定装置，用于根据该时间宽度固定信号的时间宽度来判定是否发出在纬线上的缺陷检出信号。

采用这种配置，采用本发明的一种与在前面紧接着的一个方面中所介绍的相同方式来执行借助多个光电传感器的检测以及对基于电信号的差值的计算。通过比较装置将差值计算装置所得到的差值信号的值与参考值相比较。该比较装置发出一个对应于超过参考值的差值信号的时间宽度固定信号。如果时间宽度固定信号的时间宽度不小于预定值，则伪缺陷判定装置发出纬线上的缺陷检出信号。检测出时间宽度固定信号的时间宽度以便消除光电传感器在经线上检测到某个小毛病时所产生的影响，其中这个小毛病不应该定义成缺陷。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于检测织布的设备，该设备装备有：多个光电传感器，其中至少两个分别布置在经线方向和纬线方向上，并且在织布的宽度方向内移动；第一差值计算装置，用于计算多个光电传感器中布置在纬线方向内的几个光电传感器中的至少一个光电传感器的电信号与布置在纬线方向内的另外一个光电传感器的电信号之间的差值；第二差值计算装置，用于计算多个光电传感器中布置在经线方向内的几个光电传感器中的至少一个光电传感器的电信号与布置在经线方向内的另外一个光电传感器的电信号之间的差值；经线缺陷判定装置，用于根据第一差值计算装置所给出的计算结果来判定是否发出经线上的缺陷检出信号；比较装置，用于将第二差值计算装置得到的差值信号值与参考值相比较并用于发出一个对应于超过了参考值的差值信号的时间宽度固定信号；以及一个伪缺陷判定装置，用于根据时间宽度固定信号来判定是否发出纬线上的缺陷检出信号。

采用这种配置，根据本发明的一种与在前面紧接着的一个方面中所介绍的相同方式来执行：借助于放置在经线方向内的多个光电传感器的检测、对基于电信号的差值的计算、比较装置根据计算结果所进行的比较以及伪缺陷判定装置根据比较结果所做出的判定。进行：借助于放置在纬线方向内的多个光电传感器的检测、对基于电信号的的差值的计算以及经线缺陷判定装置根据计算结果所做出的判定，以便检查经线有何缺陷。

图1显示出解释本发明的第一实施例的基本部件与控制电路的组合；

图2显示出控制电路与织布上可检测范围的组合；

图3是说明可检测范围内扫描区域的顶视平面图；

图4(a)至(d)是解释通过控制电路所实现的信号处理的示图；

图5显示出解释第二实施例的基本部件与控制电路的组合；

图6显示出控制电路与织布上可检测范围的组合；

图7是说明可检测范围内扫描区域的顶视平面图；

图8(a)至(d)是解释通过控制电路所实现的信号处理的示图；

图9显示出解释第三实施例的控制电路与织布上可检测范围的组合；

图10(a)至(g)是解释通过控制电路所实现的信号处理的示图；

图11显示出解释第四实施例的控制电路与织布上可检测范围的组合；

图12(a)至(h)是解释通过控制电路所实现的信号处理的示图；

图13显示出解释第五实施例的控制电路与织布上可检测范围的组合；

图14显示出解释另一例子的控制电路与织布上可检测范围的组合；

图15显示出解释另一例子的控制电路与织布上可检测范围的组合；

图16显示出解释另一例子的控制电路与织布上可检测范围的组合；

图17显示出解释另一例子的控制电路与织布上可检测范围的组合；以及

图18显示出解释另一例子的控制电路与织布上可检测范围的组合。

将结合图1至4来介绍体现了有关装在织机上的织布检测设备的本发明的第一实施例。

如图1所示，一个导轨1延织布W的宽度方向装在织布W上。一个传感头2通过滑块组件3从导轨1悬挂下来。允许该滑块组件3延导轨1移动。一个循环带4连接到传感头2；该循环带4装在驱动滑轮5-1和导向滑轮6上。通过一个马达5的往复驱动以往复形式来转动该循环带4；传感头2延导轨1往复运动。

传感头2包括一个投影灯7，一个感光器8和光学系统9、10。从投影灯7发出的光线通过光学系统9照亮织布W而从织布W反射的光线则通过光学系统10由感光器8接收。传感头2的往复运动范围界定了从投影灯7发出的光线在织布W上的宽度方向内进行扫描的范围。

如图1所示，感光器8装有布置在织布W的Y，即纬线方向内的一对感光元件11、12。图2和图3所示的参考数字11-1代表感光元件11在织布W上的检测范围；参考数字12-1代表感光元件12在织布W上的检测范围。织布W上的经线T在几条纱线的基础上在筘齿(reed)的齿(dent)之间通过(未示出)，检测范围11-1和12-1在纬线Y方向内的宽度设定成约为筘齿的齿间距。检测范围11-1和12-1在经线T方向内的宽度这样设定，以使其为纬线Y方向内宽度的几倍。图3中右向箭头Q_R所包围住的区域代表传感头2向右移动时所扫过的诸检测范围11-1和12-1在织布W上的区域。同样地，左向箭头Q_L所包围住的区域代表传感头2向左移动时所扫过的诸检测范围11-1和12-1在织布W上的区域。织布W延箭头R的方向移动。

感光元件11、12将接收到的光线转换成电流。从光线转换而得到的电流信号提供了一个基于接收光量的电信号。感光元件11将电流信号供给电流—电压转换器13；感光元件12将电流信号供给电流—电压转换器14。电流—电压转换器13、14将电流信号转换成电压信号S₁、S₂，这些信号随后送至差值计算电路15。差值计算电路15计算自两个电流—电压转换器13、14接收到的电压信号S₁和S₂的量值之间的差值。在算术运算中，从电压信号S₁的值中减去电压信号S₂的值。差值计算电路15将算术运算得到的差值信号ΔS₁₂送至比较器16。比较器16将收到的差值信号ΔS₁₂与之前由参考值设定电路17、18所设定的参考值V₁、V₂进行比较。参考值V₁为正；参考值V₂为负。如果差值信号ΔS₁₂的值超出〔V₁，V₂〕所限定的范围，则比较器16向输出电路19发出缺陷检出信号S_T。如果差值信号ΔS₁₂的值处于〔V₁，V₂〕所限定的范围，则比较器16不向输出电路19发出缺陷检出信号。比较器16与参考值设定电路17、18一起构成经线缺陷判定装置。输出电路19根据它所收到的缺陷检出信号S_T发出一个编织停止信号、一个失败显示信号等。

图4(a)中的曲线E₁表示从电流—电压转换器13发出的电压信号S₁；图4(b)的曲线E₂表示从电流—电压转换器14发出的电压信号S₂。图4(c)的曲线E₃表示从曲线E₁的值减去曲线E₂的值所得到的差值信号ΔS₁₂。图4(d)的方波E₄、E₅代表从比较器16所发出的缺陷检出信号S_T。图4(a)至图4(d)的横坐标轴全都代表时间；图4(a)至图4(d)的纵坐标轴全都代表电压。

曲线E₁的凸起E_1-1代表感光元件11检测出的经线的一个问题。曲线E₂的凸起E_2-1代表感光元件12检测出的经线的一个问题。凸起E_1-1和E_2-1之间的时间差是由于在纬线Y的方向内移动的感光元件11、12在该纬线Y的方向内的布置所引起的。曲线E₃的凸起E_3-1代表凸起E_1-1与曲线E₂中对应该凸起E_1-1的时间区域的几乎平的部分之间的差值。曲线E₃的凸起E_3-2代表凸起E_2-1与曲线E₁中对应该凸起E_2-1的时间区域的几乎平的部分之间的差值。方波E₄的时间宽度t₁对应超过正向边参考值V₁的凸起E_3-1的时间宽度；方波E₅的时间宽度t₂对应超过负向边参考值V₂的凸起E_3-2的时间宽度。

经线T以一个预定数目的纱线为基础一起通过相邻的齿之间。例如，有时在一些相邻齿之间设定的经线数目小于该预定值而在不同的相邻齿之间设定的经线数目却大于该预定值。如果这种情况继续下去，则在织布上形成“经线的凸起条纹(warp rib)”，这就导致了有缺陷的织布。感光元件11、12的检测范围11-1、12-1在纬线Y方向内的范围设定成大约等于齿间距；因此，在织布W上的凸起条纹部分与正常部分之间，感光元件11、12所接收到的光量有所不同。这就引起了电压信号S₁、S₂的变化，如曲线E₁、E₂的凸起E_1-1、E_2-1所示。

根据感光元件11、12所得到的电压信号S₁、S₂之间的差值信号ΔS₁₂与参考值V₁和V₂相比较的结果，来判定方波E₄、E₅所代表的缺陷检出信号S_T的输出。包括布匹检测装置以外的照明光的存在以及飞虫的出现在内的这些干扰引起了电压信号S₁、S₂的变化。这意味着电压信号S₁、S₂包括这些干扰所引起的变化分量；因此，电压信号S₁、S₂中的这些变化阻止了对织布编织条件的精确判定，而且根据电压信号S₁、S₂与参考值之间的比较结果所做出的检测织布缺陷的尝试将导致检测的错误。与此相反，在表示电压信号S₁和S₂之间差值的差值信号ΔS₁₂中，几乎抵消掉了干扰引起的包含在电压信号中的变化分量。因此，差值信号ΔS₁₂精确地反映出经线T的毛病故而差值信号ΔS₁₂与参考值V₁、V₂之间的比较能够提高检测经线缺陷的精度。

现在将介绍图5至8中所示的第二实施例。与第一实施例中相同的组成元件被分配给相同的参考数字从而省略掉其详细描述。如图5所示，第二实施例的感光器装有一对感光元件21、22；感光元件21、22串联布置在织布W上的经线T的方向内。图6和7中所示的参考数字21-1代表感光元件21在织布W上的检测范围；参考数字22-1代表感光元件22在织布W上的检测范围。检测范围21-1和22-1在纬线Y方向内的宽度设定成约为筘齿的齿间距。检测范围21-1和22-1在经线T方向内的宽度设定成约为纬线Y方向内宽度的几倍。图8中右向箭头Q_R所包围住的区域代表传感头2向右移动时所扫过的诸检测范围21-1、22-1在织布上的区域。同样地，在向箭头Q_L所包围住的区域代表传感头2向左移动时所扫过的诸检测范围21-1和22-1在织布上的区域。

感光元件21、22将接收到的光线转换成电流。从光线转换而得到的电流信号提供了一个基于接收光量的电信号。感光元件21将该电流信号供给电流—电压转换器23；感光元件22将该电流信号供给电流—电压转换器24。电流—电压转换器23、24将电流信号转换成电压信号S₃、S₄，这些信号随后送至差值计算电路25。差值计算电路25从电压信号S₃的值中减去电压信号S₄的值。差值计算电路25将算术运算得到的差值信号ΔS₃₄送至比较器26。比较器26将收到的差值信号ΔS₃₄与之前由参考值设定电路27、28所设定的参考值V₃、V₄进行比较。参考值V₃为正；参考值V₄为负。如果差值信号ΔS₃₄的值超出〔V₃，V₄〕所限定的范围，则比较器26向输出电路19发出缺陷检出信号S_Y。如果差值信号ΔS₃₄的值处于〔V₃，V₄〕所限定的范围，则比较器26不向输出电路19发出缺陷检出信号S_Y。比较器26与参考值设定电路27、28一起构成纬线检测判定装置。

图8(a)中的曲线E₆表示从电流—电压转换器23发出的电压信号S₃；图8(b)中的曲线E₇表示从电流—电压转换器24发出的电压信号S₄。图8(c)中的曲线E₈表示从曲线E₆的值减去曲线E₇的值所得到的差值信号ΔS₃₄。图8(d)中的方波E₉、E₁₀代表从比较器26发出的缺陷检出信号S_Y。图8(a)至图8(d)的横坐标轴全部代表时间；图8(a)至图8(d)的纵坐标轴全部代表电压。

曲线E₆的凸起E_6-1代表感光元件21检测出的纬线的一个问题。曲线E₇的凸起E_7-1代表感光元件22检测出的纬线的一个问题。凸起E_6-1和E_7-1之间的时间差是由于在纬线Y的方向内移动的感光元件21、22在该纬线Y的方向内的布置所引起的。曲线E₈的凸起E_8-1代表凸起E_6-1与对应该凸起E_6-1的时间区域的曲线E₇中几乎平的部分之间的差值。曲线E₈的凸起E_8-2代表凸起E_7-1与对应该凸起E_7-1的时间区域的曲线E₆中几乎平的部分之间的差值。方波E₉的时间宽度t₃对应大于参考值V₃的凸起E_8-1的时间宽度；方波E₁₀的时间宽度t₄应小于参考值V₄的凸起E_8-2的时间宽度。

如果纬线Y有诸如起圈(loop)或断裂的纱线，则在织布W的缺陷部分与正常部分之间，感光元件21、22所接收的光量有所不同。这就引起了电压信号S₃、S₄中的变化，如曲线E₆、E₇的凸起E_6-1、E_7-1所示。根据感光元件21、22所得到的电压信号S₃、S₄之间的差值信号ΔS₃₄与参考值V₃和V₄相比较的结果，来判定方波E₉、E₁₀所代表的缺陷检出信号S_Y的输出。电压信号S₃、S₄包含一个归因于干扰的变化分量。但是，在表示电压信号S₃和S₄之间差值的差值信号ΔS₃₄中，由于干扰而被包括在电压信号中的变化分量几乎被抵消掉。而且，由于感光元件21、22串联布置在经线的方向内，经线反射的光线所引起的电信号中的变化分量也被抵消了。结果是，差值信号ΔS₃₄精确地反映出纬线Y所带的毛病，故而差值信号ΔS₃₄与参考值V₃、V₄之间的比较提高了检测纬线缺陷的精确度。

现将介绍图9和10中所示的第三实施例。与第二实施例中相同的组成元件被分配给相同的参考数字从而省略掉其详细描述。如图9所示，与第二实施例的情形一样，感光元件21、22串联布置在织布W上的经线T的方向内。感光元件21将电流信号供给电流—电压转换器23；感光元件22将电流信号供给电流—电压转换器24。电流—电压转换器23将电流信号转换成电压信号S₅，该电压信号被送至相加电路29和差值计算电路25。电流—电压转换器24将电流信号转换成电压信号S₆，该电压信号被送至相加电路29和差值计算电路25。相加电路29将电压信号S₅、S₆相加；差值计算电路25从电压信号S₅的值中减去电压信号S₆的值。相加电路29将算术运算得到的和信号S₅₆送至比较器30。比较器30将收到的和信号与之前由参考值设定电路31所设定的参考值V₅进行比较。如果和信号S₅₆的值超出参考值V₅，则比较器30向输出电路19发出缺陷检出信号S_T。如果和信号S₅₆的值小于参考值V₅，则比较器30不向输出电路19发出缺陷检出信号S_T。差值计算电路25将算术运算得到的差值信号ΔS₅₆送至比较器26。

相加电路29将感光元件21、22组合成一体以扩展经线T方向内的检测范围。检测范围的这一扩展提高了检测经线缺陷的能力。

图10(a)至(d)中所示的图与图8(a)至(d)中所示的相同。图10(e)中的曲线E₁₁表示从电流—电压转换器23发出的电压信号S₅的一个例子。图10(f)中的曲线E₁₂表示从电流—电压转换器24发出的电压信号S₆的一个例子。图10(g)中的曲线E₁₃代表将曲线E₁₁与E₁₂相加所得到的和信号S₅₆。

比较器26将差值信号ΔS₅₆与参考值V₃、V₄进行比较。如果差值信号ΔS₅₆的值超出〔V₃，V₄〕的范围，则比较器26向计数器32发出确认请求信号C_Y。如果差值信号ΔS₅₆的值处于〔V₃，V₄〕的范围，则比较器26不向计数器32发出确认请求信号C_Y。锁存电路33和时钟34与计数器32在信号上相连。时间t₀存储在锁存电路33中。计数器32根据时钟34所测得的时间与预定时间t₀的比较结果来决定是否发出缺陷检出信号S_Y。

预定时间t₀如下所示而被决定。用于检测纬线缺陷的时间宽度t_Y和经线缺陷的检出宽度t_T由下边给出的方程(1)和(2)来表达：

t_Y＝(L_Y＋D_Y)/V_T…(1)

t_T＝(L_Y＋D_T)/V_Y…(2)

其中，L_T代表检测范围21-1和22-2在经线T方向内的宽度；L_Y代表检测范围21-1和22-2在纬线Y方向内的宽度；D_Y代表纬线上缺陷的宽度，而D_T代表经线上缺陷的宽度。V_T表示检测范围21-1、22-1在经线T的方向内相对于织布W的相对移动速度；V_Y表示检测范围21-1、22-1在纬线Y的方向内相对于织布W的相对移动速度。相对移动速度就是织布W的移动速度。

即使前述的经线的凸起条纹可以定义成一个经线上的主要缺陷，但存在着一些情形，其中断断续续地形成一些微小的缝隙，这些缝隙不应该定义成一个缺陷。当经线密度高时，这样的缝隙(随后称为“伪缺陷”)易于出现。在这样一种伪缺陷的情况下，纬线Y的方向内的宽度最大时约等于经线T的一个间距而且它小于设定成约为齿间距的宽度L_Y。因此，如果方程(2)中的宽度D_T是伪缺陷的宽度，那么用L_Y来替换方程(2)中的宽度D_T得到了如下给出的方程(3)：

t_T＜2L_Y/V_Y…(3)

将零赋给方程(1)中的D_Y得到了方程(4)：

t_Y＞L_T/V_T…(4)

从方程(3)和(4)，得到方程(5)：

2L_Y/V_Y≤L_T/V_T…(5)

改变方程(5)得到方程(6)：

V_Y≥(2L_Y/L_T)·V_T…(6)

这样，当传感头2以满足方程(6)条件的移动速度V_Y移动时，方程(7)成立：

t_Y＜t_T…(7)

方程(7)中的时间宽度t_T涉及伪缺陷而时间宽度t_Y涉及纬线上的缺陷。因此，以满足方程(6)条件的移动速度V_Y来移动传感头2就可以辨别纬线缺陷和伪缺陷。为了这种辨别的目的，方程(4)和(5)中的L_T/V_T被定义成预定时间t₀，而且如果时间t_Y超过预定时间t₀，则产生时间宽度t_Y的方波E₉或E₁₀就代表真正的纬线缺陷。方波E₉、E₁₀提供了代表时间宽度t₃、t₄的时间宽度确认信号。如果方波E₉的时间宽度t₃或方波E₁₀的时间宽度t₄超出预定时间t₀，则与锁存电路33和时钟34一起构成伪缺陷判定装置的计数器32发出缺陷检出信号S_Y。这种辨别方法能够将纬线缺陷与伪缺陷辨别开来，从而允许纬线缺陷检测的更高精度。

现将介绍图11和12中的第四实施方案。与第三实施例中相同的组成元件被分配给相同的参考数字从而省略掉对它的详细描述。如图11所示，与第二实施例的情况相同，感光元件21、22串联布置在织布W的纬线Y的方向内。与第一实施例的情况相同，感光元件36、37串联布置在织布W的经线T的方向内。参考数字35-1、36-1和37-1分别代表每个感光元件35、36和37的检测范围。感光元件35将电流信号送至电流—电压转换器13。该电流—电压转换器13将电流信号转换成电压信号S₇，该电压信号随后被送至差分计算电路15。电流—电压转换器14将从感光元件36接收到的电流信号转换成电压信号S₈，该电压信号随后被送至差分计算电路15、25。差值计算电路15从电压信号S₇的值中减去电压信号S₈的值。差值计算电路15将算术运算所得到的差值信号ΔS₇₈送至比较器16。电压—电流转换器24将从感光元件37收到的电流信号转换成电压信号S₉，该电压信号送至差值计算电路25。差值计算电路25将算术运算所得到的差值信号ΔS₈₉送至比较器26。

图12(a)至(d)中所示的图与图4(a)至(d)中所示的相同。图12(e)至(h)所示的图与图8(a)至(d)所示的相同。图12(a)的曲线E₁代表电流—电压转换器13所发出的一个信号；图12(b)的曲线E₂代表电流—电压转换器14所发出的一个信号。图12(e)的曲线E₆代表电流—电压转换器14所发出的一个信号；图12(f)的曲线E₇代表从电流—电压转换器24所发出的一个信号。

比较器16将收到的差值信号ΔS₇₈与参考值V₁、V₂进行比较。如果差值信号ΔS₇₈的值超出〔V₁，V₂〕所定义的范围，则比较器16向输出电路19发出缺陷检出信号S_T。如果差值信号ΔS₇₈的值处于〔V₁，V₂〕所定义的范围内，则比较器16不向输出电路19发出缺陷检出信号S_T。

比较器26将收到的差值信号ΔS₈₉与参考值V₃、V₄进行比较。如果差值信号ΔS₈₉超出〔V₃，V₄〕所定义的范围，则比较器26向计数器32发出确认请求信号C_Y。与第三实施例的情况一样，计数器32根据时钟34测得的时间与预定时间t₀之间的比较结果来决定是否发出缺陷检出信号S_Y。

在第四实施例中，代表电压信号S₇和S₈之间差值的差值信号ΔS₇₈与代表电压信号S₈和S₉之间差值的差值信号ΔS₈₉几乎抵消了包括在各自电压信号中的波动成分。其结果是，差值信号ΔS₇₈精确地反映出经线T缺陷的存在，故而差值信号ΔS₇₈与参考值V₁、V₂之间的比较提高了检测经线缺陷的精度。

另外，在代表电压信号S₈和S₉之间差值的差值信号ΔS₈₉中，几乎抵消掉了那些归因于干扰并已被包含在电压信号中的变化分量。另外，由于感光元件36、37串联布置在经线方向内，也抵消掉了经线反射的光线所引起的电信号中的变化分量。其结果是，差值信号ΔS₈₉精确地反应出纬线Y缺陷的存在，故而差值信号ΔS₈₉和参考值V₃、V₄之间的比较提高了检测纬线缺陷的精度。另外，可将伪缺陷从纬线缺陷中分辨开来，从而得到检测纬线缺陷的更高精度。

现将介绍图13所示的第五实施例。与第四实施例中的那些相同的组成元件被分配给相同的参考数字，故而省略掉其详细描绘。在第五实施例中，在四个感光元件38、39、40和41中，两个串联布置在织布W上的经线T的方向内，另两个则布置在纬线Y的方向内。参考数字38-1、39-1、40-1和41-1代表每个感光元件38至41的检测范围。感光元件38将电流信号送至电流—电压转换器13；感光元件39将电流信号送至电流—电压转换器14；感光元件40将电流信号送至电流—电压转换器23；感光元件41将电流信号送至电流—电压转换器24。电流—电压转换器13将电流信号转换成电压信号，该电压信号随后送至相加电路42、45；电流—电压转换器14将电流信号转换成电压信号，该电压信号随后送至44、45。电流—电压转换器23将电流信号转换成电压信号，该电压信号随后送至相加电路42、43；电流—电压转换器24将电流信号转换成电压信号，该电压信号随后送至相加电路43、44。

所有相加电路42至45将接收到的电压信号相加所得到的和信号进行输出。相加电路42、44将和信号送至差值计算电路15；相加电路43、45将和信号送至差值计算电路25。如果将电流—电压转换器13、14、23和24的电压信号值定义为V₃₈、V₃₉、V₄₀和V₄₁，则每一个相加电路42至45的和信号值分别为(V₃₈＋V₄₀)、(V₄₀＋V₄₁)、(V₃₉＋V₄₁)和(V₃₈＋V₃₉)。V₃₈、V₃₉、V₄₀和V₄₁分别对应感光元件38至41的电流信号。差值计算电路15从和信号值(V₃₈＋V₄₀)中减去和信号值(V₃₉＋V₄₁)；差值计算电路25从和信号值(V₃₈＋V₃₉)中减去和信号值(V₄₀＋V₄₁)。

差值计算电路15将算术运算得到的差值信号送至比较器16；差值计算电路25将算术运算得到的差值信号送至比较器26。比较器16根据参考值V₁、V₂和差值信号值〔(V₃₈＋V₄₀)－(V₃₉＋V₄₁)〕之间的比较结果来判定是否向输出电路19发出缺陷检出信号S_T。比较器26根据参考值V₃、V₄和差值信号值〔(V₃₈＋V₃₉)－(V₄₀＋V₄₁)〕之间的比较结果来判定是否应该向计数器32发出确认请求信号C_Y。

相加电路42将感光元件38、40结合成一体；相加电路43将感光元件40、41结合成一体。而且，相加电路44将感光元件39、41结合成一体；相加电路45将感光元件38、39结合成一体。本实施例设定成这样，即得到了已结合成一体的一对感光元件所得到的电信号与另一对感光元件所得到的电信号之间的差值。因此，本实施例也如第四实施例那样，允许高精度的检测。另外，结合了布置在经线方向内的一对感光元件而且也结合了布置在纬线方向内的一对感光元件，从而扩展了经线和纬线方向内的检测范围。扩展的检测范围增加了检测经线和纬线缺陷的能力。

第四和第五实施例采用了由计数器32、锁存电路33和时钟34所组成的伪缺陷判定装置；但是，如图14和15所示可以省去伪缺陷判定装置。图14和15所示的实施例能够消除干扰的影响并能够实现对织布的高精度检测。

在本发明中，为了检测经线的缺陷，如图16所示，感光元件11、12可以在经线T的方向内彼此分开布置。同样地，当检测纬线缺陷时，如图17所示，感光元件21、22可以在纬线的方向内彼此分开布置。

作为光电传感器，可以采用图18所示的图像传感器46。检测范围的大小可以这样选定，即通过从图像传感器46的所有画面单元中使用适当数目的画面单元来实现，这样即使对于区分开伪缺陷与纬线缺陷的检测，也可设定图像传感器的相同的单一相对移动速度V_Y。更具体地说，预先设定相对移动速度而且根据上边给出的方程(1)至(6)来设定纬线方向内的宽度L_Y和经线方向内的宽度L_T。设定这样的相对移动速度V_Y改善了检测织布的准备过程中的效率。

在该图中，(n，m₁)所表示的检测范围对应图9所示实施例的检测范围21-1；(n，m₂)所表示的检测范围对应图9所示实施例的检测范围22-1。检测范围(n，m₁)的转换电流通过检测范围控制电路47送至电流—电压转换器23；检测范围(n，m₂)的转换电流通过检测范围控制电路47送至电流—电压转换器24。随后的信号处理与第三实施例的相同。

取代图像传感器的画面元件，可以采用小的光电二极管或光电晶体管。另外在经线或纬线方向内可以布置三个或更多的感光元件，而且可以使布置在经线或纬线方向内的感光元件所得到的电信号相加，这样可以将布置在经线或纬线方向内的感光元件结合成一体。

在上述的所有实施例中，传感头在织布的宽度方向内移动。作为一种替换，为了检测纬线的缺陷，检测织布的装置可以有多个光接收传感器，它们以适当间隔固定在织布的宽度方向内。同样地，为了检测经线的缺陷，检测织布的装置可以具有，例如多个图像传感器，它们连续固定在整个织布的宽度上。

在上述的实施例中，用于检测织布的设备安装在织机上；但是，根据本发明的检测织布的方法与设备可以应用于在已从织机移出的织布上所进行的检测。

另外根据本发明，所发出的缺陷检出信号S_T、S_Y的出现或确认请求信号C_Y的出现存储在存储器中，这样存储的数据可以用于评价织布的品质或用于管理织机。

下面描述了本发明的诸方面与优点。作为检测织布的一个设备，光电传感器可以采用适用于光电传感器的图像传感器。

即使对于区分开伪缺陷与纬线缺陷的检测来说，也可以设定图像传感器在织布宽度方向内的相同的单一移动速度。

这样，根据本发明的一个方面，多个光电传感器布置在经线或者纬线方向内。计算出多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值，以便消除干扰所引起的电信号的变化。这就允许了对织布的高精度检测。

根据本发明的另一方面，计算出多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另外一个光电传感器的电信号之间的差值并计算出多个光电传感器的电信号的和。这就消除了与纬线相关的归因于干扰的电信号变化并且通过扩展的检测范围提高了检测经线缺陷的能力。

根据本发明的另一方面，伪缺陷判定装置允许将纬线缺陷从伪缺陷中辨别出来，从而能够避免伪缺陷引起的检测错误。

Claims (7)

1.一种通过使用光电传感器来检测采用经线和纬线编织而得的布匹的方法，其中该光电传感器基于收到的光量发出电信号以检测织布中可能存在的缺陷，所述方法包括以下步骤：

将多个光电传感器布置在经线和纬线之一的方向内；

计算出多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另一个光电传感器的电信号之间的差值；以及

采用判定装置并根据所述计算的结果来判定是否应该发出所述的一条纱线之外的另一纱线上的缺陷检出信号。

2.根据权利要求1的一种用于检测织布的方法，其中一条纱线是经线且另一纱线是纬线。

3.根据权利要求1的一种用于检测织布的方法，其中一条纱线是纬线且另一纱线是经线。

4.一种通过使用光电传感器来检测采用经线和纬线编织而得的布匹的设备，其中该光电传感器基于收到的光量发出电信号以检测织布中可能存在的缺陷，该设备包括：

布置在经线和纬线之一的方向内的多个光电传感器；

用于计算出所述多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另一个光电传感器的电信号之间差值的装置；以及

用于根据所述差值计算装置给出的差值结果来判定是否应该发出在所述的一条纱线之外的另一纱线上的缺陷检出信号的装置。

5.一种通过使用光电传感器来检测采用经线和纬线编织而得的布匹的设备，其中该光电传感器基于收到的光量发出电信号以检测织布中可能存在的缺陷，该设备包括：

布置在经线方向内的多个光电传感器；

用于计算出多个光电传感器中至少一个光电传感器的电信号与另一个光电传感器的电信号之间差值的装置；

相加装置，用于计算出所述多个光电传感器的电信号之和；

经线缺陷判定装置，用于根据所述相加装置所给出的加和结果来判定是否应该发出经线上的缺陷检出信号；以及

纬线缺陷判定装置，用于根据所述差值计算装置给出的差值结果来判定是否应该发出纬线上的缺陷检出信号。

6.一种通过使用光电传感器来检测采用经线和纬线编织而得的布匹的设备，其中该光电传感器基于收到的光量发出电信号以检测织布中可能存在的缺陷，该设备包括：

布置在经线方向内并能在织布的宽度方向内移动的多个光电传感器；

用于计算出所述多个光电传感中至少一个光电传感器的电信号与另一个光电传感器的电信号之间差值的装置；

相加装置，用于计算出所述多个光电传感器的电信号之和；

经线缺陷判定装置，用于根据所述相加装置所给出的计算结果来判定是否应该发出经线上的缺陷检出信号；

用于将所述差值计算装置执行的算术运算所得到的差值信号值与参考值进行比较并发出一个与超过所述参考值的差值信号相对应的时间宽度固定信号的装置；以及

伪缺陷判定装置，用于根据所述时间宽度固定信号的时间宽度来判定是否应该发出一个在纬线上的缺陷检出信号。

7.一种通过使用光电传感器来检测采用经线和纬线编织而得的布匹的设备，其中该光电传感器基于收到的光量发出电信号以检测织布中可能存在的缺陷，该设备包括：

多个光电传感器，其中至少两个光电传感器分别布置在经线方向内和纬线方向内，而且它们能在所述织布的宽度方向内移动；

第一差值计算装置，用于计算在所述的多个光电传感器中布置在纬线方向内的所述多个光电传感器中至少一个光电传感器所产生的电信号与布置在纬线方向内的另一个光电传感器所产生的电信号之间的差值；

第二差值计算装置，用于计算在所述的多个光电传感器中布置在经线方向内的所述多个光电传感器中的至少一个光电传感器所产生的电信号与布置在经线方向内的另一个光电传感器所产生的电信号之间的差值；

经线缺陷判定装置，用于根据所述第一差值计算装置所给出的计算结果来判定是否应该发出经线上的缺陷检出信号；

用于将所述第二差值计算装置执行的算术运算所得到的差值信号值与参考值进行比较并发出一个与超过所述参考值的差值信号相对应的时间宽度固定信号的装置；以及

伪缺陷判定装置，用于根据所述时间宽度固定信号的时间宽度来判定是否应该发出一个在纬线上的缺陷检出信号。

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